Tip - Sample interactions in Kelvin probe force microscopy: Quantitative measurement of the local surface potential

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 44, 2008, Pages 17368-17377

  Liscio, Andrea ^a   Palermo, Vincenzo ^a   Müllen, Klaus ^b   Samorì, Paolo ^a,c  

^a Istituto per la Sintesi Organica e la Fotoreattività   (Italy)

^b MAX PLANCK INSTITUTE FOR POLYMER RESEARCH   (Germany)

^c UNIVERSITÉ LOUIS PASTEUR   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATMOSPHERIC HUMIDITY; CARBON; ELECTRIC PROPERTIES; FLOW INTERACTIONS; GRAPHITE; MODULATION; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS; SURFACE POTENTIAL; SURFACE PROPERTIES;

AIR ENVIRONMENTS; ELECTRICAL PROPERTIES; EXPERIMENTAL PARAMETERS; HIGHLY ORIENTED PYROLYTIC GRAPHITES; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPIES; LATERAL RESOLUTIONS; NEW PROTOCOLS; PERYLENE; QUANTITATIVE MEASUREMENTS; RELATIVE HUMIDITIES;

EXPERIMENTS;

EID: 56549084565     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp806657k     Document Type: Article

References (81)

1. Ishii, H.; Sugiyama, K.; Ito, E.; Seki, K. Adv. Mater. 1999, 11, 605.
2. Koch, N. ChemPhysChem 2007, 8, 1438.
3. Fujihira, M. Annu. Rev. Mater. Sci. 1999, 29, 353.
4. Palermo, V.; Palma, M.; Samorì, P. Adv. Mater. 2006, 18, 145.
5. Saraf, S.; Molotskii, M.; Rosenwaks, Y. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 172104.
6. de Boer, B.; Hadipour, A.; Mandoc, M. M.; van Woudenbergh, T.; Blom, P. W. M. Adv. Mater. 2005, 17, 621.
7. Saito, N.; Hayashi, K.; Sugimura, H.; Takai, O.; Nakagiri, N. Surf. Interface Anal. 2002, 34, 601.
8. Palermo, V.; Liscio, A.; Palma, M.; Surin, M.; Lazzaroni, R.; Samorì, P. Chem. Commun. 2007, 3326-3337.
9. Meoded, T.; Shikler, R.; Fried, N.; Rosenwaks, Y. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2435.
10. Palermo, V.; Palma, M.; Tomovic, Z.; Watson, M. D.; Friedlein, R.; Müllen, K.; Samorì, P. ChemPhysChem 2005, 6, 2371.
11. Shikler, R.; Fried, N.; Meoded, T.; Rosenwaks, Y. Phys. Rev. B 2000, 61, 11041.
12. Lu, J.; Eng, L.; Bennewitz, R.; Meyer, E.; Güntherodt, H. J.; Delamarche, E.; Scandella, L. Surf, Interface Anal. 1999, 27, 368.
13. Saito, N.; Hayashi, K.; Sugimura, H.; Takai, O.; Nakagiri, N. Surf. Interface Anal. 2002, 34, 601.
14. Palma, M.; Levin, J.; Lemaur, V.; Liscio, A.; Palermo, V.; Cornil, J.; Geerts, Y.; Lehmann, M.; Samori, P. Adv. Mater. 2006, 18, 3313.
15. Gil, A.; de Pablo, P. J.; Colchero, J.; Gomez-Herrero, J.; Baró, A. M. Nanotechnology 2002, 13, 309.
16. Kwak, K. J.; Yoda, S.; Fujihira, M. Appl. Surf. Sci. 2003, 210, 73.
17. Lee, I.; Lee, J. W.; Stubna, A.; Greenbaum, E. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 2439.
18. Chiesa, M.; Bürgi, L.; Kim, J. S.; Shikler, R.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H. Nano Lett. 2005, 5, 559.
19. Hoppe, H.; Glatzel, T.; Niggemann, M.; Hinsch, A.; Lux-Steiner, M. C.; Sariciftci, N. S. Nano Lett. 2005, 5, 269.
20. Palermo, V.; Ridolfi, G.; Talarico, A. M.; Favaretto, L.; Barbarella, G.; Camaioni, N.; Samorì, P. Adv. Mater. 2007, 17, 472.
21. Liscio, A.; De Luca, G.; Nolde, F.; Palermo, V.; Müllen, K.; Samorì, P. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 780.
22. Bürgi, L.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 1482.
23. Bürgi, L.; Richards, T.; Chiesa, M.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H. Synth. Met. 2004, 146, 297.
24. Bürgi, L.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2913.
25. Nichols, J. A.; Gundlach, D. J.; Jackson, T. N. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 2366.
26. Puntambekar, K. P.; Pesavento, P. V.; Frisbie, C. D. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 5539.
27. Tal, O.; Rosenwaks, Y.; Preezant, Y.; Tessler, N.; Chan. C. K.; Kahn, A. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 256405.
28. Ashcroft, N. W.; Mermin, N. D. Solid State Physics; Saunders College Publishing: New York, 1976.
29. Nonnenmacher, M.; Oboyle, M. P.; Wickramasinghe, H. K. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 2921.
30. Takano, H.; Kenseth, J. R.; Wong, S.-S.; O'Brien, J. C.; Porter, M. D. Chem. Rev. 1999, 99, 2845.
31. Samorì, P. Chem. Soc. Rev. 2005, 34, 551.
32. Samorì, P. J. Mater. Chem. 2004, 14, 1353.
33. Samorì, P.; Surin, M.; Palermo, V.; Lazzaroni, R.; Leclere, P. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 3927.
34. Samorì, P. Scanning Probe Microscopies Beyond Imaging: Manipulation of Molecules and Nanostruetures; Wiley, Hoboken, NJ, 07030-5774, 2006.
35. Jacobs, H. O.; Leuchtmann, P.; Homan, O. J.; Stemmer, A. J. Appl. Phys. 1998, 84, 1168.
36. Kalinin, S. V.; Jesse, S.; Rodriguez, B. J.; Shin, J.; Baddorf, A. P.; Lee, H. N.; Borisevich, A.; Pennycook, S. J. Nanotechnology 2006, 17, 3400.
37. Liscio, A.; Palermo, V.; Gentilini, D.; Nolde, F.; Müllen, K.; Samorì, P. Adv. Funct. Mater. 2006, 16, 1407.
38. Sadewasser, S.; Glatzel, T.; Shikler, R.; Rosenwaks, Y.; Lux-Steiner, M. C. Appl. Surf. Sci. 2003, 210, 32.
39. Strassburg, E.; Boag, A.; Rosenwaks, Y. Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 083705.
40. Zerweck, U.; Loppacher, C.; Otto, T.; Grafstrom, S.; Eng, L. M. Nanotechnology 2007, 18, 084006.
41. Krok, F.; Sajewicz, K.; Konior, J.; Goryl, M.; Piatkowski, P.; Szymonski, M. Phys. Rev. B 2008, 77, 235427.
42. IUPAC Compendium of Chemical Terminology, 2nd ed., Research Triangle Park, NC 27709-3757, 1997.
43. Liscio, A.; Palermo, V.; Samorì, P. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 907.
44. Nakagiri, N.; Sugimura, H.; Ishida, Y.; Hayashi, K.; Takai, O. Surf. Sci. 2003, 532, 999.
45. Sugimura, H.; Ishida, Y.; Hayashi, K.; Takai, O.; Nakagiri, N. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 1459.
46. Guillaumin, V.; Schmutz. P.; Frankel, G. S. J. Eledrochem. Soc. 2001, 148, B163.
47. Muster, T. H.; Hughes, A. E. J. Eledrochem. Soc. 2006, 153, B474.
48. Jacobs, H. O.; Knapp, H. F.; Muller, S.; Stemmer, A. Ultramicroscopy 1997, 69, 39.
49. Chevtchenko, S.; Ni, X.; Fan, Q.; Baski, A. A.; Morkoc, H. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 122104.
50. Horowitz, G.; Kouki, F.; Spearman, P.; Fichou, D.; Nogues, C.; Pan, X.; Garnier, F. Adv. Mater. 1996, 8, 242.
51. Dinelli, F.; Capelli, R.; Loi, M. A.; Murgia, M.; Muccini, M.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2006, 18, 1416.
52. Newman, C. R.; Frisbie, C. D.; da Silva, D. A.; Bredas, J. L.; Ewbank, P. C.; Mann, K. R. Chem. Mater. 2004, 16, 4436.
53. Halls, J. J. M.; Friend, R. H. Synth. Met. 1997, 85, 1307.
54. Im, C.; Tian, W.; Bassler, H.; Fechtenkotter, A.; Watson, M. D.; Müllen, K. Synth. Met. 2003, 139, 683.
55. Schmidt-Mende, L.; Fechtenkötter, A.; Müllen, K.; Moons, E.; Friend, R. H.; MacKenzie, J. D. Science 2001, 293, 1119.
56. Elemans, J. A. A. W.; Van Hameren, R.; Nolte, R. J. M.; Rowan, A. E. Adv. Mater. 2006, 18, 1251.
57. van Herrikhuyzen, J.; Syamakumari, A.; Schenning, A.; Meijer, E. W. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 10021.
58. De Luca, G.; Liscio, A.; Maccagnani, P.; Nolde, F.; Palermo, V.; Müllen, K.; Samorì, P. Adv. Funct. Mater. 2007, 17, 3791.
59. Angadi, M. A.; Gosztola, D.; Wasielewski, M. R. J. Appl. Phys. 1998, 83, 6187.
60. Chesterfield, R. J.; McKeen, J. C.; Newman, C. R.; Ewbank, P. C.; da Silva, D. A.; Brédas, J. L.; Miller, L. L.; Mann, K. R.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 19281.
61. Palermo, V.; Liscio, A.; Gentilini, D.; Nolde, F.; Müllen, K.; Samorì, P. Small 2007, 3, 161.
62. Würthner, F. Chem. Commun. 2004, 1564.
63. Würthner, F.; Chen, Z. J.; Hoeben, F. J. M.; Osswald, P.; You, C. C.; Jonkheijm, P.; von Herrikhuyzen, J.; Schenning, A. P. H. J.; van der Schoot, P. P. A. M.; Meijer, E. W.; Beckers, E. H. A.; Meskers, S. C. J.; Janssen, R. A. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 10611.
64. Xu, B. Q.; Xiao, X. Y.; Yang, X. M.; Zang, L.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2386.
65. Balakrishnan, K.; Datar, A.; Naddo, T.; Huang, J.; Oitker, R.; Yen, M.; Zhao, J.; Zang, L. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 7390.
66. Balakrishnan, K.; Datar, A.; Oitker, R.; Chen, H.; Zuo, J. M.; Zang, L. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 10496.
67. Zhang, X.; Chen, Z.; Würthner, F. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 4886.
68. Rosenwaks, Y.; Shikler, R.; Glatzel, T.; Sadewasser, S. Phys. Rev. B 2004, 70, 085320.
69. Bluhm, H.; Inoue, T.; Salmeron, M. Surf. Sci. 2000, 462, L599.
70. Maivald, P.; Butt, H. J.; Gould, S. A. S.; Prater, C. B.; Drake, B.; Gurley, J. A.; Elings, V. B.; Hansma, P. K. Nanotechnology 1991, 2, 103.
71. McMurray, H. N.; Williams, G. J. Appl. Phys. 2002, 91, 1673.
72. Colchero, J.; Gil, A.; Baró, A. M. Phys. Rev. B 2001, 64, 245403.
73. Teva, J.; Abadal, G.; Davis, Z. J.; Verd, J.; Borrise, X.; Boisen, A.; Perez-Murano, F.; Barniol, N. Ultramicroscopy 2004, 100, 225.
74. Takahashi, T.; Ono, S. Ultramicroscopy 2004, 100, 287.
75. Charrier, D. S. H.; Kemerink, M.; SmalbrLigge, B. E.; de Vries, T.; Janssen, R. A. J. ACS Nano 2008, 2, 622.
76. Koley, G.; Spencer, M. G.; Bhangale, H. R. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 545.
77. Pingue, P.; Piazza, V.; Baschieri, P.; Ascoli, C.; Menozzi, C.; Alessandrini, A.; Facci, P. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 043510.
78. Sacha, G. M.; Saenz, J. J. Appl Phys. Lett. 2004, 85, 2610.
79. Bettis, D. G. Z. Angew. Math. Phys. 1979, 30, 699.
80. Hansen, W. N.; Hansen, G. J. Surf. Sci. 2001, 481, 172.
81. Shin, W. S.; Jeong, H. H.; Kim, M. K.; Jin, S. H.; Kim, M. R.; Lee, J. K.; Lee, J. W.; Gal, Y. S. J. Mater. Chem. 2006, 16, 384.