-
4
-
-
34247620347
-
-
J. K. Jeong D. U. Jin H. S. Shin H. J. Lee M. Kim T. K. Ahn J. Lee Y. G. Mo H. K. Chung IEEE Electron Device Lett. 2007 28 389
-
(2007)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.28
, pp. 389
-
-
Jeong, J.K.1
Jin, D.U.2
Shin, H.S.3
Lee, H.J.4
Kim, M.5
Ahn, T.K.6
Lee, J.7
Mo, Y.G.8
Chung, H.K.9
-
7
-
-
84859983888
-
-
S. Y. Park K. H. Ji J.-I. Kim H. Y. Jung R. Choi K. S. Son M. K. Ryu S. Lee J. K. Jeong Appl. Phys. Lett. 2012 100 162108
-
(2012)
Appl. Phys. Lett.
, vol.100
, pp. 162108
-
-
Park, S.Y.1
Ji, K.H.2
Kim, J.-I.3
Jung, H.Y.4
Choi, R.5
Son, K.S.6
Ryu, M.K.7
Lee, S.8
Jeong, J.K.9
-
8
-
-
84864425596
-
-
Z. Q. Yao S. L. Liu L. Zhang B. He A. Kumar X. Jiang W. J. Zhang G. Shao Appl. Phys. Lett. 2012 101 042114
-
(2012)
Appl. Phys. Lett.
, vol.101
, pp. 042114
-
-
Yao, Z.Q.1
Liu, S.L.2
Zhang, L.3
He, B.4
Kumar, A.5
Jiang, X.6
Zhang, W.J.7
Shao, G.8
-
9
-
-
33748795083
-
-
H. Yabuta M. Sano K. Abe T. Aiba T. Den H. Kumomi K. Nomura T. Kamiya H. Hosono Appl. Phys. Lett. 2006 89 112123
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 112123
-
-
Yabuta, H.1
Sano, M.2
Abe, K.3
Aiba, T.4
Den, T.5
Kumomi, H.6
Nomura, K.7
Kamiya, T.8
Hosono, H.9
-
12
-
-
84865737334
-
-
Y. H. Kim J. S. Heo T. H. Kim S. Park M. H. Yoon J. Kim M. S. Oh G. R. Yi Y. Y. Noh S. K. Park Nature 2012 489 128 132
-
(2012)
Nature
, vol.489
, pp. 128-132
-
-
Kim, Y.H.1
Heo, J.S.2
Kim, T.H.3
Park, S.4
Yoon, M.H.5
Kim, J.6
Oh, M.S.7
Yi, G.R.8
Noh, Y.Y.9
Park, S.K.10
-
13
-
-
84863011813
-
-
S. Y. Park B. J. Kim K. Kim M. S. Kang K.-H. Lim T. I. Lee J. M. Myoung H. K. Baik J. H. Jo Y. S. Kim Adv. Mater. 2012 6 834 838
-
(2012)
Adv. Mater.
, vol.6
, pp. 834-838
-
-
Park, S.Y.1
Kim, B.J.2
Kim, K.3
Kang, M.S.4
Lim, K.-H.5
Lee, T.I.6
Myoung, J.M.7
Baik, H.K.8
Jo, J.H.9
Kim, Y.S.10
-
15
-
-
34249697083
-
-
M. Kim J. H. Jeong H. J. Lee T. K. Ahn H. S. Shin J. S. Park J. K. Jeong Y. G. Mo H. D. Kim Appl. Phys. Lett. 2007 90 212114
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.90
, pp. 212114
-
-
Kim, M.1
Jeong, J.H.2
Lee, H.J.3
Ahn, T.K.4
Shin, H.S.5
Park, J.S.6
Jeong, J.K.7
Mo, Y.G.8
Kim, H.D.9
-
21
-
-
84880514166
-
-
B. G. Son S. Y. Je H. J. Kim C. K. Lee C. K. Lee A. Y. Hwang J. Y. Won J. H. Song R. Choi J. K. Jeong Phys. Status Solidi RRL 2013 7 485
-
(2013)
Phys. Status Solidi RRL
, vol.7
, pp. 485
-
-
Son, B.G.1
Je, S.Y.2
Kim, H.J.3
Lee, C.K.4
Lee, C.K.5
Hwang, A.Y.6
Won, J.Y.7
Song, J.H.8
Choi, R.9
Jeong, J.K.10
-
22
-
-
84860468143
-
-
M. Nakata H. Sato Y. Nakajima H. Tsuji Y. Fujisaki T. Takei T. Yamamoto H. Fujikake Jpn. J. Appl. Phys. 2012 51 044105
-
(2012)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.51
, pp. 044105
-
-
Nakata, M.1
Sato, H.2
Nakajima, Y.3
Tsuji, H.4
Fujisaki, Y.5
Takei, T.6
Yamamoto, T.7
Fujikake, H.8
-
29
-
-
84884970120
-
-
J. Oh S. Lim J. Y. Kim C. A. Kim K. Cho S. D. Ahn J. B. Koo J. Vac. Sci. Technol., B: Nanotechnol. Microelectron.: Mater., Process., Meas., Phenom. 2013 31 050603
-
(2013)
J. Vac. Sci. Technol., B: Nanotechnol. Microelectron.: Mater., Process., Meas., Phenom.
, vol.31
, pp. 050603
-
-
Oh, J.1
Lim, S.2
Kim, J.Y.3
Kim, C.A.4
Cho, K.5
Ahn, S.D.6
Koo, J.B.7
-
34
-
-
76449099039
-
-
T. H. Gil C. May S. Scholz S. Franke M. Toerker H. Lakner K. Leo S. Keller Org. Electron. 2010 11 322 331
-
(2010)
Org. Electron.
, vol.11
, pp. 322-331
-
-
Gil, T.H.1
May, C.2
Scholz, S.3
Franke, S.4
Toerker, M.5
Lakner, H.6
Leo, K.7
Keller, S.8
-
35
-
-
78650274504
-
-
J. H. Kim Y. J. Lee Y. S. Jang J. N. Jang D. H. Kim B. C. Song D. H. Lee S. N. Kwon M. Hong Org. Electron. 2011 12 285 290
-
(2011)
Org. Electron.
, vol.12
, pp. 285-290
-
-
Kim, J.H.1
Lee, Y.J.2
Jang, Y.S.3
Jang, J.N.4
Kim, D.H.5
Song, B.C.6
Lee, D.H.7
Kwon, S.N.8
Hong, M.9
-
38
-
-
0038183479
-
-
Prentice Hall, Englewood Cliffs, NJ
-
D. W. Greve, Field Effect Devices and Applications: Devices for Portable, Low-power, and Imaging Systems, Prentice Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1998, p. 87
-
(1998)
Field Effect Devices and Applications: Devices for Portable, Low-power, and Imaging Systems
, pp. 87
-
-
Greve, D.W.1
|