Carbon nanotubes as field emitter

Journal of Nanoscience and Nanotechnology

Volumn 10, Issue 12, 2010, Pages 7876-7896

  Zou, Rujia ^a   Hu, Junqing ^a   Song, Yuelin ^a   Wang, Na ^a   Chen, Huihui ^a   Chen, Haihua ^a   Wu, Jianghong ^a   Sun, Yangang ^a   Chen, Zhigang ^a  

^a DONGHUA UNIVERSITY   (China)

Author keywords

Carbon nanotubes; Field emission; Field emission display; Transplant method

Indexed keywords

COLD CATHODES; DISPLAY TECHNOLOGIES; ELECTRON FIELD EMITTER; EMISSION PROPERTIES; FIELD EMISSION PROPERTY; FIELD EMITTER; GEOMETRICAL FIELD ENHANCEMENT; HIGH ASPECT RATIO; HIGH ELECTRICAL CONDUCTIVITY; IN-FIELD; INFLUENCING FACTOR; NEEDLE-LIKE; PROMISING MATERIALS; RECENT PROGRESS; THERMAL STABILITY;

ASPECT RATIO; CARBON NANOTUBES; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRODES; FIELD EMISSION; FIELD EMISSION CATHODES;

FIELD EMISSION DISPLAYS;

EID: 79952852561     PISSN: 15334880     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/jnn.2010.3035     Document Type: Review

References (173)

1. S. Iijima, Nature 354, 56 (1991).
2. N. Wang, Z. K. Tang, G. D. Li, and J. S. Chen, Nature 408, 50 (2000).
3. W. Z. Li, S. S. Xie, L. X. Qian, B. H. Chang, B. S. Zou, W. Y. Zhou, R. A. Zhao, and G. Wang, Science 214, 1701 (1996).
4. T. W. Ebbesen, H. J. Lezec, H. Hiura, J. W. Bennett, H. F. Ghaemi, and T. Thio, Nature 382, 54 (1996).
5. M. M. J. Treacy, T. W. Ebbesen, and J. M. Gibson, Nature 381, 678 (1996).
6. V. I. Merkulov, D. H. Lowndes, and L. R. Baylor, Appl. Phys. Lett. 75, 1228 (1999).
7. K. B. K. Teo, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, G. Pirio, P. Legagneux, F. Wyczisk, D. Pribat, and D. G. Hasko, Appl. Phys. Lett. 80, 2011 (2002).
8. W. A. De Heer, A. Chatelaine, and D. Ugarte, Science 270, 1179 (1995).
9. S. J. Tans, A. R. M. Verschueren, and C. Dekker, Nature 393, 49 (1998).
10. S. S. Wong, E. Joselevich, A. T. Woolley, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, Nature 394, 52 (1998).
11. C. X. Chen, L. Yang, E. S. Kong, Y. F. Zhang, and S. T. Lee, Small 4, 1313 (2008).
12. Y. Ye, C. C. Ahn, C. Witham, B. Fultz, J. Liu, A. G. Rinzler, D. Colbert, K. A. Smith, and R. E. Smalley, Appl. Phys. Lett. 74, 2307 (1999).
13. H. Dai, J. H. Hafner, A. G. Rinzler, D. T. Colbert, and R. E. Smalley, Nature 384, 147 (1996).
14. M. S. P. Shaffer, X. Fan, and A. H. Windle, Carbon 36, 1603 (1998).
15. (a) B. Q. Cao, X. M. Teng, S. H. Heo, Y. Li, S. O. Cho, G. H. Li, and W. P. Cai, J. Phys. Chem. C 111, 2470 (2007) ;
16. (b) A. Wei, X. W. Sun, C. X. Xu, Z. L. Dong, M. B. Yu, and W. Huang, Appl. Phys. Lett. 88, 213102 (2006) ;
17. (c) C. J. Park, D. K. Choi, J. Y. Yoo, G. C. Yi, and C. J. Lee, Appl. Phys. Lett. 90, 083107 (2007) ;
18. (d) X. S. Fang, Y. Bando, C. H. Ye, and D. Golberg, Chem. Commun. 3048 (2007) ;
19. (e) X. S. Fang, Y. Bando, G. Z. Shen, C. H. Ye, U. K. Gautam, P. M. F. J. Costa, C. Y. Zhi, C. C. Tang, and D. Golberg, Adv. Mater. 19, 2593 (2007) ;
20. (f) Z. W. Pan, H. L. Lai, F. C. K. Au, X. Duan, W. Zhou, W. Shi, N. Wang, C. S. Lee, N. B. Wong, S. T. Lee, and S. S. Xie, Adv. Mater. 12, 1186 (2000).
21. T. Utsumi, IEEE Trans. Electron Devices 38, 2276 (1991).
22. S. T. Purcell, P. Vincent, C. Journet, and V. T. Binh, Phys. Rev. Lett. 88, 105502 (2002).
23. A. G. Rinzler, J. H. Hafner, P. Nikolaev, L. Lou, S. G. Kim, D. Tománek, P. Nordlander, D. T. Colbert, and R. E. Smalley, Science 269, 1550 (1995).
24. J. M. Bonard, F. Maier, T. Stöckli, A. Chatelain, W. A. de Heer, J. P. Salvetat, and L. Forro, Ultramicroscopy 73, 7 (1998).
25. Z. W. Pan, F. C. K. Au, H. L. Lai, W. Y. Zhou, L. F. Sun, Z. Q. Liu, D. S. Tang, C. S. Lee, S. T. Lee, and S. S. Xie, J. Phys. Chem. B 105, 1519 (2001).
26. R. J. Zou, G. N. Zou, C. R. Wang, and S. L. Xue, Appl. Surf. Sci. 255, 8672 (2009).
27. J. M. Bonard, J. P. Salvetat, T. Stöckli, W. A. de Heer, L. Forró, and A. Châtelain, Appl. Phys. Lett. 73, 918 (1998).
28. C. J. Lee, J. Park, S. Y. Kang, and J. H. Lee, Chem. Phys. Lett. 326, 175 (2000).
29. Y. Chen, D. T. Shaw, and L. P. Guo, Appl. Phys. Lett. 76, 2469 (2000).
30. W. B. Choi, Y. H. Lee, N. S. Lee, J. H. Kang, S. H. Park, H. Y. Kim, D. S. Chung, S. M. Lee, S. Y. Chung, and J. M. Kim, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 39, 2560 (2000).
31. J. M. Bonard, T. Stöckli, O. Noury, and A. Chatelain, Appl. Phys. Lett. 78, 2775 (2001).
32. R. Rosen, W. Simendinger, C. Debbault, H. Shimoda, L. Fleming, B. Stoner, and O. Zhou, Appl. Phys. Lett. 76, 1668 (2000).
33. G. Z. Yue, Q. Qiu, B. Gao, Y. Cheng, J. Zhang, H. Shimoda, S. Chang, J. P. Lu, and O. Zhou, Appl. Phys. Lett. 81, 355 (2002).
34. W. I. Milne, K. B. K. Teo, G. A. J. Amaratunga, P. Legagneux, L. Gangloff, J.-P. Schnell, V. Semet, V. Thien Binh, and O. Groening, J. Mater. Chem. 14, 933 (2004).
35. M. Paradise and T. Goswami, Mater. Des. 28, 1477 (2007).
36. N. de Jonge and J. M. Bonard, Phil. Trans. R. Soc. Land. A 362, 2239 (2004).
37. M. Endo, T. Hayashi, Y. A. Kim, M. Terrones, and M. S. Dresselhaus, Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 362, 2223 (2004).
38. A. Merkoci, M. Pumera, X. Llopis, B. Perez, M. Del Valle, and S. Alegret, Trac-trends in Analytical Chemistry 24, 826 (2005).
39. T. W. Ebbessen and P. M. Ajayan, Nature 358, 220 (1992).
40. A. Thess, R. Lee, P. Nikolaev, H. J. Dai, P. Petit, J. Robert, C. H. Xu, Y. H. Lee, S. G. Kim, A. G. Rinzler, D. T. Colbert, G. E. Scuseria, D. Tomanek, J. E. Fischer, and R. E. Smalley, Science 273, 483 (1996).
41. J. Liu, H. Dai, J. H. Hafner, D. T. Colbert, R. E. Smalley, S. J. Tans, and C. Dekker, Nature 385, 781 (1997).
42. M. N. Rodriguez, M. S. Kim, and R. T. K. Baker, J. Phys. Chem. 98, 13108 (1994).
43. P. R. Birkett, A. J. Cheetham, B. R. Eggen, J. P. Hare, H. W. Kroto, and D. R. M. Walton, Chem. Phys. Lett. 281, 111 (1997).
44. C. K. Chen, W. L. Perry, H. F. Xu, Y. B. Jiang, and J. Phillips, Carbon 41, 2555 (2003).
45. Y. Q. Liu and L. Gao, Carbon 1, 47 (2005).
46. C. Journet and P. Bernier, Appl. Phys. A 67, 1 (1998).
47. Y. Chen, J. D. Fitz Gerald, L. T. Chadderton, and L. Chaffron, Appl. Phy. Lett. 74, 2782 (1999).
48. W. Krätschmer, L. D. Lamb, K. Fostiropoulos, and D. R. Huffman, Nature 347, 354 (1990).
49. Y. Ando, X. Zhao, K. Hirahara, K. Suenaga, S. Bandow, and S. Iijima, Chem. Phys. Lett. 323, 580 (2000).
50. T. Guo, P. Nikolaev, A. Thess, D. T. Colbert, and R. E. Smalley, Chem. Phys. Lett. 243, 49 (1995).
51. D. E. Powers, S. G. Hansen, M. E. Geusic, A. C. Puiu, J. B. Hopkins, T. G. Dietz, M. A. Duncan, P. R. R. Langridge-Smith, and R. E. Smalley, J. Chem. Phys. 86, 2556 (1982).
52. R. Sen, Y. Ohtsuka, T. Ishigaki, D. Kasuya, S. Suzuki, H. Kataura, and Y. Achiba, Chem. Phys. Lett. 332, 467 (2000).
53. V. Ivanov, J. B. Nagy, P. Lambin, A. Lucas, X. B. Zhang, X. F. Zhang, D. Bernaerts, G. Van Tendeloo, S. Amelinckx, and J. Van Landuyt, Chem. Phys. Lett. 223, 329 (1994).
54. S. S. Fan, M. G. Chapline, N. R. Franklin, T. W. Tombler, A. M. Cassell, and H. J. Dai, Science 283, 512 (1999).
55. C. A. Spindt, I. Brodie, L. Humphrey, and E. R. Westerberg, J. Appl. Phys. 41, 5248 (1976).
56. C. J. Edgcombe and U. Valdré, Philos. Mag. B 82, 987 (2002).
57. W. B. Choi, D. S. Chung, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, and J. M. Kim, Appl. Phys. Lett. 75, 3129 (1999).
58. R. H. Baughman, A. A. Zakhidov, and W. A. de Heer, Science 297, 787 (2002).
59. D. Y. Zhong, G. Y. Zhang, S. Liu, T. Sakurai, and E. G. Wang, Appl. Phys. Lett. 80, 506 (2002).
60. Y. Saito and S. Uemura, Carbon 38, 169 (2000).
61. H. Sugie, M. Tanemura, V. Filip, K. Iwata, K. Takahashi, and F. Okuyama, Appl. Phys. Lett. 78, 2578 (2001).
62. J. Q. Hu, Y. Bando, F. F. Xu, Y. B. Li, J. Y. Xu, and D. Golberg, Adv. Mater. 16, 153 (2004).
63. W. Zhu, C. Bower, O. Zhou, G. Kochanski, and S. Jin, Appl. Phys. Lett. 75, 873 (1999).
64. Y. Saito, J. Nanosci. Nanotechnol. 3, 39 (2003).
65. P. Vincent, S. T. Purcell, C. Journet, and V. T. Binh, Phys. Rev. B 66, 075406 (2002).
66. J. H. Lee, S. H. Lee, W. S. Kim, H. J. Lee, J. N. Heo, T. W. Jeong, C. W. Baik, S. H. Park, and S. G. Yu, Appl. Phys. Lett. 89, 253115 (2006).
67. Y. C. Kim, K. H. Sohn, Y. M. Cho, and E. H. Yoo, Appl. Phys. Lett. 84, 5350 (2004).
68. C. Bower, O. Zhou, W. Zhu, A. G. Ramirez, G. P. Kochanski, and S. Jin, Amorphous and Nanostructured Carbon 593, 215 (2000).
69. Y. T. Feng, S. Z. Deng, J. Chen, and N. S. Xu, Ultramicroscopy 95, 93 (2003).
70. Y. Saito, K. Hamaguchi, R. Mizushima, S. Uemura, T. Nagasako, J. Yotani, and T. Shimojo, Appl. Surf. Sci. 146, 305 (1999).
71. D. T. Colbert and R. E. Smalley, Carbon 33, 921 (1995).
72. M. S. Wang, J. Y. Wang, and L. M. Peng, Appl. Phys. Lett. 88, 243108 (2006).
73. Y. H. Wang, J. Lin, and C. H. A. Huan, Thin Solid Films 405, 243 (2002).
74. A. G. Umnov, T. Matsushita, M. Endo, and Y. Takeuchi, Chem. Phys. Lett. 356, 391 (2002).
75. O. Groning, O. M. Kuttel, C. Emmenegger, P. Groning, and L. Schlapbach, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 665 (2000).
76. L. Nilsson, O. Groening, C. Emmenegger, O. Kuettel, E. Schaller, L. Schlapbach, H. Kind, J. M. Bonard, and K. Kern, Appl. Phys. Lett. 76, 2071 (2000).
77. J. M. Bonard, N. Weiss, H. Kind, T. Stockli, L. Forro, K. Kern, and A. Chatelain, Adv. Mater. 13, 184 (2001).
78. Y. T. Jang, C. H. Choi, B. K. Ju, J. H. Ahn, and Y. H. Lee, Thin Solid Films 436, 298 (2003).
79. Y. Wei, C. Xie, K. A. Dean, and B. F. Coll, Appl. Phys. Lett. 79, 4527 (2001).
80. Z. L. Wang, R. P. Gao, W. A. de Heer, and P. Poncharal, Appl. Phys. Lett. 80, 856 (2002).
81. K. A. Dean and B. R. Chalamala, Appl. Phys. Lett. 75, 3017 (1999).
82. S. C. Lim, H. J. Jeong, Y. S. Park, D. S. Bae, Y. C. Choi, Y. M. Shin, W. S. Kim, K. H. An, and Y. H. Lee, J. Vac. Sci. Technol. A 19, 1786 (2001).
83. N. de Jonge, M. Allioux, J. T. Oostveen, K. B. K. Teo, and W. I. Milne, Phys. Rev. Lett. 94, 186807 (2005).
84. J. C. Charlier, M. Terrones, M. Baxendale, V. Meunier, T. Zacharia, N. L. Rupesinghe, W. K. Hsu, N. Grobert, H. Terrones, and G. A. J. Amaratunga, Nano Lett. 2, 1191 (2002).
85. D. Golberg, P. S. Dorozhkin, Y. Bando, Z. C. Dong, C. C. Tang, Y. Uemura, N. Grobert, M. Reyes-Reyes, H. Terrones, and M. Terrones, Appl. Phys. A 76, 499 (2003).
86. A. Buldum and J. P. Lu, Phys. Rev. Lett. 91, 23680 (2003).
87. X. F. Duan, B. Brahim, and R. Pachter, Appl. Surf. Sci. 243, 11 (2005).
88. J. Zhao, J. Han, and J. P. Lu, Phys. Rev. B 65, 193401 (2002).
89. S. H. Jo, Y. Tu, Z. P. Huang, D. L. Carnahan, J. Y. Huang, D. Z. Wang, and Z. F. Ren, Appl. Phys. Lett. 84, 413 (2004).
90. M. Sveningsson, R. E. Morjan, O. Nerushev, and E. E. B. Campbell, Carbon 42, 1165 (2004).
91. J. Kong, C. W. Zhou, E. Yenilmez, and H. J. Dai, Appl. Phys. Lett. 11, 3977 (2000).
92. C. W. Zhou, J. Kong, E. Yenilmez, and H. J. Dai, Science 290, 1552 (2000).
93. B. Ha and C. J. Lee, Appl. Phys. Lett. 90, 023108 (2007).
94. S. Suzuki, C. Bower, Y. Watanabe, and O. Zhou, Appl. Phys. Lett. 76, 4007 (2000).
95. A. Wadhawan, R. E. Stallcup, and J. M. Perez, Appl. Phys. Lett. 78, 108 (2001).
96. C. Wang, L. Qiao, C. Q. Qu, W. T. Zheng, and Q. Jiang, J. Phys. Chem. C 113, 812 (2009).
97. H. S. Ahn, K. R. Lee, D. Y. Kim, and S. W. Han, Appl. Phys. Lett. 88, 093122 (2006).
98. S. R. Stoyanov, P. Kral, and B. Y. Wang, Appl. Phys. Lett. 90, 153110 (2007).
99. S. C. Youn, D. H. Jung, Y. K. Ko, Y. W. Jin, J. M. Kim, and H. T. Jung, J. Am. Chem. Soc. 131, 742 (2009).
100. S. Dimitrijevic, J. C. Withers, V. P. Mammana, O. R. Monteiro, J. W. Ager, and I. G. Brown, Appl. Phys. Lett. 75, 2680 (1999).
101. W. K. Yi, T. Jeong, S. G. Yu, J. Heo, C. Lee, J. Lee, W. Kim, J. B. Yoo, and J. Kim, Adv. Mater. 14, 1464 (2002).
102. Y. Cheng and O. Zhou, Comptes Rendus Physique 4, 1021 (2003).
103. C. M. Tan, J. J. Jia, and W. B. Yu, Appl. Phys. Lett. 86, 263104 (2005).
104. J. M. Bonard, K. A. Dean, B. F. Coll, and C. Klinke, Phys. Rev. Lett. 89, 197602 (2002).
105. N. de Jonge, M. Allioux, M. Doytcheva, M. Kaiser, K. B. K. Teo, R. G. Lacedra, and W. I. Milne, Appl. Phys. Lett. 85, 1607 (2004).
106. Z. Xu, X. D. Bai, and E. G. Wang, Appl. Phys. Lett. 88, 133107 (2006).
107. Y. Saito, K. Hamaguchi, T. Nishina, K. Hata, K. Tohji, A. Kasuya, and Y. Nishina, Jpn. J. Appl. Phys. Part 2 36, 1340 (1997).
108. V. Semet, V. T. Binh, P. Vincent, D. Guillot, K. B. K. Teo, M. Chhowalla, G. A. J. Amaratunga, W. I. Milne, P. Legagneux, and D. Pribat, Appl. Phys. Lett. 81, 343 (2002).
109. R. C. Smith, D. C. Cox, and S. R. P. Silva, Appl. Phys. Lett. 87, 103112 (2005).
110. D. L. Niemann, B. P. Ribaya, N. Gunther, M. Rahman, J. Leung, and C. V. Nguyen, Nanotechnology 18, 485702 (2007).
111. B. R. Chalamala, Y. Wei, and B. E. Gnade, IEEE Spectrum 35, 42 (1998).
112. A. A. Talin, K. A. Dean, and J. E. Jaskie, Solid-State Electronics 45, 963 (2001).
113. A. M. Rao, D. Jacques, R. C. Haddon, W. Zhu, C. Bower, and S. Jin, Appl. Phys. Lett. 76, 3813 (2000).
114. Y. J. Li, Z. Sun, S. P. Lau, G. Y. Chen, and B. K. Tay, Appl. Phys. Lett. 79, 1670 (2001).
115. M. P. Siegal, D. L. Overmyer, and P. P. Provencio, Appl. Phys. Lett. 80, 2171 (2002).
116. J. Menda, B. Ulmen, L. K. Vanga, V. K. Kayastha, Y. K. Yap, Z. W. Pan, I. N. Ivanov, A. A. Puretzky, and D. B. Geohegan, Appl. Phys. Lett. 87, 173106 (2005).
117. T. Y. Tsai, N. H. Tai, K. C. Chen, S. H. Lee, L. H. Chan, and Y. Y. Chang, Diamond Relat. Mater. 18, 307 (2009).
118. B. Gao, G. Z. Yue, Q. Qiu, Y. Cheng, H. Shimoda, L. Fleming, and O. Zhou, Adv. Mater. 13, 1770 (2001).
119. C. E. Hunt, O. J. Glembocki, Y. Wang, and S. M. Prokes, Appl. Phys. Lett. 86, 163112 (2005).
120. K. Kordas, T. Mustonen, G. Toth, H. Jantunen, M. Lajunen, C. Soldano, S. Talapatra, S. Kar, R. Vajita, and P. M. Ajayan, Small 2, 1021 (2006).
121. Z. J. Fan, T. Wei, G. H. Luo, and F. Wei, J. Mater. Sci. 40, 5075 (2005).
122. H. Y. Shin, W. S. Chung, K. H. Kim, Y. R. Cho, and B. C. Shin, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 2369 (2005).
123. A. P. Burden, H. E. Bishop, M. Brierley, J. M. Friday, C. Hood, P. G. A. Jones, A. Y. Khazov, W. Lee, R. J. Riggs, V. L. Shaw, and R. A. Tuck, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 900 (2000).
124. H. Ago, T. Kugler, F. Cacialli, W. R. Salaneck, M. S. P. Shaffer, A. H. Windle, and R. H. Friend, J. Phys. Chem. B 103, 8116 (1999).
125. M. Endo, K. Takeuchi, S. Igarashi, K. Kobori, M. Shiraishi, and H. W. Kroto, J. Phys. Chem. Solids 54, 1841 (1993).
126. J. M. Bonard, J. P. Salvetat, T. Stöckli, L. Forró, and A. Châtelain, Appl. Phys. A 69, 245 (1999).
127. O. M. Küttel, O. Groening, C. Emmenegger, and L. Schlapbach, Appl. Phys. Lett. 73, 2113 (1998).
128. A. N. Obraztsov, I. Pavlovsky, A. P. Volkov, E. D. Obraztsova, A. L. Chuvilin, and V. L. Kuznetsov, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 1059 (2000).
129. Z. F. Ren, Z. P. Huang, D. Z. Wang, J. G. Wen, J. W. Xu, J. H. Wang, L. E. Calvet, J. Chen, J. F. Klemic, and M. A. Reed, Appl. Phys. Lett. 75, 1086 (1999).
130. H. Murakami, M. Hirakawa, C. Tanaka, and H. Yamaiawa, Appl. Phys. Lett. 76, 1776 (2000).
131. J. H. Choi, S. H. Choi, J. H. Han, J. B. Yoo, C. Y. Park, T. Jung, S. G. Yu, I. T. Han, and J. M. Kim, J. Appl. Phys. 94, 487 (2003).
132. Y. Tu, Z. P. Huang, D. Z. Wang, J. G. Wen, and Z. F. Ren, Appl. Phys. Lett. 80, 4018 (2002).
133. P. von Allmen, L. R. C. Fonseca, and R. Ramprasad, Phys. Stat. Sol. B 226, 107 (2001).
134. A. L. Musatov, N. A. Kiselev, D. N. Zakharov, E. F. Kukovitskii, A. I. Zhbanov, K. R. Izrael'yants, and E. G. Chirkova, Appl. Surf. Sci. 183, 111 (2001).
135. M. Sveningsson, R. E. Morjan, O. A. Nerushev, Y. Sato, J. Bäckström, E. E. B. Campbell, and F. Rohmund, Appl. Phys. A 73, 409 (2001).
136. C. M. Yeh, M. Y. Chen, J. H. Wang, J. Y. Gan, and C. S. Kou, Nanotechnology 17, 5930 (2006).
137. G. H. Chen, D. H. Shin, T. Iwasaki, H. Kawarada, and C. J. Lee, Nanotechnology 19, 415703 (2008).
138. D. Takagi, Y. Homma, S. Suzuki, and Y. Kobayashi, Jpn. J. Appl. Phys. 44, 1564 (2005).
139. T. J. Vink, M. Cillies, J. C. Kriege, and H. W. J. J. van de Laar, Appl. Phys. Lett. 83, 3552 (2003).
140. J. M. Kim, W. B. Choi, N. S. Lee, and J. E. Jung, Diamond Relat. Mater. 9, 1184 (2000).
141. Z. J. Zhang, Z. Sun, and Y. W. Chen, Appl. Surf. Sci. 253, 3292 (2007).
142. N. Darsono, P. Yonathan, D. H. Yoon, J. Kim, and Y. Kim, Mater. Chem. Phys. 110, 363 (2008).
143. F. G. Zeng, C. C. Zhu, X. H. Liu, W. H. Liu, and Y. K. Li, Mater. Lett. 60, 2399 (2006).
144. Y. X. Qin and M. Hu, Appl. Surf. Sci. 254, 1757 (2008).
145. Y. Liu, L. Liu, P. Liu, L. Sheng, and S. Fan, Diamond Relat. Mater. 13, 1609 (2004).
146. Y. W. Zhu, F. C. Cheong, T. Yu, X. J. Xu, C. T. Lin, J. T. L. Thong, Z. X. Shen, C. K. Ong, Y. J. Liu, A. T. S. Wee, and C. H. Sow, Carbon 43, 395 (2005).
147. K. S. Ahn, J. S. Kim, C. O. Kim, and J. P. Hong, Carbon 41, 2481 (2003).
148. C. Y. Zhi, X. D. Bai, and E. G. Wang, Appl. Phys. Lett. 81, 1690 (2002).
149. S. J. Kyung, J. B. Park, M. Voronko, J. H. Lee, and G. Y. Yeom, Carbon 45, 649 (2007).
150. W. J. Zhao, N. Kawakami, A. Sawada, and M. Takai, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 1734 (2003).
151. K. F. Chen, K. C. Chen, Y. C. Jiang, L. Y. Jiang, Y. Y. Chang, M. C. Hsiao, and L. H. Chan, Appl. Phys. Lett. 88, 193124 (2006).
152. A. Sawada, M. Iriguchi, W. J. Zhao, C. Ochiai, and M. Takai, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 362 (2003).
153. W. J. Zhao, A. Sawada, and M. Takai, Jpn. J. Appl. Phys. Part I 41, 4314 (2002).
154. W. Rochanachirapar, K. Murakami, N. Yamasaki, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai, A. Hosono, and S. Okuda, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 765 (2005).
155. A. Gohel, K. C. Chin, Y. W. Zhu, C. H. Sow, and A. T. S. Wee, Carbon 43, 2530 (2005).
156. D. H. Kim, C. D. Kim, and H. R. Lee, Carbon 42, 1807 (2004).
157. S. J. Kyung, J. B. Park, B. J. Park, J. H. Lee, and G. Y. Yeom, Carbon 46, 1316 (2008).
158. R. J. Zou, G. N. Zou, C. R. Wang, S. L. Xue, J. Liu, and G. P. Ren, Microelectron. J. 40, 115 (2009).
159. H. J. Lee, S. I. Moon, J. K. Kim, Y. D. Lee, S. Nahm, J. E. Yoo, J. H. Han, Y. H. Lee, S. W. Hwang, and B. K. Ju, J. Appl. Phys. 98, 016107 (2005).
160. X. H. Liang, S. Z. Deng, N. S. Xu, J. Chen, N. Y. Huang, and J. C. She, Appl. Phys. Lett. 88, 111501 (2006).
161. R. J. Zou, G. N. Zou, S. L. Xue, and D. Y. Li, Physica E 41, 315 (2008).
162. S. J. Kyung, J. B. Park, B. J. Park, K. S. Min, J. H. Lee, G. Y. Yeom, Y. S. Shin, and C. Y. Park, J. Appl. Phys. 101, 083305 (2007).
163. A. Kumar, V. L. Pushparaj, S. Kar, O. Nalamasu, P. M. Ajayan, and R. Baskaran, Appl. Phys. Lett. 89, 163120 (2006).
164. Y. W. Zhu, X. D. Lim, M. C. Sim, C. T. Lim, and C. H. Sow, Nanotechnology 19, 325304 (2008).
165. L. B. Zhu, Y. Y. Sun, D. W. Hess, and C. P. Wong, Nano Lett. 6, 243 (2006).
166. J. Cho, K. Konopka, K. Rozniatowski, E. G. Lecina, M. S. P. Shaffer, and A. R. Boccaccini, Carbon 47, 58 (2009).
167. S. M. Jung, J. Hahn, H. Y. Jung, and J. S. Suh, Nano Lett. 6, 1569 (2006).
168. H. J. Jeong, H. K. Choi, G. Y. Kim, Y. I. Song, Y. Tong, S. C. Lim, and Y. H. Lee, Carbon 44, 2689 (2006).
169. Y. D. Lee, K. S. Lee, Y. H. Lee, and B. K. Ju, Appl. Surf. Sci 254, 513 (2007).
170. S. M. Lyth and S. R. P. Silva, Appl. Phys. Lett. 90, 173124 (2007).
171. M. E. Spotnitz, D. Ryan, and H. A. Stone, J. Mater. Chem. 14, 1299 (2004).
172. H. Ago, K. Murata, M. Yumura, J. Yotani, and S. Uemura, Appl. Phys. Lett. 82, 811 (2003).
173. J. Hahn, S. M. Jung, H. Y. Jung, S. B. Heo, J. H. Shin, and J. S. Suh, Appl. Phys. Lett. 88, 113101 (2006).