메뉴 건너뛰기




Volumn 4, Issue 1, 2013, Pages 815-833

Dynamic nanoindentation by instrumented nanoindentation and force microscopy: A comparative review

Author keywords

Atomic force microscopy; Loss modulus; Nanoindentation; Storage modulus; Viscoelasticity

Indexed keywords


EID: 84894087807     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.4.93     Document Type: Review
Times cited : (92)

References (139)
  • 4
    • 84994033194 scopus 로고    scopus 로고
    • Siddlano, B.; Khatib, O., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, Heidelberg, doi:10.1007/978-3-642-20329-9
    • Xie, H.; Onal, C.; Régnier, S.; Sitti, M. In Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics; Siddlano, B.; Khatib, O., Eds.; Springer-Verlag: Berlin, Heidelberg, 2012; pp 87-143. doi:10.1007/978-3-642-20329-9
    • (2012) In Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics , pp. 87-143
    • Xie, H.1    Onal, C.2    Régnier, S.3    Sitti, M.4
  • 6
    • 0003432870 scopus 로고
    • Applications des Potentiels a I'etude de equilibre et du mouvement des solides elastiques
    • Gauthier-Villars: Paris
    • Boussinesq, J. Applications des Potentiels a I'etude de equilibre et du mouvement des solides elastiques; Gauthier-Villars: Paris, 1885.
    • (1885)
    • Boussinesq, J.1
  • 7
    • 84934701192 scopus 로고
    • doi:10.1515/crll.1882.92.156
    • Hertz, H. J. Reine Angew. Math. 1882, 92, 156-171. doi:10.1515/crll.1882.92.156
    • (1882) J. Reine Angew. Math. , vol.92 , pp. 156-171
    • Hertz, H.1
  • 8
    • 0011713787 scopus 로고
    • (Oxford, U. K.)doi:10.1016/0020-7225(65)90019-4
    • Sneddon, I. N. Int. J. Eng. Sci. (Oxford, U. K.) 1965, 3, 47-57. doi:10.1016/0020-7225(65)90019-4
    • (1965) Int. J. Eng. Sci. , vol.3 , pp. 47-57
    • Sneddon, I.N.1
  • 9
    • 85040956871 scopus 로고
    • Cambridge Univ. Press: Cambridge, doi:10.1017/CBO9781139171731
    • Johnson, K. L. Contact Mechanics; Cambridge Univ. Press: Cambridge, 1985. doi:10.1017/CBO9781139171731
    • (1985) Contact Mechanics
    • Johnson, K.L.1
  • 10
    • 33646733743 scopus 로고
    • doi:10.1016/0021-9797(77)90366-6
    • Tabor, D. J. Colloid Interface Sci. 1977, 58, 2-13. doi:10.1016/0021-9797(77)90366-6
    • (1977) J. Colloid Interface Sci. , vol.58 , pp. 2-13
    • Tabor, D.1
  • 13
  • 14
    • 0018020080 scopus 로고
    • doi:10.1088/0022-3727/11/14/011
    • Maugis, D.; Barquins, M. J. Phys. D 1978, 11, 1989-2023. doi:10.1088/0022-3727/11/14/011
    • (1978) J. Phys. D , vol.11 , pp. 1989-2023
    • Maugis, D.1    Barquins, M.2
  • 15
    • 0037405855 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/S0021-9797(03)00049-3
    • Schwarz, U. D. J. Colloid Interface Sci. 2003, 261, 99-106. doi:10.1016/S0021-9797(03)00049-3
    • (2003) J. Colloid Interface Sci. , vol.261 , pp. 99-106
    • Schwarz, U.D.1
  • 20
    • 79960670145 scopus 로고
    • doi:10.1088/0031-8949/1987/T19A/010
    • Pethica, J. B.; Oliver, W. C. Phys. Scr. 1987, T19, 61-66. doi:10.1088/0031-8949/1987/T19A/010
    • (1987) Phys. Scr. , vol.19 , Issue.T , pp. 61-66
    • Pethica, J.B.1    Oliver, W.C.2
  • 22
    • 84974183414 scopus 로고
    • doi:10.1557/JMR.1986.0601
    • Doerner, M. F.; Nix, W. D. J. Mater. Res. 1986, 1, 601-609. doi:10.1557/JMR.1986.0601
    • (1986) J. Mater. Res. , vol.1 , pp. 601-609
    • Doerner, M.F.1    Nix, W.D.2
  • 23
    • 0026875935 scopus 로고
    • doi:10.1557/JMR.1992.1564
    • Oliver, W. C.; Pharr, G. M. J. Mater. Res. 1992, 7, 1564-1583. doi:10.1557/JMR.1992.1564
    • (1992) J. Mater. Res. , vol.7 , pp. 1564-1583
    • Oliver, W.C.1    Pharr, G.M.2
  • 24
    • 3042606295 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1557/jmr.2004.19.1.3
    • Oliver, W. C.; Pharr, G. M. J. Mater. Res. 2004, 19, 3-20. doi:10.1557/jmr.2004.19.1.3
    • (2004) J. Mater. Res. , vol.19 , pp. 3-20
    • Oliver, W.C.1    Pharr, G.M.2
  • 28
    • 0030085874 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/1359-6462(95)00524-2
    • Poole, W. J.; Ashby, M. F.; Fleck, N. A. Scr. Mater. 1996, 34, 559-564. doi:10.1016/1359-6462(95)00524-2
    • (1996) Scr. Mater. , vol.34 , pp. 559-564
    • Poole, W.J.1    Ashby, M.F.2    Fleck, N.A.3
  • 31
    • 0242584104 scopus 로고    scopus 로고
    • Nanoscale Surface Mechanical Property Measurements: Force Modulation Techniques Applied to Nanoindentation
    • Frommer, J.; Overney, R., Eds.; ACS Books
    • Asif, S. A.; Colton, R. J.; Wahl, K. J. Nanoscale Surface Mechanical Property Measurements: Force Modulation Techniques Applied to Nanoindentation. In Interfacial Properties on the Submicron Scale; Frommer, J.; Overney, R., Eds.; ACS Books, 2000.
    • (2000) Interfacial Properties on the Submicron Scale
    • Asif, S.A.1    Colton, R.J.2    Wahl, K.J.3
  • 37
    • 79959778174 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1557/jmr.2011.8
    • Hay, J.; Crawford, B. J. Mater. Res. 2011, 26, 727-738. doi:10.1557/jmr.2011.8
    • (2011) J. Mater. Res. , vol.26 , pp. 727-738
    • Hay, J.1    Crawford, B.2
  • 38
    • 0035494681 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1557/JMR.2001.0408
    • Chen, X.; Vlassak, J. J. J. Mater. Res. 2001, 16, 2974-2982. doi:10.1557/JMR.2001.0408
    • (2001) J. Mater. Res. , vol.16 , pp. 2974-2982
    • Chen, X.1    Vlassak, J.J.2
  • 39
    • 33744806624 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/j.scriptamat.2006.04.037
    • Xu, H.; Pharr, G. M. Scr. Mater. 2006, 55, 315-318. doi:10.1016/j.scriptamat.2006.04.037
    • (2006) Scr. Mater. , vol.55 , pp. 315-318
    • Xu, H.1    Pharr, G.M.2
  • 44
    • 0028467834 scopus 로고
    • doi:10.1021/la00019a035
    • Liu, Y.; Wu, T.; Evans, D. F. Langmuir 1994, 10, 2241-2245. doi:10.1021/la00019a035
    • (1994) Langmuir , vol.10 , pp. 2241-2245
    • Liu, Y.1    Wu, T.2    Evans, D.F.3
  • 53
    • 0036507302 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1557/JMR.2002.0094
    • Feng, G.; Ngan, A. H. W. J. Mater. Res. 2002, 17, 660-668. doi:10.1557/JMR.2002.0094
    • (2002) J. Mater. Res. , vol.17 , pp. 660-668
    • Feng, G.1    Ngan, A.H.W.2
  • 57
    • 0035363316 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1103/PhysRevE.63.061604
    • Attard, P. Phys. Rev. E 2001, 63, 061604. doi:10.1103/PhysRevE.63.061604
    • (2001) Phys. Rev. E , vol.63 , pp. 061604
    • Attard, P.1
  • 58
    • 0035838797 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1021/la010086p
    • Attard, P. Langmuir 2001, 17, 4322-4328. doi:10.1021/la010086p
    • (2001) Langmuir , vol.17 , pp. 4322-4328
    • Attard, P.1
  • 65
    • 33645150455 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/j.ijsolstr.2005.05.043
    • Vandamme, M.; Ulm, F.-J. Int. J. Sol. Struct. 2006, 43, 3142-3165. doi:10.1016/j.ijsolstr.2005.05.043
    • (2006) Int. J. Sol. Struct. , vol.43 , pp. 3142-3165
    • Vandamme, M.1    Ulm, F.-J.2
  • 72
    • 0032306198 scopus 로고    scopus 로고
    • Moody, N. R.; Gerberich, W. W.; Burnham, N.; Baker, S. P., Eds.; San Francisco, doi:10.1557/PROC-522-3
    • Lucas, B. N.; Oliver, W. C.; Swindeman, J. E. In Mater. Res. Soc. Symp. Proc.; Moody, N. R.; Gerberich, W. W.; Burnham, N.; Baker, S. P., Eds.; San Francisco, 1998; Vol. 522, pp 3-14. doi:10.1557/PROC-522-3
    • (1998) Mater. Res. Soc. Symp. Proc. , vol.522 , pp. 3-14
    • Lucas, B.N.1    Oliver, W.C.2    Swindeman, J.E.3
  • 77
    • 0034194382 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1002/(SICI)1097-0126(200005)49:5<441::AID-PI240>3.3.CO;2-L
    • Tsukruk, V. V.; Gorbunov, V. V.; Huang, Z.; Chizhik, S. A. Polym. Int. 2000, 49, 441-444. doi:10.1002/(SICI)1097-0126(200005)49:5<441::AID-PI240>3.3.CO;2-L
    • (2000) Polym. Int. , vol.49 , pp. 441-444
    • Tsukruk, V.V.1    Gorbunov, V.V.2    Huang, Z.3    Chizhik, S.A.4
  • 80
    • 25844518487 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1021/la050448j
    • Sun, Y.; Walker, G. C. Langmuir 2005, 21, 8694-8702. doi:10.1021/la050448j
    • (2005) Langmuir , vol.21 , pp. 8694-8702
    • Sun, Y.1    Walker, G.C.2
  • 84
    • 84875664650 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1021/nn400015z
    • Medalsy, I. D.; Müller, D. J. ACS Nano 2013, 7, 2642-2650. doi:10.1021/nn400015z
    • (2013) J. ACS Nano , vol.7 , pp. 2642-2650
    • Medalsy, I.D.1    Müller, D.2
  • 87
    • 33846489278 scopus 로고    scopus 로고
    • Atomic Force Acoustic Microscopy
    • Fuchs, H.; Bhushan, B., Eds.; Springer: Berlin
    • Rabe, U. Atomic Force Acoustic Microscopy. In Applied Scanning Probe Methods Vol II; Fuchs, H.; Bhushan, B., Eds.; Springer: Berlin, 2006; pp 37-90.
    • (2006) Applied Scanning Probe Methods Vol II , pp. 37-90
    • Rabe, U.1
  • 93
    • 0038542116 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/S0304-3991(03)00040-8
    • Scott, W. W.; Bhushan, B. Ultramicroscopy 2003, 97, 151-169. doi:10.1016/S0304-3991(03)00040-8
    • (2003) Ultramicroscopy , vol.97 , pp. 151-169
    • Scott, W.W.1    Bhushan, B.2
  • 95
    • 0000407071 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1021/la960331i
    • Friedenberg, M. C.; Mate, M. C. Langmuir 1996, 12, 6138-6142. doi:10.1021/la960331i
    • (1996) Langmuir , vol.12 , pp. 6138-6142
    • Friedenberg, M.C.1    Mate, M.C.2
  • 97
    • 0000289703 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1021/la9504220
    • Eastman, T.; Zhu, D.-M. Langmuir 1996, 12, 2859-2862. doi:10.1021/la9504220
    • (1996) Langmuir , vol.12 , pp. 2859-2862
    • Eastman, T.1    Zhu, D.-M.2
  • 101
  • 102
    • 48149084323 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/j.ultramic.2008.01.005
    • Minary-Jolanadan, M.; Yu, M. F. Ultramicroscopy 2008, 108, 821-825. doi:10.1016/j.ultramic.2008.01.005
    • (2008) Ultramicroscopy , vol.108 , pp. 821-825
    • Minary-Jolanadan, M.1    Yu, M.F.2
  • 107
    • 0031272767 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1021/la970525d
    • Choi, G. Y.; Kim, S.; Ulman, A. Langmuir 1997, 13, 6333-6338. doi:10.1021/la970525d
    • (1997) Langmuir , vol.13 , pp. 6333-6338
    • Choi, G.Y.1    Kim, S.2    Ulman, A.3
  • 112
    • 84894047254 scopus 로고    scopus 로고
    • http://www.iso.org/iso/home/standards_development/list_of_iso_techn ical_committees/iso_technical_committee.htm?commid=53558.
  • 114
    • 0024668285 scopus 로고
    • doi:10.1016/0001-6160(89)90158-2
    • Ashby, M. F. Acta Metall. 1989, 37, 1273-1293. doi:10.1016/0001-6160(89)90158-2
    • (1989) Acta Metall. , vol.37 , pp. 1273-1293
    • Ashby, M.F.1
  • 125
  • 127
    • 0038419228 scopus 로고    scopus 로고
    • Calibration of Atomic Force Microscope Cantilevers
    • Hubbard, A. T., Ed.; Marcel Dekker: NY
    • Sader, J. Calibration of Atomic Force Microscope Cantilevers. In Encyclopedia of Surface and Colloid Science; Hubbard, A. T., Ed.; Marcel Dekker: NY, 2002.
    • (2002) Encyclopedia of Surface and Colloid Science
    • Sader, J.1
  • 128
    • 84894049900 scopus 로고    scopus 로고
    • ISO-14557-2 Metallic materials - Instrumented indentation test for hardness and materials parameters -Part 2 Verification and calibration of testing machines
    • ISO-14557-2 Metallic materials - Instrumented indentation test for hardness and materials parameters -Part 2 Verification and calibration of testing machines, 2009.
    • (2009)
  • 129
    • 84855612701 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1557/jmr.2011.300
    • Takagi, S. J. Mater. Res. 2012, 27, 294-301. doi:10.1557/jmr.2011.300
    • (2012) J. Mater. Res. , vol.27 , pp. 294-301
    • Takagi, S.1
  • 130
    • 0037006911 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/S1359-6454(02)00025-3
    • Chiu, Y. L.; Ngan, A. H. W. Acta Mater. 2002, 50, 1599-1611. doi:10.1016/S1359-6454(02)00025-3
    • (2002) Acta Mater. , vol.50 , pp. 1599-1611
    • Chiu, Y.L.1    Ngan, A.H.W.2
  • 131
  • 134
    • 27944457267 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/j.apsusc.2005.08.090
    • Clifford, C. A.; Seah, M. P. Appl. Surf. Sci. 2005, 252, 1915-1933. doi:10.1016/j.apsusc.2005.08.090
    • (2005) Appl. Surf. Sci. , vol.252 , pp. 1915-1933
    • Clifford, C.A.1    Seah, M.P.2
  • 136
    • 84874608302 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1016/j.polymertesting.2013.01.011
    • Griepentrog, M.; Krämer, G.; Capella, B. Polym. Test. 2013, 32, 455-460. doi:10.1016/j.polymertesting.2013.01.011
    • (2013) Polym. Test. , vol.32 , pp. 455-460
    • Griepentrog, M.1    Krämer, G.2    Capella, B.3


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.