Photoconductive cadmium sulfide hemicylindrical shell nanowire ensembles

Nano Letters

Volumn 5, Issue 9, 2005, Pages 1720-1725

  Li, Qiguang ^a   Penner, Reginald M ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROCHEMICAL STEP-EDGE DECORATION; HEMICYLINDRICAL SHELL NANOWIRES (HSNW); KIRKENDALL EFFECT;

DIFFUSION; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODEPOSITION; GRAPHITE ELECTRODES; MORPHOLOGY; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PHOTOCONDUCTIVITY; PHOTOLUMINESCENCE;

CADMIUM SULFIDE;

EID: 25844455160     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl050994x     Document Type: Article

References (35)

1. Ahn, S. E.; Lee, J. S.; Kim, H.; Kim, S.; Kang, B. H.; Kim, K. H.; Kim, G. T. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 5022.
2. Arnold, M. S.; Avouris, P.; Pan, Z. W.; Wang, Z. L. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 659.
3. Fan, Z. Y.; Chang, P. C.; Lu, J. G.; Walter, E. C.; Penner, R. M.; Lin, C. H.; Lee, H. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 6128.
4. Heo, Y. W.; Kang, B. S.; Tien, L. C.; Norton, D. P.; Ren, F.; La Roche, J. R.; Pearton, S. J. Appl. Phys. A 2005, 80, 497.
5. Heo, Y. W.; Tien, L. C.; Norton, D. P.; Kang, B. S.; Ren, F.; Gila, B. P.; Pearton, S. J. Appl. Phys. Lett. 2004, 55, 2002.
6. Keem, K.; Kim, H.; Kim, G. T.; Lee, J. S.; Min, B.; Cho, K.; Sung, M. Y.; Kim, S. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4376.
7. Kind, H.; Yan, H. Q.; Messer, B.; Law, M.; Yang, P. D. Adv. Mater. 2002, 14, 158.
8. Li, Q. H.; Gao, T.; Wang, Y. G.; Wang, T. H. Appl. Phys. Lett. 2005, 56.
9. Liu, Z. Q.; Zhang, D. H.; Han, S.; Li, C.; Tang, T.; Jin, W.; Liu, X. L.; Lei, B.; Zhou, C. W. Adv. Mater. 2003, 15, 1754.
10. Han, S.; Jin, W.; Zhang, D. H.; Tang, T.; Li, C.; Liu, X. L.; Liu, Z. Q.; Lei, B.; Zhou, C. W. Chem. Phys. Lett. 2004, 359, 176.
11. Zhang, D.; Li, C.; Han, S.; Liu, X.; Tang, T.; Jin, W.; Zhou, C. Appl. Phys. A 2003, 77, 163.
12. Gorer, S.; Ganske, J. A.; Hemminger, J. C.; Penner, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 9584.
13. Penner, R. M. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 78.
14. Chen, Y. T.; Ding, J. B.; Guo, Y.; Kong, L. B.; Li, H. L. Mater. Chem. Phys. 2003, 77, 734.
15. Tang, K. B.; Qian, Y. T.; Zeng, J. H.; Yang, X. G. Adv. Mater. 2003, 15, 448.
16. Liu, W. F.; Jin, C. G.; Jia, C.; Yao, L. Z.; Cai, W. L.; Li, X. G. Chem. Lett. 2004, 33, 228.
17. Ip, K. M.; Wang, C. R.; Li, Q.; Hark, S. K. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 795.
18. Li, Q.; Newberg, J. T.; Walter, E. C.; Hemminger, J. C.; Penner, R. M. Nano Lett. 2004, 4, 277.
19. Li, Q.; Walter, E. C.; van der Veer, W. E.; Murray, B. J.; Newberg, J. T.; Bohannan, E. W.; Switzer, J. A.; Hemminger, J. C.; Penner, R. M. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 3169.
20. Walter, E. C.; Murray, B. J.; Favier, F.; Kaltenpoth, G.; Grunze, M.; Penner, R. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 11407.
21. Walter, E. C.; Zach, M. P.; Favier, F.; Murray, B. J.; Inazu, K.; Hemminger, J. C.; Penner, R. M. ChemPhysChem 2003, 4, 131.
22. Li, Q. G.; Olson, J. B.; Penner, R. M. Chem. Mater. 2004, 16, 3402.
23. Zach, M. P.; Ng, K. H.; Penner, R. M. Science 2000, 290, 2120.
24. Menke, E. J.; Li, Q.; Penner, R. M. Nano Lett. 2004, 4, 2009.
25. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications, 2nd ed.; Wiley and Sons: New York, 2001.
26. Zach, M. P.; Ng, K.; Penner, R. M. Science 2000, 290, 2120.
27. Favier, F. W. E.; Zach, M.; Benter, T.; Penner, R. M. Science 2001, 293, 2227.
28. Morral, J. E.; Son, Y. H.; Thompson, M. S. Acta Metall. 1988, 36, 1971.
29. Smigelskas, A. D.; Kirkendall, E. O. Trans. Am. Inst. Min. Metall. Eng. 1947, 171, 130.
30. Yin, Y. D.; Rioux, R. M.; Erdonmez, C. K.; Hughes, S.; Somorjai, G. A.; Alivisatos, A. P. Science 2004, 304, 711.
31. Walter, E. C.; Favier, F.; Penner, R. M. Anal. Chem. 2002, 74, 1546.
32. Shalimov, Kv.; Khirin, V. N.; Korolev, O. I. Opt. Spectrosc. 1966, 27, 256.
33. Bube, R. H. Photoelectronic Properties of Semiconductors; Cambridge University Press: Cambridge, U.K., 1992.
34. Berndt, R.; Gimzewski, J. K. Phys. Rev. B 1992, 45, 14095.
35. Shiraki, Y.; Shimada, T.; Komatsub, Kf. J. Appl. Phys. 1974, 45, 3554.