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Scanning Probe Microscopy

Volumn 2, Issue , 2007, Pages 113-131

Principles of kelvin probe force microscopy

(5) Glatzel, Th a Lux Steiner, M Ch b Strassburg, E c Boag, A c Rosenwaks, Y c

a UNIVERSITY OF BASEL (Switzerland)

b HAHN MEITNER INSTITUT (Germany)

c TEL AVIV UNIVERSITY (Israel)

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EID: 70350657000 PISSN: None EISSN: None Source Type: Book
DOI: 10.1007/978-0-387-28668-6_5 Document Type: Chapter

Times cited : (38)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.