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Volumn , Issue 8, 2009, Pages 859-873

Cheating the diffraction limit: Electrodeposited nanowires patterned by photolithography

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EID: 61449256042     PISSN: 13597345     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/b815603d     Document Type: Review
Times cited : (70)

References (141)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.