Electrical resistance of Ag TS-S(CH 2) n -1CH 3//Ga 2O 3/EGaIn tunneling junctions

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 116, Issue 20, 2012, Pages 10848-10860

  Cademartiri, Ludovico ^a,c,d   Thuo, Martin M ^a,c,d   Nijhuis, Christian A ^a,c,d   Reus, William F ^a,c,d   Tricard, Simon ^a,c,d   Barber, Jabulani R ^a,c,d   Sodhi, Rana N S ^b   Brodersen, Peter ^b   Kim, Choongik ^a,c,d   Chiechi, Ryan C ^a,c,d   Whitesides, George M ^a,c,d  

^a HARVARD UNIVERSITY   (United States)

^b UNIVERSITY OF TORONTO   (Canada)

^c HARVARD UNIVERSITY   (United States)

^d MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALKANETHIOLATES; AMBIENT CONDITIONS; CONTACT AREAS; ELECTRICAL CHARACTERIZATION; ELECTRICAL RESISTANCES; EUTECTIC ALLOYS; HIGH ENERGY; METAL ELECTRODES; METAL OXIDES; MICROMETER SCALE; ORGANIC MATERIALS; TRANSPORT OF CHARGE; TUNNELING JUNCTIONS;

GALLIUM; LIQUID METALS; METALLIC COMPOUNDS; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; SILVER;

INTERFACES (MATERIALS);

EID: 84861503441     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp212501s     Document Type: Article

References (88)

1. Chiechi, R. C.; Weiss, E. A.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 2008, 47, 142-144
2. Akkerman, H. B.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; de Boer, B. Nature 2006, 441, 69-72
3. Akkerman, H. B.; Kronemeijer, A. J.; van Hal, P. A.; de Leeuw, D. M.; Blom, P. W. M.; de Boer, B. Small 2008, 4, 100-104
4. Beebe, J. M.; Engelkes, V. B.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11268-11269
5. Chu, C. W.; Na, J. S.; Parsons, G. N. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 2287-2296
6. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287-14296
7. Haick, H.; Cahen, D. Acc. Chem. Res. 2008, 41, 359-366
8. Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075-5085
9. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103-1169
10. Thuo, M. M.; Reus, W. F.; Nijhuis, C. A.; Barber, J. R.; Kim, C.; Schulz, M. D.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 2962-2975
11. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533-1554
12. Weiss, E. A.; Chiechi, R. C.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z. F.; Duati, M.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 4336-4349
13. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17814-17827
14. Stein, N.; Korobko, R.; Yaffe, O.; Lavan, R. H.; Shpaisman, H.; Tirosh, E.; Vilan, A.; Cahen, D. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 12769-12776
15. Akkerman, H. B.; de Boer, B. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20 013001
16. Akkerman, H. B.; Kronemeijer, A. J.; Harkema, J.; van Hal, P. A.; Smits, E. C. P.; de Leeuw, D. M.; Blom, P. W. M. Org. Electron. 2010, 11, 146-149
17. Akkerman, H. B.; Naber, R. C. G.; Jongbloed, B.; van Hal, P. A.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; de Boer, B. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2007, 104, 11161-11166
18. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 16801-16810
19. Bonifas, A. P.; McCreery, R. L. Nat. Nanotechnol. 2010, 5, 612-617
20. Holmlin, R. E.; Ismagilov, R. F.; Haag, R.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 2001, 40, 2316
21. Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Chem. Phys. 2002, 281, 373-391
22. Simeone, F. C.; Rampi, M. A. Chimia 2010, 64, 362-369
23. Slowinski, K.; Chamberlain, R. V.; Miller, C. J.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11910-11919
24. Slowinski, K.; Fong, H. K. Y.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7257-7261
25. Slowinski, K.; Majda, M. J. Electroanal. Chem. 2000, 491, 139-147
26. York, R. L.; Nguyen, P. T.; Slowinski, K. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 5948-5953
27. York, R. L.; Slowinski, K. J. Electroanal. Chem. 2003, 550, 327-336
28. Fracasso, D.; Valkenier, H.; Hummelen, J. C.; Solomon, G. C.; Chiechi, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 9556-9563
29. Paul, A.; Watson, R. M.; Wierzbinski, E.; Davis, K. L.; Sha, A.; Achim, C.; Waldeck, D. H. J. Phys. Chem. B 2010, 114, 14140-14148
30. Khoshtariya, D. E.; Dolidze, T. D.; Shushanyan, M.; Davis, K. L.; Waldeck, D. H.; van Eldik, R. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2010, 107, 2757-2762
31. Davis, K. L.; Drews, B. J.; Yue, H.; Waldeck, D. H.; Knorr, K.; Clark, R. A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 6571-6576
32. Yue, H. J.; Waldeck, D. H.; Schrock, K.; Kirby, D.; Knorr, K.; Switzer, S.; Rosmus, J.; Clark, R. A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 2514-2521
33. French, S. J.; Saunders, D. J.; Ingle, G. W. J. Phys. Chem. 1938, 42, 265-274
34. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Nano Lett. 2010, 10, 3611-3619
35. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 18386-18401
36. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254
37. Chen, F.; Hihath, J.; Huang, Z. F.; Li, X. L.; Tao, N. J. Annu. Rev. Phys. Chem. 2007, 58, 535-564
38. Haag, R.; Rampi, M. A.; Holmlin, R. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7895-7906
39. Mishchenko, A.; Vonlanthen, D.; Meded, V.; Burkle, M.; Li, C.; Pobelov, I. V.; Bagrets, A.; Viljas, J. K.; Pauly, F.; Evers, F. Nano Lett. 2010, 10, 156-163
40. Xu, B. Q.; Tao, N. J. J. Science 2003, 301, 1221-1223
41. Venkatramani, R.; Davis, K. L.; Wierzbinski, E.; Bezer, S.; Balaeff, A.; Keinan, S.; Paul, A.; Kocsis, L.; Beratan, D. N.; Achim, C. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 62-72
42. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549-5556
43. Mahmoud, A. M.; Bergren, A. J.; Pekas, N.; McCreery, R. L. Adv. Funct. Mater. 2011, 21, 2273-2281
44. McCreery, R. L.; Wu, J.; Kalakodimi, R. P. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 2572-2590
45. Bergren, A. J.; Harris, K. D.; Deng, F. J.; McCreery, R. L. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20 374117
46. Yan, H. J.; McCreery, R. L. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 443-451
47. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550-1552
48. Kim, T. W.; Wang, G.; Lee, H.; Lee, T. Nanotechnology 2007, 18 315204
49. Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nature 2006, 442, 904-907
50. Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Beck, P. A.; Chen, Y.; Williams, R. S.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F. Nano Lett. 2004, 4, 133-136
51. Valkenier, H.; Huisman, E. H.; van Hal, P. A.; de Leeuw, D. M.; Chiechi, R. C.; Hummelen, J. C. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 4930-4939
52. Fatemi, V.; Kamenetska, M.; Neaton, J. B.; Venkataraman, L. Nano Lett. 2011, 11, 1988-1992
53. Dickey, M. D.; Chiechi, R. C.; Larsen, R. J.; Weiss, E. A.; Weitz, D. A.; Whitesides, G. M. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 1097-1104
54. Larsen, R. J.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M.; Weitz, D. A. J. Rheol. 2009, 53, 1305-1326
55. Sek, S.; Bilewicz, R.; Slowinski, K. Chem. Commun. 2004, 404-405
56. Chen, F.; Li, X.; Hihath, J.; Huang, Z. F.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15874-15881
57. Haiss, W.; Nichols, R. J.; van Zalinge, H.; Higgins, S. J.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 4330-4337
58. Suzuki, M.; Fujii, S.; Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 2006, 45, 2041-2044
59. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Nagahara, L. A.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8609-8614
60. Morita, T.; Lindsay, S. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 7262
61. Reus, W. F.; Nijhuis, C. A.; Barber, J. R.; Thuo, M. M.; Tricard, S.; Kim, C.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 6714-6733
62. Liao, J.; Bernard, L.; Langer, M.; Schonenberger, C.; Calame, M. Adv. Mater. 2006, 18, 2444
63. Regan, M. J.; Tostmann, H.; Pershan, P. S.; Magnussen, O. M.; DiMasi, E.; Ocko, B. M.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 1997, 55, 10786-10790
64. Tostmann, H.; DiMasi, E.; Pershan, P. S.; Ocko, B. M.; Shpyrko, O. G.; Deutsch, M. Phys. Rev. B 1999, 59, 783-791
65. Scharmann, F.; Cherkashinin, G.; Breternitz, V.; Knedlik, C.; Hartung, G.; Weber, T.; Schaefer, J. A. Surf. Interface Anal. 2004, 36, 981-985
66. Dumke, M. F.; Tombrello, T. A.; Weller, R. A.; Housley, R. M.; Cirlin, E. H. Surf. Sci. 1983, 124, 407-422
67. Lorenz, M. R.; Woods, J. F.; Gambino, R. J. J. Phys. Chem. Solids 1967, 28, 403
68. Passlack, M.; Schubert, E. F.; Hobson, W. S.; Hong, M.; Moriya, N.; Chu, S. N. G.; Konstadinidis, K.; Mannaerts, J. P.; Schnoes, M. L.; Zydzik, G. J. J. Appl. Phys. 1995, 77, 686-693
69. Paterson, G. W.; Wilson, J. A.; Moran, D.; Hill, R.; Long, A. R.; Thayne, I.; Passlack, M.; Droopad, R. Mater. Sci. Eng., B 2006, 135, 277-281
70. Strein, E.; Allred, D. Thin Solid Films 2008, 517, 1011-1015
71. Strein, E. Studying and Eliminating Adventitious Carbon Contamination on Silicon Wafers. B.Sc., Brigham Young University, Provo, UT, 2008.
72. Wagner, C. D.; Naumkin, A. V.; Kraut-Vass, A.; Allison, J. W.; Powell, C. J.; Rumble, J. R. J. NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database, 3.5 th ed.; 2007.
73. Beard, B. C.; Brizzolara, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1996, 14, 89-94
74. Brizzolara, R. A.; Beard, B. C. Surf. Interface Anal. 1999, 27, 716-727
75. Saheli, G.; Conti, G.; Uritsky, Y.; Foad, M. A.; Brundle, C. R.; Mack, P.; Kouzminov, D.; Werner, M.; van den Berg, J. A. J. Vac. Sci. Technol., B 2008, 26, 298-304
76. Jedral, L.; Ruda, H. E.; Sodhi, R.; Ma, H.; Mannik, L. Can. J. Phys. 1992, 70, 1050-1056
77. Barr, T. L.; Seal, S. J. Vac. Sci. Technol., A 1995, 13, 1239-1246
78. Piao, H.; McIntyre, N. S. Surf. Interface Anal. 2002, 33, 591-594
79. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 1793
80. Akkerman, H. B. Large-Area Molecular Junctions. Ph.D. Dissertation, University of Groningen, Groningen, Netherlands, 2008; Chapter 7.
81. Wang, G.; Kim, Y.; Na, S.-I.; Kahng, Y. H.; Ku, J.; Park, S.; Jang, Y. H.; Kim, D.-Y.; Lee, T. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 17979-17985
82. Haran, A.; Waldeck, D. H.; Naaman, R.; Moons, E.; Cahen, D. Science 1994, 263, 948-950
83. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C, in press; DOI: 10.1021/jp303072a.
84. Veillerot, M.; Danel, A.; Cetre, S.; Tardif, F. Mater. Sci. Eng., B 2003, 102, 385-389
85. Seah, M. P.; Spencer, S. J. J. Vac. Sci. Technol., A 2003, 21, 345-352
86. Tostmann, H.; DiMasi, E.; Ocko, B. M.; Deutsch, M.; Pershan, P. S. J. Non-Cryst. Solids 1999, 250, 182-190
87. Tyson, W. R.; Miller, W. A. Surf. Sci. 1977, 62, 267-276
88. de Boer, F. R.; Boom, R.; Mattens, W. C. M.; Miedema, A. R.; Niessen, A. K. Cohesion in Metals; North-Holland: Amsterdam, 1988.