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Volumn 79, Issue 23, 2001, Pages 3842-3844

Higher-order nonlinear dielectric microscopy

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EID: 0035803259     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1421645     Document Type: Article
Times cited : (39)

References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.