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Volumn 74, Issue 1, 1999, Pages 150-152

Tomographic reconstruction of an integrated circuit interconnect

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EID: 0001900677     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.123135     Document Type: Article
Times cited : (56)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.