Binary Nanopatterned Surfaces Prepared from Silane Monolayers

Nano Letters

Volumn 4, Issue 2, 2004, Pages 365-371

  Pallandre, Antoine ^a   Glinel, Karine ^a,b   Jonas, Alain M ^a   Nysten, Bernard ^a  

^a UNIVERSITÉ CATHOLIQUE DE LOUVAIN   (Belgium)

^b UNIVERSITÉ DE ROUEN   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

POLY(METHYL METHACRYLATE); POLYELECTROLYTE; SILANE; SILICON;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRON BEAM; GAS; NANOPARTICLE;

EID: 1442275435     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl035045n     Document Type: Article

References (80)

1. Shim, M.; Guyot-Sionnest, P. Nature 2000, 407, 981.
2. Cassagneau, T.; Mallouk, T. E.; Fendler, J. H. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 7848.
3. Bunker, B. C.; Rieke, P. C.; Tarasevich, B. J.; Campbell, A. A.; Fryxell, G. E.; Graff, G. L.; Song, L.; Liu, J.; Virden, J. W.; McVay, G. L. Science 1994, 264, 48.
4. Lehn, J.-M. Supramolecular Chemistry. 1st. ed.; VCH: Weinheim, Germany, 1995.
5. Decher, G. Science 1997, 277, 1232.
6. Arys, X.; Jonas, A. M.; Laschewsky, A.; Legras, R. Supramolecular Polymers; Cifferi, A., Ed.; Marcel Dekker: New York, 2000; p 505.
7. Lin, C.; Kagan, C. R. J. Am. Chem. Soc. 2002, 125, 336.
8. Lahann, J.; Balcells, T.; Rodon, T.; Lee, J.; Choi, I. S.; Jensen, K. F. ; Langer R. Langmuir 2002, 18, 3632.
9. Ullman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
10. Eck, W., Stadler, V.; Geyer, W.; Zharnikow, M.; Gölzhäuser, A. ; Grunze, M. Adv. Mater. 2000, 12, 805.
11. Gölzhäuser, A.; Eck, W.; Geyer, W.; Stadler, V.; Weimann, T.; Hinze, P.; Grunze, M. Adv. Mater. 2001, 13, 806.
12. Xia, Y.; Tien, J.; Qin, D.; Withesides, G. M. Langmuir 1996, 12, 4033.
13. Piner, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S. H.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661.
14. Hong, S.; Zhu, J.; Mirkin, C. A. Science 1999, 286, 523.
15. Schmid, H.; Michel, B. Macromolecules 2000, 33, 3042.
16. Odom, T. W.; Love, J. C.; Wolfe, D. B.; Paul, K. E.; Whitesides, G. M. Langmuir 2002, 18, 5314.
17. Li, H. W.; Muir, B. V. O.; Fichet, G.; Huck, W. T. S. Langmuir 2003, 19, 1963.
18. Hull, R.; Chraska, T.; Liu, Y.; Longo, D. Mater. Sci. Eng., C 2002, 19, 383.
19. Biebuyck, H. A.; Larsen, N. B.; Delamarche, E.; Michel, B. IBM J. Res. Dev. 1997, 41, 159.
20. Lee, M.-T.; Hsueh, C.-C.; Freund, M. S.; Ferguson, G. S. Langmuir 1998, 14, 6419.
21. Bain, C. D.; Evall, J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7155.
22. Yan, L.; Marzolin, C.; Terfort, A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1997, 13, 6704.
23. Pomerantz, M.; Segmüller, A.; Netzer, L.; Sagiv, J. Thin Solid Films 1985, 132, 153.
24. Tsukruk, V. V.; Luzinov, I.; Julthongpiput, D. Langmuir 1999, 15, 3029.
25. Geer, R. E.; Stenger, D. A.; Chen, M. S.; Calvert, J. M.; Shalshidhar, R.; Jeong, Y. H.; Pershan, P. S. Langmuir 1994, 10, 1171.
26. Kiselev, A. V.; Korolev, A. Y.; Petrova, R. S.; Shcherbakova, K. D. Colloid J. 1960, 22, 669.
27. Hair, M. L.; Hertl, W. J. Phys. Chem. 1969, 73, 2372.
28. Hoffmann, P. W.; Stelzle, M.; Rabolt, J. F. Langmuir 1997, 13, 1877.
29. Fadeev, A. Y.; McCarthy, T. J. Langmuir 2000, 16, 7268.
30. Kong, X. X.; Kawai, T.; Abe, J.; Iyoda, T. Macromolecules 2001, 34, 1837.
31. Duchet, J.; Chabert, B.; Chapel, J. P.; Gérard, J. F.; Chovelon, J. M.; Jaffrezic-Renault, N. Langmuir 1997, 13, 2271.
32. Hozumi, A.; Ushiyama, K.; Sugimura, H.; Takai, O. Langmuir 1999, 15, 7600.
33. Sugimura, H.; Nakagiri, N. J. Photopolym. Sci. Technol. 1997, 10, 661.
34. Gamble, L.; Hugenschmidt, M. B.; Campbell, C. T.; Jurgens, T. A.; Rogers, J. W. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12096.
35. Fadeev, A. Y.; McCarthy, T. J. Langmuir 1999, 12, 3759.
36. Wasserman, S. R.; Tao, Y.-T.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 1074.
37. Wasserman, S. R.; Whitesides, G. M.; Tidswell, I. M.; Ocko, B. M.; Pershan, P. S.; Axe, J. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 5852.
38. Appelhans, D.; Ferse, D.; Adler, H.-J. P.; Plieth, W.; Fikus, A.; Grundke, K.; Schmitt, F.-J.; Bayer, T.; Adolphi, B. Colloids Surf., A 2000, 161, 203.
39. Balachander, N.; Sukenik, C. N. Langmuir 1990, 6, 1621.
40. Effenberg, F.; Heid, S. Langmuir 1996, 12, 2118.
41. Jin, Z. H.; Vezenov, D. V.; Lee, Y. W., Zull, J. E.; Sukenik, C. N.; Savinell, R. F. Langmuir 1994, 10, 2662.
42. Xia, Y.; Mrksich, M.; Kim, E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9576.
43. St. John, P. M.; Craighead, H. G. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1022.
44. Huang, Z.; Wan, P. C.; MacDiarmid, A. G.; Xia, Y.; Whitesides, G. Langmuir 1987, 13, 6480.
45. Wang, D.; Thomas, S. G.; Wang, K. L.; Xia, Y.; Whitesides, G. M. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1593.
46. Pompe, T.; Fery, A.; Herminghaus, S.; Kriele, A.; Lorenz, H.; Kotthaus, J. P. Langmuir 1999, 15, 2398.
47. Tsukagoshi, K.; Mizutani, W.; Tokumoto, H.; Miyamae, T.; Nozoye, H. Surf. Sci. 2002, 514, 48.
48. Ivanisevic, A.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7887.
49. Jung, H.; Kulkarni, R.; Collier, C. P. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 12096.
50. Mino, N.; Ozaki, S.; Ogawa, K.; Hatada, M. Thin Solid Films 1994, 243, 374.
51. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1504.
52. Harnett, C. K.; Satyalakshmi, K. M.; Craighead, H. G. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2466.
53. Schenkel, T.; Schneider, M.; Hattass, M.; Newman, M. W.; Barnes, A. V.; Hamza, A. V.; Schneider, D. H.; Cicero, R. L.; Chidsey, C. E. D. J. Vac. Sci. Technol., B 1998, 16, 3298.
54. Younkin, R.; Berggren, K. K.; Johnson, K. S.; Prentiss, M.; Ralph, D. C. ; Whitesides, G. M. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1261.
55. Müller, W. T.; Klein, D. L.; Lee, T.; Clarke, J.; McEuen, P. L.; Schultz, P. G. Science 1995, 268, 272.
56. Marrian, C. R. K.; Perkins, F. K.; Brandow, S. L.; Koloski, T. S.; Dobisz, E. A.; Calvert, J. M. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 390.
57. Sugimura, H.; Nakagiri, N. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 9226.
58. Maoz, R.; Cohen, S. R.; Sagiv, J. Adv. Mater. 1999, 11, 55.
59. Stenger, D. A.; Georger, J. H.; Dulcey, C. S.; Hickman, J. J.; Rudolph, A. S.; Nielsen, T. B.; McCort, S. M.; Calvert, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 8435.
60. Calvert, J. M. Thin Films 1995, 20, 109.
61. Collins, R. J.; Bae, I. T.; Scherson, D. A.; Sukenik, C. N. Langmuir 1996, 12, 5509.
62. Brandow, S. L.; Chen, M.-S.; Aggarwal, R.; Dulcey, C. S.; Calvert, J. M. ; Dressick, W. J. Langmuir 1999, 15, 5429.
63. Sugimura, H.; Ushiyama, K.; Hozumi, A.; Takai, O. Langmuir 2000, 16, 885.
64. Jonas, U.; del Campo, A.; Krüger, C.; Glasser, G.; Boos, D. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2002, 99, 5034.
65. Yang, X. M.; Peters, R. D.; Kim, T. K.; Nealey, P. F.; Brandow, S. L.; Chen, M.-S.; Shirey, L. M.; Dressick, W. J. Langmuir 2001, 17, 228.
66. Kim, S. O.; Solak, H. H.; Stoykovich, M. P.; Ferrier, N. J.; de Pablo, J. J.; Nealey, P. F. Nature 2003, 424, 411.
67. Sato, T.; Hasko, D. G.; Ahmed, H. J. Vac. Sci. Technol., B 1997, 15, 45.
68. Choi, K. H.; Bourgoin, J. P.; Auvray, S.; Esteve, D.; Duesberg, G. S.; Roth, S.; Burghard, M. Surf. Sci. 2000, 462, 195.
69. Hammond, P. T. In Thin Films: Polyelectrolyte Multilayers and Related Multicomposites; Decher, G., Schlenoff, J. B., Eds.; Wiley-VCH: Weinheim, Germany, 2003; p 271.
70. Dobisz, E. A.; Brandow, S. L.; Bass, R.; Mitterender, J. J. Vac. Sci. Technol., B 2000, 18, 107.
71. Thompson, E. V. J. Polym. Sci., Part A-2 1966, 4, 199.
72. Campbell, S. A. The Science and Engineering of Microelectronic Fabrication; Oxford University Press: New York, 2001.
73. Adventitious fluorine contamination coming from the Viton joint of the reactor was sometimes detected; this could be avoided by a frequent replacement of the seal.
74. Similarly, isocyanate moieties are probably partially hydrolyzed during measurement, resulting in the adsorption of pollutants.
75. Moser, A. E.; Eckhardt, C. J. Thin Solid Films 2001, 382, 202.
76. Arys, X.; Laschewsky, A.; Jonas, A. M. Macromolecules 2001, 34, 3318.
77. Harder, P.; Grunze, M.; Dahint, R.; Whitesides, G. M.; Laibinis, P. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 426.
78. Jiang, X. P.; Hammond, P. T. Langmuir 2000, 16, 8501.
79. Herrwerth, S.; Eck, W.; Reinhardt, S.; Grunze, M. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 9359.
80. Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. Science 1996, 272, 85.