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Volumn 3, Issue 1-2, 2008, Pages 20-27

Cantilever dynamics in atomic force microscopy

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CANTILEVER BEAMS; EIGENVALUES AND EIGENFUNCTIONS; IMAGING TECHNIQUES; NONLINEAR ANALYSIS;

EID: 39749095028     PISSN: 17480132     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1748-0132(08)70012-4     Document Type: Review
Times cited : (178)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.