Simultaneous current, force and dissipation measurements on the Si(111) 7×7 surface with an optimized qplus AFM/STM technique

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 3, Issue 1, 2012, Pages 249-259

  Majzik, Zsolt ^a   Setvín, Martin ^a   Bettac, Andreas ^b   Feltz, Albrecht ^b   Cháb, Vladimír ^a   Jelínek, Pavel ^a  

^a INSTITUTE OF PHYSICS   (Czech Republic)

^b Omicron Nano Technology GmbH   (Germany)

Author keywords

Afm; Cross talk; Current; Dissipation; Force; Qplus; Stm; Tuning fork

Indexed keywords

AFM; FORCE; QPLUS; STM; TUNING FORKS;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CROSSTALK; ELECTRIC CURRENTS; ELECTRON TUNNELING; ENERGY DISSIPATION; SENSORS; SILICON;

SURFACE TOPOGRAPHY;

EID: 84861392624     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.3.28     Document Type: Article

References (55)

1. Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 57.
2. Binnig, G.; Quate, C.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930.
3. Binnig, G.; Gerber, C.; Stoll, E.; Albrecht, T.; Quate, C. Surf. Sci. 1987, 189-190, 1.
4. Albrecht, T.; Grütter, P.; Horne, D.; Rugar, D. J. Appl. Phys. 1991, 69, 668.
5. Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68.
6. Morita, S.; Wiesendanger, R.; Meyer, E. In Noncontact Atomic Force Microscopy; Avouris, P.; von Klitzing, K.; Sakaki, H.; Wiesendanger, R., Eds.; Nanoscience and Technology; Springer: Berlin, Heidelberg, 2002.
7. Morita, S.; Giessibl, F. J.; Wiesendanger, R. In Noncontact Atomic Force Microscopy; Avouris, P.; von Klitzing, K.; Sakaki, H.; Wiesendanger, R., Eds.; Nanoscience and Technology, Vol. 2; Springer: Berlin, Heidelberg, 2009.
8. Giessibl, F. J.; Bielefeldt, H.; Hembacher, S.; Mannhart, J. Appl. Surf. Sci. 1999, 140, 352.
9. Garcia, R.; Perez, R. Surf. Sci. Rep. 2002, 47, 197.
10. Giessibl, F. J.; Hembacher, S.; Herz, M.; Schiller, Ch.; Mannhart, J. Nanotechnology 2004, 15, S79.
11. Giessibl, F. J. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 949.
12. Giessibl, F. J. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 4070.
13. Giessibl, F.; Pielmeier, F.; Eguchi, T.; An, T.; Hasegawa, Y. Phys. Rev. B 2011, 84, 125409.
14. Giessibl, F. J. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 1470.
15. An, T.; Eguchi, T.; Akiyama, K.; Hasegawa, Y. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 133114.
16. An, T.; Nishio, T.; Eguchi, T.; Ono, M.; Nomura, A.; Akiyama, K.; Hasegawa, Y. Rev. Sci. Instrum. 2008, 79, 033703.
17. Dürig, U.; Gimzewski, J. K.; Pohl, D. W. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2403.
18. Loppacher, Ch.; Bammerlin, M.; Guggisberg, M.; Schär, S.; Bennewitz, R.; Baratoff, A.; Meyer, E.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. B 2000, 62, 16944.
19. Schirmeisen, A.; Cross, G.; Stalder, A.; Grütter, P.; Dürig, U. New J. Phys. 2000, 2, 29.
20. Hembacher, S.; Giessibl, F. J.; Mannhart, J.; Quate, C. F. Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2003, 100, 12539.
21. Sawada, D.; Sugimoto, Y.; Morita, K.-i.; Abe, M.; Morita, S. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 173117.
22. Sugimoto, Y.; Yi, I.; Morita, K.-I.; Abe, M.; Morita, S. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 263114.
23. Sugimoto, Y.; Nakajima, Y.; Sawada, D.; Morita, K.-I.; Abe, M.; Morita, S. Phys. Rev. B 2010, 81, 245322.
24. Sun, Y.; Mortensen, H.; Schär, S.; Lucier, A.-S.; Miyahara, Y.; Grütter, P.; Hofer, W. Phys. Rev. B 2005, 71, 193407.
25. Ternes, M.; Lutz, C. P.; Hirjibehedin, C. F.; Giessibl, F. J.; Heinrich, A. J. Science 2008, 319, 1066.
26. König, T.; Simon, G. H.; Rust, H.-P.; Heyde, M. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 083116.
27. Fournier, N.; Wagner, C.; Weiss, C.; Temirov, R.; Tautz, F. S. Phys. Rev. B 2011, 84, 035435.
28. Sun, Z.; Boneschanscher, M. P.; Swart, I.; Vanmaekelbergh, D.; Liljeroth, P. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 046104.
29. Torbrügge, S.; Schaff, S. T. O.; Rychen, J. J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., Meas., Phenom. 2010, 28, C4E12.
30. Weymouth, A. J.; Wutscher, T.; Welker, J.; Hofmann, T.; Giessibl, F. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 226801.
31. Rubio-Bollinger, G.; Joyez, P.; Agraït, N. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 116803.
32. Ternes, M.; González, C.; Lutz, C. P.; Hapala, P.; Giessibl, F. J.; Jelínek, P.; Heinrich, A. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 016802.
33. Albers, B. J.; Liebmann, M.; Schwendemann, T. C.; Baykara, M. Z.; Heyde, M.; Salmeron, M.; Altman, E. I.; Schwarz, U. D. Rev. Sci. Instrum. 2008, 79, 033704.
34. Jelínek, P.; Ondráček, M.; Flores, F. J. Phys.: Condens. Matter 2012, 24, 084001.
35. Wutscher, E.; Giessibl, F. J. Rev. Sci. Instrum. 2011, 82, 093703.
36. Sader, J. E.; Jarvis, S. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1801.
37. Sader, J. E.; Sugimoto, Y. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 043502.
38. SPICE-Based Analog Simulation Program - TINA-TI. http://www.ti.com/tool/tina-ti (accessed Feb 13, 2012).
39. General Cable - Electronics Catalog. http://catalog.proemags.com/publication/cd728f6b#/cd728f6b/1 (accessed Feb 13, 2012).
40. Hayes, T.; Horowitz, P. Student Manual for The Art of Electronics; Cambridge University Press: Cambridge, New York, 1989.
41. Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Liljeroth, P.; Meyer, G. Science 2009, 325, 1110.
42. Heyde, M.; Sterrer, M.; Rust, H.-P.; Freund, H.-J. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 083104.
43. Pérez, R.; Štich, I.; Payne, M. C.; Terakura, K. Phys. Rev. B 1998, 58, 10835.
44. Lantz, M.; Hug, H. J.; Hoffmann, R.; van Schendel, P. J. A.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J. Science 2001, 291, 2580.
45. Sugimoto, Y.; Pou, P.; Custance, Ó.; Jelínek, P.; Morita, S.; Pérez, R.; Abe, M. Phys. Rev. B 2006, 73, 205329.
46. Jelínek, P.; Švec, M.; Pou, P.; Perez, R.; Cháb, V. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 176101.
47. Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; van Schendel, P. J. A.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J. Phys. Rev. B 2003, 67, 085402.
48. Garcia, R.; Gómez, C. J.; Martinez, N. F.; Patil, S.; Dietz, C.; Magerle, R. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 016103.
49. Kantorovich, L. N.; Trevethan, T. Phys. Rev. Lett. 2003, 93, 236102.
50. Ghasemi, S. A.; Goedecker, S.; Baratoff, A.; Lenosky, T.; Meyer, E.; Hug, H. J. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 236106.
51. Oyabu, N.; Pou, P.; Sugimoto, Y.; Jelínek, P.; Abe, M.; Morita, S.; Pérez, R.; Custance, Ó. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 106101.
52. Kamiński, W.; Pérez, R. Tribol. Lett. 2010, 39, 295.
53. Cockins, L.; Miyahara, Y.; Bennett, S. D.; Clerk, A. A.; Studenikin, S.; Poole, P.; Sachrajda, A.; Grutter, P. Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2010, 107, 9496.
54. Kisiel, M.; Gnecco, E.; Gysin, U.; Marot, L.; Rast, S.; Meyer, E. Nat. Mater. 2011, 10, 119.
55. Labuda, A.; Miyahara, Y.; Cockins, L.; Grütter, P. H. Phys. Rev. B 2011, 84, 125433.