Mechanical properties of vapor - Liquid - Solid synthesized silicon nanowires

Nano Letters

Volumn 9, Issue 11, 2009, Pages 3934-3939

  Zhu, Yong ^a   Xu, Feng ^a   Qin, Gquan ^a   Fung, Wayne Y ^b   Lu, Wei ^b  

^a North Carolina State University   (United States)

^b UNIVERSITY OF MICHIGAN   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELASTIC MODULI; ELASTICITY; ELECTRIC WIRE; FRACTURE; LIQUIDS; MECHANICAL PROPERTIES; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SEMICONDUCTING SILICON COMPOUNDS; TENSILE TESTING; UNLOADING; VAPORS;

FRACTURE STRENGTHS; IN-SITU; LINEAR ELASTIC; MICROFABRICATED; REPEATED LOADING; SCANNING ELECTRON MICROSCOPE; SILICON NANOWIRES; SILICON THIN FILM; SURFACE AREA; TENSILE TESTS; VAPOR-LIQUID-SOLID; VAPOR-LIQUID-SOLID PROCESS; YOUNG'S MODULUS;

NANOWIRES;

EID: 84941944733     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl902132w     Document Type: Article

References (49)

1. Lu, W.; Lieber, C. M. J. Phys. D: Appl. Phys. 2006, 39, R387.
2. Han, X.; Zheng, K.; Zhang, Y.; Zhang, X.; Zhang, Z.; Wang, Z. L. Adv. Mater. 2007, 19, 2112.
3. Hoffmann, S.; Utke, I.; Moser, B.; Michler, J.; Christiansen, S. H.; Schmidt, V.; Senz, S.; Werner, P.; Gosele, U.; Ballif, C. Nano Lett. 2006, 6, 622.
4. Cui, Y.; Duan, X.; Hu, J.; Lieber, C. M. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 5213.
5. Holmes, J. D.; Johnston, K. P.; Doty, R. C.; Korgel, B. A. Science 2000, 287, 1471.
6. He, R. R.; Yang, P. D. Nat. Nanotechnol. 2006, 1, 42.
7. Hochbaum, A. I.; Chen, R.; Delgado, R. D.; Liang, W.; Garnett, E. C.; Najarian, M.; Majumdar, A.; Yang, P. Nature 2008, 451, 163.
8. Boukai, A. I.; Bunimovich, Y.; Tahir-Kheli, J.; Yu, J.-K., III; W. A. G.; Heath, J. R. Nature 2008, 451, 168.
9. Li, D.; Wu, Y.; Kim, P.; Shi, L.; Yang, P.; Majumdar, A. Appl, Phys. Lett. 2003, 83, 2934.
10. Cui, Y.; Lieber, C. M. Science 2001, 291, 851.
11. Goldberger, J.; Hochbaum, A. I.; Fan, R.; Yang, P. Nano Lett. 2006, 6, 973.
12. Xiang, J.; Lu, W.; Hu, Y. J.; Yan, H.; Lieber, C. M. Nature 2006, 441, 489.
13. Patolsky, F.; Lieber, C. M., Mater. Today 2005, 8, 20.
14. Feng, X. L.; He, R.; Yang, P.; Roukes, M. L. Nano Lett. 2007, 7, 1953.
15. Huang, Y.; Duan, X.; Lieber, C. M, Small 2005, 1, 142.
16. Li, X.; Ono, T.; Wang, Y.; Esashi, M. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3081.
17. Bai, X. D.; Gao, P. X.; Wang, Z. L.; Wang, E. G. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 4806.
18. Chen, C. Q.; Shi, Y.; Zhang, Y. S.; Zhu, J.; Yan, Y. J. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 075505.
19. Jing, G. Y.; Duan, H. L.; Sun, X. M.; Zhang, Z. S.; Xu, J.; Li, D.; Wang, J. X.; Yu, D. P. Phys. Rev. B 2006, 73, 35409.
20. Heidelberg, A.; Ngo, L. T.; Wu, B.; Phillips, M. A.; Sharma, S.; Kamins, T. I.; Sader, J. E.; Boland, J. J. Nano Lett. 2006, 6, 1101.
21. Gordon, M. J.; Baron, T.; Dhalluin, F.; Gentile, P.; Ferret, P. Nano Lett. 2009, 9, 525.
22. Agrawal, R.; Peng, B.; Gdoutos, E.; Espinosa, H. D. Nano Lett. 2008, 8, 3668.
23. Desai, A. V.; Haque, M. A. Sens. Actuators, A 2007, 134, 169.
24. Kizuka, T.; Takatani, Y.; Asaka, K.; Yoshizaki, R. Phys. Rev. B 2005, 72, 035333.
25. Zhu, Y.; Moldovan, N.; Espinosa, H. D. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 013506.
26. Ding, W.; Eitan, A.; Fisher, F. T.; Chen, X.; Dikin, D.; Andrews, R.; Brinson, L. C.; Schadler, L. S.; Ruoff., R. S. Nano Lett. 2003, 3, 1593.
27. Li, X.; Gao, H.; Murphy, C. J.; Caswell, K. K. Nano Lett. 2003, 3, 1495.
28. Tabib-Azar, M.; Nassirou, M.; Wang, R.; Sharma, S.; Kamins, T. L; Islam, M. S.; Williams, R. S. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 113102.
29. Park, H. S.; Cai, W.; D., H.; Espinosa, H. D.; Huang, H. MRS Bull. 2009, 34, 178.
30. Lee, B.; Rudd, R. E. Phys. Rev. B 2007, 75, 195328.
31. Kang, K.; Cai, W. Phys. Rev. B 2007, 87, 2169.
32. Shim, H. W.; Zhou, L. G.; Huang, H.; Cale, T. S. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 151912.
33. Kang, K.; Cai, W. J. Mech. Phys. Solids 2008, submitted.
34. Wu, Y.; Cui, Y.; Huynh, L.; Barrelet, C. J.; Bell, D. C.; Lieber, C. M. Nano Lett. 2004, 4, 433.
35. Ma, D. D. D.; Lee, C. S.; Au, F. C. K.; Tong, S. Y.; Lee, S. T. Science 2003, 299, 1874.
36. Zhu, Y.; Espinosa, H. D. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 14503.
37. Yu, M. F.; Louire, O.; Dyer, M. J.; Moloni, K.; Kelly, T. F.; Ruoff, R. S. Science 2000, 287, 637.
38. Sader, J. E.; Chon, J. W. M.; Mulvaney, P. Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 3967.
39. Courtney, T. H. Mechanical Behavior of Materials; McGraw-Hill: Boston, 2000, ISBN 0070285942.
40. Miller, R. E.; Shenoy, V. B. Nanotechnology 2000, 11, 139.
41. Shim, H. W.; Zhou, L. G.; Huang, H.; Cale, T. S. Appl Phys. Lett. 2005, 86, 151912.
42. Park, H. S. J. Appl. Phys. 2008, 103, 123504.
43. Liang, H. Y.; Upmanyu, M.; Huang, H. C. Phys. Rev. B 2005, 71, 241403.
44. Sadeghian, H.; Yang, C. K.; Goosen, J. F. L.; Van Der Drift, E.; Bossche, A.; French, P. J.; Van Keulen, F. Characterizing size-dependent effective elastic modulus of silicon nanocantilevers using electrostatic pull-in instability, Applied Physics Letters (2009),94(22), DOI: 10.1063/1.3148774, Article number 221903 .
45. Kelly, A.; Macmillan, N. H. Strong Solids; Monographs on the Physics and Chemistry of Materials; Clarendon Press: Oxford, 1986, ISBN 0-19-851362-3.
46. Tsuchiya, T.; Hirata, M.; Chiba, N.; Udo, R.; Yoshitomi, Y.; Ando, T.; Sato, K.; Takashima, K.; Higo, Y.; Saotome, Y.; Ogawa, H.; Ozaki, K. J. Microelectromech. Syst. 2005, 14, 1178.
47. Moore, N. W.; Luo, J. H.; Huang, J. Y.; Mao, S. X.; Houston, J. E. Nano Lett. 2009, 9, 2295.
48. Huang, J. Y.; Chen, S.; Wang, Z. Q.; Kempa, K.; Wang, Y. M.; Jo, S. H.; Chen, G.; Dresselhaus, M. S.; Ren, Z. F. Nature 2006, 439, 281.
49. Banhart, F.; Li, J. X.; Krasheninnikov, A. V. Phys. Rev. B 2005, 71, 241408.