Defining the value of injection current and effective electrical contact area for egain-based molecular tunneling junctions

Journal of the American Chemical Society

Volumn 135, Issue 48, 2013, Pages 18131-18144

  Simeone, Felice C ^a   Yoon, Hyo Jae ^a   Thuo, Martin M ^a   Barber, Jabulani R ^a   Smith, Barbara ^a   Whitesides, George M ^a  

^a HARVARD UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT FLOWING; ELECTRICAL CONTACTS; EXPERIMENTAL ANALYSIS; INJECTION CURRENTS; MOLECULAR-TUNNELING JUNCTIONS; NUMBER OF CARBON ATOMS; SINGLE MOLECULE; TUNNEL CURRENTS;

ELECTRIC CONTACTS; ELECTRODES; GALLIUM; GEOMETRY; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; SILVER;

TUNNEL JUNCTIONS;

ALLOY; EUTECTIC GALLIUM INDIUM ALLOY; GALLIUM; GALLIUM OXIDE; GRAPHENE; METAL COMPLEX; SELF ASSEMBLED MONOLAYER; SILVER; UNCLASSIFIED DRUG;

ARTICLE; BIOTECHNOLOGY; BIOTRANSFORMATION; CHEMICAL ANALYSIS; CHEMICAL STRUCTURE; CONTROLLED STUDY; DENSITY GRADIENT; ELECTRIC CURRENT; ELECTRICAL CONTACT; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODE; GEOMETRY; INJECTION; MOLECULAR MODEL; MOLECULE;

EID: 84889836470     PISSN: 00027863     EISSN: 15205126     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja408652h     Document Type: Article

References (59)

1. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 1793
2. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 2581
3. Vilan, A.; Yaffe, O.; Biller, A.; Salomon, A.; Kahn, A.; Cahen, D. Adv. Mater. 2010, 22, 140
4. Yaffe, O.; Scheres, L.; Segev, L.; Biller, A.; Ron, I.; Salomon, A.; Giesbers, M.; Kahn, A.; Kronik, L.; Zuilhof, H.; Vilan, A.; Cahen, D. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 10270
5. Xu, B. Q.; Tao, N. J. J. Science 2003, 301, 1221
6. Chen, F.; Li, X. L.; Hihath, J.; Huang, Z. F.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15874
7. Suzuki, M.; Fujii, S.; Fujihira, M. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 2006, 45, 2041
8. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287
9. Beebe, J. M.; Engelkes, V. B.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11268
10. Wierzbinski, E.; Yin, X.; Werling, K.; Waldeck, D. H. J. Phys. Chem. B 2012, 117, 4431
11. Wang, G.; Kim, Y.; Choe, M.; Kim, T. W.; Lee, T. Adv. Mater. 2011, 23, 755
12. Kim, T. W.; Wang, G. N.; Lee, H.; Lee, T. Nanotechnology 2007, 18
13. Milani, F.; Grave, C.; Ferri, V.; Samori, P.; Rampi, M. A. ChemPhysChem 2007, 8, 515
14. Weiss, E. A.; Chiechi, R. C.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z. F.; Duati, M.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 4336
15. Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075
16. Simeone, F. C.; Rampi, M. A. Chimia 2010, 64, 362
17. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Nano Lett. 2010, 10, 3611
18. Reus, W. F.; Nijhuis, C. A.; Barber, J. R.; Thuo, M. M.; Tricard, S.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 6714
19. Thuo, M. M.; Reus, W. F.; Nijhuis, C. A.; Barber, J. R.; Kim, C.; Schulz, M. D.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 2962
20. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 14139
21. Holm, R. Electric Contacts: Theory and Applications; Springer: Berlin, 2001.
22. Greenwood, J. A.; Williamson, J. B. P. Proc. R. Soc. London, Ser. A 1966, 295
23. Tabor, D. J. Colloid Interface Sci. 1977, 58, 2
24. Slate, P. G. Electrical Contacts: Principles and Applications; Marcel Dekker, Inc.: New York, 1999.
25. Bowder, F. P.; Tabor, D. The Friction and Lubrication of Solids; Oxford University Press: Oxford, 2001.
26. Adamson, A. W. Physical Chemistry of Surfaces; John Wiley & Sons, Inc.: New York, 1997.
27. Demirel, A. L.; Granick, S. J. Chem. Phys. 1998, 109, 6889
28. Metzger, R. M.; Baldwin, J. W.; Shumate, W. J.; Peterson, I. R.; Mani, P.; Mankey, G. J.; Morris, T.; Szulczewski, G.; Bosi, S.; Prato, M.; Comito, A.; Rubin, Y. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 1021
29. Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Beck, P. A.; Chen, Y.; Williams, R. S. Nano Lett. 2004, 4, 133
30. Lau, C. N.; Stewart, D. R.; Williams, R. S.; Bockrath, M. Nano Lett. 2004, 4, 569
31. Akkerman, H. B.; de Boer, B. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 013001
32. Salomon, A.; Cahen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881
33. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Siegel, A. C.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 15397
34. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17814
35. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 18386
36. Thuo, M. M.; Reus, W. F.; Simeone, F. C.; Kim, C.; Schulz, M. D.; Yoon, H. J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 10876
37. Yoon, H. J.; Shapiro, N. D.; Park, K. M.; Thuo, M. M.; Soh, S.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2012, 51, 4658
38. Fracasso, D.; Valkenier, H.; Hummelen, J. C.; Solomon, G. C.; Chiechi, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 9556
39. Nerngchamnong, N.; Yuan, L.; Qi, D.-C.; Li, J.; Thompson, D.; Nijhuis, C. A. Nat. Nanotechnol. 2013, 8, 113
40. Fracasso, D.; Mugladi, M. I.; Rohwerder, M.; Terfort, A.; Chiechi, R. C. J. Phys. Chem. C 2013, 117, 11367
41. Cademartiri, L.; Thuo, M. M.; Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Tricard, S.; Barber, J. R.; Sodhi, R. N. S.; Brodersen, P.; Kim, C.; Chiechi, R. C.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 10848
42. Reus, W. F.; Thuo, M. M.; Shapiro, N. D.; Nijhuis, C. A.; Whitesides, G. M. ACS Nano 2012, 6, 4806
43. Dickey, M. D.; Chiechi, R. C.; Larsen, R. J.; Weiss, E. A.; Weitz, D. A.; Whitesides, G. M. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 1097
44. Chiechi, R. C.; Weiss, E. A.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 142
45. McCreery, R. L.; Yan, H.; Bergren, A. J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2013, 15, 1065
46. Weiss, E. A.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z. F.; Schalek, R.; Whitesides, G. M. Langmuir 2007, 23, 9686
47. Akkerman, H. B.; Naber, R. C. G.; Jongbloed, B.; van Hal, P. A.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; de Boer, B. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2007, 104, 11161
48. Salomon, A.; Boecking, T.; Seitz, O.; Markus, T.; Amy, F.; Chan, C.; Zhao, W.; Cahen, D.; Kahn, A. Adv. Mater. 2007, 19, 445
49. York, R. L.; Nguyen, P. T.; Slowinski, K. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 5948
50. Slowinski, K.; Fong, H. K. Y.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7257
51. Pourhossein, P.; Chiechi, R. C. ACS Nano 2012, 6, 5566
52. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103
53. Liao, K. C.; Simeone, F. C.; Whitesides, G. M., unpublished observations.
54. Huisman, E. H.; Guedon, C. M.; van Wees, B. J.; van der Molen, S. J. Nano Lett. 2009, 9, 3909
55. Haag, R.; Rampi, M. A.; Holmlin, R. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7895
56. Slowinski, K.; Majda, M. J. Electroanal. Chem. 2000, 491, 139
57. Beebe, J. M.; Kim, B.; Frisbie, C. D.; Kushmerick, J. G. ACS Nano 2008, 2, 827
58. Levine, I.; Weber, S. M.; Feldman, Y.; Bendikov, T.; Cohen, H.; Cahen, D.; Vilan, A. Langmuir 2012, 28, 404
59. Greenwood, J. A. Br. J. Appl. Phys. 1966, 17, 1621