Principles of near-field microwave microscopy

Scanning Probe Microscopy

Volumn 2, Issue , 2007, Pages 215-253

  Anlage, Steven M ^a   Talanov, Vladimir V ^b   Schwartz, Andrew R ^b  

^a Bldg 142   (United States)

^b Neocera Inc   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84891403958     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: 10.1007/978-0-387-28668-6_8     Document Type: Chapter

References (223)

1. M. Dressel and G. Grüner, Electrodynamics of Solids, Cambridge University Press, Cambridge, 2002.
2. M. Tinkham, Introduction to Superconductivity, 2nd Edition, McGraw-Hill, New York, 1996, p. 87.
3. Z. Frait, V. Kambersky, Z. Malek, and M. Ondris, Czeck. J. Phys. B 10, 616(1960).
4. R. F. Soohoo, J. Appl. Phys. 33, 1276(1962).
5. R. F. Soohoo, Microwave Magnetics, Harper & Row Publishers, New York, 1985.
6. E. H. Brandt and G. P. Mikitik, Phys. Rev. Lett. 85, 4164(2000).
7. S. M. Anlage, D. E. Steinhauer, B. J. Feenstra, C. P. Vlahacos, and F. C. Wellstood, "Near-Field Microwave Microscopy of Materials Properties", in Microwave Superconductivity, ed. by H. Weinstock and M. Nisenoff, (Kluwer, Amsterdam, 2001), p. 239. Also available at http://arXiv.org/abs/cond-mat/ 0001075.
8. X.-D. Xiang, C. Gao, Mat. Character. 48, 117(2002).
9. B. T. Rosner, D. W. van der Weide, Rev. Sci. Instrum. 73, 2505(2002).
10. R. Zoughi, Microwave Non-Destructive Testing and Evaluation, Kluwer, The Netherlands, 2000.
11. A. J. Bahr, R. Zoughi, N. Qaddoumi, "Microwave", in Nondestructive Evaluation, ed. by P. J. Shull (Marcel Dekker, New York, 2002), p. 645.
12. C. Gao, T. Wei, F. Duewer, Y. Lu and X.-D. Xiang, Appl. Phys. Lett. 71, 1872(1997).
13. D. W. van der Weide, Appl. Phys. Lett. 70, 677(1997).
14. D. E. Steinhauer, C. P. Vlahacos, S. Dutta, F. C. Wellstood, S. M. Anlage, Appl. Phys. Lett. 71, 1736(1997).
15. V. V. Talanov, R. L. Moreland, A. Scherz, A. R. Schwartz, and Y. Liu, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 815, F5.11.1(2004).
16. S.-C. Lee, C. P. Vlahacos, B. J. Feenstra, A. Schwartz, D. E. Steinhauer, F. C. Wellstood, and S. M. Anlage, Appl. Phys. Lett. 77, 4404(2000).
17. J. D. Jackson, Classical Electrodynamics, 3rd Edition, Wiley, New York, 1999.
18. S. Schelkunoff, Antennas, Theory and Practice. Wiley and Sons, Inc., New York, 1952.
19. S. S. Osofsky, S. E. Swarz, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 40, 1701(1992).
20. D. M. Pozar, Microwave Engineering. John Wiley & Sons, Inc., New York, 1998.
21. E. A. Synge, Phil. Mag. C 6, 356(1928).
22. J. B. Pendry, Phys. Rev. Lett. 85, 3966(2000).
23. J. B. Pendry, Phys. Rev. Lett. 87, 249704-1(2001).
24. H. A. Bethe, Phys. Rev. 66, 163(1944).
25. C. J. Bouwkamp, Philips Res. Rep. 5, 401(1950).
26. G. A. Massey, Appl. Optics 23, 658(1984).
27. R. D. Grober, T. Rutherford, T. D. Harris, Appl. Optics 35, 3488(1996).
28. S. E. Lofland, S. M. Bhagat, H. L. Ju, G. C. Xiong, T. Venkatesan, and R. L. Greene, Phys. Rev. B 52, 15058(1995).
29. S. E. Lofland, S. M. Bhagat, Q. Q. Shu, M. C. Robson and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 75, 1947(1999).
30. E. A. Ash and G. Nicholls, Nature 237, 510(1972).
31. C. A. Bryant and J. B. Gunn, Rev. Sci. Instrum. 36, 1614(1965).
32. R. G. Bosisio, M. Giroux, and D. Couderc, J. Microwave Power 5, 25(1970).
33. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651(1984).
34. E. Betzig, M. Isaacson and A. Lewis, Appl. Phys. Lett. 51, 2088(1987).
35. M. Fee, S. Chu and T. W. Hänsch, Optics Communications 69, 219(1989).
36. M. Golosovsky and D. Davidov, Appl. Phys. Lett. 68, 1579(1996).
37. M. Golosovsky, A. Galkin, and D. Davidov, IEEE Micro. Theor. Tech. 44, 1390(1996).
38. J. Bae, T. Okamoto, T. Fujii, K. Mizuno, T. Nozokido, Appl. Phys. Lett. 71, 3581(1997).
39. T. Nozokido, R. Iibuchi, J. Bae, K. Mizuno, Rev. Sci. Instrum. 76, 033702(2005).
40. G. P. Kochanski, Phys. Rev. Lett. 62, 2285(1989).
41. Y. Manassen, R. J. Hamers, J. E. Demuth, A. J. Castellano Phys. Rev. Lett. 62, 2531(1989).
42. R. J. Hamers and D. G. Cahill, Appl. Phys. Lett. 57, 2031(1990).
43. M. Völcker, W. Krieger, H. Walther, Phys. Rev. Lett. 66, 1717(1991).
44. W. Seifert, E. Gerner, M. Stachel, K. Dransfeld, Ultramicroscopy 42, 379(1992).
45. U. Ch. Fischer, M. Zapletal, Ultramicroscopy 42-44, 393(1992).
46. B. Michel, W. Mizutani, R. Schierle, A. Jarosch, W. Knop, H. Benedickter, W. Bächtold, H. Rohrer, Rev. Sci. Instrum. 63, 4080(1992).
47. W. Mizutani, B. Michel, R. Schierle, H. Wolf, H. Rohrer, Appl. Phys. Lett. 63, 147(1993).
48. G. Nunes, M. R. Freeman, Science 262, 1029(1993).
49. S. J. Stranick and P. S. Weiss, Rev. Sci. Instrum. 64, 1232(1993).
50. S. J. Stranick and P. S. Weiss, Rev. Sci. Instrum. 65, 918(1994).
51. L. A. Bumm and P. S. Weiss, Rev. Sci. Instrum. 66, 4140(1995).
52. A. Kramer, F. Keilmann, B. Knoll, R. Guckenberger, Micron 27, 413(1996).
53. F. Keilmann, D. W. van der Weide, T. Eickelkamp, R. Merz, and D. Stöckle, Optics Commun. 129, 15(1996).
54. T. Leinhos, O. Rudow, M. Stopka, A. Vollkopf, E. Oesterschulze, J. Microscopy 194, 349(1999).
55. F. Demming, J. Jersch, S. Klein, K. Dickmann, J. Microscopy 201, 383(2001).
56. Š S. Lányi, M. Hrušskovic, Rev. Sci. Instrum. 73, 2923(2002).
57. A. Imtiaz and S. M. Anlage, Ultramicroscopy 94, 209(2003).
58. L. A. Valiente, A. A. P. Gibson, A. D. Haigh, Electron. Lett. 40, 1483(2004).
59. A. Imtiaz, M. Pollak, S. M. Anlage, J. D. Barry and J. Melngailis, J. Appl. Phys. 97, 044302(2005).
60. F. Keilmann, Infrared Phys. Technol. 36, 217(1995).
61. S. J. Stranick, L. A. Bumm, M. M. Kamna, P. S. Weiss, "Linear and nonlinear spectroscopy with the tunable AC scanning tunneling microscope", in Photons and Local Probes, and Local Probes, ed. by O. Marti and R. Möller (Kluwer, Dordrecht, 1995), p. 221.
62. H. Yokoyama, M. J. Jeffery and T. Inoue, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L1845(1993).
63. H. Yokoyama and M. J. Jeffery, Colloids and Surfaces A 93, 359(1994).
64. Y. Cho, A. Kirihara and T. Saeki, Rev. Sci. Instrum. 67, 2297(1996).
65. Y. Cho, S. Kazuta, and K. Matsuura, Appl. Phys. Lett. 75, 2833(1999).
66. M. Tabib-Azar, Y. Wang, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 52, 971(2004).
67. H. G. Frey, F. Keilmann, A. Kriele, R. Guckenberger, Appl. Phys. Lett. 81, 5030(2002).
68. W. Park, J. Kim, K. Lee, Appl. Phys. Lett. 79, 2642(2001).
69. R. C. Black, F. C. Wellstood, E. Dantsker, A. H. Miklich, D. T. Nemeth, D. Koelle, F. Ludwig, and J. Clarke, Appl. Phys. Lett. 66, 99-101(1995).
70. R. C. Black, F. C. Wellstood, E. Dantsker, A. H. Miklich, D. Koelle, F. Ludwig, and J. Clarke, IEEE Trans. Appl. Supercon. 5, 2137(1995).
71. S.-C. Lee and S. M. Anlage, Appl. Phys. Lett. 82, 1893(2003).
72. S.-C. Lee and S. M. Anlage, IEEE Trans. Applied Supercond. 13, 3594(2003).
73. S.-C. Lee and S. M. Anlage, Physica C 408-410, 324(2004).
74. S.-C. Lee, M. Sullivan, G. R. Ruchti, S. M. Anlage, B. Palmer, B. Maiorov, E. Osquiguil, Phys. Rev. B 71, 014507(2005).
75. S.-C. Lee, S.-Y. Lee, and S. M. Anlage Phys. Rev. B 72, 024527(2005).
76. C. P. Vlahacos, R. C. Black, S. M. Anlage and F. C. Wellstood, Appl. Phys. Lett. 69, 3272(1996).
77. M. Tabib-Azar, N. Shoemaker and S. Harris, Meas. Sci. Tech., 4, 583(1993).
78. A. Tselev, S. M. Anlage, H. Christen, R. L. Moreland, V. V. Talanov, and A. R. Schwartz, Rev. Sci. Instrum. 74, 3167(2003).
79. E. Betzig, P. L. Finn, J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484(1992).
80. R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, M. Vaez-Iravani, Appl. Phys. Lett. 60, 2957(1992).
81. K. Karrai, R. D. Grober, Appl. Phys. Lett. 66, 1842(1995).
82. M. S. Kim, S. Kim, J. Kim, K. Lee, B. Friedman, J.-T. Kim, J. Lee, Rev. Sci. Instrum. 74, 3675(2003).
83. C.-G. Gao, B. Hu, I. Tackeuchi, K.-S. Chang, X.-D. Xiang, and G. Wang, Meas. Sci. Tech. 16, 248(2005).
84. H. Odagawa and Y. Cho, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 5719(2000).
85. D. W. van der Weide, P. Neuzil, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 4144(1996).
86. Scanning Tunneling Microscopy, ed. by J. A. Stroscio and W. J. Kaiser, Academic Press, New York (1993).
87. R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications, Cambridge (1994).
88. B. Knoll, F. Keilmann, A. Kramer, R. Guckenberger, Appl. Phys. Lett. 70, 2667(1997).
89. M. Tabib-Azar, D.-P. Su, A. Pohar, S. R. LeClair, G. Ponchak, Rev. Sci. Instrum. 70, 1725(1999).
90. F. Duewer, C. Gao, I. Takeuchi, X.-D. Xiang, Appl. Phys. Lett. 74, 2696(1999).
91. F. Duewer, C. Gao, I. Takeuchi, X.-D. Xiang, Rev. Sci. Instrum. 71, 2414(2000).
92. B. Knoll and F. Keilmann, Appl. Phys. Lett. 77, 980(2000).
93. D. E. Steinhauer, C. P. Vlahacos, S. K. Dutta, B. J. Feenstra, F. C. Wellstood, S. M. Anlage, Appl. Phys. Lett. 72, 861(1998).
94. A. S. Thanawalla, S. K. Dutta, C. P. Vlahacos, D. E. Steinhauer, B. J. Feenstra, S. M. Anlage, and F. C. Wellstood, Appl. Phys. Lett. 73, 2491(1998).
95. A. N. Reznik, N. V. Yurasova, Tech. Phys., 49, 485(2004).
96. S. Ramo, J. R. Whinnery, T. V. Duzer, Fields and Waves in Communication Electronics. John Wiley & Sons, Inc., New York, 1994.
97. Z.-Y. Shen, High-Temperature Superconductive Microwave Circuits. Artech House, Inc., Boston, 1994.
98. R. E. Matick, Transmission Lines for Digital and Communication Networks, IEEE Press, New York, 1995.
99. M. Hein, High-Temperature-Superconductor Thin Films at Microwave Frequencies, Springer Tracts in Modern Physics, Vol. 155, Springer-Verlag, 1999.
100. C. P. Vlahacos, D. E. Steinhauer, S. K. Dutta, B. J. Feenstra, S. M. Anlage, and F. C. Wellstood, Appl. Phys. Lett., 72, 1778(1998).
101. V. V. Talanov, L. V. Mercaldo, S. M. Anlage, and J. H. Claassen, Rev. Sci. Instrum. 71, 2136(2000).
102. T. Tran, D. R. Oliver, D. J. Thomson, and G. E. Bridges, Rev. Sci. Instrum. 72, 2618(2001).
103. C. Gao, and X.-D. Xiang, Rev. Sci. Instrum. 69, 3846(1998).
104. M. Tabib-Azar, D. Akinwande, G. Ponchak, and S. R. LeClair, Rev. Sci. Instrum. 70, 3381(1999).
105. M. Tabib-Azar, D. Akinwande, Rev. Sci. Instrum., 71, 1460(2000).
106. M. Tabib-Azar, T. Zhang, and S. R. LeClair, IEEE Trans. Instrum. Meas. 51, 1126(2002).
107. Waveguide handbook, ed. N. Marcuvitz. McGraw-Hill Book Co., Inc., New York, 1951.
108. D. E. Steinhauer, C. P. Vlahacos, C. Canedy, A. Stanishevski, J. Melngailis, R. Ramesh, F. C. Wellstood, and S. M. Anlage, Appl. Phys. Lett. 75, 3180(1999).
109. R. W. P. King, M. Owens, T. T. Wu, Lateral Electromagnetic Waves, Springer-Verlag, New York, 1992.
110. A. Imtiaz and S. M. Anlage, J. Appl. Phys. (in press), August 1, (2006).
111. V. V. Talanov, A. Scherz, R. L. Moreland, A. R. Schwartz, Appl. Phys. Lett. 88, 134106(2006);
112. V. V. Talanov, A. Scherz, A. R. Schwartz, Appl. Phys. Lett. 88, 262901(2006).
113. M. Tabib-Azar, P. S. Pathak, G. Ponchak, and S. LeClair, Rev. Sci. Instrum. 70, 2783(1999).
114. J. Kim, M. Kim, H. Kim, D. Song, K. Lee, B. Friedman, Appl. Phys. Lett. 83, 1026(2003).
115. M. Kim, J. Kim, H. Kim, S. Kim, J. Yang, H. Yoo, S. Kim, K. Lee, B. Friedman, Rev. Sci. Instrum. 75, 684(2004).
116. V. S. Zuev and A. V. Frantsesson, J. Commun. Tech. and Electronics 43, 1021(1998).
117. Š S. Lányi, M. Hrušskovic, J. Phys. D 36, 598(2003).
118. J. H. Lee, S. Hyun, K. Char, Rev. Sci. Instrum. 72, 1425(2001).
119. R. Hillenbrand, F. Keilmann, Phys. Rev. Lett. 85, 3029(2000).
120. E. Tanabe and W. T. Joines, IEEE Trans. Instrum. Meas. IM-25, 222(1976).
121. M. A. Stuchly and S. S. Stuchly, IEEE Trans. Instrum. and Meas. IM-29, 176(1980).
122. Y. Lu, T. Wei, F. Duewer, Y. Lu, N. Ming, P. G. Schultz and X.-D. Xiang, Science 276, 2004(1997).
123. B. J. Feenstra, C. P. Vlahacos, A. S. Thanawalla, D. E. Steinhauer, S. K. Dutta, F. C. Wellstood and S. M. Anlage, IEEE MTT-S Int. Microwave Symp. Digest, p. 965(1998).
124. C. P. Vlahacos, D. E. Steinhauer, S. M. Anlage, F. C. Wellstood, S. K. Dutta, J. B. Feenstra, The Americas Microscopy and Analysis, January, 13(2000).
125. Y. G. Wang, M. E. Reeves, F. J. Rachford, Appl. Phys. Lett. 76, 3295(2000).
126. Y. Cho, S. Kazuta, K. Ohara, H. Odagawa, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 3086(2000).
127. D. E. Steinhauer, C. P. Vlahacos, F. C. Wellstood, S. M. Anlage, C. Canedy, R. Ramesh, A. Stanishevsky, and J. Melngailis, Rev. Sci. Instrum. 71, 2751(2000).
128. D. E. Steinhauer and S. M. Anlage, J. Appl. Phys. 89, 2314(2001).
129. Y. G. Wang, M. E. Reeves, W. J. Kim, J. S. Horwitz, and F. J. Rachford, Appl. Phys. Lett. 78, 3872(2001).
130. Y. J. Feng, L. Y. Wu, T. Jiang, L. Liu, L. Kang, S. Z. Yang, P. H. Wu, Supercond. Sci. Technol. 15, 390(2002).
131. Y.-C. Chen, H.-F. Cheng, G. Wang, X.-D. Xiang, C.-M. Lei, I.-N. Lin, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 7214(2002).
132. Z. Wang, M. A. Kelly, Z.-X. Shen, G. Wang, X.-D. Xiang, J. T. Wetzel, J. Appl. Phys. 92, 808(2002).
133. C. Gao, B. Hu, P. Zhang, M. Huang, W. Liu, I. Takeuchi, Appl. Phys. Lett. 84, 4647(2004).
134. A. Tselev and S. M. Anlage, in preparation, 2006.
135. H. Chang, C. Gao, I. Takeuchi, Y. Yoo, J. Wang, P. G. Schultz, X.-D. Xiang, R. P. Sharma, M. Downes, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 72, 2185(1998).
136. H. Chang, I. Takeuchi, X.-D. Xiang, Appl. Phys. Lett. 74, 1165(1999).
137. Y. K. Yoo, F. Duewer, T. Fukumura, H. Yang, D. Yi, S. Liu, H. Chang, T. Hasegawa, M. Kawasaki, H. Koinuma, X.-D. Xiang, Phys. Rev. B 63, 224421(2001).
138. H. Chang, K.-M. Yu, Y. Dong, X.-D. Xiang, Appl. Phys. Lett. 81, 2062(2002).
139. N. Okazaki, S. Okazaki, H. Higuma, S. Miyashita, Y. Cho, J. Nishimaru, T. Fukumura, M. Kawasaki, M. Murakami, Y. Yamamoto, Y. Matsumoto, H. Koinuma, T. Hasegawa, Applied Surface Science 223, 196(2004).
140. H.-W. Cheng, X.-J. Zhang, S.-T. Zhang, Y. Feng, Y.-F. Chen, Z.-G. Liu, G.-X. Cheng, Appl. Phys. Lett. 85, 2319(2004).
141. X.-D. Xiang, Appl. Surf. Sci. 223, 54(2004).
142. I. Takeuchi, R. B. van Dover, and H. Koinuma, Mater. Res. Soc. Bull. 27, 301(2002).
143. H. Koinuma, I. Takeuchi, Nature Materials 3, 429(2004).
144. Y. Cho and K. Ohara, Appl. Phys. Lett. 79, 3842(2001).
145. C. Hubert, J. Levy, Rev. Sci. Instrum. 70, 3684(1999).
146. C. Hubert, J. Levy, E. J. Cukauskas, S. W. Kirchoefer, Phys. Rev. Lett. 85, 1998(2000).
147. S. Hyun, J. H. Lee, S. S. Kim, K. Char, S. J. Park, J. Sok, E. H. Lee, Appl. Phys. Lett. 77, 3084(2000).
148. H. Odagawa and Y. Cho, Appl. Phys. Lett. 80, 2159(2002).
149. M. J. Werner and R. J. King, MRS Proc. 430, 67(1996).
150. Y. S. Xu and R. G. Bosisio, IEE Proc. H 139, 500(1992).
151. R. J. Gutman and J. M. Borrego, IEEE MTT Digest, 281(1987).
152. H. Bhimnathwala and J. M. Borrego, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 395(1994).
153. T. Nozokido, J. Bae, K. Mizuno, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 49, 491(2001).
154. Y. Huang, C. C. Williams, J. Slinkman, Appl. Phys. Lett. 66, 344(1995).
155. M. Tabib-Azar, D. Akinwande, G. Ponchak, S. R. LeClair, Rev. Sci. Instrum. 70, 3083(1999).
156. C. C. Watson, W. K. Chan, Appl. Phys. Lett. 78, 129(2001).
157. M. Tabib-Azar, R. Ciocan, G. Ponchak, and S. R. LeClair, Rev. Sci. Instrum. 70, 3387(1999).
158. J.-P. Bourgoin, M. B. Johnson, B. Michel, Appl. Phys. Lett. 65, 2045(1994).
159. B. Knoll and F. Keilmann, Optics Commun. 182, 321(2000).
160. Acomprehensive discussion of the VideoDisc technology may be found in a collection of articles published in RCA Rev. 39(1978).
161. J. R. Matey and J. Blanc, J. Appl. Phys. 57, 1437(1985).
162. C. D. Bugg and P. J. King, J. Phys. E 21, 147(1988).
163. H. P. Kleinknecht, J. R. Sandercock, H. Meier, Scanning Microscopy 2, 1839(1988).
164. Š S. Lányi, J. Török, P. Ř Rehu̇řek, Rev. Sci. Instrum. 65, 2258(1994).
165. Š S. Lányi, J. Török, P. Ř Rehu̇řek, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 892(1996).
166. A. F. Lann, M. Golosovsky, D. Davidov, and A. Frenkel, Appl. Phys. Lett. 73, 2832(1998).
167. A. Kim, J. Kim, S. Hyun, S. S. Kim, T. Kim, K. Char, Rev. Sci. Instrum. 74, 3164(2003).
168. S. M. Anlage, C. P. Vlahacos, D. E. Steinhauer, S. K. Dutta, B. J. Feenstra, A. Thanawalla, and F. C. Wellstood, Particle Accelerators 61, 321./57(1998). Also available at http://www.arXiv.org/abs/cond-mat/9808195.
169. S. M. Anlage, D. E. Steinhauer, C. P. Vlahacos, B. J. Feenstra, A. S. Thanawalla, W. Hu, S. K. Dutta, and F. C. Wellstood, IEEE Trans. Appl. Supercond. 9, 4127(1999).
170. Y. J. Feng, L. Liu, Z. L. Fu, L. Y. Wu, Q. G. Liu, L. X. You, L. Kang, S. Z. Yang, P. H. Wu, S. Z. Wang, IEEE Trans. Applied Supercond. 11, 123(2001).
171. F. Sakran, M. Golosovsky, H. Goldberger, D. Davidov, A. Frenkel, Appl. Phys. Lett. 78, 1634(2001).
172. J. Kim, K. Lee, B. Friedman, D. Cha, Appl. Phys. Lett. 83, 1032(2003).
173. Z. Wang, M. A. Kelly, Z.-X. Shen, L. Shao, W.-K. Chu, H. Edwards, Appl. Phys. Lett. 86, 153118(2005).
174. M. Abu-Teir, F. Sakran, M. Golosovsky, D. Davidov, A. Frenkel, Appl. Phys. Lett. 80, 1776(2002).
175. A. F. Lann, M. Golosovsky, D. Davidov, A. Frenkel, Appl. Phys. Lett. 75, 603(1999).
176. S. Hyun, J. H. Cho, A. Kim, J. Kim, T. Kim, and K. Char, Appl. Phys. Lett. 80, 1574(2002).
177. B. A. Auld, and D. K. Winslow, "Microwave Eddy-Current Experiments with Ferromagnetic Resonance Probes", in Eddy-Current Characterization of Materials and Structures (ASTM Special Technical Publication 722, Philadelphia, 1981), p. 348.
178. F. Sakran, A. Copty, M. Golosovsky, and D. Davidov, P. Monod, Appl. Phys. Lett. 84, 4499(2004).
179. Z. Zhang, P. C. Hammel and P. Wigen, Appl. Phys. Lett. 68, 2005(1996).
180. Z. Zhang, P. C. Hammel, M. Midzor, M. L. Roukes, and J. R. Childress, Appl. Phys. Lett. 73, 2036(1998).
181. G. R. Eaton and S. S. Eaton, Bull. Mag. Res. 10, 22(1987).
182. M. Ikeya and T. Miki, Jap. J. Appl. Phys. 26, L929(1987).
183. M. Ikeya, M. Furusawa, and M. Kasuyai, Scanning Microscopy 4, 245(1990).
184. M. Ikeya, "ESR Microscopy", in New Applications of Electron Spin Resonance (World Scienti.c, Singapore, 1993), p. 427.
185. M. Hirai, C. Yamanaka, M. Ikeya, Appl. Radiation and Isotopes 44, 385(1993).
186. K. Wago, D. Botkin, C. S. Yannoni, and D. Rugar, Appl. Phys. Lett. 72, 2757(1998).
187. F. Sakran, A. Copty, M. Golosovsky, N. Bontemps, D. Davidov, A. Frenkel, Appl. Phys. Lett. 82, 1479(2003).
188. Y. Manassen, Adv. Mater. 6, 401(1994).
189. C. Durkan and M. E. Welland, Appl. Phys. Lett. 80, 458(2002).
190. I. Takeuchi, T. Wei, F. Duewer, Y. K. Yoo, X.-D. Xiang, V. Talyansky, S. P. Pai, G. J. Chen, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 71, 2026(1997).
191. A. F. Lann, M. Abu-Teir, M. Golosovsky, D. Davidov, A. Goldgirsch, and V. Berlin, Appl. Phys. Lett. 75, 1766(1999).
192. S. M. Anlage, C. P. Vlahacos, S. Dutta, and F. C. Wellstood, IEEE Trans. Appl. Supercond. 7, 3686(1997).
193. A. F. Lann, M. Abu-Teir, M. Golosovsky, D. Davidov, S. Djordjevic, N. Bontemps, and L. F. Cohen, Rev. Sci. Instrum. 70, 4348(1999).
194. W. Hu, B. J. Feenstra, A. S. Thanawalla, F. C. Wellstood, and S. M. Anlage Appl. Phys. Lett. 75, 2824(1999).
195. S. M. Anlage, W. Hu, C. P. Vlahacos, D. Steinhauer, B. J. Feenstra, S. K. Dutta, A. Thanawalla, and F. C. Wellstood, J. Supercond. 12, 353(1999).
196. E. C. Burdette, F. L. Cain, and J. Seals, IEEE Trans. Microwave Theory Tech. MTT-28, 414(1980).
197. T. W. Athey, M. A. Stuchly and S. S. Stuchly, IEEE Trans. Microwave Theory and Tech. MTT-30, 82(1982).
198. M. A. Stuchly, T. W. Athey, G. M. Samaras and G. E. Taylor, IEEE Trans. Microwave Theory and Tech. MTT-30, 87(1982).
199. M. Tabib-Azar, J. L. Katz, and S. R. LeClair, IEEE Trans. Instrum. Meas. 48, 1111(1999).
200. S. M. Anlage, A. S. Thanawalla, A. P. Zhuravel', W. Hu, C. P. Vlahacos, D. E. Steinhauer, S. K. Dutta, and F. C. Wellstood, "Near-Field Scanning Microwave Microscopy of Superconducting Materials and Devices", in Advances in Superconductivity XI, ed. by N. Koshizuka and S. Tajima, (Springer-Verlag, Tokyo, 1999), pp. 1079.
201. A. S. Thanawalla, W. Hu, D. E. Steinhauer, S. K. Dutta, B. J. Feenstra, S. M. Anlage, F. C. Wellstood, and R. B. Hammond, IEEE Trans. Appl. Supercond. 9, 3042(1999).
202. S. Hong, J. Kim, W. Park, K. Lee, Appl. Phys. Lett. 80, 524(2002).
203. K. S. Chang, M. Aronova, O. Famodu, I. Takeuchi, S. E. Lofland, J. Hattrick-Simpers, H. Chang, Appl. Phys. Lett. 79, 4411(2001).
204. L. B. Felsen, N. Marcuvitz, Radiaiton and Scattering of Waves, IEEE Press, Piscataway, NJ, 1994.
205. C. Gao, F. Duewer, and X.-D. Xiang, Appl. Phys. Lett. 75, 3005(1999).
206. H. Zheng, J. Wang. S. E. Lofland, Z. Ma, L. Mohaddes-Ardabili, T. Zhao, L. Salamanca-Riba, S. R. Shinde, S. B. Ogale, F. Bai, D. Viehland, Y. Jia, D. G. Schlom, M. Wuttig, A. Roytburd, R. Ramesh, Science 303, 661(2004).
207. E. Saitoh, H. Miyajima, T. Yamaoka, G. Tatara, Nature 432, 203(2004).
208. Y. Cho, K. Fujimoto, Y. Hiranaga, Y. Wagatsuma, A. Onoe, K. Terabe, K. Kitamura, Appl. Phys. Lett. 81, 4401(2002).
209. K. Fujimoto and Y. Cho, Jpn. J. Appl. Phys. 43, 2818(2004).
210. A. V. Balatsky, Y. Manassen, R. Salem, Phys. Rev. B 66, 195416(2002).
211. C. Durkan, Contemp. Phys. 45, 1(2004).
212. S. I. Kiselev, J. C. Sankey, I. N. Krivorotov, N. C. Emley, R. J. Schoelkopf, R. A. Buhrman, D. C. Ralph, Nature 425, 380(2003).
213. F. Kreupl, A. P. Graham, G. S. Duesberg, W. Steinhögl, M. Liebau, E. Unger and W. Hönlein, Microelec. Eng. 64, 399(2002).
214. P. J. Burke, IEEE Trans. Nanotech. 1, 129(2002).
215. A. Copty, M. Golosovsky, D. Davidov, A. Frenkel, IEEE Trans. Microwave Th. Tech. 52, 1957(2004).
216. R. A. Shelby, D. R. Smith, and S. Schultz, Science 292, 77(2001).
217. V. G. Veselago, Usp. Fiz. Nauk 92, 517(1967)
218. {English translation: Sov. Phys. Usp. 10, 509(1968).
219. A. A. Houck, J. B. Brock, I. L. Chuang, Phys. Rev. Lett. 90, 137401(2003).
220. D. R. Smith, D. Schurig, M. Rosenbluth, S. Schultz, S. A. Ramakrishna, J. B. Pendry, Appl Phys. Lett. 82, 1506(2003).
221. N. Fang, H. Lee, C. Sun, X. Zhang, Science 308, 534(2005).
222. J. B. Pendry, A. J. Holden, D. J. Robbins, W. J. Stewart, J. Phys. Condens. Matter 10, 4785(1998).
223. T. W. Ebbesen, H. J. Lezec, H. F. Ghaemi, T. Thio, P. A. Wolff, Nature 391, 667(1998).