Analysis of the causes of variance in resistance measurements on metal-molecule-metal junctions formed by conducting-probe atomic force microscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 35, 2005, Pages 16801-16810

  Engelkes, Vincent B ^a   Beebe, Jeremy M ^b   Frisbie, C Daniel ^a  

^a University of Minnesota   (United States)

^b UNIVERSITY OF MINNESOTA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

METAL-MOLECULE-METAL JUNCTION; SUBSTRATE ROUGHNESS; TIP CHEMISTRY; TIP CONTACT;

ALCOHOLS; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMICAL MODIFICATION; ELECTRIC RESISTANCE MEASUREMENT; ELECTRON TUNNELING; GOLD; MONOLAYERS;

TUNNEL JUNCTIONS;

EID: 25444530422     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp052348s     Document Type: Article

References (42)

1. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287-14296.
2. Kushmerick, J. G.; Lazorcik, J.; Patterson, C. H.; Shashidhar, R.; Seferos, D. S.; Bazan, G. C. Nano Lett. 2004, 4, 639-642.
3. Lee, T.; Wang, W.; Klemic, J. F.; Zhang, J. J.; Su, J.; Reed, M. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8742-8750.
4. Liu, B.; Bard, A. J.; Mirkin, M. V.; Creager, S. E. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 1485-1492.
5. Weiss, E. A.; Ahrens, M. J.; Sinks, L. E.; Gusev, A. V.; Ratner, M. A.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5577-5584.
6. Kushmerick, J. G.; Naciri, J.; Yang, J. C.; Shashidhar, R. Nano Lett. 2003, 3, 897-900.
7. Ramachandran, G. K.; Tomfohr, J. K.; Li, J.; Sankey, O. F.; Zarate, X.; Primak, A.; Terazono, Y.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Gust, D.; Nagahara, L. A.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 6162-6169.
8. Salomon, A.; Cahen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881-1890.
9. Wang, W.; Lee, T.; Reed, M. A. Phys. Rev. B 2003, 68, 035416/035411-035416/035417.
10. Beebe, J. M.; Engelkes, V. B.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11268-11269.
11. Chabinyc, M. L.; Chen, X.; Holmlin, R. E.; Jacobs, H.; Skulason, H.; Frisbie, C. D.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11730-11736.
12. Cui, X. D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2002, 13, 5-14.
13. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Nagahara, L. A.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8609-8614.
14. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Yang, J. C.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidhar, R. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 086802/086801-086802/086804.
15. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Pollack, S. K.; Ratner, M. A.; Yang, J. C.; Schull, T. L.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidhar, R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10654-10655.
16. Selzer, Y.; Salomon, A.; Cahen, D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2886-2887.
17. Selzer, Y.; Salomon, A.; Cahen, D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 10432-10439.
18. Wold, D. J.; Haag, R.; Rampi, M. A.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2813-2816.
19. Chabinyc, M. L.; Chen, X.; Holmlin, R. E.; Jacobs, H. O.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Abstr. Pap. - Am. Chem. Soc. 2001, 221st, COLL-009.
20. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571-574.
21. Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075-5085.
22. Holmlin, R. E.; Ismagilov, R. F.; Haag, R.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2001, 40, 2316-2320.
23. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549-5556.
24. Hong, S.; Reifenberger, R.; Tian, W.; Datta, S.; Henderson, J.; Kubiak, C. P. Superlattices Microstruct. 2000, 28, 289-303.
25. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 2970-2971.
26. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8122-8127.
27. Slowinski, K.; Fong, H. K. Y.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 127, 7257-7261.
28. Slowinski, K.; Slowinska, K. U.; Majda, M. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8544-8551.
29. Slowinski, K.; Chamberlain, R. V.; Miller, C. J.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11910-11919.
30. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L., II; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705-1707.
31. Slowinski, K.; Chamberlain, R. V., II; Bilewicz, R.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 4709-4710.
32. Zhou, C.; Muller, C. J.; Deshpande, M. R.; Sleight, J. W.; Reed, M. A. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 1160-1162.
33. Polymeropoulos, E. E.; Sagiv, J. J. Chem. Phys. 1978, 69, 1836-1847.
34. Chernick, M. R. Bootstrap Methods: A Practitioner's Guide; Wiley: New York, 1999.
35. Efron, B. An Introduction to the Bootstrap; Chapman & Hall: New York, 1993.
36. Blackstock, J. J.; Li, Z.; Freeman, M. R.; Stewart, D. R. Surf. Sci. 2003, 546, 87-96.
37. Levy, R.; Maalmoum, M. Nanotechnology 2002, 13, 33-37.
38. Stark, R. W.; Drobek, T.; Heckl, W. M. Ultramicroscopy 2001, 86, 207-215.
39. Beach, E. R.; Tormoen, G. W.; Drelich, J. J. Adhes. Sci. Technol. 2002, 16, 845-868.
40. Burnham, N. A.; Dominguez, D. D.; Mowery, R. L.; Colton, R. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 1931-1934.
41. Yourdshahyan, Y.; Zhang, H. K.; Rappe, A. M. Phys. Rev. B 2001, 63, 081405/081401-081405/081404.
42. Cappella, B.; Dietler, G. Surf. Sci. Rep. 1999, 34, 1-104.