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Volumn 1, Issue , 1999, Pages 321-324

Invited-progress in high power SiC microwave MESFETs

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ELECTRIC BREAKDOWN; ELECTRIC FIELDS; GATES (TRANSISTOR); HETEROJUNCTIONS; MICROWAVE DEVICES; SEMICONDUCTOR DIODES; SILICON CARBIDE; SUBSTRATES;

EID: 0033363970     PISSN: 0149645X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (78)

References (2)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.