메뉴 건너뛰기




Volumn 4, Issue 11, 2008, Pages 1915-1927

Multiscale modeling of the atomic layer deposition of HfO2 thin film grown on silicon: How to deal with a kinetic monte carlo procedure

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 58149232370     PISSN: 15499618     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ct8001249     Document Type: Article
Times cited : (45)

References (76)
  • 1
  • 11
    • 4944259427 scopus 로고    scopus 로고
    • Triyoso, D. H.; Hegde, R. I.; Grant, J.; Fejes, P.; Liu, R.; Roan, D.; Ramon, M.; Werho, D.; Rai, R.; La, L. B.; Baker, J.; Garza, C.; Guenther, T.; White, B. E.; Tobin, P. J. J Vac. Sci. Technol. B. 2003, 22, 2121.
    • Triyoso, D. H.; Hegde, R. I.; Grant, J.; Fejes, P.; Liu, R.; Roan, D.; Ramon, M.; Werho, D.; Rai, R.; La, L. B.; Baker, J.; Garza, C.; Guenther, T.; White, B. E.; Tobin, P. J. J Vac. Sci. Technol. B. 2003, 22, 2121.
  • 63
    • 58149254449 scopus 로고    scopus 로고
    • Frisch, M. J, Tracks, G. W, Schlegel, H. B, Scuseria, G. E, Robb, M. A, Cheeseman, J. R, Zakrzewski, V. G, Montgomery, J. A, Stratmann, R. E, Burant, J, Dapprich, S, Millam, J. M, Daniels, A. D, Kudin, K. N, Strain, M. C, Farkas, O, Tomasi, J, Barone, V, Cossi, M, Cammi, R, Mennucci, B, Pomelli, C, Adamo, C, Clifford, S, Ochterski, J, Petersson, G. A, Ayala, P. Y, Cui, Q, Morokuma, K, Salvador, P, Dannenberg, J. J, Malick, D. K, Rabuck, A. D, Raghavachari, K, Foresman, J. B, Cioslowski, J, Ortiz, J. V. B, A. G, Stefanov, B. B, Liu, G, Liashenko, A, Piskorz, P, Komaromi, I, Gomperts, R, Martin, R. L, Fox, D. J, Keith, T, Al-Laham, M. A, Peng, C. Y, Nanayakkara, A, Challacombe, M, Gill, P. M, W, Johnson, B. G, Chen, W, Wong, M. W, Andres, J. L, Gonzalez, C, Head-Gordon, M, Replogle, E. S, Pople, J. A, Gaussian 03, revision D.02; Gaussian,Inc, Wallingford CT, 2004
    • Frisch, M. J.; Tracks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A.; Stratmann, R. E.; Burant, J.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V. B., A. G.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M, W,; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Gonzalez, C.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A.; Gaussian 03, revision D.02; Gaussian,Inc.: Wallingford CT, 2004.
  • 67
    • 58149223696 scopus 로고
    • Wyckoff, R, Ed, John Wiley & Sons: New York
    • Wyckoff, R., Ed. Crystal Structure; John Wiley & Sons: New York, 1965; Vol. 1, p 231.
    • (1965) Crystal Structure , vol.1 , pp. 231
  • 73
    • 58149256985 scopus 로고    scopus 로고
    • Blin, D. PhD thesis. University of Montpellier, 2003.
    • Blin, D. PhD thesis. University of Montpellier, 2003.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.