Imaging Catalysts at Work: A Hierarchical Approach from the Macro- to the Meso- and Nano-scale

ChemCatChem

Volumn 5, Issue 1, 2013, Pages 62-80

  Grunwaldt, Jan Dierk ^a   Wagner, Jakob B ^b   Dunin Borkowski, Rafal E ^c  

^a KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b TECHNICAL UNIVERSITY OF DENMARK   (Denmark)

^c FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

Author keywords

Electron and X ray microscopy; Heterogeneous catalysis; Insitu spectroscopy; Synchrotron radiation; Tomography

Indexed keywords

CATALYSIS; CATALYST ACTIVITY; ELECTRONIC PROPERTIES; FLUORESCENCE SPECTROSCOPY; NANOTECHNOLOGY; SYNCHROTRON RADIATION; TOMOGRAPHY; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY; X RAY DIFFRACTION; X RAY MICROSCOPES; X RAYS;

HIERARCHICAL APPROACH; IN-SITU SPECTROSCOPY; REALISTIC CONDITIONS; SINGLE-MOLECULE FLUORESCENCE SPECTROSCOPY; SPECTROSCOPIC INFORMATION; SPECTROSCOPIC TECHNIQUE; THREE-DIMENSIONAL INFORMATION; X RAY MICROSCOPY;

X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 84871642707     PISSN: 18673880     EISSN: 18673899     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/cctc.201200356     Document Type: Article

References (304)

1. I. Chorkendorff, J. W. Niemantsverdriet, Concepts of Modern Catalysis and Kinetics, Wiley-VCH, Weinheim, 2003;
2. G. Ertl, Angew. Chem. 2008, 120, 3578; Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 3524-3535;
3. J. K. Nørskov, T. Bligaard, J. Rossmeisl, C. H. Christensen, Nat. Chem. 2009, 1, 37-46;
4. J.-D. Grunwaldt, A. M. Molenbroek, N.-Y. Topsøe, H. Topsøe, B. S. Clausen, J. Catal. 2000, 194, 452-460;
5. F. Tao, M. E. Grass, Y. Zhang, D. R. Butcher, J. R. Renzas, Z. Liu, J. Y. Chung, B. S. Mun, M. Salmeron, G. A. Somorjai, Science 2008, 322, 932-934;
6. J.-D. Grunwaldt, L. Basini, B. S. Clausen, J. Catal. 2001, 200, 321-329;
7. B. M. Weckhuysen, Chem. Commun. 2002, 97-181.
8. B. Notari, Catal. Today 1993, 18, 163-172;
9. M. C. Klunduk, T. Maschmeyer, J. M. Thomas, B. F. G. Johnson, Chem. Eur. J. 1999, 5, 1481-1485;
10. J.-D. Grunwaldt, C. Beck, W. J. Stark, T. Mallat, A. Hagen, A. Baiker, Phys. Chem. Chem. Phys. 2002, 4, 3514-3521.
11. A. T. Bell, Science 2003, 299, 1688-1691;
12. B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2009, 121, 5008-5043; Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 4910-4943;
13. J. D. Grunwaldt, B. Kimmerle, A. Baiker, P. Boye, C. G. Schroer, P. Glatzel, C. N. Borca, F. Beckmann, Catal. Today 2009, 145, 267-278;
14. A. Urakawa, A. Baiker, Top. Catal. 2009, 52, 1312-1322;
15. J. D. Grunwaldt, C. G. Schroer, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4741-4753;
16. A. M. Beale, S. D. M. Jacques, B. M. Weckhuysen, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4656-4672.
17. J.-D. Grunwaldt, B. S. Clausen, Top. Catal. 2002, 18, 37-43;
18. H. Topsøe, J. Catal. 2003, 216, 155-164;
19. A. Brückner, Catal. Rev. Sci. Eng. 2003, 43, 97-150;
20. B. M. Weckhuysen, Phys. Chem. Chem. Phys. 2003, 5, 4351-4360;
21. F. C. Meunier, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4602-4614;
22. M. A. Banares, Adv. Mater. 2011, 23, 5293-5301;
23. A. F. Lee, Aust. J. Chem. 2012, 65, 615-623.
24. C. G. Schroer, J.-D. Grunwaldt, Synchrotron Rad. News 2009, 22, 23-28.
25. P. L. Hansen, J. B. Wagner, S. Helveg, J. R. Rostrup-Nielsen, B. S. Clausen, H. Topsøe, Science 2002, 295, 2053-2055;
26. S. Helveg, C. Lopez-Cartes, J. Sehested, P. L. Hansen, B. S. Clausen, J. R. Rostrup-Nielsen, F. Abild-Pedersen, J. K. Nørskov, Nature 2004, 427, 426-429;
27. S. B. Simonsen, S. Dahl, E. Johnson, S. Helveg, J. Catal. 2008, 255, 1-5;
28. P. L. Hansen, S. Helveg, A. Datye, Adv. Catal. 2006, 50, 77-95.
29. Modelling and Simulation of Heterogeneous Catalytic Reactions (Ed.: O. Deutschmann), VCH-Wiley, Weinheim, 2012.
30. K. A. Christensen in Chemical Product Design (Eds.: K.M. Ng, R. Garni, K. Dam-Johansen), Elsevier, Amsterdam, 2007, p.311.
31. J.-D. Grunwaldt, M. Caravati, S. Hannemann, A. Baiker, Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 3037-3047;
32. J. D. Grunwaldt, M. Beier, B. Kimmerle, A. Baiker, M. Nachtegaal, B. Griesebock, D. Lützenkirchen-Hecht, J. Stötzel, R. Frahm, Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 11, 8779-8789.
33. F. Beckmann, T. Donath, J. Fischer, T. Dose, T. Lippmann, L. Lottermoser, R. V. Martins, A. Schreyer, Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. 2006, 6318, 631810-631811.
34. L. Ruffino, R. Mann, R. Oldman, E. H. Stitt, E. Boller, P. Cloetens, M. DiMichiel, J. Merino, Can. J. Chem. Eng. 2005, 83, 132-139.
35. K. W. Jones, H. Feng, A. Lanzirotti, D. Mahajan, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 2005, 241, 331-334;
36. K. W. Jones, H. Feng, A. Lanzirotti, D. Mahajan, Top. Catal. 2005, 32, 263-272.
37. A. Baiker, W. L. Holstein, J. Catal. 1983, 84, 178-188.
38. T. Mang, B. Breitscheidel, P. Polanek, H. Knozinger, Appl. Catal. A 1993, 106, 239-258.
39. A. A. Lysova, I. V. Koptyug, R. Z. Sagdeev, V. N. Parmon, J. A. Bergwerff, B. M. Weckhuysen, J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 11916-11917;
40. J. A. Bergwerff, A. A. Lysova, L. Espinosa-Alonso, I. V. Koptyug, B. M. Weckhuysen, Chem. Eur. J. 2008, 14, 2363-2374.
41. A. M. Beale, S. D. M. Jacques, J. A. Bergwerff, P. Barnes, B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2007, 119, 8988-8991; Angew. Chem. Int. Ed. 2007, 46, 8832-8835;
42. L. Espinosa-Alonso, M. G. O'Brien, S. B. M. Jacques, A. M. Beale, K. P. deJong, P. Barnes, B. M. Weckhuysen, J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 16932-16938.
43. C. G. Schroer, M. Kuhlmann, T. F. Günzler, B. Lengeler, M. Richwin, B. Griesebock, D. Lützenkirchen-Hecht, R. Frahm, E. Ziegler, A. Mashayekhi, D. R. Haeffner, J.-D. Grunwaldt, A. Baiker, Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3360-3362.
44. M. W. Zandbergen, S. D. M. Jacques, B. M. Weckhuysen, A. M. Beale, Angew. Chem. 2012, 124, 981-984; Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 957-960.
45. L. G. vandeWater, J. A. Bergwerff, T. A. Nijhuis, K. P. deJong, B. M. Weckhuysen, J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 5024-5025;
46. J. A. Bergwerff, T. Visser, J. R. G. Leliveld, B. D. Rossenaar, K. P. deJong, B. M. Weckhuysen, J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14548-14556;
47. L. G. A. vandeWater, J. A. Bergwerff, B. R. G. Leliveld, B. M. Weckhuysen, K. P. deJong, J. Phys. Chem. B 2005, 109, 14513-14522;
48. J. A. Bergwerff, L. G. A. vandeWater, T. Visser, P. dePeinder, B. R. G. Leliveld, K. P. deJong, B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2005, 117, 4668-4672; Angew. Chem. Int. Ed. 2005, 44, 4592-4601;
49. L. Espinosa-Alonso, K. deJong, B. M. Weckhuysen, J. Phys. Chem. C 2008, 112, 7201-7209.
50. J. A. Bergwerff, T. Visser, B. M. Weckhuysen, Catal. Today 2008, 130, 117-125.
51. H. Topsøe, B. S. Clausen, F. E. Massoth, Hydrotreating Catalysis, Science and Technology, Vol.11, Springer, Berlin, 1996;
52. R. Prins, in Handbook of Heterogeneous Catalysis (Eds.: G. Ertl, H. Knözinger, F. Schüth, J. Weitkamp), Wiley-VCH, Weinheim, 2008, pp.2695-2718.
53. J. A. Bergwerff, A. A. Lysova, L. E. Alonso, I. V. Koptyug, B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2007, 119, 7362-7365; Angew. Chem. Int. Ed. 2007, 46, 7224-7227.
54. L. G. A. vandeWater, G. L. Bezerner, J. A. Bergwerff, M. Versluijs-Helder, B. M. Weckhuysen, K. P. deJong, J. Catal. 2006, 242, 287-298.
55. J.-D. Grunwaldt, J. Phys. Conf. Ser. 2009, 190, 012151.
56. M. G. O'Brien, S. D. M. Jacques, M. DiMichiel, P. Barnes, B. M. Weckhuysen, A. M. Beale, Chem. Sci. 2012, 3, 509-523.
57. F. Qin, E. E. Wolf, Chem. Eng. Sci. 1994, 49, 4263-4267;
58. B. Marwaha, D. Luss, Chem. Eng. Sci. 2003, 58, 733-738;
59. B. Li, K. Maruyama, M. Nurunnabi, K. Kunimori, K. Tomishige, Ind. Eng. Chem. Res. 2005, 44, 485-494;
60. K. Aftab, J. Mandur, H. Budman, N. W. Currier, A. Yezerets, W. S. Epling, Catal. Lett. 2008, 125, 229-235;
61. S. Hannemann, J.-D. Grunwaldt, N. vanVegten, A. Baiker, P. Boye, C. G. Schroer, Catal. Today 2007, 126, 54-63;
62. M. Simeone, L. Salemme, C. Allouis, Int. J. Hydrogen Energy 2008, 33, 4798-4808;
63. M. Simeone, L. Salemme, C. Allouis, G. Volpicelli, AIChE J. 2008, 54, 2689-2698;
64. S. Hannemann, J. D. Grunwaldt, B. Kimmerle, A. Baiker, P. Boye, C. Schroer, Top. Catal. 2009, 52, 1360-1370;
65. B. Kimmerle, J.-D. Grunwaldt, A. Baiker, P. Glatzel, P. Boye, S. Stephan, C. G. Schroer, J. Phys. Chem. C 2009, 113, 3037-3040.
66. I. V. Koptyug, A. V. Khomichev, A. A. Lysova, R. Z. Sagdeev, J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 10452-10453.
67. R. Horn, K. A. Williams, N. J. Degenstein, L. D. Schmidt, Chem. Eng. Sci. 2007, 62, 1298-1307;
68. R. Horn, N. J. Degenstein, K. A. Williams, L. D. Schmidt, Catal. Lett. 2006, 110, 169-178.
69. O. Shakir, A. Yezerets, N. W. Currier, W. S. Epling, Appl. Catal. A 2009, 365, 301-308.
70. J. S. Choi, W. P. Partridge, C. S. Daw, Appl. Catal. A 2005, 293, 24-40.
71. K. Irani, W. S. Epling, R. Blint, Top. Catal. 2009, 52, 1856-1859.
72. A. Bitsch-Larsen, R. Horn, L. D. Schmidt, Appl. Catal. A 2008, 348, 165-172.
73. P. D. I. Fletcher, S. J. Haswell, X. L. Zhang, Electrophoresis 2003, 24, 3239-3245.
74. A. Urakawa, F. Trachsel, P. R. vonRohr, A. Baiker, Analyst 2008, 133, 1352-1354.
75. L. F. Gladden, Top. Catal. 2003, 24, 19-25.
76. E. Stavitski, M. H. F. Kox, B. M. Weckhuysen, Chem. Eur. J. 2007, 13, 7057-7065;
77. E. Stavitski, B. M. Weckhuysen, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4615-4625;
78. L. Sommer, S. Svelle, K. P. Lillerud, M. Stocker, B. M. Weckhuysen, U. Olsbye, Langmuir 2010, 26, 16510-16516.
79. F. Hibbe, V. R. R. Marthala, C. Chmelik, J. Weitkamp, J. Karger, J. Chem. Phys. 2011, 135, 184201;
80. R. Valiullin, J. Karger, Chem. Eng. Technol. 2011, 83, 166-176.
81. I. V. Koptyug, S. A. Altobelli, E. Fukushima, A. V. Matveev, R. Z. Sagdeev, J. Magn. Reson. 2000, 147, 36-42;
82. A. K. Heibel, T. W. J. Scheenen, J. J. Heiszwolf, H. VanAs, F. Kapteijn, J. A. Moulijn, Chem. Eng. Sci. 2001, 56, 5935-5944;
83. M. D. Mantle, A. J. Sederman, L. F. Gladden, S. Raymahasay, J. M. Winterbottom, E. H. Stitt, AIChE J. 2002, 48, 909-912;
84. A. J. Sederman, M. D. Mantle, L. F. Gladden, Magn. Reson. Imaging 2003, 21, 359-361;
85. J. J. Heras, A. J. Sederman, L. F. Gladden, Magn. Reson. Imaging 2005, 23, 387-389.
86. A. J. Sederman, L. F. Gladden, Magn. Reson. Imaging 2001, 19, 339-343;
87. M. L. Johns, A. J. Sederman, A. S. Bramley, L. F. Gladden, P. Alexander, AIChE J. 2000, 46, 2151-2161.
88. I. V. Koptyug, A. A. Lysova, A. V. Kulikov, V. A. Kirillov, V. N. Parmon, R. Z. Sagdeev, Appl. Catal. A 2004, 267, 143-148.
89. L. F. Gladden, L. D. Anadon, C. P. Dunckley, M. D. Mantle, A. J. Sederman, Chem. Eng. Sci. 2007, 62, 6969-6977;
90. A. A. Lysova, I. V. Koptyug, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4585-4601.
91. M. E. Coles, R. D. Hazlett, P. Spanne, W. E. Soll, E. L. Muegge, K. W. Jones, J. Pet. Sci. Eng. 1998, 19, 55-63;
92. S. R. Stock, Int. Mater. Rev. 2008, 53, 129-181;
93. T. J. Heindel, J. Fluids Eng. 2011, 133, 074001.
94. J.-D. Grunwaldt, A. Baiker, Catal. Lett. 2005, 99, 5-12;
95. B. Kimmerle, A. Baiker, J. D. Grunwaldt, Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 2288-2291.
96. T. A. Nijhuis, S. J. Tinnemans, T. Visser, B. M. Weckhuysen, Chem. Eng. Sci. 2004, 59, 5487-5492;
97. S. J. Tinnemans, M. H. F. Kox, T. A. Nijhuis, T. Visser, B. M. Weckhuysen, Phys. Chem. Chem. Phys. 2005, 7, 211-216.
98. A. Urakawa, N. Maeda, A. Baiker, Angew. Chem. 2008, 120, 9396-9399; Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 9256-9259.
99. M. Høj, M. J. Beier, J.-D. Grunwaldt, S. Dahl, Appl. Catal. B 2009, 93, 166-176.
100. S. B. Rasmussen, M. A. Banares, P. Bazin, J. Due-Hansen, P. Avila, M. Daturi, Phys. Chem. Chem. Phys. 2012, 14, 2171-2177.
101. J.-D. Grunwaldt, S. Hannemann, C. G. Schroer, A. Baiker, J. Phys. Chem. B 2006, 110, 8674-8680.
102. B. S. Clausen, L. Gråbæk, G. Steffensen, P. L. Hansen, H. Topsøe, Catal. Lett. 1993, 20, 23-36.
103. "Highlight of Analytical Chemistry": J.-D. Grunwaldt, S. Hannemann, P. Boye, C. G. Schroer, A. Baiker, Chimia 2006, 60, 709.
104. J. D. Grunwaldt, N. vanVegten, A. Baiker, W. vanBeek, J. Phys. Conf. Ser. 2009, 190, 012160.
105. F. Bonino, S. Bordiga, A. Puig Molina, P. Beato, Abstract Band of the IV. Operando Conference 2012, NSLS, Brookhaven 2012;
106. P. Beato, Oscillating flow fluid bed patent WO/2010/020320, 2010.
107. N. Maeda, A. Urakawa, A. Baiker, J. Phys. Chem. C 2009, 113, 16724-16735;
108. N. Maeda, A. Urakawa, A. Baiker, Top. Catal. 2009, 52, 1746-1751.
109. C. M. Snively, J. Lauterbach, Spectroscopy 2002, 17, 26-33;
110. C. M. Snively, G. Oskarsdottir, J. Lauterbach, Angew. Chem. 2001, 113, 3117-3120; Angew. Chem. Int. Ed. 2001, 40, 3028-3030.
111. C. K. C. Tan, W. N. Delgass, C. D. Baertsch, Appl. Catal. B 2009, 93, 66-74.
112. R. Morschl, J. Bolten, A. Bonnefont, K. Krischer, J. Phys. Chem. C 2008, 112, 9548-9551.
113. J. Stötzel, D. Lützenkirchen-Hecht, R. Frahm, B. Kimmerle, A. Baiker, M. Nachtegaal, M. J. Beier, J.-D. Grunwaldt, J. Phys. Conf. Ser. 2009, 190, 012162.
114. J.-C. Labiche, O. Mathon, S. Pascarelli, M. A. Newton, G. G. Ferre, C. Curfs, G. Vaughan, A. Horns, D. F. Carreiras, Rev. Sci. Instrum. 2007, 78, 091301.
115. J.-D. Grunwaldt, B. Kimmerle, P. Boye, C.G. Schroer, P. Glatzel, ESRF Spotlight, http://www.esrf.eu/news/spotlight/spotlight46/spotlight46/, 2007.
116. J. Stötzel, R. Frahm, B. Kimmerle, M. Nachtegaal, J.-D. Grunwaldt, J. Phys. Chem. C 2012, 116, 599-609.
117. K. F. Domke, T. A. Riemer, G. Rago, A. N. Parvulescu, P. C. A. Bruijnincx, A. Enejder, B. M. Weckhuysen, M. Bonn, J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 1124-1129;
118. K. F. Domke, J. P. R. Day, G. Rago, T. A. Riemer, M. H. F. Kox, B. M. Weckhuysen, M. Bonn, Angew. Chem. 2012, 124, 1371-1375; Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 1343-1347;
119. M. A. vanderVeen, B. F. Sels, D. E. DeVos, T. Verbiest, J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 6630-6631;
120. A. Gasecka, L. Q. Dieu, D. Bruehwiler, S. Brasselet, J. Phys. Chem. B 2010, 114, 4192-4198.
121. G. DeCremer, B. F. Sels, D. E. DeVos, J. Hofkens, M. B. J. Roeffaers, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4703-4717;
122. T. Tachikawa, T. Majima, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4802-4819;
123. P. Chen, X. Zhou, H. Shen, N. M. Andoy, E. Choudhary, K.-S. Han, G. Liu, W. Meng, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4560-4570.
124. X. Zhou, N. M. Andoy, G. Liu, E. Choudhary, K.-S. Han, H. Shen, P. Chen, Nat. Nanotechnol. 2012, 7, 237-241;
125. K. S. Han, G. Liu, X. Zhou, R. E. Medina, P. Chen, Nano Lett. 2012, 12, 1253-1259.
126. J. Michaelis, C. Brauchle, Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 4731-4740.
127. M. J. Yacaman, J. M. Domingueze, J. Catal. 1980, 64, 213-222;
128. A. K. Datye, J. Catal. 2003, 216, 144-154;
129. A. K. Datye, D. J. Smith, Catal. Rev. Sci. Eng. 1992, 34, 129-178;
130. L. D. Marks, Rep. Prog. Phys. 1994, 57, 603-649;
131. R. Sharma, J. Mater. Res. 2005, 20, 1695-1707;
132. P. L. Gai, E. D. Boyes, Electron Microscopy in Heterogeneous Catalysis, Institute of Physics Pub, Bristol, Philadelphia, 2003;
133. J.M. Thomas, P.L. Gai, ChemInform 2004, 35, DOI:
134. J. M. Thomas, J. C. Hernandez-Garrido, Angew. Chem. 2009, 121, 3962-3965; Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 3904-3907.
135. L. D. Marks, Phys. Rev. Lett. 1983, 51, 1000-1002;
136. L. D. Marks, D. J. Smith, Nature 1983, 303, 316-317;
137. P. A. Crozier, S. C. Y. Tsen, J. Liu, C. L. Cartes, J. A. Perez-Omil, J. Electron Microsc. 1999, 48, 1015-1024;
138. S. C. Y. Tsen, P. A. Crozier, J. Liu, Ultramicroscopy 2003, 98, 63-72;
139. J. O. Malm, M. A. Okeefe, Ultramicroscopy 1997, 68, 13-23.
140. N. Tanaka, Sci. Technol. Adv. Mater. 2008, 9, 014111;
141. O. L. Krivanek, M. F. Chisholm, V. Nicolosi, T. J. Pennycook, G. J. Corbin, N. Dellby, M. F. Murfitt, C. S. Own, Z. S. Szilagyi, M. P. Oxley, S. T. Pantelides, S. J. Pennycook, Nature 2010, 464, 571-574;
142. A. Kirkland, L.-Y. Chang, S. Haigh, C. Hetherington, Curr. Appl. Phys. 2008, 8, 425-428;
143. L. C. Gontard, L. Y. Chang, C. J. D. Hetherington, A. I. Kirkland, D. Ozkaya, R. E. Dunin-Borkowski, Angew. Chem. 2007, 119, 3757-3759; Angew. Chem. Int. Ed. 2007, 46, 3683-3685;
144. B. Freitag, S. Kujawa, P. M. Mul, J. Ringnalda, P. C. Tiemeijer, Ultramicroscopy 2005, 102, 209-214;
145. T. Kawasaki, Y. Takai, R. Shimizu, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 3509-3511;
146. K. Yoshida, A. Bright, N. Tanaka, J. Electron Microsc. 2012, 61, 99-103;
147. S. J. Pennycook, M. Varela, C. J. D. Hetherington, A. I. Kirkland, MRS Bull. 2006, 31, 36-43;
148. L. C. Gontard, R. E. Duain-Borkowski, R. K. K. Chong, D. Ozkaya, P. A. Midgley in EMAG-NANO 2005: Imaging, Analysis and Fabrication on the Nanoscale, Vol.26 (Eds.: P.D. Brown, R. Baker, B. Hamilton), 2006, pp.203-206;
149. D. S. Su, T. Jacob, T. W. Hansen, D. Wang, R. Schlogl, B. Freitag, S. Kujawa, Angew. Chem. 2008, 120, 5083-5086; Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 5005-5008;
150. K. Du, F. Emst, M. C. Pelsozy, J. Barthel, K. Tillmann, Acta Mater. 2010, 58, 836-845;
151. R. M. Wang, O. Dmitrieva, M. Farle, G. Dumpich, M. Acet, S. Mejia-Rosales, E. Perez-Tijerina, M. J. Yacaman, C. Kisielowski, J. Phys. Chem. C 2009, 113, 4395-4400;
152. R. M. Wang, O. Dmitrieva, M. Farle, G. Dumpich, H. Q. Ye, H. Poppa, R. Kilaas, C. Kisielowski, Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 017205.
153. H. Yoshida, Y. Kuwauchi, J. R. Jinschek, K. Sun, S. Tanaka, M. Kohyama, S. Shimada, M. Haruta, S. Takeda, Science 2012, 335, 317-319.
154. N. Alem, R. Erni, C. Kisielowski, M. D. Rossell, W. Gannett, A. Zettl, Phys. Rev. B 2009, 80, 155425;
155. R. Erni, M. D. Rossell, C. Kisielowski, U. Dahmen, Phys. Rev. Lett. 2009, 102, 175501.
156. M. M. J. Treacy, A. Howie, J. Catal. 1980, 63, 265-269.
157. B. Zhang, W. Zhang, D. S. Su, ChemCatChem 2011, 3, 965-968.
158. N. Lopez, J. K. Nørskov, T. V. W. Janssens, A. Carlsson, A. Puig-Molina, B. S. Clausen, J.-D. Grunwaldt, J. Catal. 2004, 225, 86-94.
159. K. Sohlberg, S. Rashkeev, A. Y. Borisevich, S. J. Pennycook, S. T. Pantelides, ChemPhysChem 2004, 5, 1893-1897;
160. A. Y. Borisevich, S. W. Wang, S. N. Rashkeev, M. Glazoff, S. J. Pennycook, S. T. Pantelides, Adv. Mater. 2007, 19, 2129-2133;
161. D. I. Enache, J. K. Edwards, P. Landon, B. Solsona-Espriu, A. F. Carley, A. A. Herzing, M. Watanabe, C. J. Kiely, D. W. Knight, G. J. Hutchings, Science 2006, 311, 362-365;
162. A. A. Herzing, C. J. Kiely, A. F. Carley, P. Landon, G. J. Hutchings, Science 2008, 321, 1331-1335;
163. D. A. Blom, W. D. Pyrz, T. Vogt, D. J. Buttrey, J. Electron Microsc. 2009, 58, 193-198;
164. W. D. Pyrz, D. A. Blom, T. Vogt, D. J. Buttrey, Angew. Chem. 2008, 120, 2830-2833; Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 2788-2791;
165. G. M. Veith, A. R. Lupini, S. Rashkeev, S. J. Pennycook, D. R. Mullins, V. Schwartz, C. A. Bridges, N. J. Dudney, J. Catal. 2009, 262, 92-101;
166. W. Zhou, E. I. Ross-Medgaarden, W. V. Knowles, M. S. Wong, I. E. Wachs, C. J. Kiely, Nat. Chem. 2009, 1, 722-728;
167. W. Zhang, A. Trunschke, R. Schlögl, D. Su, Angew. Chem. 2010, 122, 6220-6225; Angew. Chem. Int. Ed. 2010, 49, 6084-6089;
168. J. Liu, ChemCatChem 2011, 3, 934-948.
169. M. Haider, P. Hartel, H. Muller, S. Uhlemann, J. Zach, Microsc. Microanal. 2010, 16, 393-408;
170. U. Kaiser, J. Biskupek, J. C. Meyer, J. Leschner, L. Lechner, H. Rose, M. Stöger-Pollach, A. N. Khlobystov, P. Hartel, H. Müller, M. Haider, S. Eyhusen, G. Benner, Ultramicroscopy 2011, 111, 1239-1246.
171. E. Stavitski, M. R. Drury, D. A. M. deWinter, M. H. F. Kox, B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2008, 120, 5719-5722; Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 5637-5640;
172. F. Tariq, P. D. Lee, R. Haswell, D. W. McComb, Chem. Eng. Sci. 2011, 66, 5804-5812.
173. A. Carmona, P. Cloetens, G. Deves, S. Bohic, R. Ortega, J. Anal. At. Spectrom. 2008, 23, 1083-1088.
174. P. Bleuet, E. Welcomme, E. Dooryhee, J. Susini, J. L. Hodeau, P. Walter, Nat. Mater. 2008, 7, 468-472.
175. C. G. Schroer, M. Kuhlmann, S. V. Roth, R. Gehrke, N. Stribeck, A. Almendarez-Camarillo, B. Lengeler, Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 164102.
176. W. L. Chao, B. D. Harteneck, J. A. Liddle, E. H. Anderson, D. T. Attwood, Nature 2005, 435, 1210-1213;
177. Y. S. Chu, J. M. Yi, F. D. Carlo, Q. Shen, W.-K. Lee, H. J. Wu, C. L. Wang, J. Y. Wang, C. J. Liu, C. H. Wang, S. R. Wu, C. C. Chien, Y. Hwu, A. Tkachuk, W. Yun, M. Feser, K. S. Liang, C. S. Yang, J. H. Je, G. Margaritondo, Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 103119.
178. H. Mimura, S. Matsuyama, H. Yumoto, K. Yamamura, Y. Sano, M. Shibahara, K. Endo, Y. Mori, Y. Nishino, K. Tamasaku, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi, Jpn. J. Appl. Phys. 2-Lett. Exp. Lett. 2005, 44, L539-L542;
179. O. Hignette, P. Cloetens, G. Rostaing, P. Bernard, C. Morawe, Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 063709.
180. H. Mimura, S. Handa, T. Kimura, H. Yumoto, D. Yamakawa, H. Yokoyama, S. Matsuyama, K. Inagaki, K. Yamamura, Y. Sano, K. Tamasaku, Y. Nishino, M. Yabashi, T. Ishikawa, K. Yamauchi, Nat. Phys. 2010, 6, 57-60;
181. H. F. Yan, V. Rose, D. M. Shu, E. Lima, H. C. Kang, R. Conley, C. A. Liu, N. Jahedi, A. T. Macrander, G. B. Stephenson, M. Holt, Y. S. Chu, M. Lu, J. Maser, Opt. Express 2012, 19, 15069-15076;
182. W. Chao, P. Fischer, T. Tyliszczak, S. Rekawa, E. Anderson, P. Naulleau, Opt. Express 2012, 20, 9777-9783.
183. C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, D. Samberg, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, G. Falkenberg, G. Wellenreuther, N. Reimers, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. A 2010, 616, 93-97.
184. J. W. Miao, P. Charalambous, J. Kirz, D. Sayre, Nature 1999, 400, 342-344;
185. H. N. Chapman, A. Barty, S. Marchesini, A. Noy, S. R. Hau-Riege, C. Cui, M. R. Howells, R. Rosen, H. He, J. C. H. Spence, U. Weierstall, T. Beetz, C. Jacobsen, D. Shapiro, J. Opt. Soc. Am. A 2006, 23, 1179-1200;
186. D. Shapiro, P. Thibault, T. Beetz, V. Elser, M. Howells, C. Jacobsen, J. Kirz, E. Lima, H. Miao, A. M. Neiman, D. Sayre, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2005, 102, 15343-15346.
187. C. G. Schroer, P. Boye, J. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, A. Schwab, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schöder, C. Riekel, Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 090801;
188. Y. Takahashi, Y. Nishino, R. Tsutsumi, H. Kubo, H. Furukawa, H. Mimura, S. Matsuyama, N. Zettsu, E. Matsubara, T. Ishikawa, K. Yamauchi, Phys. Rev. B 2009, 80, 054103.
189. P. Thibault, M. Dierolf, A. Menzel, O. Bunk, C. David, F. Pfeiffer, Science 2008, 321, 379-382;
190. A. Schropp, R. Hoppe, J. Patommel, D. Samberg, F. Seiboth, S. Stephan, G. Wellenreuter, G. Falkenberg, C. G. Schroer, Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 253112.
191. A. Schropp, P. Boye, A. Goldschmidt, S. Hönig, R. Hoppe, J. Patommel, C. Rakete, D. Samberg, S. Stephan, S. Schöder, M. Burghammer, C. G. Schroer, J. Microsc. 2010, 241, 9-12.
192. C. G. Schroer, P. Boye, J. M. Feldkamp, J. Patommel, A. Schropp, D. Samberg, S. Stephan, M. Burghammer, S. Schoder, C. Riekel, B. Lengeler, G. Falkenberg, G. Wellenreuther, M. Kuhlmann, R. Frahm, D. Lützenkirchen-Hecht, W. H. Schroeder, Acta Phys. Pol. A 2010, 117, 357-368.
193. M. J. Humphry, B. Kraus, A. C. Hurst, A. M. Maiden, J. M. Rodenburg, Nat. Commun. 2012, 3, 1733.
194. C. Song, R. Bergstrom, D. Ramunno-Johnson, H. Jiang, D. Paterson, M. D. D. Jonge, I. McNulty, J. Lee, K. L. Wang, J. Miao, Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 025504.
195. P. A. Midgley, M. Weyland, Ultramicroscopy 2003, 96, 413-431;
196. P. A. Midgley, M. Weyland, T. J. V. Yates, I. Arslan, R. E. Dunin-Borkowski, J. M. Thomas, J. Microsc. 2006, 223, 185-190;
197. K. Kaneko, K. Inoke, K. Sato, K. Kitawaki, H. Higashida, I. Arslan, P. A. Midgley, Ultramicroscopy 2008, 108, 210-220;
198. P. A. Midgley, R. E. Dunin-Borkowski, Nat. Mater. 2009, 8, 271-280.
199. A. E. Porter, M. Gass, K. Muller, J. N. Skepper, P. Midgley, M. Welland, Environ. Sci. Technol. 2007, 41, 3012-3017;
200. G. Mobus, R. C. Doole, B. J. Inkson, Ultramicroscopy 2003, 96, 433-451.
201. J. S. Barnard, J. Sharp, J. R. Tong, P. A. Midgley, Philos. Mag. 2006, 86, 4901-4922;
202. J. S. Barnard, J. Sharp, J. R. Tong, P. A. Midgley, Science 2006, 313, 319-319;
203. M. Tanaka, K. Higashida, K. Kaneko, S. Hata, M. Mitsuhara, Scr. Mater. 2008, 59, 901-902.
204. L. C. Gontard, R. E. Dunin-Borkowski, M. H. Gass, A. L. Bleloch, D. Ozkaya, J. Electron Microsc. 2009, 58, 167-174;
205. L. C. Gontard, R. E. Dunin-Borkowski, D. Ozkaya, J. Microsc. 2008, 232, 248-259.
206. H. Friedrich, P. E. deJongh, A. J. Verkleij, K. P. deJong, Chem. Rev. 2009, 109, 1613-1629.
207. B. Goris, W. VandenBroek, K. J. Batenburg, H. HeidariMezerji, S. Bals, Ultramicroscopy 2012, 113, 120-130;
208. Z. Saghi, D. J. Holland, R. Leary, A. Falqui, G. Bertoni, A. J. Sederman, L. F. Gladden, P. A. Midgley, Nano Lett. 2011, 11, 4666-4673;
209. T. Roelandts, K. J. Batenburg, E. Biermans, C. Kübel, S. Bals, J. Sijbers, Ultramicroscopy 2012, 114, 96-105.
210. M. BarSadan, L. Houben, S. G. Wolf, A. Enyashin, G. Seifert, R. Tenne, K. Urban, Nano Lett. 2008, 8, 891-896.
211. M. C. Scott, C.-C. Chen, M. Mecklenburg, C. Zhu, R. Xu, P. Ercius, U. Dahmen, B. C. Regan, J. Miao, Nature 2012, 483, 444-447.
212. S. VanAert, K. J. Batenburg, M. D. Rossell, R. Erni, G. VanTendeloo, Nature 2011, 470, 374-377;
213. S. Bals, M. Casavola, M. A. vanHuis, S. VanAert, K. J. Batenburg, G. VanTendeloo, D. L. Vanmaekelbergh, Nano Lett. 2011, 11, 3420-3424.
214. A. J. D′Alfonso, S. D. Findlay, M. P. Oxley, S. J. Pennycook, K. VanBenthem, L. J. Allen, Ultramicroscopy 2007, 108, 17-28.
215. P. J. Kooyman, J. G. Buglass, H. R. Reinhoudt, A. D. vanLangeveld, E. J. M. Hensen, H. W. Zandbergen, J. A. R. Veen, J. Phys. Chem. B 2002, 106, 11795-11799.
216. S. B. Simonsen, I. Chorkendorff, S. Dahl, M. Skoglundh, K. Meinander, T. N. Jensen, J. V. Lauritsen, S. Helveg, J. Phys. Chem. C 2012, 116, 5646-5653;
217. S. B. Simonsen, I. Chorkendorff, S. Dahl, M. Skoglundh, J. Sehested, S. Helveg, J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 7968-7975;
218. C. H. Bartholomew, Appl. Catal. A 2001, 212, 17-60;
219. P. Forzatti, L. Lietti, Catal. Today 1999, 52, 165-181;
220. N. E. Tsakoumis, M. Ronning, O. Borg, E. Rytter, A. Holmen, Catal. Today 2010, 154, 162-182.
221. P. C. K. Vesborg, I. Chorkendorff, I. Knudsen, O. Balmes, J. Nerlov, A. M. Molenbroek, B. S. Clausen, S. Helveg, J. Catal. 2009, 262, 65-72.
222. J. F. Creemer, S. Helveg, G. H. Hoveling, S. Ullmann, A. M. Molenbroek, P. M. Sarro, H. W. Zandbergen, Ultramicroscopy 2008, 108, 993-998;
223. K. L. Klein, I. M. Anderson, N. DeJonge, J. Microsc. 2011, 242, 117-123;
224. T. Yokosawa, T. Alan, G. Pandraud, B. Dam, H. Zandbergen, Ultramicroscopy 2012, 112, 47-52;
225. T. Yaguchi, M. Suzuki, A. Watabe, Y. Nagakubo, K. Ueda, T. Kamino, J. Electron Microsc. 2011, 60, 217-225.
226. T. W. Hansen, J. B. Wagner, R. E. Dunin-Borkowski, Mater. Sci. Technol. 2010, 26, 1338-1344;
227. J. B. Wagner, F. Cavalca, C. D. Damsgaard, L. D. L. Duchstein, T. W. Hansen, Micron 2012, 43, 1169-1175.
228. M. Behrens, F. Studt, I. Kasatkin, S. Kuehl, M. Haevecker, F. Abild-Pedersen, S. Zander, F. Girgsdies, P. Kurr, B.-L. Kniep, M. Tovar, R. W. Fischer, J. K. Norskov, R. Schlögl, Science 2012, 336, 893-897.
229. S. Hofmann, R. Sharma, C. Ducati, G. Du, C. Mattevi, C. Cepek, M. Cantoro, S. Pisana, A. Parvez, F. Cervantes-Sodi, A. C. Ferrari, R. Dunin-Borkowski, S. Lizzit, L. Petaccia, A. Goldoni, J. Robertson, Nano Lett. 2007, 7, 602-608.
230. R. Sharma, Z. Iqbal, Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 990-992.
231. J. Zhang, R. Wang, E. Liu, X. Gao, Z. Sun, F.-S. Xiao, F. Girgsdies, D. S. Su, Angew. Chem. 2012, 124, 7699-7704; Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 7581-7585.
232. A. Rinaldi, J.-P. Tessonnier, M. E. Schuster, R. Blume, F. Girgsdies, Q. Zhang, T. Jacob, S. B. A. Hamid, D. S. Su, R. Schlögl, Angew. Chem. 2011, 123, 3371-3375; Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 3313-3317;
233. L. Shao, W. Zhang, M. Armbruester, D. Teschner, F. Girgsdies, B. Zhang, O. Timpe, M. Friedrich, R. Schlögl, D. S. Su, Angew. Chem. 2011, 123, 10414-10418; Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 10231-10235.
234. Q. Jeangros, A. Faes, J. B. Wagner, T. W. Hansen, U. Aschauer, J. Vanherle, A. Hessler-Wyser, R. E. Dunin-Borkowski, Acta Mater. 2010, 58, 4578-4589.
235. D. Mogensen, J. D. Grunwaldt, P. V. Hendriksen, K. Dam-Johansen, J. U. Nielsen, J. Power Sources 2011, 196, 25-38.
236. Z. Peng, F. Somodi, S. Helveg, C. Kisielowski, P. Specht, A. T. Bell, J. Catal. 2012, 286, 22-29;
237. S. Chenna, R. Banerjee, P. A. Crozier, ChemCatChem 2011, 3, 1051-1059.
238. T. Yaguchi, T. Kanemura, T. Shimizu, D. Imamura, A. Watabe, T. Kamino, J. Electron Microsc. 2012, 61, 199-206.
239. F. Cavalca, A. B. Laursen, B. E. Kardynal, R. E. Dunin-Borkowski, S. Dahl, J. B. Wagner, T. W. Hansen, Nanotechnology 2012, 23, 075705.
240. B. Zhang, D. Wang, W. Zhang, D. S. Su, R. Schlögl, Chem. Eur. J. 2011, 17, 12877-12881.
241. H. Yoshida, S. Takeda, Phys. Rev. B 2005, 72, 195428;
242. J. R. Jinschek, S. Helveg, Micron 2012, 43, 1156-1168.
243. I. J. Drake, T. C. N. Liu, M. Gilles, T. Tyliszczak, A. L. D. Kilcoyne, D. K. Shuh, R. A. Mathies, A. T. Bell, Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 3242-3247.
244. E. deSmit, I. Swart, J. F. Creemer, G. H. Hoveling, M. K. Gilles, T. Tyliszczak, P. J. Kooyman, H. W. Zandbergen, C. Morin, B. M. Weckhuysen, F. M. F. deGroot, Nature 2008, 456, 222-225.
245. E. deSmit, I. Swart, J. F. Creemer, C. Karunakaran, D. Bertwistle, H. W. Zandbergen, F. M. F. deGroot, B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2009, 121, 3686-36890; Angew. Chem. Int. Ed. 2009, 48, 3632-3636.
246. J. G. Zhou, J. Wang, H. T. Fang, C. X. Wu, J. N. Cutler, T. K. Sham, Chem. Commun. 2010, 46, 2778-2780.
247. T. Xie, Y. Zhao, J. Zhong, Z. Hu, X. Sun, J. Appl. Phys. 2012, 111, 124318.
248. L. R. Aramburo, S. Wirick, P. S. Miedema, I. L. C. Buurmans, F. M. F. deGroot, B. M. Weckhuysen, Phys. Chem. Chem. Phys. 2012, 14, 6967-6973;
249. L. R. Aramburo, E. deSmit, B. Arstad, M. M. vanSchooneveld, L. Sommer, A. Juhin, T. Yokosawa, H. W. Zandbergen, U. Olsbye, F. M. F. deGroot, B. M. Weckhuysen, Angew. Chem. 2012, 124, 3676-3679; Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 3616-3619.
250. F. Meirer, J. Cabana, Y. J. Liu, A. Mehta, J. C. Andrews, P. Pianetta, J. Synchrotron Radiat. 2011, 18, 773-781.
251. J. Nelson, S. Misra, Y. Yang, A. Jackson, Y. Liu, H. Wang, H. Dai, J. C. Andrews, Y. Cui, M. F. Toney, J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 6337-6343.