Near-Field Scanning Optical Microscopy

Chemical Reviews

Volumn 99, Issue 10, 1999, Pages 2891-2927

  Dunn, Robert C ^a  

^a UNIVERSITY OF KANSAS   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000209278     PISSN: 00092665     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cr980130e     Document Type: Article

References (333)

1. Special Issue on Near-Field Optics. Ultramicroscopy 1998, 71.
2. Special Issue on Near-Field Optics. Ultramicroscopy 1995, 57.
3. Special Issue on Near-Field Optics. J. Microscopy, in press.
4. Betzig, E.; Trautman, J. K. Science 1992, 257, 189-195.
5. Betzig, E.; Trautman, J. K.; Harris, T. D.; Weiner, J. S.; Kostelak, R. L. Science 1991, 251, 1468-1470.
6. Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM); Pohl, D. W., Ed.; Academic Press: London, 1991; Vol. 12.
7. Harris, T. D.; Grober, R. D.; Trautman, J. K.; Betzig, E. Appl. Spectrosc. 1994, 48, 14A-21A.
8. Kopelman, R.; Tan, W. Appl. Spectrosc. Rev. 1994, 29, 39-66.
9. Courjon, D.; Bainier, C. Rep. Prog. Phys. 1994, 57, 989-1028.
10. Paesler, M. A.; Moyer, P. J. Near-field Optics: Theory, Instrumentation, and Applications; John Wiley and Sons: New York, 1996.
11. Vanden Bout, D. A.; Kerimo, J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. Ace. Chem. Res. 1997, 30, 204-212.
12. Buratto, S. K. Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 1996, 1, 485-492.
13. Pohl, D. W. IBM J. Res. Dev. 1995, 39, 701-711.
14. Pohl, D. W.; et. al. Chimia 1997, 51, 760-767.
15. Heinzelmann, H.; Pohl, D. W. Appl. Phys. A 1994, 59, 89-101.
16. Heinzelmann, H.; et. al. Opt. Eng. 1995, 34, 2441-2454.
17. Pohl, D. W.; Hecht, B.; Heinzelmann, H. Nanoscale Science and Technology; 1998; pp 175-183.
18. Lewis, A.; Lieberman, K. Anal. Chem. 1991, 63, 625A-638A.
19. Subramaniam, V.; Kirsch, A. K.; Jovin, T. M. Cell. Mol. Biol. 1998, 44, 689-700.
20. Fujihira, M. In Optics at the Nanometer Scale; Garcia, M. N.-V. a. N., Ed.; IBM: The Netherlands, 1996.
21. Heinzelmann, H.; Lacoste, Th.; Huser, Th.; Guntherodt, H. J.; Hecht, B.; Pohl, D. W. Thin Solid Films 1996, 273, 149-153.
22. Lewis, A.; Lieberman, K.; Ben-Ami, N. K.; Fish, G.; Khachatryan, E.; Strinkovski, A.; Shalom, S.; Druckmann, S.; Ottolenghi, M.; Ben-Ami, U. Isr. J. Chem. 1996, 36, 89-96.
23. Fischer, U. C.; Koglin, J.; Naber, A.; Raschewski, A.; Tiemann, R.; Fuchs, H. In Quantum Optics of Confined Systems; Ducley, M., Bloch, D., Eds.; Kluwer Academic Publishers: Dordrecht, The Netherlands, 1996.
24. Heinzelmann, H.; Huser, T.; Lacoste, T.; Guntherodt, H.-J.; Pohl, D. W.; Hecht, B.; Novotny, L.; Martin, O. J. F.; Hafner, C. V.; Baggenstos, H.; Wild, U. P.; Renn, A. Opt. Eng. 1995, 34, 2441-2464.
25. Courjon, D.; Spajer, M.; Baida, F.; Bainier, C.; Davy, S. Condens. Matter News 1998, 6, 14-20.
26. Betzig, E. R. Cornell, 1988.
27. Near-Field Nano/Atom Optics and Technology; Ohtsu, M., Ed.; Springer-Verlag: Tokyo, 1998.
28. Higgins, D. A.; Mei, E. In Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy, 2nd ed.; Bonnell, D., Ed.; in press.
29. Abbe, E. Arch. Mikrosk. Anat. 1873, 9, 413-468.
30. Synge, E. H. Philos. Mag. 1928, 6, 356-362.
31. Synge, E. H. Philos. Mag. 1931, 11, 65-80.
32. Synge, E. H. Philos. Mag. 1932, 13, 297.
33. Ash, E. A.; Nicholls, G. Nature 1972, 237, 510-512.
34. Pohl, D. W.; Denk, W.; Lanz, M. Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 651-653.
35. Durig, U.; Pohl, D. W.; Rohner, F. J. Appl. Phys. 1986, 59, 3318-3327.
36. Betzig, E.; Lewis, A.; Harootunian, A.; Isaacson, M.; Kratschmer, E. Biophys. J. 1986, 49, 269-279.
37. Harootunian, A.; Betzig, E.; Isaacson, M.; Lewis, A. Appl. Phys. Lett. 1986, 49, 674-676.
38. Betzig, E.; Harootunian, A.; Lewis, A.; Isaacson, M. Appl. Opt. 1986, 25, 1890-1900.
39. Betzig, E.; Chichester, R. J. Science 1993, 262, 1422-1425.
40. Xie, X. S.; Allen, E. V.; Holtom, G. H.; Dunn, R. C.; Mets, L. SPIE Proceedings of Time-Resolved Laser Spectroscopy in Biochemistry IV; SPIE: Bellingham, WA, 1994; pp 264-276.
41. Xie, X. S.; Holtom, G. R.; Mets, L.; Dunn, R. C. Ultrafast Phenom. 9 1994.
42. Xie, X. S.; Dunn, R. C. Science 1994, 265, 361-364.
43. Trautman, J. K.; Macklin, J. J.; Brus, L. E.; Betzig, E. Nature 1994, 369, 40-42.
44. Ambrose, W. P.; Goodwin, P. M.; Martin, J. C.; Keller, R. A. Science 1994, 265, 364-367.
45. Ambrose, W. P.; Goodwin, P. M.; Martin, J. C.; Keller, R. A. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 160-163.
46. Dunn, R. C.; Allen, E. V.; Joyce, S. A.; Anderson, G. A.; Xie, X. S. Ultramicroscopy 1995, 57, 113-117.
47. Bian, R. X.; Dunn, R. C.; Xie, X. S.; Leung, P. T. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 4772-4775.
48. Bian, R. X.; Dunn, R. C.; Xie, X. S.; Leung, P. T. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 4772-4775.
49. Ambrose, W. P.; Afileck, R. L.; Goodwin, P. M.; Keller, R. A.; Martin, J. C.; Petty, J. T.; Schecker, J. A.; Wu, M. Exp. Technol. Phys. 1995, 41, 237-248.
50. Tarrach, G.; Bopp, M. A.; Zeisel, D.; Meixner, A. J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3569-3575.
51. Meixner, A. J.; Zeisel, D.; Bopp, M. A.; Tarrach, G. Opt. Eng. 1995, 34, 2324-2332.
52. Near-Field Microscopy and Spectroscopy of Single Molecules, Single Proteins and Biological Membranes; Xie, X. S., Dunn, R. C., Eds.; World Scientific Publishing Co.: Singapore, 1996; in press.
53. Ha, T.; Enderle, Th.; Ogletree, D. F.; Chemla, D. S.; Selvin, P. R.; Weiss, S. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1996, 93, 6264-6268.
54. Trautman, J. K.; Macklin, J. J. Chem. Phys. 1998, 205, 221-229.
55. Bopp, M. A.; Meixnew, A. J.; Tarrach, G.; Zschokke-Granacher, I.; Novotny, L. Chem. Phys. Lett. 1996, 263, 721-726.
56. Novotny, L. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3806-3808.
57. Chang, R.; Fann, W.; Lin, S. H. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2338-2340.
58. Ha, T.; Enderle, Th.; Chemla, D. S.; Weiss, S. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 1996, 2, 1115-1128.
59. Bopp, M. A.; Meixner, A. J.; Tarrach, G.; Zschokke-Granacher, I.; Novotny, L. Chem. Phys. Lett. 1996, 263, 721-726.
60. Xie, X. S. Acc. Chem. Res. 1996, 29, 598-606.
61. Chang, R.; Wei, P.-K.; Fann, W. S.; Hayashi, M.; Lin, S. H. J. Appl. Phys. 1997, 81, 3369-3376.
62. Ruiter, A. G. T.; Veerman, J. A.; Garcia-Parajo, M. F.; van Hulst, N. F. J. Phys. Chem. A 1997, 101, 7318-7323.
63. Bopp, M. A.; Tarrach, G.; Lieb, M. A.; Meixner, A. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1997, 15, 1423-1426.
64. Ha, T.; Chemia, D. S.; Enderle, Th.; Weiss, S. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 782-784.
65. Talley, C.; Lee, M. A.; Dunn, R. C. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2954-2956.
66. Garcia-Parajo, M. F.; Veerman, J.-A.; Ruiter, A. G. T.; van Hulst, N. F. Ultramicroscopy 1998, 71, 311-319.
67. Garcia-Parajo, M. F.; Veerman, J.-A.; van Noort, S. J. T.; de Grooth, B. G.; Greve, J.; van Hulst, N. F. Bioimaging 1998, 6, 43-53.
68. Adams, D. M.; Kerimo, J.; Olson, E. J. C.; Zaban, A.; Gregg, B. A.; Barbara, P. F. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 10608-10619.
69. Kerimo, J.; Adams, D. M.; Barbara, P. F.; Kaschak, D. M.; Mallouk, T. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9451-9460.
70. Kerimo, J.; Adams, D. M.; Vanden Bout, D. A.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. Inter-Am. Photochem. Soc. News. 1996, 19, 57-61.
71. Higgins, D. A.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. 1995, 99, 3-7.
72. Hollars, C. W.; Dunn, R. C. J. Phys. Chem. 1997, 101, 6313-6317.
73. Tamm, L. K.; Bohm, C.; Yang, J.; Shao, Z.; Hwang, J.; Ediden, M.; Betzig, B. Thin Solid Films 1996, 284-285, 813-816.
74. Ade, H.; Toledo-Crow, R.; Vaez-Iravani, M.; Spontak, R. J. Langmuir 1996, 12, 231-234.
75. Higgins, D. A.; Reid, P. J.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. 1996, 100, 1174-1180.
76. Blatchford, J. W.; Gustafson, T. L.; Epstein, A. J.; Vanden Bout, D. A.; Kerimo, J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F.; Fu, D. K.; Swager, T. M.; MacDiarmid, A. G. Phys. Rev. B 1996, 54, R3686-R3686.
77. Reid, P. J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. 1996, 100, 3892-3899.
78. Kramer, A.; Hartmann, T.; Eschrich, R.; Guckenberger, R. Ultramicroscopy 1998, 71, 123-132.
79. Weston, K. D.; Buratto, S. K. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 5684-5691.
80. Brunner, R.; Bietsch, A.; Hollricher, O.; Marti, O.; Lambacher, A. Surf. Interface Anal. 1997, 25, 492-495.
81. DeAro, J. A.; Weston, K. D.; Buratto, S. K.; Lemmer, U. Chem. Phys. Lett. 1997, 277, 532-538.
82. Hofkens, J.; Latterini, L.; Vanoppen, P.; Faes, H.; Jeuris, K.; De Feyter, S.; Kerimo, J.; Barbara, P. F.; De Schryver, F. C.; Rowan, A. E.; Nolte, R. J. M. J. Phys. Chem. 1997, 101, 10588-10598.
83. Tamm, L. K.; Bohm, C.; Yang, J.; Shao, Z.; Hwang, J.; Edidin, M.; Betzig, E. Thin Solid Films 1996, 284-285, 813-816.
84. Kajikawa, K.; Hara, M.; Sasabe, H.; Knoll, W. Colloids Surf. A 1997, 126, 97-101.
85. Nagahara, L. A.; Yanagi, H.; Tokumoto, H. Nanotechnology 1997, 8, A50-A53.
86. Webster, S.; Smith, D. A.; Batchelder, D. N.; Lidzey, D. G.; Bradley, D. D. C. Ultramicroscopy 1998, 71, 275-279.
87. Rucker, M.; De Schryver, F. C.; Vanoppen, P.; Jeuris, K.; De Feyter, S.; Hotta, J.; Masuhara, H. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1997, 131, 30-37.
88. Pohl, D. W. Thin Solid Films 1995, 264, 250-254.
89. Wei, P.-K.; Hsu, J.-H.; Fann, W.; Chuang, K.-R.; Lee, H.-T.; Chen, S.-A. Appl Opt. 1997, 36, 3301-3304.
90. Hsu, J.-H.; Wei, P.-K.; Fann, W.; Chuang, K.-R.; Chen, S.-A. J. Appl. Phys. 1998, 83, 1782-1784.
91. Hsu, J. H.; Wei, P. K.; Fann, W. S.; Chuang, K. R.; Chen, S. A. Ultramicroscopy 1998, 71, 263-267.
92. Wei, P. K.; Hsu, J. H.; Hsieh, B. R.; Fann, W. S. Adv. Mater. 1996, 8, 573-576.
93. Mei, E.; Higgins, D. A. Langmuir 1998, 14, 1945-1950.
94. Mei, E.; Higgins, D. A. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3515-3517.
95. Fann, W. S.; Wei, P. K.; Hsu, J. H.; Hsieh, B. R.; Chuang, K. R.; Chen, S. A. Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. 1995, 2384, 158-165.
96. Zeisel, D.; Dutoit, B.; Deckert, V.; Roth, T.; Zenobi, R. Anal. Chem. 1997, 69, 749-754.
97. Higgins, D. A.; Kerimo, J.; Vanden Bout, D. A.; Barbara, P. F. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 4049-4058.
98. Birnbaum, D.; Kook, S. K.; Kopelman, R. J. Phys. Chem. 1993, 97, 3091-3094.
99. Kirsch, A. K.; Meyer, C. K.; Huesmann, H.; Mobius, D.; Jovin, T. M. Ultramicroscopy 1998, 71, 295-302.
100. Kirsch, A. K.; Schaper, A.; Huesmann, H.; Rampi, M. A.; Mobius, D.; Jovin, T. M. Langmuir 1998, 14, 3895-3900.
101. Kaupp, G.; Herrmann, A.; Haak, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1521-1526.
102. Kaupp, G.; Herrmann, A. J. Phys. Org. Chem. 1997, 10, 675-679.
103. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Fujihira, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 2061-2063.
104. Fujihira, M.; Do, L.-M.; Koike, A.; Han, E.-M. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1787-1789.
105. Fujihira, M.; Monobe, H.; Koike, A.; Ivanov, G. R.; Muramatsu, H.; Chiba, N.; Yamamoto, N.; Ataka, T. Ultramicroscopy 1998, 71, 269-274.
106. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Yamamoto, N.; Homma, K.; Ataka, T.; Shigeno, M.; Monobe, H.; Fujihira, M. Ultramicroscopy 1998, 71, 73-79.
107. Nagahara, L. A.; Tokumoto, H. Thin Solid Films 1996, 281-282, 647-650.
108. Chiba, N.; Muramatsu, H.; Nakajima, K.; Homma, K.; Ataka, T.; Fujihira, M. Thin Solid Films 1996, 273, 331-334.
109. Ataka, T.; Muramatsu, H.; Nakajima, K.; Chiba, N.; Homma, K.; Fujihira, M. Thin Solid Films 1996, 273, 154-16.
110. Pohl, D. W.; Novotny, L.; Hecht, B.; Heinzelmann, H. Thin Solid Films 1996, 273, 161-167.
111. Williamson, R. L.; Miles, M. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 809-811.
112. Yamada, H.; Tokumoto, H.; Akamine, S.; Fukuzawa, K.; Kuwano, H. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 812-815.
113. Nagahara, L. A.; Tokumoto, H. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 800-803.
114. Rucker, M.; Vanoppen, P.; De Schryver, F. C.; Ter Horst, J. J.; Hotta, J.; Masuhara, H. Macromolecules 1995, 28, 7530-7535.
115. Rogers, J. A.; Bao, Z.; Dhar, L. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 294-296.
116. Hamano, M.; Irie, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1996, 35, 1764-1767.
117. Oesterschulze, E. Surf. Coat. Technol. 1997, 97, 694-706.
118. Fujihira, M. In Forces in Scanning Probe Methods; al., H.-J. G. e., Ed.; Kluwer Academic Publishers: Dordrecht, The Netherlands, 1995.
119. Nakajima, K.; Muramatsu, H.; Chiba, N.; Ataka, T.; Fujihira, M. Thin Solid Films 1996, 273, 327-330.
120. Dunn, R. C.; Holtom, G. H.; Mets, L.; Xie, X. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 3094-3098.
121. Betzig, E.; Chichester, R. J.; Lanni, F.; Taylor, D. L. Bioimaging 1993, 1, 129-135.
122. Tan, W.; Shi, Z. Y.; Smith, S.; Birnbaum, D.; Kopelman, R. Science 1992, 258, 778-781.
123. van Hulst, N. F.; Moers, M. H. P. IEEE Eng. Med. Biol. 1998, 51-57.
124. Enderle, TH.; Ha, T.; Ogletree, D. F.; Chemla, D. S.; Magowan, C.; Weiss, S. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1997, 94, 520-525.
125. Haydon, P. G.; Marchese-Ragona, S.; Basarsky, T. A.; Szulczewski, M.; McCloskey, M. J. Microsc. 1996, 182, 208-216.
126. Jia, W.; Dacheng, L. SPIE 1995, 115-117.
127. Moers, M. H. P.; Kalle, W. H. J.; Ruiter, A. G. T.; Wiegant, J. C. A. G.; Raap, A. K.; Greve, J.; deGrooth, B. C.; van Hulst, N. F. J. Microscopy 1996, 182, 40-45.
128. Valaskovic, G. A.; Holten, M.; Morrison, G. H Ultramicroscopy 1995, 57, 212-218.
129. Iwabuchi, S.; Muramatsu, H.; Chiba, N.; Kinjo, Y.; Murakami, Y.; Sakaguchi, T.; Yokoyama, K.; Tamiya, E. Nucleic Acids Res. 1997, 25, 1662-1663.
130. Rousso, I.; Khachatryan, E.; Gat, Y.; Brodsky, I.; Ottolenghi, M.; Sheves, M.; Lewis, A. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1997, 94, 7937-7941.
131. Tamiya, E.; Iwabuchi, S.; Nagatani, N.; Murakami, Y.; Sakaguchi, T.; Yokoyama, K.; Chiba, N.; Muramatsu, H. Anal. Chem. 1997, 69, 3697-3701.
132. Hwang, J.; Gheber, L. A.; Margolis, L.; Edidin, M. Biophys. J. 1998, 74, 2184-2190.
133. Gheber, L. A.; Hwang, J.; Edidin, M. Appl. Opt. 1998, 37, 3574-3581.
134. van Hulst, N. F.; Garcia-Parajo, M. F.; Moers, M. H. P.; Veerman, J.-A.; Ruiter, A. G. T. J. Struct. Biol. 1997, 119, 222-231.
135. Deckert, V.; Zeisel, D.; Zenobi, R. Anal. Chem. 1998, 70, 2646-2650.
136. Enderle, Th.; Ha, T.; Chemla, D. S.; Weiss, S. Ultramicroscopy 1998, 71, 303-309.
137. Moyer, P. J.; Kammer, S. B. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 3380-3382.
138. Hell, S. W.; Booth, M.; Wilms, S.; Schnetter, C. M.; Kirsch, A. K.; Arndt-Jovin, D. J.; Jovin, T. M. Opt. Lett. 1998, 23, 1238-1240.
139. Kirsch, A. K.; Subramaniam, V.; Striker, G.; Schnetter, C.; Arndt-Jovin, D. J.; Jovin, T. M. Biophys. J. 1998, 75, 1513-1521.
140. Subramaniam, V.; Kirsch, A. K.; Rivera-Pomar, R. V.; Jovin, T. M. J. Fluoresc. 1987, 7, 381-385.
141. Kirsch, A. K.; Meyer, C. K.; Jovin, T. M. J. Microsc. 1997, 185, 396-401.
142. Brunner, R.; Bietsch, A.; Hollricher, O.; Marti, O. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 1769-1772.
143. Smolyaninov, I. I.; Atia, W. A.; Pilevar, S.; Davis, C. C. Ultramicroscopy 1998, 71, 177-182.
144. Lambelet, P.; Pfeffer, M.; Sayah, A.; Marquis-Weible, F. Ultramicroscopy 1998, 71, 117-121.
145. Keller, T. H.; Rayment, T.; Klenerman, D.; Stephenson, R. J. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 1448-1454.
146. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Ataka, T.; Iwabuchi, S.; Nagatani, N.; Tamiya, E.; Fujihira, M. Opt. Rev. 1996, 3, 470-474.
147. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Nakajima, K.; Ataka, T.; Fujihira, M.; Hitomi, J.; Ushiki, T. Scanning Microsc. 1996, 10, 975-982.
148. Wiegrabe, W.; Monajembashi, S.; Dittmar, H.; Greulich, K.-O.; Hafner, S.; Hildebrandt, M.; Kittler, M.; Lochner, B.; Unger, E. Surf. Interface Anal. 1997, 25, 510-513.
149. Hollricher, O.; Brunner, R.; Marti, O. Ultramicroscopy 1998, 71, 143-147.
150. Mertesdorf, M.; Schonhoff, M.; Lohr, F.; Kirstein, S. Surf. Interface Anal. 1997, 25, 755-759.
151. Keller, T. H.; Raymet, T.; Klenerman, D. Biophys. J. 1998, 74, 2076-2079.
152. Uttamchandani, D.; McCulloch, S. Adv. Drug Deliv. Rev. 1996, 21, 239-247.
153. Hong, M. K.; Erramilli, S.; Huie, P.; James, G.; Jeung, A. SPIE 1996, 2863, 54-63.
154. Tamiya, E.; Iwabuchi, S.; Murakami, Y.; Sakaguchi, T.; Yokoyama, K.; Chiba, N.; Muramatsu, H. SPIE 1996, 2836, 12-15.
155. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Umemoto, T.; Homma, K.; Nakajima, K.; Ataka, T.; Ohta, S.; Kusumi, A.; Fujihira, M. Ultramicroscopy 1995, 61, 265-269.
156. Jenei, A.; Kirsch, A. K.; Subramaniam, V.; Arndt-Jovin, D. J.; Jovin, T. M. Biophys. J. 1999, 76, 1092-1100.
157. Paesler, M. A.; Moyer, P. J.; Jahncke, C. J.; Johnson, C. E.; Reddick, R. C.; Warmack, R. J.; Ferrell, T. L. Phys. Rev. B 1990, 42, 6750-6753.
158. Girard, C.; Courjon, D. Phys. Rev. B 1990, 42, 9340-9349.
159. Meixner, A. J.; Bopp, M. A.; Tarrach, G. Appl. Opt. 1994, 33, 7995-8000.
160. Moyer, P. J.; Jahncke, C. L.; Paesler, M. A.; Reddick, R. C.; Warmack, R. J. Phys. Lett. A 1990, 145, 343-347.
161. Reddick, R. C.; Warmack, R. J.; Chilcott, D. W.; Sharp, S. L.; Ferrell, T. L. Rev. Sci. Instrum. 1990, 61, 3669-3677.
162. Ferrell, T. L.; Goundonnet, J. P.; Reddick, R. C.; Sharp, S. L.; Warmack, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 525-1517.
163. Guerra, J. M. Appl. Opt. 1990, 29, 3741-3752.
164. Betzig, R. E.; Trautman, J. K. (AT&T Bell Laboratories). U.S. Patent 5 272 330, 1993.
165. Valaskovic, G. A.; Holton, M.; Morrison, G. H. Appl. Opt. 1995, 34, 1215-1228.
166. Williamson, R. L.; Miles, M. J. J. Appl. Phys. 1996, 80, 4804-4812.
167. Weston, K. D.; DeAro, J. A.; Buratto, S. K. Rev. Sci. Instru. 1996, 67, 2924-2929.
168. Curran, J. E.; Page, J. S.; Pick, U. Thin Solid Films 1982, 97, 259-276.
169. Hass, G.; Waylonis, J. E. J. Opt. Soc. Am. 1961, 51, 719-722.
170. Krueger, W. H.; Pollack, S. R. Surf. Sci. 1972, 30, 263-279.
171. Hollars, C. W.; Dunn, R. C. Rev. Sci. Instrum. 1996, 69, 1747-1752.
172. Hecht, B.; Bielefeldt, H.; Pohl, D. W.; Novotny, L.; Heinzelmann, H. J. Appl. Phys. 1998, 84, 5873-5882.
173. Novotny, L.; Pohl, D. W.; Regli, P. J. Opt. Soc. Am. A 1994, 11, 1768-1779.
174. Novotny, L.; Pohl, D. W. Photons and Local Probes; 1995; pp 21-33.
175. Kavaldjiev, D. I.; Toledo-Crow, R.; Vaez-Iravani, M. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 2771-2773.
176. Stahelin, M.; Bopp, M. A.; Tarrach, G.; Meixner, A. J.; Zschokke-Granacher, I. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2603-2605.
177. LaRosa, A. H.; Yakobson, B. I.; Hallen, H. D. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 2597-2599.
178. Lienau, Ch.; Richter, A.; Elsaesser, T. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 325-327.
179. Goetz, M.; Drews, D.; Zahn, D. R. T.; Wannemacher, R. J. Luminesc. 1998, 76-77, 306-309.
180. Emory, S. R.; Nie, S. Anal. Chem. 1997, 69, 2631-2635.
181. Jahncke, C. L.; Paesler, M. A.; Hallen, H. D. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 2483-2485.
182. Jahncke, C. L.; Hallen, H. D.; Paesler, M. A. J. Raman Spectrosc. 1996, 27, 579-586.
183. Zeisel, D.; Deckert, V.; Zenobi, R.; Vo-Dinh, T. Chem. Phys. Lett. 1998, 283, 381-385.
184. Betzig, E.; Grubb, S. G.; Chichester, R. J.; DiGiovanni, D. J.; Weiner, J. S. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 3550-3552.
185. Bukofsky, S. J.; Grober, R. D. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 2749-2751.
186. Mononobe, S.; Naya, M.; Saiki, T.; Ohtsu, M. Appl. Opt. 1997, 36, 1496-1500.
187. Yatsui, T.; Kourogi, M.; Ohtsu, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1756-1758.
188. Mononobe, S.; Ohtsu, M. J. Lightwave Technnol. 1997, 15, 1051-1055.
189. Zeisel, D.; Nettesheim, S.; Dutoit, B.; Zenobi, R. Appl. Phys. Lett. 1998, 68, 2491-2492.
190. Dutoit, B.; Zeisel, D.; Deckert, V.; Zenobi, R. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 6955-6959.
191. Hoffmann, P.; Dutoit, B.; Salathe, R.-P. Ultramicroscopy 1995, 61, 165-170.
192. Chuang, Y. H.; Gung, K. G.; Wang, C. J.; Huang, J. Y.; Pan, C. L. Rev. Sci. Instrum. 1998, 69, 437-439.
193. Lambelet, P.; Sayah, A.; Pfeffer, M.; Philipona, C.; Marquis-Weible, F. Appl. Opt. 1998, 37, 7289-7292.
194. Pilevar, S.; Edinger, K.; Atia, W.; Smolyaninov, I.; Davis, C. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 3133-3135.
195. Veerman, J. A.; Otter, A. M.; Kuipers, L.; van Hulst, N. F. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 3115-3117.
196. Muranishi, M.; Sato, K.; Hosaka, S.; Kikukawa, A.; Shintani, T.; Ito, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1997, 36, L942.
197. Betzig, E.; Trautman, J. K.; Weiner, J. S.; Harris, T. D.; Wolfe, R. Appl. Opt. 1992, 31, 4563-4568.
198. Jackson, J. D. Classical Electrodynamics; Wiley: New York, 1975.
199. Bouwkamp, C. J. Rep. Prog. Phys. 1954, 17, 35-100.
200. Bachelot, R.; Lahrech, A.; Gleyzes, P.; Boccara, A. C. SPIE 1996, 2782, 570-581.
201. Bachelot, R.; Gleyzes, P.; Boccara, A. C. Appl. Opt. 1997, 36, 2160-2170.
202. Furukawa, H.; Kawata, S. Opt. Commun. 1998, 148, 221-224.
203. Kawata, S.; Tani, T. Opt. Lett. 1996, 21, 1768-1770.
204. Novotny, L.; Bian, R. X.; Xie, X. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 645-648.
205. Novotny, L.; Sanchez, E. J.; Xie, X. S. Ultramicroscopy 1998, 71, 21-29.
206. Zenhausern, F.; Martin, Y.; Wickramasinghe, H. K. Science 1995, 269, 1083-1085.
207. Sanchez, E. J.; Novotny, L.; Xie, X. S. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4014-4017.
208. Kopelman, R.; Lewis, A.; Lieberman, K. J. Lumin. 1990, 45, 298-299.
209. Kopelman, R.; Lieberman, K.; Lewis, A.; Tan, W. J. Lumin. 1991, 48-49, 871-875.
210. Lieberman, K.; Harush, S.; Lewis, A.; Kopelman, R. Science 1990, 247, 59-61.
211. Sekatskii, S. K.; Letokhov, V. S. Appl. Phys. B 1996, 63, 525-530.
212. Sekatskii, S. K.; Letokhov, V. S. JETP Lett. 1996, 63, 319-323.
213. Vickery, S. A.; Dunn, R. C. Biophys. J. 1999, in press.
214. Akamine, S.; Kuwano, H.; Yamada, H. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 579-581.
215. Bergossi, O.; Bachelot, R.; Wioland, H.; Wurtz, G.; Laddada, R.; Adam, P. M.; Bijeon, J. L.; Royer, P. Acta Phys. Pol., A 1997, 93, 393-398.
216. Bouju, X.; Dereux, A.; Vigneron, J. P.; Girard, C. J. Vac. Sci. Technol. B 1998, 14, 816-819.
217. Fillard, J. P.; Castagne, M.; Benfedda, M.; Lahimer, S.; Danzebrink, H. U. Appl. Phys. A 1996, 63, 421-425.
218. van Hulst, N. F.; Moers, M. H. P.; Noordman, O. F. J.; Tack, R. G.; Segerink, F. B.; Bolger, B. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 461-463.
219. Ruiter, A. G. T.; Moers, M. H. P.; van Hulst, N. F.; de Boer, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 597-601.
220. Ruiter, A. G. T.; Moers, M. H. P.; Jalocha, A.; van Hulst, N. F. Ultramicroscopy 1995, 61, 139-143.
221. Noell, W.; Abraham, M.; Mayr, K.; Ruf, A.; Barenz, J.; Hollricher, O.; Marti, O.; Guthner, P. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1236-1238.
222. Abraham, M.; Ehrfeld, W.; Lacher, M.; Mayr, K.; Noell, W.; Guthner, P.; Barenz, J. Ultramicroscopy 1998, 71, 93-98.
223. Munster, S.; Werner, S.; Mihalcea, C.; Scholz, W.; Oesterschulze, E. J. Microsc. 1997, 186, 17-22.
224. Tanaka, Y.; Fukuzawa, K.; Kuwano, H. J. Appl. Phys. 1998, 83, 3547-3551.
225. Mihalcea, C.; Scholz, W.; Werner, S.; Munster, S.; Oesterschulze, E.; Kassing, R. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 3531-3533.
226. Sakai, A.; Yamada, H.; Fujita, M.; Baba, T. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 517-521.
227. Sasaki, K.; Fujiwara, H.; Masuhara, H. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 2786-2790.
228. Sasaki, K.; Fujiwara, H.; Masuhara, H. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 2647-2649.
229. Sugiura, T.I; Okada, T. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. 1998, 3260, 4-14.
230. Hsu, J. W. P.; Lee, M.; Deaver, B. S. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3177-3181.
231. Kramer, A.; Hartmann, T.; Stadler, S. M.; Guckenberger, R. Ultramicroscopy 1995, 62, 191-195.
232. Shiku, H.; Krogmeier, J. R.; Dunn, R. C. Langmuir 1999, in press.
233. Guttroff, G.; Keto, J. M.; Shih, C. K.; Anselm, A.; Streetman, B. G. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 3620-3622.
234. Courjon, D.; Vigoureux, J. M.; Spajer, M.; Sarayeddine, K.; Leblanc, S. Appl. Opt. 1990, 29, 3734-3740.
235. Reddick, R. C.; Warmack, R. J.; Ferrell, T. L. Phys. Rev. B 1989, 39, 767-790.
236. Betzig, E.; Finn, P. L.; Weiner, J. S. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2484-2486.
237. Toledo-Crow, R.; Yang, P. C.; Chen, Y.; Vaez-Iravani, M. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2957-2959.
238. Shchemelinin, A.; Rudman, M.; Lieberman, K.; Lewis, A. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 3538-3541.
239. Betzig, R. E. (AT&T Bell Laboratories). U.S. Patent 5,254,854, 1993.
240. Leong, J.-K.; Williams, C. C. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1432-1434.
241. Karrai, K.; Grober, R. D. Ultramicroscopy 1995, 61, 197-205.
242. Wei, C.-C.; Wei, P.-K.; Fann, W. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 3835-3837.
243. Zhu, X.; Huang, G. S.; Zhou, H. T.; Dai, Y. D. Solid State Commun. 1996, 98, 661-664.
244. Gregor, M. J.; Blome, P. G.; Schofer, J.; Ulbrich, R. G. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 307-309.
245. Durkan, C.; Shvets, I. V. J. Appl. Phys. 1996, 80, 5659-5664.
246. Durkan, C.; Shvets, I. V. J. Appl. Phys. 1996, 79, 1219-1223.
247. Pfeffer, M.; Lambelet, P.; Marquis-Weible, F. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 4478-4482.
248. Ruiter, A. G. T.; Veerman, J. A.; van der Werf, K. O.; van Hulst, N. F. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 28-30.
249. Atia, W. A.; Davis, C. C. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 405-407.
250. Yang, Y. T.; Heh, D.; Wei, P. K.; Fann, W. S.; Gray, M. H.; Hsu, J. W. P. J. Appl. Phys. 1997, 81, 1623-1627.
251. Hsu, J. W. P.; McDaniel, A. A.; Hallen, H. D. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 3093-3095.
252. Wei, P. K.; Fann, W. S. J. Appl. Phys. 1998, 83, 3461-3468.
253. Wei, P. K.; Fann, W. S. Ultramicroscopy 1998, 71, 159-163.
254. Ruiter, A. G. T.; van der Werf, K. O.; Veerman, J. A.; Garcia-Parajo, M. F.; Rensen, W. H. J.; van Hulst, N. F. Ultramicroscopy 1998, 71, 149-157.
255. Davy, S.; Spajer, M.; Courjon, D. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2594-2596.
256. Williamson, R. L.; Miles, M. J. J. Appl. Phys. 1996, 80, 3143-3146.
257. Froehlich, F. F.; Muster, T. D. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1500-1502.
258. Drummond Roby, M. A.; Wetsel, G. C.; Wang, C.-Y. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 130-132.
259. Karrai, K.; Grober, R. D. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1842-1844.
260. Lieberman, K.; Lewis, A.; Fish, G.; Shalom, S.; Jovin, T. M.; Schaper, A.; Cohen, S. R. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 648-650.
261. Lieberman, K.; Ben-Ami, N.; Lewis, A. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3567-3572.
262. Shalom, S.; Lieberman, K.; Lewis, A.; Cohen, S. R. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 4061-4065.
263. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Homma, K.; Nakajima, K.; Ataka, T.; Ohta, S.; Kusumi, A.; Fujihira, M. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3245-3247.
264. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Ataka, T.; Monobe, H.; Fujihira, M. Ultramicroscopy 1995, 57, 141-146.
265. Muramatsu, H.; Yamamoto, N.; Umemoto, T.; Homma, K.; Chiba, N.; Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1997, 36, 5753-5758.
266. Mitsuoka, Y.; Nakajima, K.; Homma, K.; Chiba, N.; Muramatsu, H.; Ataka, T.; Sato, K. J. Appl. Phys. 1998, 83, 3998-4002.
267. Talley, C. E.; Cooksey, G.; Dunn, R. C. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3809-3811.
268. Monobe, H.; Koike, A.; Muramatsu, H.; Chiba, N.; Yamamoto, N.; Ataka, T.; Fujihira, M. Ultramicroscopy 1998, 71, 287-293.
269. Nakajima, K.; Mitsuoka, Y.; Chiba, N.; Muramatsu, H.; Ataka, T.; Sato, K.; Fujihira, M. Ultramicroscopy 1998, 71, 257-262.
270. Fujihira, M.; Monobe, H.; Muramatsu, H.; Ataka, T. Ultramicroscopy 1995, 57, 118-123.
271. Chiba, N.; Muramatsu, H.; Ataka, T.; Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 321-324.
272. Fujihira, M.; Monobe, H.; Yamamoto, N.; Muramatsu, H.; Chiba, N.; Nakajima, K.; Ataka, T. Ultramicroscopy 1995, 61, 271-277.
273. Fujimura, T.; Edamatsu, K.; Itoh, T.; Shimada, R.; Imada, A.; Koda, T.; Chiba, N.; Muramatsu, H.; Ataka, T. Opt. Lett. 1997, 22, 489-491.
274. Fujihira, M.; Monobe, H.; Muramatsu, H.; Ataka, T. Chem. Lett. 1994, 657-660.
275. Lieberman, K.; Terkel, H.; Rudman, M.; Ignatov, A.; Lewis, A. SPIE 1996, 2793, 481-488.
276. Ben-Ami, U.; Tessler, N.; Ben-Ami, N.; Nagar, R.; Fish, G.; Lieberman, K.; Eisenstein, G.; Lewis, A.; Nielsen, J. M.; Moeller-Larsen, A. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2337-2339.
277. Shiku, H.; Dunn, R. C. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 3791-3797.
278. Hollars, C. W.; Dunn, R. C. Biophys. J. 1998, 75, 342-353.
279. Girard, C.; Dereux, A. Rep. Prag. Phys. 1996, 59, 657-699.
280. Torok, P.; Sheppard, C. J. R.; Varga, P. J. Mod. Opt. 1996, 43, 1167-1183.
281. Fukuzawa, K.; Kuwano, H. J. Appl. Phys. 1996, 80, 4799-4803.
282. Fukuzawa, K.; Kuwano, H. J. Appl. Phys. 1996, 79, 8174-8178.
283. Furukawa, H.; Kawata, S. Opt. Commun. 1996, 132, 170-178.
284. Bozhevolnyi, S. I. Phys. Rev. B 1996, 54, 8177-8185.
285. Grober, R. D.; Rutherford, T.; Harris, T. D. Appl. Opt. 1996, 35, 3488-3495.
286. Keller, O. Ultramicroscopy 1998, 71, 1-9.
287. Martin, O. J. F.; Girard, C.; Dereaux, A. Helv. Phys. Acta 1995, 68, 195-196.
288. Paule, E.; Reineker, P. J. Lumin. 1998, 76-77, 299-302.
289. Wei, P. K.; Chang, R.; Hsu, J. H.; Lin, S. H.; Fann, W. S.; Hsieh, B. R. Opt. Lett. 1996, 21, 1876-1878.
290. Xiao, M. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3125-3127.
291. Xiao, M, Chem. Phys. Lett. 1997, 270, 167-177.
292. Xiao, M.; Zayats, A.; Siqueiros, J. Phys. Rev. B 1997, 55, 1824-1837.
293. Novotny, L. J. Opt. Soc. Am. A 1997, 14, 91-104.
294. Novotny, L. J. Opt. Soc. Am. A 1997, 14, 105-113.
295. Novotny, L.; Hecht, B.; Pohl, D. W. J. Appl. Phys. 1997, 81, 1798-1806.
296. Bethe, H. A. Phys. Rev. 1944, 66, 163-182.
297. Bouwkamp, C. J. Philips Res. Rep. 1950, 5, 401-422.
298. Bouwkamp, C. J. Philips Res. Rep. 1950, 5, 321-332.
299. Leviatan, Y. J. Appl. Phys. 1986, 60, 1577-1583.
300. Roberts, A. J. Appl. Phys. 1989, 65, 2896-2899.
301. Roberts, A. J. Opt. Soc. Am. A 1987, 4, 1970-1983.
302. Roberts, A. J. Appl. Phys. 1991, 70, 4045-4049.
303. Novotny, L.; Hafner, C. Phys. Rev. E 1994, 50, 4094-4106.
304. Christensen, D. A. Ultramicroscopy 1995, 57, 189-195.
305. Hecht, B.; Bielefeldt, H.; Inouye, Y.; Pohl, D. W.; Novotny, L. J. Appl. Phys. 1997, 81, 2492-2498.
306. Novotny, L.; Hecht, B.; Pohl, D. W. Ultramicroscopy 1998, 71, 341-344.
307. Chance, R. R.; Prock, A.; Silbey, R. Adv. Chem. Phys. 1978, 37, 1-65.
308. Xie, X. S.; Trautman, J. K. Annu. Rev. Phys. Chem. 1998, 49, 441-480.
309. Conboy, J. C.; Olson, E. J. C.; Adams, D. M.; Kerimo, J.; Zaban, A.; Gregg, B. A.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. 1998, 102, 4516-4525.
310. Krausch, G.; Mlynek, J. Microelectron. Eng. 1996, 32, 219-228.
311. Fujihira, M. Ann. N.Y. Acad. Sci. 1998, 852, 306-329.
312. Jiang, S.; Ichihashi, J.; Monobe, H.; Fujihira, M.; Ohtsu, M. Opt. Commun. 1994, 106, 173-177.
313. Vanden Bout, D. A.; Kerimo, J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. 1996, 100, 11843-11849.
314. Higgins, D. A.; Vanden Bout, D. A.; Kerimo, J.; Barbara, P. F. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13794-13803.
315. Vanden Bout, D. A.; Yip, W. T.; Hu, D.; Fu, D. K.; Swager, T. M.; Barbara, P. F. Science 1997, 277, 1074-1077.
316. Mei, E.; Higgins, D. A. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 7558-7563.
317. Wang, H.; Bardo, A. M.; Collinson, M. M.; Higgins, D. A. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7231-7237.
318. Huser, Th.; Lacoste, Th.; Heinzelmann, H.; Kitzerow, H.-S. J. Chem. Phys. 1998, 108, 7876-7880.
319. Moyer, P. J.; Walzer, K.; Hietschold, M. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 2129-2131.
320. Lacoste, Th.; Huser, Th.; Prioli, R.; Heinzelmann, H. Ultramicroscopy 1998, 71, 333-340.
321. Teetsov, J.; Vanden Bout, D. A. Private communication.
322. Kook, S. K.; Kopelman, R. J. Phys. Chem. 1992, 96, 10672-10676.
323. Pohl, D. W.; Bach, H.; Bopp, M. A.; Deckert, V.; Descouts, P.; Eckert, R.; Guntherodt, H.-J.; Hafner, C.; Hecht, B.; Heinzelmann, H.; Huser, T.; Jobin, M.; Keller, U.; Lacoste, T.; Lambelet, P.; Marquis-Weible, F.; Martin, O. J. F.; Meixner, A. J.; Nechay, B.; Novotny, L.; Pfeiffer, M.; Philipona, C.; Plakhotnik, T.; Renn, A.; Sayah, A.; Segura, J.-M.; Sick, B.; Siegner, U.; Tarrach, G.; Vahldieck, R.; Wild, U. P.; Zeisel, D.; Zenobi, R. Chimia 1997, 51, 760-767.
324. Hwang, J.; Tamm, L. K.; Bohm, C.; Ramalingam, T.; Betzig, E.; Edidin, M. Science 1995, 270, 610-614.
325. Moers, M. H. P.; Gaub, H. E.; van Hulst, N. F. Langmuir 1994, 10, 2774-2777.
326. Shiku, H.; Dunn, R. C. J. Microsc. 1999, in press.
327. Shiku, H.; Dunn, R. C. J. Microsc. 1999, in press.
328. Ivanov, G. R.; Petkova, J. I.; Okabe, Y.; Aoki, D.; Takano, H.; Kawate, H.; Fujihira, M. Supramol. Sci. 1997, 4, 549-557.
329. Fujihira, M.; Sakomura, M.; Aoki, D.; Koike, A. Thin Solid Films 1996, 273, 168-176.
330. Smith, S.; Monson, E.; Merritt, G.; Tan, W.; Birnbaum, D.; Shi, Z. Y.; Thorsrud, B. A.; Harris, C.; Grahn, H. T.; Ploog, K.; Merlin, R.; Orr, B.; Langmore, J.; Kopelman, R. SPIE, Scanning Probe Microscopies III; SPIE: Bellingham, WA, 1993; pp 81-92.
331. Atia, W. A.; Pilevear, S.; Gungor, A.; Davis, C. C. Ultramicroscopy 1998, 71, 379-382.
332. Bozhevolnyi, S. I.; Vohnsen, B. J. Opt. Soc. Am. B 1997, 14, 166-16635.
333. Tsai, D. P.; Lu, Y. Y. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2724-2726.