Amplitude or frequency modulation-detection in Kelvin probe force microscopy

Applied Surface Science

Volumn 210, Issue 1-2 SPEC., 2003, Pages 84-89

  Glatzel, Th ^a   Sadewasser, S ^a   Lux Steiner, M Ch ^a  

^a HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

Author keywords

Contact potential; Electrostatic force; Kelvin probe force microscopy; Ultrahigh vacuum; Work function

Indexed keywords

AMPLITUDE MODULATION; ELECTRIC POTENTIAL; ELECTROSTATICS; FREQUENCY MODULATION; OSCILLATIONS; ULTRAHIGH VACUUM;

ELECTROSTATIC FORCE;

SURFACE PHENOMENA;

EID: 0037474573     PISSN: 01694332     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0169-4332(02)01484-8     Document Type: Conference Paper

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