Generation of clean iron structures by electron-beam-induced deposition and selective catalytic decomposition of iron pentacarbonyl on Rh(110)

Langmuir

Volumn 25, Issue 19, 2009, Pages 11930-11939

  Lukasczyk, Thomas ^a   Schirmer, Michael ^a   Steinrück, Hans Peter ^a   Marbach, Hubertus ^a  

^a UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AUTOCATALYTIC; CATALYTIC DECOMPOSITION; ELECTRON BEAM-INDUCED DEPOSITION; FOCUSED ELECTRON BEAMS; HIGH SELECTIVITY; IRON PENTACARBONYLS; PRECURSOR MOLECULES; PURE IRON; RH(110); SCANNING AUGER MICROSCOPY; SEM; SURFACE REGION;

ACOUSTIC MICROSCOPES; AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY; AUGERS; DEPOSITS; ELECTRON BEAMS; ELECTRONS; IRON OXIDES; OXYGEN; RHODIUM; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SURFACE PROPERTIES; SURFACE REACTIONS; ULTRAHIGH VACUUM; VACUUM DEPOSITION;

IRON DEPOSITS;

EID: 70349929671     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la901612u     Document Type: Article

References (61)

1. Ando, Y.; Zhao, X.; Sugai, T.; Kumar, M. Mater. Today 2004, 7, 22.
2. Baddour, C. E.; Briens, C. Int. J. Chem. React. Eng. 2005, 3, 1.
3. See, C. H.; Harris, A. T. Ind. Eng. Chem. Res. 2007, 46, 997.
4. Baugham, R. H.; Zakhidov, A. A.; de Heer, W. A. Science 2002, 297, 787.
5. Terrones, M. Annu. Rev. Mater. Res. 2003, 33, 419.
6. Terranova, M. L.; Sessa, V.; Rossi, M. Chem. Vap. Deposition 2006, 12, 315.
7. Kinge, S.; Crego-Calama, M.; Reinhoudt, D. N. ChemPhysChem 2008, 9, 20.
8. Pileni, M. P. Langmuir 1997, 13, 3266.
9. Tao, A. R.; Huang, J.; Yang, P. Acc. Chem. Res. 2008, 41, 1662.
10. White, R. J.; Luque, R.; Budarin, V. L.; Clark, J. H.; Macquarrie, D. J. Chem. Soc. Rev. 2008, 38, 481.
11. Utke, I.; Hoffman, P.; Melngailis, J. J. Vac. Sci. Technol., B 2008, 24, 1197.
12. van Dorp, W. F.; Hagen, C. W. J. Appl. Phys. 2008, 104, 081301.1.
13. Amman, M.; Sleight, J. W.; Lombardi, D. R.; Welser, R. E.; Deshpande, M. R.; Reed, M. A.; Guido, L. J. J. Vac. Sci. Technol., B 1996, 14, 54.
14. Koops, H. W. P.; Kretz, J.; Rudolph, M.; Weber, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1993, 11, 2386.
15. Weber, M.; Koops, H. W. P.; Rudolph, M.; Kretz, J.; Schmidt, G. J. Vac. Sci. Technol., B 1995, 13, 1364.
16. Koops, H. W. P.; Schössler, C.; Kaya, A.; Weber, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1996, 14, 4105.
17. Koops, H. W. P.; Kaya, A.; Weber, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1995, 13, 2400.
18. Gazzadi, G. C.; Frabboni, S. J. Vac. Sci. Technol., B 2005, 23, L1.
19. Yavas, O.; Ochiai, C.; Takai, M.; Hosono, A.; Okuda, S. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3319.
20. Barry, J. D.; Ervin, M.; Molstad, J.; Wickenden, A.; Brintlinger, T.; Hoffman, P.; Meingailis, J. J. Vac. Sci. Technol., B 2006, 24, 3165.
21. van Dorp, W. F.; van Someren, B.; Hagen, C. W.; Kruit, P. Nano Lett. 2005, 5, 1303.
22. Koops, H. W. P.; Weiel, R.; Kern, D. P.; Baum, T. H. J. Vac. Sci. Technol., B 1988, 6, 477.
23. Hoyle, P. C.; Ogasawara, M.; Cleaver, J. R. A.; Ahmed, H. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 3043.
24. Shimojo, M.; Mitsuishi, K.; Tameike, A.; Furuya, K. J. Vac. Sci. Technol., B 2004, 22, 742.
25. Matsui, S.; Mori, K. J. Vac. Sci. Technol., B 1986, 4, 299.
26. Matsui, S.; Ichihashi, T.; Mito, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1989, 7, 1182.
27. Utke, I.; Hoffmann, P.; Dwir, B.; Leifer, K.; Kapon, E.; Doppelt, P. J. Vac. Sci. Technol., B 2000, 18, 3168.
28. Lee, K. L.; Abraham, D. W.; Secord, F.; Landstein, L. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 3562.
29. Utke, I.; Dwir, B.; Leifer, K.; Cicoira, F.; Doppelt, P.; Hoffman, P.; Kapon, E. Appl. Phys. Lett. 2000, 53, 261.
30. Lee, K. L.; Hatzakis, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1989, 7, 1941.
31. Kunz, R. R.; Mayer, T. M. J. Vac. Sci. Technol., B 1988, 6, 1557.
32. Guise, O.; Marbach, H.; Levy, J.; Ahner, J.; Yates, J. T. Surf. Sci. 2004, 571, 128.
33. Edinger, K.; Becht, H.; Bihr, J.; Boegli, V.; Budach, M.; Hofmann, T.; Koops, H. W. P.; Kuschnerus, P.; Oster, J.; Spies, P.; Weyrauch, B. J. Vac. Sci. Technol., B 2004, 2, 2902.
34. Koops, H. W. P. Innovation 2005, 16, 46.
35. Liang, T.; Frendberg, E.; Lieberman, B.; Stivers, A. J. Vac. Sci. Technol., B 2005, 23, 3101.
36. Lau, Y. M.; Chee, P. C.; Thong, J. T. L.; Ng, V. J. Vac. Sci. Technol., A 2002, 20, 1295.
37. Utke, I.; Hoffmann, P.; Berger, R.; Scandella, L. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4792.
38. Cicoira, F.; Hoffmann, P.; Olsson, C. O. A.; Xanthopoulos, N.; Mathieu, H. J.; Doppelt, P. Appl. Surf. Sci. 2005, 242, 107.
39. Perentes, A.; Sinicco, G.; Boero, G.; Dwir, B.; Hoffmann, P. J. Vac. Sci. Technol., B 2007, 25, 2228.
40. Bret, T.; Utke, I.; Bachmann, A.; Hoffman, P. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 4005.
41. Ochiai, Y.; Fujita, J.-i.; Matsui, S. J. Vac. Sci. Technol., B 1996, 14, 3887.
42. Perentes, A.; Bret, T.; Utke, I.; Hoffmann, P.; Vaupel, M. J. Vac. Sci. Technol., B 2006, 24, 587.
43. Lukasczyk, T.; Schirmer, M.; Steinrück, H.-P.; Marbach, H. Small 2008, 4, 841.
44. Kiskinova, M. Chem. Rev. 1996, 96, 1431.
45. Mertens, F.; Imbihl, R. Chem. Phys. Lett. 1995, 242, 221.
46. Schaak, A.; Shaikhutdinov, S.; Imbihl, R. Surf. Sci. 1999, 421, 191.
47. Günther, S.; Hoyer, R.; Marbach, H.; Imbihl, R.; Esch, F.; Africh, C.; Comelli, G.; Kiskinova, M. J. Chem. Phys. 2006, 124, 014706.1.
48. Schmidt, T.; Schaak, A.; Günther, S.; Ressel, B.; Bauer, E.; Imbihl, R. Chem. Phys. Lett. 2000, 318, 549.
49. Sato, S.; Ukisu, Y.; Ogawa, H.; Takasu, Y. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1993, 89, 4387.
50. Xu, M.; Zaera, F. J. Vac. Sci. Technol., A 1996, 14, 415.
51. Zaera, F. Surf. Sci. 1991, 255, 280.
52. Zaera, F. Langmuir 1991, 7, 1188.
53. Marbach, H.; Lilienkamp, G.; Wei, H.; Günther, S.; Suchorski, Y.; Imbihl, R. Phys. Chem. Chem. Phys. 2003, 5, 2730.
54. Cumpson, P. J.; Seah, M. P. Surf. Interface Anal. 1997, 25, 430.
55. Comelli, G.; Dhanak, V. R.; Kiskinova, M.; Prince, K. C.; Roseil, R. Surf. Sci. Rep. 1998, 32, 165.
56. Dulub, O.; Batzill, M.; Solovev, S.; Loginova, E.; Alchagirov, A.; Madey, T. E.; Diebold, U. Science 2007, 317, 1052.
57. Block, T.; Pfnür, H. J. Appl. Phys. 2008, 103, 064303.1.
58. Knotek, M. L.; Feibelman, P. J. Phys. Rev. Lett. 1978, 40, 964.
59. Reimer, L. Scanning Electron Microscopy, 2nd ed.; Springer-Verlag: Heidelberg, 1998.
60. Drouin, D.; Couture, A. R.; Joly, D.; Tastet, X.; Aimez, V.; Gauvin, R. Scanning 2007, 29, 92.
61. Jeol, A Guide to Scanning Microscope Observation, 2006.