Air oxidation of self-assembled monolayers on polycrystalline gold: The role of the gold substrate

Langmuir

Volumn 14, Issue 22, 1998, Pages 6419-6423

  Lee, Mong Tung ^a   Hsueh, Chen Chan ^a   Freund, Michael S ^a   Ferguson, Gregory S ^a  

^a LEHIGH UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GOLD; GRAIN SIZE AND SHAPE; MORPHOLOGY; OXIDATION; POLYCRYSTALLINE MATERIALS; REACTION KINETICS; SULFUR COMPOUNDS;

ALKANETHIOLATES; SELF-ASSEMBLED MONOLAYER (SAM);

MONOLAYERS;

EID: 0032179457     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la980724c     Document Type: Article

References (59)

1. Nuzzo, R. G.; Allan, D. L. J. Am. Chem, Soc, 1983, 105, 4481-4483.
2. Bain C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y. T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc 1989, 111, 321-335.
3. Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films: From Langmuir-Blodgett to Self-Assembly; Academic Press; New York, 1991.
4. Li, Y.; Huang, J.; McIver, R. T. Jr.; Hemminger, J. C. J Am. Chem. Soc. 1992, 114, 2428-2432.
5. Tarlov, M. J.; Newman, J. C. Langmuir 1992, 8, 1398-1405. Burroughs, J. A.; Hanley, L. J. Am. Soc. Moss Spectrom. 1993, 4, 968-970. Huang, J.; Hemminger, J. C. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 3342-3343. Beulen, M. W. J.; Huisman, B-.H.; van der Heijden, P. A.; von Veggel, F. C. J M.; Simons, M. G.; Biemond, E. M. E. F.; de Lange, P. J.; Reinhoudt, D, N. Langmuir 1996, 12, 6170-6172.
6. Tarlov, M. J.; Newman, J. C. Langmuir 1992, 8, 1398-1405. Burroughs, J. A.; Hanley, L. J. Am. Soc. Moss Spectrom. 1993, 4, 968-970. Huang, J.; Hemminger, J. C. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 3342-3343. Beulen, M. W. J.; Huisman, B-.H.; van der Heijden, P. A.; von Veggel, F. C. J M.; Simons, M. G.; Biemond, E. M. E. F.; de Lange, P. J.; Reinhoudt, D, N. Langmuir 1996, 12, 6170-6172.
7. Tarlov, M. J.; Newman, J. C. Langmuir 1992, 8, 1398-1405. Burroughs, J. A.; Hanley, L. J. Am. Soc. Moss Spectrom. 1993, 4, 968-970. Huang, J.; Hemminger, J. C. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 3342-3343. Beulen, M. W. J.; Huisman, B-.H.; van der Heijden, P. A.; von Veggel, F. C. J M.; Simons, M. G.; Biemond, E. M. E. F.; de Lange, P. J.; Reinhoudt, D, N. Langmuir 1996, 12, 6170-6172.
8. Tarlov, M. J.; Newman, J. C. Langmuir 1992, 8, 1398-1405. Burroughs, J. A.; Hanley, L. J. Am. Soc. Moss Spectrom. 1993, 4, 968-970. Huang, J.; Hemminger, J. C. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 3342-3343. Beulen, M. W. J.; Huisman, B-.H.; van der Heijden, P. A.; von Veggel, F. C. J M.; Simons, M. G.; Biemond, E. M. E. F.; de Lange, P. J.; Reinhoudt, D, N. Langmuir 1996, 12, 6170-6172.
9. Scott, J. R.; Baker, L. S.; Everett, W. R.; Wilkuins, C. L.; Fritsch, I. Anal. Chem. 1997, 69, 2636-2639. Very recent papers have identified azone as the primary atmospheric oxidant in this and related systems: Schoenfisch, M. H.; Pemberton, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120. 4502-4513. Zhang, Y.; Terrill, R. H.; Tanzer, T. A.; Bohn, P. W. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2654-2655. Norrod, K. L.; Rowlen, K. L. J. Am. Chem Soc. 1998, 120, 2656-2657.
10. Scott, J. R.; Baker, L. S.; Everett, W. R.; Wilkuins, C. L.; Fritsch, I. Anal. Chem. 1997, 69, 2636-2639. Very recent papers have identified azone as the primary atmospheric oxidant in this and related systems: Schoenfisch, M. H.; Pemberton, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120. 4502-4513. Zhang, Y.; Terrill, R. H.; Tanzer, T. A.; Bohn, P. W. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2654-2655. Norrod, K. L.; Rowlen, K. L. J. Am. Chem Soc. 1998, 120, 2656-2657.
11. Scott, J. R.; Baker, L. S.; Everett, W. R.; Wilkuins, C. L.; Fritsch, I. Anal. Chem. 1997, 69, 2636-2639. Very recent papers have identified azone as the primary atmospheric oxidant in this and related systems: Schoenfisch, M. H.; Pemberton, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120. 4502-4513. Zhang, Y.; Terrill, R. H.; Tanzer, T. A.; Bohn, P. W. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2654-2655. Norrod, K. L.; Rowlen, K. L. J. Am. Chem Soc. 1998, 120, 2656-2657.
12. Scott, J. R.; Baker, L. S.; Everett, W. R.; Wilkuins, C. L.; Fritsch, I. Anal. Chem. 1997, 69, 2636-2639. Very recent papers have identified azone as the primary atmospheric oxidant in this and related systems: Schoenfisch, M. H.; Pemberton, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120. 4502-4513. Zhang, Y.; Terrill, R. H.; Tanzer, T. A.; Bohn, P. W. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2654-2655. Norrod, K. L.; Rowlen, K. L. J. Am. Chem Soc. 1998, 120, 2656-2657.
13. Tarlov, M. J.; Burgess, D. R. F.; Gillen, G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 5305-5306. Rieley, H.; Price, N. J.; White, R. G.; Blyth, R. I. R.; Robinson, A. W. Surf. Sci. 1996, 331-333, 189-195. Rieley, H.; Price. N. J.; Smith, T. L.; Yang, S. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 3629-3634 Garrell, R.L.; Chadwick, J. E.; Severance, D. L.; McDonald, N. A.; Myles, D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 11563-11571. Hutt D. A.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. 1998, 100, 6657-6662.
14. Tarlov, M. J.; Burgess, D. R. F.; Gillen, G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 5305-5306. Rieley, H.; Price, N. J.; White, R. G.; Blyth, R. I. R.; Robinson, A. W. Surf. Sci. 1996, 331-333, 189-195. Rieley, H.; Price. N. J.; Smith, T. L.; Yang, S. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 3629-3634 Garrell, R.L.; Chadwick, J. E.; Severance, D. L.; McDonald, N. A.; Myles, D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 11563-11571. Hutt D. A.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. 1998, 100, 6657-6662.
15. Tarlov, M. J.; Burgess, D. R. F.; Gillen, G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 5305-5306. Rieley, H.; Price, N. J.; White, R. G.; Blyth, R. I. R.; Robinson, A. W. Surf. Sci. 1996, 331-333, 189-195. Rieley, H.; Price. N. J.; Smith, T. L.; Yang, S. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 3629-3634 Garrell, R.L.; Chadwick, J. E.; Severance, D. L.; McDonald, N. A.; Myles, D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 11563-11571. Hutt D. A.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. 1998, 100, 6657-6662.
16. Tarlov, M. J.; Burgess, D. R. F.; Gillen, G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 5305-5306. Rieley, H.; Price, N. J.; White, R. G.; Blyth, R. I. R.; Robinson, A. W. Surf. Sci. 1996, 331-333, 189-195. Rieley, H.; Price. N. J.; Smith, T. L.; Yang, S. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 3629-3634 Garrell, R.L.; Chadwick, J. E.; Severance, D. L.; McDonald, N. A.; Myles, D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 11563-11571. Hutt D. A.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. 1998, 100, 6657-6662.
17. Tarlov, M. J.; Burgess, D. R. F.; Gillen, G. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 5305-5306. Rieley, H.; Price, N. J.; White, R. G.; Blyth, R. I. R.; Robinson, A. W. Surf. Sci. 1996, 331-333, 189-195. Rieley, H.; Price. N. J.; Smith, T. L.; Yang, S. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 3629-3634 Garrell, R.L.; Chadwick, J. E.; Severance, D. L.; McDonald, N. A.; Myles, D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 11563-11571. Hutt D. A.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. 1998, 100, 6657-6662.
18. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
19. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
20. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
21. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
22. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
23. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
24. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
25. For related work on the oxidization of SAMs on silver. see: Lewis, M.; Tarlov, M. J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9574-9575 and references therein. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174-184. For oxidization of SAMs on copper, see: Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Beecher J. F. Surf. Interface Anal. 1991, 17, 245-250. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028. Nishihara, H.; Aramaki, K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 1839-1846. Feng, Y.; Teo, W.-K.; Siow, K-S., Gao, Z.; Tan., K.-L., Hsieh, A.-K. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55-64. For oxidization of thiolates on nickel, see: Mekhalif, Z.; Riga, J.; Pireaux, J.; Delhalle, J. Langmuir 1997, 13, 2285-2290.
26. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
27. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
28. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
29. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
30. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
31. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
32. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5063-5086. Huang, J.; Dahlgren, D. A.; Hemminger, J. C. Langmuir 1994, 10, 626-628. Tsao, M.-W.; Pfeifer, K.-H.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Haussling, L. Macromolecules 1997, 30, 5913-5919. Kwan, W. S. V.; Atanasoska, L.; Miller, L. L. Langmuir 1991, 7, 1419. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 2499. Sun, F.; Castner, D. G.; Grainger, D. W. Langmuir 1993, 9, 3200-3207. Sun, F.; Grainger, D. W.; Castner, D. G.; Leach-Scampavia, D. K.; Macromolecules 1994, 27, 3053-3062.
33. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
34. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
35. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
36. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
37. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
38. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
39. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
40. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
41. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
42. For examples, see: Nuzzo, R. G.; Fusco, F. A.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 2358-2368. Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 723-727. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1991, 93, 7017-7021. Evans, S. D.; Goppert-Beraducci, K. E.; Urankar, E.; Gerenser, L. J.; Ulman, A.; Snyder, R. G. Langmuir 1991, 7, 2700-2709. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1766-1770. Lenk, T. J.; Hallmark, V. M.; Hoffmann, C. L.; Rabolt, J. F.; Castner, D. G.; Erdelen, C.; Ringsdorf, H. Langmuir 1994, 10, 4610-4617. Sun, F.; Castner, D. G.; Mao, G.; McKeown, P.;, Grainger, D. W. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 1856-1866. Ning, Y.; Xie, H.; Xing, H.; Deng, W.; Yang, D. Surf. Interface Anal. 1996, 24, 667-670. Buck, M.; Grunze, M.; Eisert, F.; Fisher, J.; Trager, F. J. Vac. Sci. Technol. A. 1992, 10, 926-929.
43. Chidsey, C. E. D.; Bertozzi, C. R.; Putvinski, T. M.; Mujsce, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 4301. Collard, D. M.; Fox, M. A. Langmuir 1991, 7, 1192-1197. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Tao, Y.-T.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7636-7646. Schlenoff, J. B.; Li, M.; Ly, H. J. Am. Chem. Soc. 1995, 12528-12536.
44. Chidsey, C. E. D.; Bertozzi, C. R.; Putvinski, T. M.; Mujsce, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 4301. Collard, D. M.; Fox, M. A. Langmuir 1991, 7, 1192-1197. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Tao, Y.-T.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7636-7646. Schlenoff, J. B.; Li, M.; Ly, H. J. Am. Chem. Soc. 1995, 12528-12536.
45. Chidsey, C. E. D.; Bertozzi, C. R.; Putvinski, T. M.; Mujsce, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 4301. Collard, D. M.; Fox, M. A. Langmuir 1991, 7, 1192-1197. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Tao, Y.-T.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7636-7646. Schlenoff, J. B.; Li, M.; Ly, H. J. Am. Chem. Soc. 1995, 12528-12536.
46. Chidsey, C. E. D.; Bertozzi, C. R.; Putvinski, T. M.; Mujsce, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 4301. Collard, D. M.; Fox, M. A. Langmuir 1991, 7, 1192-1197. Stranick, S. J.; Parikh, A. N.; Tao, Y.-T.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7636-7646. Schlenoff, J. B.; Li, M.; Ly, H. J. Am. Chem. Soc. 1995, 12528-12536.
47. For damage to SAMs due to reduction by secondary electrons, see: Laibinis, P. E.; Graham, R. L.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Science 1991, 254, 981. Graham, R. L.; Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1993, 97, 9456-9464. Frydman, E.; Cohen, H.; Maoz, R.; Sagiv, J. Langmuir 1997, 13, 5089-5106.
48. For damage to SAMs due to reduction by secondary electrons, see: Laibinis, P. E.; Graham, R. L.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Science 1991, 254, 981. Graham, R. L.; Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1993, 97, 9456-9464. Frydman, E.; Cohen, H.; Maoz, R.; Sagiv, J. Langmuir 1997, 13, 5089-5106.
49. For damage to SAMs due to reduction by secondary electrons, see: Laibinis, P. E.; Graham, R. L.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Science 1991, 254, 981. Graham, R. L.; Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Chem. Phys. 1993, 97, 9456-9464. Frydman, E.; Cohen, H.; Maoz, R.; Sagiv, J. Langmuir 1997, 13, 5089-5106.
50. Goss, C. A.; Charych, D. H.; Majda, M. Anal. Chem. 1991, 63, 85-88.
51. We use the term "surface grain" to describe regions delineted by surface features in our STM images. These regions do not necessarily correspond to the faces of crystallites within the bulk of the gold film. For example, see: Files-Sesler, L. A.; Hogan, T.; Taguchi, T. J. Vac. Sci. Technol. A 1992, 10, 2875.
52. Standard Test Methods for Determinig Average Grain Sire. ASTM Designation: E 112-88.
53. The differences in film topography and morphology, observed by STH and XRD, could be due to differences in the rate of evaporation itself (relative to the rates of surface diffusion and crystal growth) or could also involve differential, radiative heating of the samples at the two evaproration rates.
54. International Centre for Diffraction Data (ICDD); CD ROM Database PCPDFWIN v. 20 (September, 1996), Newtown Square, PA 19073.
55. Camillone III, N., Chidsey, C. E. D.; Liu, G. -y.; Scoles, G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 4234.
56. As a result of this procedure, the total length of immersion in the thiol solution for samples 1a/glass, 1a/silicon, 2a/glass, and 2a/ silicon was 8.0 d; samples 1b/glass, 1b/silicon, 2b/glass, and 2b/ silicon were immersed in the thiol solution for 7.5 d, and samples 1c/glass, 1c/silicon, 2c/glass, 2c/silicon, and 2d/glass were immersed for 48 h.
57. This normalization was necessary due to an apparent difference in sample positioning relative to the focal point of X-rays on the sample. This procedure does not affect the quantitative ratios reported in Table 3.
58. Lindberg, B. J.; Hamrin, K.; Johansson, G.; Gelius, U.; Fahlman, A.; Nordling, C.; Siegbahn, K. Phys. Scr. 1970, 1, 286-298.
59. Scofield, J. H. J. Electron. Electron. Spectrosc. 1976, 8, 129.