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Volumn 2, Issue , 2001, Pages 1173-1178

Recent advances and issues in SiC process and device technologies

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EID: 84964555666     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ICSICT.2001.982108     Document Type: Conference Paper
Times cited : (3)

References (67)
  • 3
    • 84964565557 scopus 로고    scopus 로고
    • NC, USA
    • D. CREE Inc., NC, USA, http://www.cree.com.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.