Applications of synchrotron-based X-ray microprobes

Chemical Reviews

Volumn 101, Issue 6, 2001, Pages 1809-1842

  Bertsch, Paul M ^a   Hunter, Douglas B ^a  

^a UNIVERSITY OF GEORGIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

X-RAY MICROPROBES;

ELECTROMAGNETIC WAVES; FLUORESCENCE; MAGNETIC MOMENTS; PHOTONS; SYNCHROTRONS;

X RAY SPECTROSCOPY;

ELECTRON PROBE MICROANALYSIS; REVIEW; SYNCHROTRON;

ELECTRON PROBE MICROANALYSIS; SYNCHROTRONS;

EID: 0035354588     PISSN: 00092665     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cr990070s     Document Type: Review

References (312)

1. Gordon, B.M.; Hanson, A.L.; Jones, K.W.; Pounds, J.G.; Rivers, M.L.; Schidlovshy, G.; Spanne, P.; Sutton, S.R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1990, 527-531.
2. Jones, K.W.; Gordon, B.M. Anal. Chem. 1989, 61, 341-358.
3. Tuniz, C.; Zanini, F.; Jones, K.W. In Nuclear Instruments and Methods in Physics Research; Elsevier Science Publishers B.V.: North Holland, 1991; Vol. B56/57.
4. Sutton, S.R.; Rivers, M.L.; Bajt, S.; Jones, K.W. In Nuclear Instruments and Methods in Physics Research; Elsevier Science Publishers B.V.: North Holland, 1993; Vol. B75.
5. Sutton, S.R.; Rivers, M.L.; Bajt, S.; Jones, K.W.; Smith, J.V. In Nuclear Instruments and Methods in Physics Research; Elsevier Science Publishers B.V.: North Holland, 1994; Vol. A, p 347.
6. Janssens, K.; Vincze, L.; Rubio, J.; F., A. J. Anal. At. Spectrom. 1994, 9, 151-157.
7. Torok, S.; Faigel, G.; Jones, K.W.; Rivers, M.L.; Sutton, S.R.; Bajt, S. X-Ray Spectrom. 1994, 23, 3-6.
8. Smith, J.V. Analyst 1995, 120, 1231-1245.
9. Haller, M.; Knochel, A. J. Trace Microprobe Tech. 1996, 14, 461-488.
10. Janssens, K.; Vincze, L.; Vekemans, B.; Aerts, A.; Adams, F.; Jones, K.W.; Knochel, A. Mikrochim. Acta 1996, 13, 87-115.
11. Smith, J.V.; Rivers, M.L. In Microprobe techniques in the Earth Sciences; Potts, P.J., Bowles, J.F.W., Reed, S.J.B., Cave, M.R., Eds.; Chapman and Hall: London, 1994.
12. Perry, D.L.; Thompson, A.C.; Russo, R.E.; Mao, X.L.; Chapman, K.L. Appl. Spectrosc. 1997, 51, 1781-1783.
13. Hinton, R.W. Analyst 1997, 122, 1187-1192.
14. Kuczumow, A.; Vekemans, B.; Schalm, O.; Dorrine, W.; Chevallier, P.; Dillmann, P.; Ro, C.-U.; Kanssens, K.; Grieken, R.V. J. Anal. At. Spectrom. 1999, 14, 435-446.
15. Ortner, H.M.; Hoffman, P.; Stadermann, F.J.; Weinbruch, S.; Wentzel, M. Analyst 1998, 123, 833-842.
16. Ellis, A.T.; Potts, P.J.; Holmes, M.; Oliver, G.J.; Streli, C.; Wobrauschek, P. J. Anal. At. Spectrom. 1997, 12, 461R-490R.
17. Janssens, K.; Vincze, L.; Adams, F.; Jones, K.W. Anal. Chim. Acta 1993, 283, 98-119.
18. Torok, S.B.; Labar, J.; Schmeling, M.; Grieken, R.E.V. Anal. Chem. 1998, 70, 495R-517R.
19. Vekemans, B.; Janssens, K.; Vincze, L.; Aerts, A.; Adams, F.; Hertogen, J. X-Ray Spectrom. 1997, 26, 333-346.
20. Lu, F.-Q.; Smith, J.V.; Sutton, S.R.; Rivers, M.L.; Davis, A.M. Chem. Geol. 1989, 75, 123-143.
21. Schulze, D.G.; Bertsch, P.M. In Advances in Agronomy; Academic Press Inc.: San Diego, 1995; Vol. 55.
22. Vekemans, B.; Janssens, K.; Vinczw, L.; Adams, F.; Van Espen, P. X-Ray Spectrosc. 1994, 23, 278-285.
23. Vincze, L.; Janssens, K.; Adams, F. Spectrochim. Acta 1995, 50B, 127-147.
24. Vekemans, B.; Janssens, K.; Vincze, L.; Adams, F.; Van Espen, P. Spectrochim. Acta 1995, 50B, 149-169.
25. Vincze, L.; Janssens, K.; Adams, F.; Jones, K.W. Spectrochim. Acta 1995, 50B, 1481-1500.
26. Vincze, L.; Janssens, K.; Vekemans, B.; Adams, F. Spectrochim. Acta 1999, 54 (12), 1711-1722.
27. Somogyi, A.; Vincze, L.; Janssens, K.; Vekemans, B.; Rindby, A.; Adams, F. Spectrochim. Acta 2000, 55B (1), 75-89.
28. Figueiredo, M.O.; Ramos, M.T.; Pereira da Silva, T.; Basto, M.J.; Chevallier, P. X-Ray Spectrosc. 1999, 28, 251-254.
29. Ade, H.; Zhang, X.; Cameron, S.; Costello, C.; Kirz, J.; Williams, S. Science 1992, 258, 972-974.
30. Chevallier, P.; Dhez, P.; Erko, A.; Firsov, A.; Legrand, F.; Populus, P. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1996, 113, 122-127.
31. Sie, S.H. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1997, 130, 592-607.
32. Jacobsen, C.; Ade, H.; Kirz, J.; Ko, C.-H.; Williams, S.; Zhang, X.; Anderson, E.; Kern, D. Inst. Phys. Conf. Ser. 1992, 130, 571-576.
33. Vincze, L.; Janssens, K.; Adams, F.; Rindby, A. X-Ray Spectrom. 1995, 24, 27-37.
34. Sanchez, H.J.; Perez, C.A.J. Trace Microprobe Tech. 1998, 16, 501-512.
35. Jindong, X.; Yejun, H.; Xunliang, D.; Qiuli, P.; Yiming, Y.J. Anal. At. Spectrom. 1999, 14, 391-394.
36. Schoonover, J.R.; Havrilla, G.J. Appl. Spectrosc. 1998, 53, 257-265.
37. Buckley, C.J.; Burge, R.E.; Foster, G.F.; Rivers, M.L.; Ali, S.y.; Scotchford, C.A. Inst. Phys. Conf. 1992, 130.
38. Wegrzynek, D.; Hloynska, B.; Ostacchowicz, J. X-Ray Spectrosc. 1999, 28, 209-214.
39. Bertsch, P.M.; Schulze, D.G. In Synchrotron X-ray Methods in Clay Science; Schulze, D.G., J.W.S., Bertsch, P.M., Eds.; The Clay Minerals Society: Boulder, CO, 1999.
40. Sayre, D.; Chapman, H.N. Acta Crystallogr., Sect. A 1995, A51, 237-252.
41. Swiech, W.; Fecher, G.H.; Ziethen, C.; Schmidt, O.; Schonhense, G.; Grzelakowski, K.; Schneider, C.M.; Fromter, R.; Oepen, H.P.; Kirschner, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 171-188.
42. Chapman, H.N.; Jacobsen, C.; Williams, S. Ultramicroscopy 1996, 62, 191-213.
43. Buckley, C.; Rarback, R.; Alforque, R.; Shu, D.; Ade, H.; Hellman, S.; Iskander, N.; Kirz, J.; Lindaas, S.; McNulty, I.; Oversluizen, M.; Tang, E.; Attwood, D.; DiGennaro, R.; Howells, M.; Jacobsen, C.; Y., V.; Rothman, S.; Kern, D.; Sayre, D. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2444-2447.
44. Tanner, B.P.a.D.D. In Nuclear Instruments & Methods in Physics Research; Elsevier Science B.V.: North Holland, 1994; Vol. A, p 347.
45. Ade, H.; Kirz, J.; Hulbert, S.L.; Johnson, E.D.; Anderson, E.; Kern, D. Appl. Phys. Lett. 1999, 56, 1841-1843.
46. Tanner, B.P.; Harp, G.R. J. Vac. Sci. Technol. 1989, A71, 1-4.
47. Ade, H.W. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1992, A319, 311-319.
48. Iida, A.; Noma, T.; Hayakawa, S.; Takahashi, M.; Gohshi, Y. Appl. Phys. 1992, 32, 160-164.
49. Ade, H.; Ko, C.-H.; Johnson, E.D.; Anderson, E. In Surface and Interface Analysis; Ade, H., C.H.K., Johnson., E.D., Eds.; John Wiley & Sons Ltd.: West Sussex, 1992; Vol. 19, pp 1-12.
50. Kirz, J.; Ade, H.; Jacobsen, C.; Ko, C.-H.; Lindaas, S.; McNulty, I.; Sayre, D.; Williams, S.; Zhang, X.; Howells, M. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 557-563.
51. Williams, S.; Jacobsen, C.; Kirz, J.; Maser, J.; Sue Wirick; Zhang, X.; Ade, H.; Rivers, M. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1271-1275.
52. Bilderback, D.H.; Thiel, D.J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2059-2063.
53. Aristov, V.V.; Basov, Y.A.; Hartman, Y.M.; Riekel, C.; Snigirev, A.A. Inst. Phys. 1992, 130, 523-526.
54. Thompson, A.C.; Chpamna, K.L.; Ice, G.E.; Sparks, C.J.; Yun, W.; Lai, B.; Legnini, D.; Vicarro, P.J.; Rivers, M.L.; Bilderback, D.H.; Thiel, D.J. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1992, A319, 320-325.
55. Tuniz, C.; Devoti, R.; Santoro, G.; Zanini, F. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1990, B50, 338-342.
56. Kirz, J.; Ade, H.; Anderson, E.; Buckley, C.; Chapman, H.; Howells, M.; Jacobsen, C.; Ko, C.-H.; Lindaas, S.; Sayre, D.; Williams, S.; Wirick, S.; Zhang, X. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1994, B87, 92-97.
57. Hwu, Y.; Tung, C.Y.; Pieh, J.Y.; Lee, S.D.; Almeras, P.; Gozzo, F.; Berger, H.; Margaritondo, G.; De Stasio, G.; Mercanti, D.; Ciotti, M.T. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1995, A361, 349-353.
58. Chevallier, P.; Dhez, P.; Legrand, F.; Erko, A.; Agafonov, Y.; Panchenko, L.A.; Yakshin, A. Trace Microprobe Tech. 1996, 14, 517-539.
59. Ice, G.E. X-Ray Spectrom. 1996, 26, 315-326.
60. Fink, R.; Weiss, M.R.; Umbach, E.; Preikszas, D.; Rose, H.; Spehr, R.; Hartel, P.; Engel, W.; Degenhardt, R.; Wichtendahl, R.; Kuhlenbeck, H.; Erlebach, W.; Ihmann, K.; Schlogel, R.; Freund, H.J.; Bradshaw, A.M.; Lilienkamp, G.; Schmidt, T.; Bauer, E.; Bener, G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 231-250.
61. Hoffman, S.A.; Thiel, D.J.; Bilderback, D.H. Opt. Eng. 1994, 33, 303-306.
62. Hoffman, S.A.; Thiel, D.J.; Bilderback, D.H. In Nuclear Instruments & Methods in Physics Research; Elsevier: North Holland, 1994; Vol. A.
63. Xiao, Q.F.; Ponomarev, I.Y.; Kolomitsev, A.I.; Gibson, D.M.; Dilmanian, F.A.; Nachaliel, E. In Nuclear Instruments & Methods in Physics Research; Elsevier Science B.V.: North Holland, 1994; Vol. A, p 347.
64. Janssens, K.; Vincze, L.; Vekemans, B.; Adams, F.; Haller, M.; Knochel, A. J. Anal. At. Spectrom. 1998, 13, 339-350.
65. Tanner, B.P.; Harp, G.R.; Koranda, S.F.; Zhang, J. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 564-568.
66. Snigirev, A. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2053-2058.
67. Chevallier, P.; Dhez, P.; Legrand, F.; Idir, M.; Soullie, G.; Mirone, A.; Erko, A.; Snigirev, A.; Snigireva, I.; Suvorov, A.; Freund, A.; Engstrom, P.; Nielsen, J.A.; Grubel, A. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1995, A354, 584-587.
68. Ko, C.-H.; Janos, K. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1416-1418.
69. Chapman, H.N. Ultramicroscopy 1996, 66, 153-172.
70. Voss, J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 29-44.
71. Chen, C.T. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 92, 289-299.
72. Schmal, G.; Rudolph, D.; Guttman, P.; Schneider, G.; Thieme, J.; Niemann, B. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1282-1286.
73. Denlinger, J.D.; Rotenberg, E.; Warwick, T.; Visser, G.; Nordgren, J.; Guo, J.H.; Shytt, P.; Kevan, S.D.; McCutcheon, K.S.; Shuh, D.; Bucher, J.; Edelstein, N.; Tobin, J.G.; Tonner, B.P. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1342-1345.
74. Wang, J.D.; Kagoshima, Y.; Miyahara, T.; Ando, M. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1401-1403.
75. Suzuki, Y.; Uchida, F. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1468-1470.
76. Smith, A.P.; Ade, H. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3833-3835.
77. Hirsch, G. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1367-1369.
78. Hayakawa, S.; Goto, S.; Shoji, T.; Yamada, E.; Gohshi, Y. J. Synchrotron Radiat. 1998, 5, 1114-1116.
79. Umbach, E. Physica B 1995, 208/209, 193-198.
80. Chevallier, P.; Populus, P. X-Ray Spectrom. 1999, 28, 348-351.
81. Van Langevelde, F.; Tros, G.H.J.; Bowen, D.K.; Vis, R.D. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1990, B49, 544-550.
82. Jacobsen, C.; Wirick, S.; Flynn, G.; Zimba, C. Microscopy 2000, 197, 173-184.
83. Kirz, J.; Jacobsen, C.; Lindaas, S.; Williams, S.; Zhang, X.; Anderson, E.; Howells, M. In Synchrotron Radiation in Biosciences; Chance, B., D.D., Ebashi, S., Goodhead, D.T., Helliwell, J.R., Huxley, H.E., Iizuka, T., Kirz, J., Mitsui, T., Rubenstein, E., Sakabe, N., Sasaki, T., Schmahl, G., Sturhmann, H., Wuthrich, K., Zaccai, G., Eds.; Oxford University Press: New York, 1994.
84. Martin, A.P.; Brunton, A.N.; Fraser, G.W.; Holland, A.D.; Keay, A.; Hill, J.; Nelms, N.; Turcu, I.C.E.; Allott, R.; Lisi, N.; Spencer, N. X-Ray Spectrom. 1999, 28, 64-70.
85. Warwick, T.; Franck, K.; Kortright, J.B.; Meigs, G.; Moronne, M.; S., M.; Rotenberg, E.; Seal, S.; Steele, W.F. Rev. Sci. Instrum. 1998, 69, 2964-2973.
86. Warwick, T.; Ade, H.; Cerasari, S.; Denlinger, J.; Franck, K.; Garcia, A.; Hayakawa, S.; Hitchcock, A.; Kikuma, J.; Klinger, S.; Kortright, J.; Morisson, G.; Moronne, M.; Rightor, E.; Rotenberg, E.; Seal, S.; Shin, H.-J.; Steele, W.F.; Tonner, B.P. J. Synchrotron Radiat. 1998, 5, 1090-1092.
87. Iida, A. X-Ray Spectrom. 1997, 26, 359-363.
88. Ding, X.; He, Y.; Van, Y. X-Ray Spectrom. 1997, 23, 374-379.
89. Weiss, M.R.; Follath, R.; Senf, F.; Gudat, W. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 101-103, 1003-1012.
90. Shin, H.-J.; Chung, Y.; Kim, B. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 101-103, 985-989.
91. Barbo, F.; Bertolo, M.; Bianco, A.; Cautero, G.; Fontana, S.; Johal, T.K.; La Rosa, S.; Margaritondo, G. Rev. Sci. Instrum. 2000, 71, 5-10.
92. X-Ray Microscopy; Werner Meyer-Ilse, T.W., Attwood, D., Eds.; American Institute of Physics: Berkeley, 2000; Vol. 507.
93. Manceau, A. Geochim. Cosmochim. 1995, 59, 3647-3653.
94. Dhez, P.; Chevallier, P.; Lucatorto, T.B.; Tarrio, C. Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 1907-1920.
95. Anderson, E.; Kern, D. In X-ray Microscopy; Michette, A., G.M., Buckley, C., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, 1991; Vol. III.
96. Kirz, J.; Jacobsen, C.; Howell, M. Q. Rev. Biophys. 1995, 28, 33-130.
97. Kirz, J.; Matsushita, T. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1271-1275.
98. Levine, Z.H. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 150.
99. Lai, B.; Yun, W.B.; Legnini, D.; Xiao, Y.; Chrzas, J.; Viccaro, J.; White, P.J.; Bajikar, V.; Denton, S.; Cerrine, F.; DiFabrizio, E.; Gentili, M.; Grella, L.; M., B. Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 1877-1879.
100. Yun, W.; Pratt, S.T.; Miller, R.M.; Cai, Z.; Hunter, D.B.; Jarstfer, A.G.; Kemner, K.M.; Lai, B.; Lee, H.-R.; Legnini, D.G.; Rodrigues, W.; Smith, C.I. J. Synchrotron Radiat. 1998, 5, 1390-1395.
101. Wolter, H. Ann. Phys. 1952, 10, 94.
102. Aoki, S.; Takeuchi, A.; Ando, M. J. Synchrotron Radiat. 1998, 5, 1117-1118.
103. Hayakawa, S.; Iida, A.; Aoki, S.; Gohshi, Y. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2452.
104. Spiller, E.; Feder, R.; Topalian, J.; Eastman, D.; Gudat, W.; Sayre, D. Science 1976, 191, 1172-1174.
105. Underwood, J.H.; Thompson, A.C.; Kortright, J.B.; Chapman, K.C.; Lundt, D. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3358.
106. Yang, B.X.; Rivers, M.; Schildkamp, W.; Eng, P.J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2278-2280.
107. Duff, M.C.; Hunter, D.B.; Triay, I.R.; Bertsch, P.M.; Reed, D.T.; Sutton, S.R.; Shea-McCarthy, G.; Kitten, J.; Eng, P.; Chipera, S.J.; Vaniman, D.T. Environ. Sci. Technol. 1999, 33, 2163-2169.
108. Eng, P.J.; Newville, M.; Rivers, M.L.; Sutton, S.R. In X-Ray Microfocusing: Applications and Techniques; Bellingham, WA, 1998; p 145.
109. Erko, A.; Agafonov, Y.; Panchenko, L.A.; Yakshin, A. Opt. Commun. 1994, 106, 146-150.
110. Idir, M.; Mirone, A.; Soullie, G.; Guerin, P.; Ladan, F.; Dhez, P. Opt. Commun. 1995, 119, 633.
111. Dhez, P.; Erko, A.; Khzmalian, E.; Vidal, B.; Zinenko, V. Appl. Opt. 1992, 31, 6662.
112. Bonse, U.; Riekel, C.; Snigirev, A.A. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 622-624.
113. Heald, S. J. Phys. IV Fr. 1997, C2-297-C2-301.
114. Bilderback, D.H.; Thiel, D.J.; Pahl, R.; Brister, K.E. J. Synchrotron Radiat. 1994, 1, 37-42.
115. Snigireva, I.; Snigirev, A. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 76-83.
116. Margaritondo, G.; Bernstorff, S.; Kiskinova, M.; Prince, K.C.; Santaniello, A.; Tromba, G.; Savoia, A. Appl. Surf. Sci. 1998, 130-132, 629-638.
117. Warwick, T.; Ade, H.; Hitchcock, A.P.; Padmore, H.; Rightor, E.G.; Tonner, B.P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 85-98.
118. Marsi, M.; Casalis, L.; Gregoratti, L.; Sunther, S.; Kolmakov, A.; Kovac, J.; Lonza, D.; Kiskinova, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 73-83.
119. Kunz, C. Phys. Scr. 1996, T61, 19-25.
120. Yamada, T.; Yuri, M.; Onuki, H.; Ishizaka, S. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1493-1495.
121. Kagoshima, Y.; Miyahara, T.; Ando, M.; Wang, J.D.; Aoki, S. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1534-1536.
122. Neuhausler, U.; Jacobsen, C.; Schulze, D.; Stott, D.; Abend, S. J. Synchrotron Radiat. 2000, 7, 110-112.
123. Tonner, B.P.; Drouby, T.; Dealinger, J.; Ilse-Meyer, W.; Warwick, T.; Rothe, J.; Kneedler, E.; Pecher, K.; Nealson, K.; Grundl, T. Surf. Interface Anal. 1999, 27, 247-258.
124. Giauque, R.D.; Thompson, A.C.; Underwood, J.H.; Wu, Y.; Jones, K.W.; Rivers, M.L. Anal. Chem. 1988, 60, 855-858.
125. Kuznetsor, S.M.; Snigireva, I.I.; Snigirev, A.A.; Engstrom, P.; Riekel, C. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 827-829.
126. Sutton, S.R.; Bajt, S.; Delaney, J.; Schulze, D.; Tokunaga, T. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1464-1467.
127. Snigirev, A.; Snigireva, I.; Kohn, V.; Kuznetsov, S.; Schelokov, I. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 5486-5492.
128. Iida, A.; Hirano, K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1996, B114, 149-153.
129. Li, Y.; Wong, G.C.L.; Safinya, C.R.; Caine, E.; Hu, E.L.; Haeffner, D.; Fernandez, P.; Yun, W. Rev. Sci. Instrum. 1998, 69, 2844-2848.
130. Tamura, S.; Ohtani, K.; Kamijo, N.; Suzuki, Y.; Kihara, H. Thin Solid Films 1996, 281/282, 243-245.
131. Kopp, O.C.; Reeves, D.K.; Rivers, M.L.; Smith, J.V. Chem. Geol. 1990, 81, 337-347.
132. Lowenstern, J.B.; Mahood, G.A.; Rivers, M.L.; Sutton, S.R. Science 1991, 252, 1405-1409.
133. Treiman, A.H.; Sutton, S.R. Geochim. Cosmochim. Acta 1992, 56, 4059-4074.
134. Vanko, D.A.; Sutton, S.R.; Rivers, M.L.; Bodnar, R.J. Chem. Geol. 1993, 109, 125-134.
135. Skulski, T.; Minarik, W.; Watson, E.B. Chem. Geol. 1994, 117, 127-147.
136. Rakovan, J.; Reeder, R.J. Am. Mineral. 1994, 79, 892-903.
137. (137) Northrup, P.A.; Reeder, R.J. Am. Mineral. 1994, 79, 1167-1175.
138. Mavrogenes, J.A.; Bodnar, R.J.; Anderson, A.J.; Bajt, S.; Sutton, S.R.; Rivers, M.L. Geochim. Cosmochim. Acta 1995, 59, 3987-3995.
139. Dalphe, C.; Baker, D.R. Can. Mineral. 1995, 33, 481-498.
140. Lanzirotti, A. Geochim. Cosmochim. Acta 1995, 59, 4105-4110.
141. Brearley, A.J.; Bajt, S.; Sutton, S.R. Geochim. Cosmochim. Acta 1995, 59, 4307-4316.
142. Reeder, R.J. Geochim. Cosmochim. Acta 1996, 60, 1543-1522.
143. Mayanovic, R.A.; Anderson, A.J.; Bajt, S. Physica B 1995, 208/209, 239-240.
144. Rakovan, J.; Reeder, R.J. Geochim. Cosmochim. Acta 1996, 60, 4435-4445.
145. Philippot, P.; Menez, B.; P., C.; Gibert, F.; Legrand, F.; Populus, P. Chem. Geol. 1998, 144, 121-136.
146. Figueiredo, M.O.; Silva, T.P.; Basto, M.J.; Ramos, M.T.; Chevallier, P. J. Anal. At. Spectrom. 1999, 14, 505-507.
147. Buhn, B.; Rankin, A.H.; Radtke, M.; Haller, M.; Knochel, A. Am. Mineral. 1999, 84, 1117-1125.
148. Thomas, K.L.; Blanford, G.E.; Clemett, S.J.; Flynn, G.J.; Keller, L.P.; Klock, W.; Maechling, C.R.; McKay, D.S.; Messenger, S.; Nier, A.O.; Schlutter, D.J.; Sutton, S.R.; Warren, J.L.; Zare, R.N. Geochim. Cosmochim. Acta 1995, 59, 2797-2815.
149. Flynn, G.J.; Sutton, S.R. Meteoritics 1991, 26, 334.
150. Flynn, G.J.; Keller, L.P.; Jacobsen, C.; Wirick, S. Meteorit. Planet. Sci. 1998, 33, A50.
151. Flynn, G.J.; Sutton, S.R.; Kehm, K.; Hoenberg, C.M. Meteorit. Planet. Sci. 1998, 33, A51.
152. Flynn, G.J.; Keller, L.P.; Jacobsen, C.; Wirick, S. Abstract Pap. Am. Chem. 2000, S220.
153. Flynn, G.J.; Keller, L.P.; Jacobsen, C.; Wirick, S.; Bajt, S.; Chapman, H.N. Meteor. Planet. Sci. 1997, 32, A42.
154. Flynn, G.J.; Sutton, S.R.; Kehm, K.; Hohenberg, C.M. Meteorites & Planetary Dust Particles from the L2036 Stratospheric Collector; 1997; Vol. 32, A42-A43.
155. Flynn, G.J.; Sutton, S.R.; Lanzirotti, A. Meteorit. Planet. Sci. 2000, 35, A54.
156. Flynn, G.J.; Sutton, S.R. Meteorit. Planet. Sci. 1998, 33, A49-A50.
157. Flynn, G.J. Meteoritics 1995, 30, 505.
158. Flynn, G.J.; Bajt, S.; Sutton, S.R.; Klock, W. Meteoritics 1995, 30, 505.
159. Flynn, G.J.; Sutton, S.R.; Bajt, S.; Klock, W.; Thomas, K.L. Meteoritics 1994, 29, 4666.
160. Hayakawa, S.; Gohshi, Y.; Atsuo, I.; Sadao, A.; Sato, K. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 2545-2549.
161. Henderson, C.M.B.; Cressey, G.; Redfern, S.A.T. Radiat. Phys. Chem. 1995, 45, 459-481.
162. Morra, M.J.; Fendorf, S.E.; Brown, P.D. Elsevier Science Ltd. 1996, 683-688.
163. Bajt, S.; Sutton, S.R.; Delaney, J.S. Geochim. Cosmochim. Acta 1994, 58, 5209-5214.
164. Bajt, S.; Sutton, S.R.; Delaney, J.S. Physica B 1995, 208/209, 243-244.
165. Anderson, A.; Mayanovic, R.; Bajt, S. Can. Mineral. 1998, 33, 499-508.
166. Delaney, J.S.; Dyar, M.D.; Sutton, S.R.; Bajt, S. Geology 1998, 26, 139-142.
167. Dyar, M.D.; Delaney, J.S.; Sutton, S.R.; Schaeffer, M.W. Am. Mineral. 1998, 83, 1361-1365.
168. Bajt, S.; Hanson, A.L. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1502-1504.
169. Anderson, A.J.; Mayanovic, R.A.; Bajt, S. Can. Mineral. 1998, 36, 511-524.
170. Brown, G.E., Jr. In Mineral Water Interface Geochemistry; Hochella, M.F., Jr., White, A.F., Eds.; Mineralogical Society of America: Washington, D.C., 1990; Vol. 23.
171. Droubay, T.; Mursky, G.; Tonner, B.P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 159-169.
172. Cody, G.D.; Botto, R.E.; Ade, H.; Wirick, S. Int. J. Coal Geol. 1996, 32, 69-86.
173. De Stasio, M.D.; Ciotti, M.T.; Droubay, T.C.; Perfetti, P.; Margaritonda, G.; Tonner, B.P. J. Phys. D: Appl. Phys. 1996, 29, 259-262.
174. Pecher, K.; Kneedler, E.; Rothe, J.; Meigs, G.; Warwick, T.; Nealson, K.; Tonner, B. X-Ray Microscopy: Proceeding of the Sixth Internation Conference, 2000; pp 291-300.
175. Botto, R.E.; Cody, G.D.; Ade, H.; Behal, S.; Disko, M.; Wirick, S. Energy Fuels 1994, 8, 152-154.
176. Cody, G.D.; Botto, R.E.; Ade, H.; Behal, S.; Disko, M.; Wirick, S. Energy Fuels 1995, 9, 75-84.
177. Cody, G.D.; Botto, R.E.; Ade, H.; Behal, S.; Disko, M.; Wirick, S. Energy Fuels 1995, 9, 525-533.
178. Cody, G.D.; Ade, H.; Wirik, S.; Mitchell, G.D.; Davis, A. Org. Geochem. 1998, 28, 441-455.
179. McKay, D.S.; Gibson, E.K.; Thomaskeprta, K.I.; Vali, H.; Romancek, C.S.; Clemett, S.J.; Chillier, X.D.F.; Maechling, C.R.; Zare, R.N. Science 1996, 273, 924-930.
180. Allen, P.G.; Bucher, J.G.; Denecke, M.A.; Edelstein, N.M.; Kaltsoyannis, N.; Nitsche, H.; Reich, T.; Shuh, D.K. In Synchrotron Radiation Techniques in Industrial, Chemical, and Materials Science; D'Amico, K.L., Terminello, L.J., Shuh, D.K., Eds.; Plenum Press: New York, 1996.
181. Kaplan, D.I.; Hunter, D.B., Bertsch; P.M.; Bajt, S.; Adriano, D.C. Environ. Sci. Technol. 1994, 28, 1186-1189.
182. Bajt, S.; Clark, S.B.; Sutton, S.R.; Rivers, M.L.; Smith, J.V. Anal. Chem. 1993, 65, 1800-1804.
183. Bertsch, P.M.; Hunter, D.B.; Stephen R.; Bajt, S.; Rivers, M.L. Environ. Sci. Technol. 1994, 28, 980-984.
184. Bertsch, P.M.; Hunter, D.B.; Nuessle, P.R.; Clark, S.B. J. Phys. IV Fr. 1997, 7, C2-817-C2-818.
185. Buck, E.C.; Brown, N.R.; Dietz, N.L. Environ. Sci. Technol. 1996, 30, 81-88.
186. Hunter, D.B.; Bertsch, P.M. Radioanal. Nucl. Chem. 1998, 234, 237-242.
187. Duff, M.C.; Amrhein, C.; Bertsch, P.M.; Hunter, D.B. Geochim. Cosmochim. Acta 1997, 61, 73-81.
188. Duff, M.C.; Hunter, D.B.; Bertsch, P.M.; Amrhein, C. Biogeochemistry 1999, 45, 95-114.
189. Bender, J.; Duff, M.C.; Phillips, P.; Hill, M. Environ. Sci. Technol. 2000, 34, 3235-3241.
190. Fredrickson, J.K.; Zachara, J.M.; Kennedy, D.W.; Duff, M.C.; Gorby, Y.A.; Li, S.-m.W.; Krupa, K.M. In Press.
191. Duff, M.C.; Newville, M.; Hunter, D.B.; Bertsch, P.M.; Sutton, S.R.; Triay, I.R.; Vaniman, D.T.; Eng, P.; Rivers, M.L. J. Synchrotron Radiat. 1999, 6, 350-352.
192. Manceau, A.; Lanson, B.; L., S.M.; Harge, J.C.; Musso, M.; Eybert-Berard, L.; Hazemann, J.-L.; Chateigner, D.; Lamble, G., M. Am. J. Sci. 2000, 300, 289-343.
193. Schulze, D.G.; McCay-Buis, T.; Sutton, S.R.; Huber, D.M. Phytopathology 1994.
194. Schulze, D.G.; Sutton, S.R.; Bajt, S. Soil Sci. Soc. Am. J. 1995, 59, 1540-1548.
195. Tokunaga, T.K.; G.E.; Brown, G.E., Jr.; Pickering, I.J.; Sutton, S.R.; Bajt, S. Environ. Sci. Technol. 1997, 31, 1419-1425.
196. Tokunaga, T.K.; Sutton, S.R.; Bajt, S. Soil Sci. 1994, 158, 421-434.
197. Tokunga, T.; Bajt, S.; Neussle, P.; Shea-McCarthy, G. Environ. Sci. Technol. 1998, 32, 1092-1098.
198. Toknnaga, T.K.; Pickering, I.J.; Brown, J., Gordon E. Soil Sci. Soc. Am. J. 1996, 60, 781-790.
199. Pickering, I.J.; Brown, J., G.E.; Tokunaga, T.K. Environ. Sci. Technol. 1995, 29, 2456-2459.
200. Hunter, D.B.; Bertseh, P.M.; Kemner, K.M.; Clark, S.B. J. Phys. IV Fr. 1997, 7, C2-767-C2-771.
201. Newman, A. Anal. Chem. News & Features 1996, 68, 255A.
202. Holman, H.-Y.; Perry, D.L.; Martin, M.C.; Lamble, G.M.; McKinney, W.R.; Hunter-Cevera, J. Geomicrobiol. J. 1999, 16, 307-324.
203. Niemeyer, J.; Thieme, J.; Guttman, P.; Wilhein, T.; Rudolph, D.; Schmahl, G. Prog. Colloid Polym Sci. 1994, 95, 139-142.
204. Myneni, S.C.B.; Brown, J.T.; Martinez, G.A.; Meyer-Ilse, W. Science 1999, 286.
205. Jacobsen, C.; Neuhausler, U. In Synchrotron X-ray Methods in Clay Science; Schulze, D.G., J.W.S., Bertsch, P.M., Eds.; The Clay Minerals Society: Boulder, CO, 1999; Vol. 9.
206. Niemeyer, J.; Thieme, J. In Synchrotron X-ray Methods in Clay Science; Schulze, D.G., J.W.S., Bertsch, P.M., Eds.; The Clay Minerals Society: Boulder, CO, 1999; Vol. 9.
207. Rothe, J.; Kneedler, E.M.; Pecher, K.H.; Tonner, B.P.; Nealson, K.H.; Grundl, T.; Meyer-lise, W.; Warwick, T. J. Synchrotron Radiat. 1999, 6, 359-361.
208. Myneni, S.C.B.; Tokunaga, T.K.; Brown, G.E., Jr. Science 1997, 278, 1106-1109.
209. Bockman, R.S.; Repo, M.A.; Warrell R.P.,J.; Pounds, J.G.; Schidlovsky, G.; Gordon, B.M.; Jones, K.W. Proc. Natl. Acad. Sci. 1990, 87, 4149-4153.
210. Rothman, S.; Anderson, E.; Attwood, D.; Batson, P.; Buckley, C.; Goncz, K.; Howells, M.; Jacobsen, C.; Kern, D.; Kirz, J.; Rarback, H.; Rivers, M.; Sbu, D.; Tackaberry, R.; Turek, S. Phys. Scr. 1990, T31, 18-22.
211. Van Langevelde, F.; Vis, R.D. Anal. Chem. 1991, 63, 2253-2259.
212. Buckley, C.J.; Foster, G.F.; Burge, R.E.; Ali, S.Y.; Scotchford, C.A.; Kirz, J.; Rivers, M.L. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 588-590.
213. Gomez, S.; Rizzo, R.; Pozzi-Mucelli, M.; Bonucci, E.; Vittur, F. Bone 1999, 25, 33-38.
214. Anderson, P.; Dowker, S.E.P.; Elliott, J.C.; Thomas, C.R. Trace Microprobe Tech. 1996, 14, 541-560.
215. Carvalho, M.L.; Pinheiro, T.; Barreiros, M.A.; Casaca, C.; Cunha, A.S.; Chevallier, P. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1998, B138, 913-918.
216. Pinheiro, T.; Carvalho, M.L.; Casaca, C.; Barreiros, M.A.; Cunha, A.S.; Chevallier, P. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1999, 158, 393-398.
217. Iida, A.; Noma, T. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1993, B82, 129-138.
218. Shimojo, N.; Matsuzaki, I.; Homma-Takeda, S.; Tabata, K.; Shinyashiki, M.; Sun, G.G.; Iida, A.; Kumagai, Y. J. Occup. Health 1997, 39, 64-65.
219. Takeda-Homma, S.; Sasaki, A.; Nakai, I.; Sagai, M.; Koiso, K.; Shimojo, N. J. Trace Elem. Exp. Med. 1993, 6.
220. Takeda-Homma, S.; Nakai, I.; S., M.; N., S. Nucl. Instrum. Methods B 1995, 103, 229-232.
221. Takeda-Homma, S.; Kumagal, Y.; Shinyashiki, M.; Shimojo, N. J. Synchrotron Radiat. 1998, 5, 57-59.
222. Mori, H.; Chujo, M.; Haruyama, S.; Skamoto, H.; Shinozaki, Y.; Uddin-Mohammed, M.; Iida, A.; Nakazawa, H. Circulation Res. 1995, 76, 1088-1100.
223. Illman, B.L.; Bajt, S. Int. Biodeterior. Biodegrad. 1997, 39, 235-243.
224. Fukumoto, N.; Kobayashi, Y.; Kurahashi, M.; Kojima, I. Spectrochim. Acta 1999, 54B, 91-98.
225. Berglund, A.; Brelid, H.; Rindby, A.; Engstrom, P. Holzforschyng 1999, 53, 474-480.
226. Williams, S.; Jacobsen, C.; Kirtz, J.; Zhang, X.; T'hof, J.V.; Lamm, S. Soft X-ray Microsc. 1992, 1741, 318-324.
227. De Stasio, G.D. J. Phys. IV 1994, 4, C9-287-C9292.
228. De Stasio, G.; Mercanti, D.; Ciotti, M.T.; Droubay, T.C.; Perfetti, P.; Margaritondo, G.; Tonner, B.P. Europhys. Lett. 1994, 28, 283-287.
229. Zhang, X.; Ade, H.; Jacobsen, C.; Kirz, J.; Lindaas, S.; Williams, S.; Wirick, S. In Nuclear Instruments & Methods in Physics Research; Elsevier Science B.V.: North Holland, 1994; Vol. A, p 347.
230. Buckley, C.J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1318-1321.
231. Hirai, M.; Takizawa, T.; Yabuki, S.; Nakata, Y.; Mitomo, H.; Hirai, T.; Shimizu, S.; Furusaka, M.; Kobayashi, K.; Hayashi, K. Physica B 1995, 213/214, 751-753.
232. Buckley, C.J.; Bellamy, S.J.; Zhang, X.; Dermody, G.; Hulbert, S. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1322-1324.
233. Jacobsen, C.; Chapman, H.N.; Fu, J.; Kalinovsky, A.; Kirz, J.; Maser, J.; Osanna, A.; Spector, S.; Tennant, D.; Wang, S.; Wirick, S.; Zhang, X. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 80, 337-341.
234. De Stasio, G.; Mercanti, D.; Clotti, M.T.; Droubay, T.C.; Perfetti, P.; Margaritonda, G.; Tonner, B.P. J. Appl. Phys. 1996, 259-262.
235. Zhang, X.; Balhorn, R.; Mazrimas, J.; Kirz, J. J. Struct. Biol. 1996, 116, 335-344.
236. De Stasio, G.; Margaritondo, G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 137-147.
237. Margaritondo, G.; De Stasio, G. Int. J. Imaging Syst. Technol. 1997, 8 (2), 188-203.
238. Ito, A.; Shinohara, K.; Mizukami, Y.; Nakano, H.; Yada, K.; Uehara, T.; Honda, T. J. Synchrotron Radiat. 1998, 5, 1099-1101.
239. Gilbert, B.; Redondo, J.; Baudat, P.-A.; Lorusso, G.F.; Andres, R.; Van Meir, E.G.; Brunet, J.F.; Hamou, M.F.; Suda, T.; Mercanti, D.; Clotti, M.T.; Droubay, T.C.; Tonner, B.P.; Perfetti, P.; Margaritondo, M.; De Stasio, G. J. Phys. D: Appl. Phys. 1998, 31, 2642-2647.
240. Buleon, A.; Gerard, C.; Riekel, C.; Vuong, R.; Chanzy, H. Macromolecules 1998, 31, 6605-6610.
241. Larabell, C.A.; Yager, D.; Meyer-Ilse VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 107-112.
242. Abraham-Peskir, J.V.; Chantler, E.; Guttmann, P.; Hjort, T.; Medenwaldt, R.; McCann, C.; Uggerhoj, E.; Vorup-Jensen, T. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 113-118.
243. Ford, T.W.; Meyer-Ilse, W.; Stead, A.D. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 119-122.
244. Weib, D.; Schneider, G.; Niemann, B.; Guttman, P.; Rudolph, D.; Schmahl, G. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 123-128.
245. Kiyozuka, Y.; Takemoto, K.; Yamamoto, A.; Guttmann, P.; Tsubura, A.; Kihara, H. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 153-162.
246. Stead, A.D.; Ford, T.W.; Page, A.M.; Majima, T.; Shimizu, H.; Tomie, T. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 163-167.
247. Moronne, M.M.; Hamamoto, D.J.; Meigs, G.; Johnson, L.E.; Denbeaux, G.P.; Meyer-Ilse, W. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 184-189.
248. Gilbert, B.; Neumann, M.; Steen, S.; Gabel, D.; Andres, R.; Perfetti, P.; Margaritondo, G.; De Stasio, G. VI International conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 190-194.
249. Cody, G.D. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 307-313.
250. Salome, M.; Lafage-Proust, M.H.; Vico, L.; Amblard, D.; Kaulich, B.; Oestreich, S.; Susini, J.; Barrett, R. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 178-183.
251. McHugo, S.A.; Thompson, A.C.; Flink, C.; Weber, E.R.; Lamble, G.; Gunion, B.; MacDowell, A.; Celestre, R.; Padmore, H.A.; Hussain, Z. J. Cryst. Growth 2000, 210, 395-400.
252. Brennan, S.; Tompkins, W.; Takaura, N.; Pianetta, P.; Laderman, S.; Fischer-Colbrie, A.; J.B. Kortright; Madden, M.C.; Wherry, D.C. In Nuclear Instruments & Methods in Physics Research; North Holland, 1994; Vol. A.
253. Noma, T.; A., I. Rev. Sci. Instrum. 1994, 65, 837-844.
254. Noma, T.; Takada, K.; Iida, A. X-Ray Spectrom. 1999, 28, 433-439.
255. Conner, W.C.; Webb, S.W.; Spanne, P.; Jones, K.W. Macro-molecules 1990, 23, 4742-4747.
256. Isaacs, H.S.; Cho, J.H.; Rivers, M.L.; Sutton, S.R. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1111-1118.
257. Kawasaki, K.; Iwasaki, H. J. Synchrotron Radiat. 1995, 2, 49-55.
258. Hayakawa, S.; Jia, X.-P.; Wakatsuki, M.; Gohshi, Y.; Hirokawa, T. J. Cryst. Growth 2000, 210, 388-394.
259. Von Bohlen, A.; Klockenkamper, R.; Garbe, S.; Gaul, G.; Knochel, A.; Lechtenberg, F.; Palmetshofer, L. Spectrochim. Acta 1995, 50B, 1769-1777.
260. Hwu, Y.; Cheng, N.F.; Lee, S.D.; Tung, C.Y. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2924-2926.
261. Kagoshima, Y.; Miyahara, T.; Ando, M.; Wang, J.; Aoki, S. J. Appl. Phys. 1996, 80, 3124-3126.
262. Rossberg, A.; Piechotka, M.; Wetzel, G.; Gastaldi, J.; Magerl, A.; Kaldis, E. J. Cryst. Growth 1996, 166, 354-360.
263. Besenbacher, F.; Chorkendorff, I.; Clausen, B.S.; Hammer, B.; Molenbroek, A.M.; Norskov, J.K.; Stensgaard, I. Science 1998, 279, 1913-1915.
264. Nelson, A.J.; Gregoratti, L.; Chagarov, E.; Lonza, D.; Marsi, M.; Kiskinova, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 105, 51-61.
265. Kinoshita, A.; Hirai, M.; Kusaka, M.; Iwami, M. J. Appl. Phys. 1999, 38, 6544-6548.
266. Neuhausler, U.; Abend, S.; Jacobsen, C.; Lagaly, G. Colloid Polym. Sci. 1999, 277, 719-726.
267. Schmidt, T.; Ressel, B.; Huen, S.; Prince, K.C.; Bauer, E. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 27-32.
268. Fischer, P.; Eimuller, T.; Schutz, G.; Guttmann, P.; Schmahl, G.; Bayreuther, G. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 205-212.
269. Gunther, S.; Esch, F.; Gregoratti, L.; Marsi, M.; Kiskinova, M.; Schubert, U.A.; Grotz, P.; Knozinger, H.; Taglauer, E.; Schutz, E.; Schaak, A.; Imbihl, R. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 219-224.
270. Drakopoulous, M.; Snigireva, I.; Snigirev, A.; Castelnau, O.; Chauveau, T.; Bacroix; B.; Schroer, C.; Ungar, T. VI International conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 263-268.
271. Chang, C.-H.; Valek, B.C.; Padmore, H.A.; MacDowell, A.A.; Celestre, R.; Marieb, T.; Bravman, J.C.; Koo, Y.M.; Patel, J.R. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 284-285.
272. Zhang, X.; Jacobsen, C.; Lindaas, S.; Willimas, S. J. Vac. Sci. Technol. 1995, 1477-1483.
273. Ade, H.; Smith, A.P.; Cameron, S.; Cieslinski, R.; Mitchell, G.; Hsiao, B.; Righter, E. Polymer 1995, 36, 1843-1848.
274. Urquhart, S.G.; Hitchcock, A.P.; Smith, A.P.; Ade, H.; Rightor, E.G. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 2267-2276.
275. Smith, A.P.; Laurer, J.H.; Ade, H.W.; Smith, S.D.; Ashraf, A.; Spontak, R.J. Macromolecules 1997, 30, 663-666.
276. Ade, H.; Smith, A.P.; Zhang, H.; Zhuang, G.R.; Kirz, J.; Rightor, E.; Hitchcock, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1997, 84, 53-72.
277. Ade, H. TRIP 1997, 5, 58-66.
278. Ade, H.; Winesett, D.A.; Smith, A.P. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3775-3777.
279. Okajima, T.; Teramoto, K.; Mitsumoto, R.; Oji, H.; Yamamoto, Y.; Mori, I.; Ishii, H.; Ouchi, Y.; Seki, K. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 7093-7099.
280. Smith, A.P.; Bai, C.; Ade, A.; Spontak, R.J.; Balik, C.M.; Koch, C.C. Macromol. Rapid Commun. 1998, 19, 557-561.
281. Slep, D.; Asselta, J.; Rafailovich, M.H.; Sokolov, J.; Winesett, D.A.; Smith, A.P.; Ade, H.; Strzhemechny, Y.; Schwarz, S.A.; Sauer, B.B. Langmuir 1998, 14, 4860-4864.
282. Kikuma, J.; Warwick; T.; Shin, H.-J.; Zhang, J.; Tonner, B.P. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 94.
283. Ade, H.; Winesett, D.A.; Smith, A.P.; Qu, S.; Ge, S.; Sokolov, J.; Rafailovich, M. Europhys. Lett. 1999, 45, 526-532.
284. Urquhart, S.G.; Hitchcock, A.P.; Smith, A.P.; Ade, H.W.; Lidy, W.; Rightor, E.G.; Mitchell, G.E. J. Electron Spectrosc. 1999, 100, 119-135.
285. Giebler, R.; Schulz, B.; Reiche, J.; Brehmer, L.; Wuhn, M.; Woll, C.; Smith, A.P.; Urquhart, S.G.; Ade, H.W.; Unger, W.E.S. Langmuir 1999, 15, 1291-1298.
286. Urquhart, S.G.; Smith, A.P.; Ade, H.W.; Hitchcock, A.P. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4603-4610.
287. Zhu, S.; Liu, Y.; Rafailovich, M.H.; Sokolov, J.; Gersappe, D.; Winesett, D.A.; Ade, H. Nature 1999, 400, 49-51.
288. Smith, A.P.; Ade, H.; Balik, C.M.; Koch, C.C.; Smith, S.D.; Spontak, R.J. Macromolecules 2000, 33, 2595-2604.
289. Smith, A.P.; Spontak, R.J.; Koch, C.C.; Ade, H. Vi International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 60-65.
290. Ade, H. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 197-204.
291. Hitchcock, A.P.; Tyliszczak, T.; Koprinarov, I.; Stover, H.; Li, W.H.; Heng, Y.M.; Murti, K.; Gerroir, P.; Dutcher, J.R.; Dalnoki-Veress, K.; Ade, H.W. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 231-234.
292. Hitchcock, A.P.; Tyliszczak, T.; Heng, Y.M.; Cornelius, R.; Brash, J.L.; Ade, H.; Anders, S.; Scholl, A.; Nolting, F. VI International conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 235-238.
293. Schmitt, T.; Guttmann, P.; Schmidt, O.; Muller-Buschbaum, P.; Stamm, M.; Schonhense, G.; Schmahl, G. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 245-249.
294. Winsett, D.A.; Gersappe, D.; Rafailovich, M.; Sokolov, J.; Zhu, S.; Ade, H. VI International Conference on X-Ray Microscopy, Berkeley, CA, 1999; pp 275-278.
295. Rightor, E.G.; Hitchcock, A.P.; Ade, H.; Leapman, R.D.; Urquhart, S.G.; Smith, A.P.; Mitchell, G.; Fischer, D.; Shin, H.J.; Warwick, T. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 1950-1960.
296. Anderson, P.; Elliot, J.C.; Thomas, C.R.; Van Langevelde, F. X-Ray Spectrom. 1993, 22, 265-271.
297. Zappala, A.; Bajt, S.; Gigante, G.E.; Hanson, A.L. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1996, 117, 145-150.
298. Capasso, L.; Tota, G.D.; Jones, K.W.; Tuniz, C. Int. J. Osteoarchaeol. 1995, 5, 282-288.
299. Janssens, K.; Aerts, A.; Vincze, L.; Adams, F.; Yang, C.; Utui, R.; Malmqvist, K.; Jones, K.W.; Radtke, M.; Garbe, S.; Lechtenberg, F.; Knochel, A.; Wouters, H. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1996, 109/110, 690-695.
300. Janssens, K.; Vincze, L.; Vekemans, B.; Williams, C.T.; Radtke, M.; Haller, M.; Knochel, A. Fresenius J. Anal. Chem. 1999, 363, 413-420.
301. Janssens, K.; Vittiglio, G.; Deraedt, I.; Aerts, A.; Vekemans, B.; Vincze, L.; Wei, F.; Deryck, I.; Schalm, O.; Adams, F.; Rindby, A.; Knochel, A.; Simionovici, B.; Snigriev, A. X-Ray Spectrom. 1999, 29, 73-91.
302. Simionovici, A.; Janssens, K.; Rindby, A.; Snigireva, I.; Snigirev, A. VI International Conference on X-ray Microscopy; Berkeley, CA, 1999; pp 279-283.
303. Elmer, J.W.; Wong, J.; Froba, M.; Waide, P.A.; Larson, E.M. Metall. Mater. Trans. 1996, 27A, 775-783.
304. Rindby, A.; Engstrom, P.; Janssens, K. J. Synchrotron Radiat. 1997, 4, 228-235.
305. Wenk, H.R.; Heidelbach, F.; Chateigner, D.; Zontone, F. J. Synchrotron Radiat. 1997, 4, 95-101.
306. Ungar, T.; Langford, J.I.; Cernik, R.J.; Voros, G.; Pflaumer, R.; Oszlanyi, G.; Kovacs, I. Mater. Sci. Eng. 1997, 81-87.
307. Guvenilir, A.; Butler, G.C.; J.D., H.; McDowell, D.L.; Stock, S.R. Acta Metall. Inc. 1998, 46, 6599-6604.
308. Chevallier, P.; Firsov, A.; P., P.; F., L. J. Phys. IV Fr. 1998, 8, 407-412.
309. Rindby, A.; Voglis, P.; Engstrom, P. Biomaterials 1998, 19, 2083-2090.
310. Dillman, P.; Regad, B.; Moulin, G. J. Mater. Sci. Lett. 2000, 19, 907-910.
311. Kinney, J.H.; Haupt, D.L.; Nichols, M.C.; Breunig, T.M.; Jr., G.W.M.; Marshall, S.J. In Nuclear Instruments & Methods in Physics Research; Elsevier, North Holland, 1994; Vol. A.
312. Renevier, H.; Hodeau, J.L.; Dalakas, V.; Wolfers, P.; Berar, J.F.; Andrieu, S.; Weigelt, J.; Frahm, R. Phys. IV Fr. 1997, C2-741-C2-743.