Enhanced dielectric contrast in scattering-type scanning near-field optical microscopy

Optics Communications

Volumn 182, Issue 4, 2000, Pages 321-328

  Knoll, Bernhard ^a   Keilmann, Fritz ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUTE OF BIOCHEMISTRY   (Germany)

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DEMODULATION; HARMONIC ANALYSIS; LIGHT MODULATION; LIGHT SCATTERING; OPTICAL MICROSCOPY;

ENHANCED DIELECTRIC CONTRASTS; SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPES (SNOM);

OPTICAL COMMUNICATION;

EID: 0034245828     PISSN: 00304018     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0030-4018(00)00826-9     Document Type: Article

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