Statistical tools for analyzing measurements of charge transport

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 116, Issue 11, 2012, Pages 6714-6733

  Reus, William F ^a   Nijhuis, Christian A ^b   Barber, Jabulani R ^a   Thuo, Martin M ^a   Tricard, Simon ^a   Whitesides, George M ^a,c  

^a HARVARD UNIVERSITY   (United States)

^b NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE   (Singapore)

^c HARVARD UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACCURACY AND PRECISION; ARITHMETIC MEAN; CONFIDENCE INTERVAL; LEAST-SQUARES ALGORITHMS; N-ALKANETHIOLS; NOISY DATA; ODD-EVEN EFFECTS; SAMS; SIMMONS MODEL; STANDARD DEVIATION; STATISTICAL MODELS; STATISTICAL TECHNIQUES; STATISTICAL TOOLS; TUNNELING CURRENT;

NORMAL DISTRIBUTION; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; STATISTICAL MECHANICS;

STATISTICAL METHODS;

EID: 84858766351     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp210445y     Document Type: Article

References (48)

1. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103-1169
2. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571-574
3. Luo, L.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 8854-8855
4. Kim, B.; Beebe, J. M.; Jun, Y.; Zhu, X. Y.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 4970-4971
5. Wang, G.; Kim, T.-W.; Jang, Y. H.; Lee, T. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 13010-13016
6. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L., II; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705-1707
7. Venkataraman, B.; Breen, J. J.; Flynn, G. W. J. Phys. Chem. 1995, 99, 6608-6619
8. Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nature 2006, 442, 904-907
9. Lee, T.; Wang, W.; Klemic, J. F.; Zhang, J. J.; Su, J.; Reed, M. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8742-8750
10. Kim, T.-W.; Wang, G.; Lee, H.; Lee, T. Nanotechnology 2007, 18, 315204-315212
11. Weiss, E. A.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z.; Schalek, R.; Whitesides, G. M. Langmuir 2007, 23, 9686-9694
12. Chiechi, R. C.; Weiss, E. A.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 142-144
13. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17814-17827
14. Thuo, M. M.; Reus, W. F.; Nijhuis, C. A.; Barber, J. R.; Kim, C.; Schulz, M. D.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 2962-2975
15. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Nano Lett. 2010, 10, 3611-3619
16. Casella, G.; Berger, R. L. Statistical Inference; Duxbury Press: Belmont, CA, 1990.
17. Bevington, P. R.; Robinson, D. K. Data Reduction and Error Analysis for the Physical Sciences, 3 rd ed.; McGraw-Hill: New York, 2003.
18. Statistical Methods for Physical Science; Stanford, J. L.; Vardeman, S. B., Eds.; Methods of Experimental Physics Series 28; Academic Press: San Diego, CA, 1994.
19. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 2581-2590
20. Huber, P. J. Robust Statistics; Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics; Wiley and Sons: New York, 1981.
21. Rousseeuw, P. J.; Leroy, A. M. Robust Regression and Outlier Detection; Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics; Wiley and Sons: New York, 1987.
22. Weiss, E. A.; Chiechi, R. C.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z.; Duati, M.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 4336-4349
23. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Jones, L., II; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550-1552
24. Fisher, G. L.; Walker, A. V.; Hooper, A. E.; Tighe, T. B.; Bahnck, K. B.; Skriba, H. T.; Reinard, M. D.; Haynie, B. C.; Opila, R. L.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5528-5541
25. Walker, A. V.; Tighe, T. B.; Cabarcos, O. M.; Reinard, M. D.; Haynie, B. C.; Uppili, S.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 3954-3963
26. Akkerman, H. B.; de Boer, B. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 013001
27. Akkerman, H. B.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; de Boer, B. Nature 2006, 440, 69-72
28. Milani, F.; Grave, C.; Ferri, V.; Samori, P.; Rampi, M. A. ChemPhysChem 2007, 8, 515-518
29. Haag, R.; Rampi, M. A.; Holmlin, R. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7895-7906
30. Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075-5085
31. Slowinski, K.; Fong, H. K. Y.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7257-7261
32. York, R. L.; Nguyen, P. T.; Slowinski, K. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 5948-5953
33. York, R. L.; Slowinski, K. J. Electroanal. Chem. 2003, 550, 327-336
34. Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Chem. Phys. 2002, 281, 373-391
35. Salomon, A.; Boecking, T.; Chan, C. K.; Amy, F.; Girshevitz, O.; Cahen, D.; Kahn, A. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 266807
36. Salomon, A.; Boecking, T.; Seitz, O.; Markus, T.; Amy, F.; Chan, C.; Zhao, W.; Cahen, D.; Kahn, A. Adv. Mater. 2007, 19, 445-450
37. Salomon, A.; Böcking, T.; Gooding, J. J.; Cahen, D. Nano Lett. 2006, 6, 2873-2876
38. Dickey, M. D.; Chiechi, R. C.; Larsen, R. J.; Weiss, E. A.; Weitz, D. A.; Whitesides, G. M. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 1097-1104
39. Cademartiri, L.; Thuo, M. M.; Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Tricard, S.; Barber, J. R.; Sodhi, R. N.; Brodersen, P.; Kim, C.; Chiechi, R. C.; Whitesides, G. M. manuscript submitted to.
40. Barr, T. L.; Seal, S. J. Vac. Sci. Technol. A 1995, 13, 1239-1246
41. Reus, W. F.; Thuo, M. M.; Shapiro, N. S.; Nijhuis, C. A.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem., unpublished experiments.
42. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc., submitted.
43. Dale, M. R. T.; Fortin, M.-J. J. Agric. Biol. Environ. Sci. 2009, 14, 188-206
44. Cressie, N. A.; Statistics for Spatial Data; Wiley: New York, 1991.
45. Conover, W. J. Practical Nonparametric Statistics; John Wiley and Sons: New York, 1980.
46. Galwey, N. W. Genet. Epidemiol. 2009, 33, 559-568
47. Fracasso, D.; Valkenier, H.; Hummelen, J. C.; Solomon, G. C.; Chiechi, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 9556-9563
48. Tao, F.; Bernasek, S. L. Chem. Rev. 2007, 107, 1408-1453