Direct observation of nanoscale switching centers in metal/molecule/metal structures

Nano Letters

Volumn 4, Issue 4, 2004, Pages 569-572

  Lau, Chun Ning ^a   Stewart, Duncan R ^a   Williams, R Stanley ^a   Bockrath, Marc ^b  

^a HEWLETT PACKARD LABORATORIES   (United States)

^b CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

METAL; PLATINUM; STEARIC ACID; TITANIUM;

ARTICLE; CONDUCTANCE; DISSOLUTION; MATHEMATICAL COMPUTING; NANOTECHNOLOGY;

EID: 2342633730     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl035117a     Document Type: Article

References (22)

1. Ramachandran, G. K.; Hopson, T. J.; Rawlett, A. M.; Nagahara, L. A.; Primak, A.; Lindsay, S. M. Science 2003, 300, 1413.
2. Gittins, D. I.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. Science 2000, 408, 67.
3. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W.; Rawlett, A. M.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307.
4. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, A.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571.
5. Chen, J.; Wang, W.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1224-1226.
6. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550-1552.
7. Collier, C. P.; Wong, E. W.; Belohradsky, M.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Kuekes, P. J.; Williams, R. S.; Heath, J. R. Science 1999, 285, 391.
8. Chen, Y.; Ohlberg, D. A. A.; Li, X.; Stewart, D. R.; Williams, R. S. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 1610.
9. Chen, Y.; Jung, G.-Y.; Ohlberg, D. A. A.; Li, X.; Stewart, D. R.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F.; Williams, R. S. Nanotechnology 2003, 14, 462.
10. Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Beck, P. A.; Chen, Y.; Williams, R. S. Nano Lett. 2003, in press.
11. Collier, C. P.; Mattersteig, G.; Wong, E. W.; Luo, Y.; Beverly, K.; Sampaio, J.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. Science 2000, 289, 1172-1175.
12. Rawlett, A. M.; Hopson, T. J.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. K.; Ramachandran, G. K.; Lindsay, S. M. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3043.
13. Reed, M. A.; Chen, J.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J. M. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 3735.
14. Seminario, J. M.; Zacarias, A. G.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 3015.
15. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 723, 5549.
16. Patrick, D. L.; Flanagan, J. F.; Kohl, P.; Lynden-Bell, R. M. J. Am. Chem. Soc. 2003, 725, 6762.
17. Leng, Y.; Jiang, S. J. Chem. Phys. 2000, 113, 8800.
18. Tutein, A. B.; Stuart, S. J.; Harrision, J. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 11357-11365.
19. Lifshitz, E. M.; Landau, L. D. Theory of Elasticity, 3rd ed.; Butterworth-Heinemann; London, 1959; Vol. 7.
20. Terabe, K.; Nakayama, T.; Hasegawa, T.; Aono, M. J. Appl. Phys. 2002, 97, 10110-10114.
21. Sakamoto, T.; Sunamura, H.; Kawaura, H.; Hasegawa, T.; Nakayama, T.; Aono, M. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3032-3034.
22. Ho, P. S.; Kwok, T. Rep. Prog. Phys. 1989, 52, 301.