SCOPUS 정보 검색 플랫폼

Physical Chemistry Chemical Physics

Volumn 16, Issue 18, 2014, Pages 8310-8319

Morphology-, synthesis- and doping-independent tuning of ZnO work function using phenylphosphonates

(6) Kedem, Nir a Blumstengel, Sylke b Henneberger, Fritz b Cohen, Hagai a Hodes, Gary a Cahen, David a

a WEIZMANN INSTITUTE OF SCIENCE (Israel)

b HUMBOLDT UNIVERSITY (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84898487318 PISSN: 14639076 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1039/c3cp55083d Document Type: Article

Times cited : (37)

References (77)

1
- 60349091512
- S.-H. K. Park C.-S. Hwang M. Ryu S. Yang C. Byun J. Shin J.-I. Lee K. Lee M. S. Oh S. Im Adv. Mater. 2009 21 678 682
- (2009) Adv. Mater. , vol.21 , pp. 678-682
- Park, S.-H.K.¹ Hwang, C.-S.² Ryu, M.³ Yang, S.⁴ Byun, C.⁵ Shin, J.⁶ Lee, J.-I.⁷ Lee, K.⁸ Oh, M.S.⁹ Im, S.¹⁰

2
- 64849085139
- S. D. Theiss, P. F. Baude, M. Bench, K. Everaerts, M. E. Griffin, M. Haase, D. J. McClure, T. Pechacek, D. Redinger, T. Lynch, B. Schreiber and J. Tokie, in Device Research Conference 2008, 2008, pp. 233-236
- (2008) Device Research Conference 2008 , pp. 233-236
- Theiss, S.D.¹ Baude, P.F.² Bench, M.³ Everaerts, K.⁴ Griffin, M.E.⁵ Haase, M.⁶ McClure, D.J.⁷ Pechacek, T.⁸ Redinger, D.⁹ Lynch, T.¹⁰ Schreiber, B.¹¹ Tokie, J.¹²

3
- 56549102107
- T. Hirao M. Furuta T. Hiramatsu T. Matsuda C. Li H. Furuta H. Hokari M. Yoshida H. Ishii M. Kakegawa IEEE Trans. Electron Devices 2008 55 3136 3142
- (2008) IEEE Trans. Electron Devices , vol.55 , pp. 3136-3142
- Hirao, T.¹ Furuta, M.² Hiramatsu, T.³ Matsuda, T.⁴ Li, C.⁵ Furuta, H.⁶ Hokari, H.⁷ Yoshida, M.⁸ Ishii, H.⁹ Kakegawa, M.¹⁰

4
- 42249114488
- I. Repins M. A. Contreras B. Egaas C. DeHart J. Scharf C. L. Perkins B. To R. Noufi Prog. Photovoltaics 2008 16 235 239
- (2008) Prog. Photovoltaics , vol.16 , pp. 235-239
- Repins, I.¹ Contreras, M.A.² Egaas, B.³ Dehart, C.⁴ Scharf, J.⁵ Perkins, C.L.⁶ To, B.⁷ Noufi, R.⁸

5
- 34249704076
- J.-J. Wu G.-R. Chen H.-H. Yang C.-H. Ku J.-Y. Lai Appl. Phys. Lett. 2007 90 213109
- (2007) Appl. Phys. Lett. , vol.90 , pp. 213109
- Wu, J.-J.¹ Chen, G.-R.² Yang, H.-H.³ Ku, C.-H.⁴ Lai, J.-Y.⁵

6
- 34548413211
- C.-H. Ku J.-J. Wu Appl. Phys. Lett. 2007 91 093117
- (2007) Appl. Phys. Lett. , vol.91 , pp. 093117
- Ku, C.-H.¹ Wu, J.-J.²

7
- 34547366035
- C. Y. Jiang X. W. Sun G.-Q. Lo D.-L. Kwong J. X. Wang Appl. Phys. Lett. 2007 90 263501
- (2007) Appl. Phys. Lett. , vol.90 , pp. 263501
- Jiang, C.Y.¹ Sun, X.W.² Lo, G.-Q.³ Kwong, D.-L.⁴ Wang, J.X.⁵

8
- 33749493587
- M. S. White D. C. Olson S. E. Shaheen N. Kopidakis D. S. Ginley Appl. Phys. Lett. 2006 89 143517
- (2006) Appl. Phys. Lett. , vol.89 , pp. 143517
- White, M.S.¹ Olson, D.C.² Shaheen, S.E.³ Kopidakis, N.⁴ Ginley, D.S.⁵

9
- 44049102383
- H.-L. Yip S. K. Hau N. S. Baek A. K.-Y. Jen Appl. Phys. Lett. 2008 92 193313
- (2008) Appl. Phys. Lett. , vol.92 , pp. 193313
- Yip, H.-L.¹ Hau, S.K.² Baek, N.S.³ Jen, A.K.-Y.⁴

10
- 0037323096
- S. Masuda K. Kitamura Y. Okumura S. Miyatake H. Tabata T. Kawai J. Appl. Phys. 2003 93 1624 1630
- (2003) J. Appl. Phys. , vol.93 , pp. 1624-1630
- Masuda, S.¹ Kitamura, K.² Okumura, Y.³ Miyatake, S.⁴ Tabata, H.⁵ Kawai, T.⁶

11
- 0037450269
- P. F. Carcia R. S. McLean M. H. Reilly G. Nunes Appl. Phys. Lett. 2003 82 1117 1119
- (2003) Appl. Phys. Lett. , vol.82 , pp. 1117-1119
- Carcia, P.F.¹ McLean, R.S.² Reilly, M.H.³ Nunes, G.⁴

12
- 51849127362
- J. Zhu H. Chen G. Saraf Z. Duan Y. Lu S. T. Hsu J. Electron. Mater. 2008 37 1237 1240
- (2008) J. Electron. Mater. , vol.37 , pp. 1237-1240
- Zhu, J.¹ Chen, H.² Saraf, G.³ Duan, Z.⁴ Lu, Y.⁵ Hsu, S.T.⁶

13
- 20944436871
- D.-K. Hwang S.-H. Kang J.-H. Lim E.-J. Yang J.-Y. Oh J.-H. Yang S.-J. Park Appl. Phys. Lett. 2005 86 222101
- (2005) Appl. Phys. Lett. , vol.86 , pp. 222101
- Hwang, D.-K.¹ Kang, S.-H.² Lim, J.-H.³ Yang, E.-J.⁴ Oh, J.-Y.⁵ Yang, J.-H.⁶ Park, S.-J.⁷

14
- 33750513795
- J.-H. Lim C.-K. Kang K.-K. Kim I.-K. Park D.-K. Hwang S.-J. Park Adv. Mater. 2006 18 2720 2724
- (2006) Adv. Mater. , vol.18 , pp. 2720-2724
- Lim, J.-H.¹ Kang, C.-K.² Kim, K.-K.³ Park, I.-K.⁴ Hwang, D.-K.⁵ Park, S.-J.⁶

15
- 0034188374
- B. J. Jin S. Im S. Y. Lee Thin Solid Films 2000 366 107 110
- (2000) Thin Solid Films , vol.366 , pp. 107-110
- Jin, B.J.¹ Im, S.² Lee, S.Y.³

16
- 33646433759
- W. Z. Xu Z. Z. Ye Y. J. Zeng L. P. Zhu B. H. Zhao L. Jiang J. G. Lu H. P. He S. B. Zhang Appl. Phys. Lett. 2006 88 173506
- (2006) Appl. Phys. Lett. , vol.88 , pp. 173506
- Xu, W.Z.¹ Ye, Z.Z.² Zeng, Y.J.³ Zhu, L.P.⁴ Zhao, B.H.⁵ Jiang, L.⁶ Lu, J.G.⁷ He, H.P.⁸ Zhang, S.B.⁹

17
- 0142109458
- Z. K. Tang G. K. L. Wong P. Yu M. Kawasaki A. Ohtomo H. Koinuma Y. Segawa Appl. Phys. Lett. 1998 72 3270 3272
- (1998) Appl. Phys. Lett. , vol.72 , pp. 3270-3272
- Tang, Z.K.¹ Wong, G.K.L.² Yu, P.³ Kawasaki, M.⁴ Ohtomo, A.⁵ Koinuma, H.⁶ Segawa, Y.⁷

18
- 0002896238
- F. H. Nicoll Appl. Phys. Lett. 2004 9 13 15
- (2004) Appl. Phys. Lett. , vol.9 , pp. 13-15
- Nicoll, F.H.¹

19
- 0000151533
- T. Makino Y. Segawa M. Kawasaki A. Ohtomo R. Shiroki K. Tamura T. Yasuda H. Koinuma Appl. Phys. Lett. 2001 78 1237 1239
- (2001) Appl. Phys. Lett. , vol.78 , pp. 1237-1239
- Makino, T.¹ Segawa, Y.² Kawasaki, M.³ Ohtomo, A.⁴ Shiroki, R.⁵ Tamura, K.⁶ Yasuda, T.⁷ Koinuma, H.⁸

20
- 22944444544
- S. T. Tan B. J. Chen X. W. Sun W. J. Fan H. S. Kwok X. H. Zhang S. J. Chua J. Appl. Phys. 2005 98 013505
- (2005) J. Appl. Phys. , vol.98 , pp. 013505
- Tan, S.T.¹ Chen, B.J.² Sun, X.W.³ Fan, W.J.⁴ Kwok, H.S.⁵ Zhang, X.H.⁶ Chua, S.J.⁷

21
- 0001106216
- V. Srikant D. R. Clarke J. Appl. Phys. 1998 83 5447 5451
- (1998) J. Appl. Phys. , vol.83 , pp. 5447-5451
- Srikant, V.¹ Clarke, D.R.²

22
- 0035827304
- M. H. Huang S. Mao H. Feick H. Yan Y. Wu H. Kind E. Weber R. Russo P. Yang Science 2001 292 1897 1899
- (2001) Science , vol.292 , pp. 1897-1899
- Huang, M.H.¹ Mao, S.² Feick, H.³ Yan, H.⁴ Wu, Y.⁵ Kind, H.⁶ Weber, E.⁷ Russo, R.⁸ Yang, P.⁹

23
- 0001146732
- M. Izaki T. Omi Appl. Phys. Lett. 1996 68 2439 2440
- (1996) Appl. Phys. Lett. , vol.68 , pp. 2439-2440
- Izaki, M.¹ Omi, T.²

24
- 70350099328
- M. D. McCluskey S. J. Jokela J. Appl. Phys. 2009 106 071101
- (2009) J. Appl. Phys. , vol.106 , pp. 071101
- McCluskey, M.D.¹ Jokela, S.J.²

25
- 35148897661
- A. Janotti C. G. Van de Walle Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2007 76 165202
- (2007) Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. , vol.76 , pp. 165202
- Janotti, A.¹ Van De Walle, C.G.²

26
- 84864437272
- H. Kaftelen K. Ocakoglu R. Thomann S. Tu S. Weber E. Erdem Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2012 86 014113
- (2012) Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. , vol.86 , pp. 014113
- Kaftelen, H.¹ Ocakoglu, K.² Thomann, R.³ Tu, S.⁴ Weber, S.⁵ Erdem, E.⁶

27
- 0010059052
- S. B. Zhang S.-H. Wei A. Zunger Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2001 63 075205
- (2001) Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. , vol.63 , pp. 075205
- Zhang, S.B.¹ Wei, S.-H.² Zunger, A.³

28
- 84863314907
- S. K. S. Parashar B. S. Murty S. Repp S. Weber E. Erdem J. Appl. Phys. 2012 111 113712
- (2012) J. Appl. Phys. , vol.111 , pp. 113712
- Parashar, S.K.S.¹ Murty, B.S.² Repp, S.³ Weber, S.⁴ Erdem, E.⁵

29
- 28344453533
- A. Janotti C. G. V. de Walle Appl. Phys. Lett. 2005 87 122102
- (2005) Appl. Phys. Lett. , vol.87 , pp. 122102
- Janotti, A.¹ De Walle, C.G.V.²

30
- 84871722338
- V. P. Singh D. Das C. Rath Mater. Res. Bull. 2013 48 682 686
- (2013) Mater. Res. Bull. , vol.48 , pp. 682-686
- Singh, V.P.¹ Das, D.² Rath, C.³

31
- 18244430368
- C. G. Van de Walle Phys. Rev. Lett. 2000 85 1012 1015
- (2000) Phys. Rev. Lett. , vol.85 , pp. 1012-1015
- Van De Walle, C.G.¹

32
- 0037185576
- D. M. Hofmann A. Hofstaetter F. Leiter H. Zhou F. Henecker B. K. Meyer S. B. Orlinskii J. Schmidt P. G. Baranov Phys. Rev. Lett. 2002 88 045504
- (2002) Phys. Rev. Lett. , vol.88 , pp. 045504
- Hofmann, D.M.¹ Hofstaetter, A.² Leiter, F.³ Zhou, H.⁴ Henecker, F.⁵ Meyer, B.K.⁶ Orlinskii, S.B.⁷ Schmidt, J.⁸ Baranov, P.G.⁹

33
- 77957705863
- N. Kedem E. Edri M. Kokotov H. Cohen T. Bendikov R. Popovitz-Biro P. von Huth D. Ginley G. Hodes Cryst. Growth Des. 2010 10 4442 4448
- (2010) Cryst. Growth Des. , vol.10 , pp. 4442-4448
- Kedem, N.¹ Edri, E.² Kokotov, M.³ Cohen, H.⁴ Bendikov, T.⁵ Popovitz-Biro, R.⁶ Von Huth, P.⁷ Ginley, D.⁸ Hodes, G.⁹

34
- 84881438334
- S. Das K. Dutta A. Pramanik CrystEngComm 2013 15 6349 6358
- (2013) CrystEngComm , vol.15 , pp. 6349-6358
- Das, S.¹ Dutta, K.² Pramanik, A.³

35
- 77956455482
- L. Znaidi Mater. Sci. Eng., B 2010 174 18 30
- (2010) Mater. Sci. Eng., B , vol.174 , pp. 18-30
- Znaidi, L.¹

36
- 84864750140
- M. Podlogar J. J. Richardson D. Vengust N. Daneu Z. Samardžija S. Bernik A. Rečnik Adv. Funct. Mater. 2012 22 3136 3145
- (2012) Adv. Funct. Mater. , vol.22 , pp. 3136-3145
- Podlogar, M.¹ Richardson, J.J.² Vengust, D.³ Daneu, N.⁴ Samardžija, Z.⁵ Bernik, S.⁶ Rečnik, A.⁷

37
- 0036647871
- J. W. Elam Z. A. Sechrist S. M. George Thin Solid Films 2002 414 43 55
- (2002) Thin Solid Films , vol.414 , pp. 43-55
- Elam, J.W.¹ Sechrist, Z.A.² George, S.M.³

38
- 0037465334
- J. W. Elam S. M. George Chem. Mater. 2003 15 1020 1028
- (2003) Chem. Mater. , vol.15 , pp. 1020-1028
- Elam, J.W.¹ George, S.M.²

39
- 24644513088
- S. Sadofev S. Blumstengel J. Cui J. Puls S. Rogaschewski P. Schäfer Y. G. Sadofyev F. Henneberger Appl. Phys. Lett. 2005 87 091903
- (2005) Appl. Phys. Lett. , vol.87 , pp. 091903
- Sadofev, S.¹ Blumstengel, S.² Cui, J.³ Puls, J.⁴ Rogaschewski, S.⁵ Schäfer, P.⁶ Sadofyev, Y.G.⁷ Henneberger, F.⁸

40
- 81755171302
- Y. Itzhaik G. Hodes H. Cohen J. Phys. Chem. Lett. 2011 2 2872 2876
- (2011) J. Phys. Chem. Lett. , vol.2 , pp. 2872-2876
- Itzhaik, Y.¹ Hodes, G.² Cohen, H.³

41
- 84863407173
- P. J. Hotchkiss S. C. Jones S. A. Paniagua A. Sharma B. Kippelen N. R. Armstrong S. R. Marder Acc. Chem. Res. 2012 45 337 346
- (2012) Acc. Chem. Res. , vol.45 , pp. 337-346
- Hotchkiss, P.J.¹ Jones, S.C.² Paniagua, S.A.³ Sharma, A.⁴ Kippelen, B.⁵ Armstrong, N.R.⁶ Marder, S.R.⁷

42
- 33746501950
- S. E. Koh K. D. McDonald D. H. Holt C. S. Dulcey J. A. Chaney P. E. Pehrsson Langmuir 2006 22 6249 6255
- (2006) Langmuir , vol.22 , pp. 6249-6255
- Koh, S.E.¹ McDonald, K.D.² Holt, D.H.³ Dulcey, C.S.⁴ Chaney, J.A.⁵ Pehrsson, P.E.⁶

43
- 84859948446
- Y. Zhou C. Fuentes-Hernandez J. Shim J. Meyer A. J. Giordano H. Li P. Winget T. Papadopoulos H. Cheun J. Kim M. Fenoll A. Dindar W. Haske E. Najafabadi T. M. Khan H. Sojoudi S. Barlow S. Graham J.-L. Brédas S. R. Marder A. Kahn B. Kippelen Science 2012 336 327 332
- (2012) Science , vol.336 , pp. 327-332
- Zhou, Y.¹ Fuentes-Hernandez, C.² Shim, J.³ Meyer, J.⁴ Giordano, A.J.⁵ Li, H.⁶ Winget, P.⁷ Papadopoulos, T.⁸ Cheun, H.⁹ Kim, J.¹⁰ Fenoll, M.¹¹ Dindar, A.¹² Haske, W.¹³ Najafabadi, E.¹⁴ Khan, T.M.¹⁵ Sojoudi, H.¹⁶ Barlow, S.¹⁷ Graham, S.¹⁸ Brédas, J.-L.¹⁹ Marder, S.R.²⁰ Kahn, A.²¹ Kippelen, B.²² more..

44
- 84877045025
- R. Schlesinger Y. Xu O. T. Hofmann S. Winkler J. Frisch J. Niederhausen A. Vollmer S. Blumstengel F. Henneberger P. Rinke M. Scheffler N. Koch Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2013 87 155311
- (2013) Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. , vol.87 , pp. 155311
- Schlesinger, R.¹ Xu, Y.² Hofmann, O.T.³ Winkler, S.⁴ Frisch, J.⁵ Niederhausen, J.⁶ Vollmer, A.⁷ Blumstengel, S.⁸ Henneberger, F.⁹ Rinke, P.¹⁰ Scheffler, M.¹¹ Koch, N.¹²

45
- 0035834318
- R. T. Tung Mater. Sci. Eng., R 2001 35 1 138
- (2001) Mater. Sci. Eng., R , vol.35 , pp. 1-138
- Tung, R.T.¹

46
- 84898477760
- R. T. Tung Appl. Phys. Rev. 2014 1 011304
- (2014) Appl. Phys. Rev. , vol.1 , pp. 011304
- Tung, R.T.¹

47
- 33744789190
- H. Haick M. Ambrico T. Ligonzo R. T. Tung D. Cahen J. Am. Chem. Soc. 2006 128 6854 6869
- (2006) J. Am. Chem. Soc. , vol.128 , pp. 6854-6869
- Haick, H.¹ Ambrico, M.² Ligonzo, T.³ Tung, R.T.⁴ Cahen, D.⁵

48
- 84885451149
- S. H. Yu B. J. Kim M. S. Kang S. H. Kim J. H. Han J. Y. Lee J. H. Cho ACS Appl. Mater. Interfaces 2013 5 9765 9769
- (2013) ACS Appl. Mater. Interfaces , vol.5 , pp. 9765-9769
- Yu, S.H.¹ Kim, B.J.² Kang, M.S.³ Kim, S.H.⁴ Han, J.H.⁵ Lee, J.Y.⁶ Cho, J.H.⁷

49
- 79951603577
- P. J. Hotchkiss M. Malicki A. J. Giordano N. R. Armstrong S. R. Marder J. Mater. Chem. 2011 21 3107 3112
- (2011) J. Mater. Chem. , vol.21 , pp. 3107-3112
- Hotchkiss, P.J.¹ Malicki, M.² Giordano, A.J.³ Armstrong, N.R.⁴ Marder, S.R.⁵

50
- 84863900692
- J. Chen R. E. Ruther Y. Tan L. M. Bishop R. J. Hamers Langmuir 2012 28 10437 10445
- (2012) Langmuir , vol.28 , pp. 10437-10445
- Chen, J.¹ Ruther, R.E.² Tan, Y.³ Bishop, L.M.⁴ Hamers, R.J.⁵

51
- 34548155057
- A. B. F. Martinson J. W. Elam J. T. Hupp M. J. Pellin Nano Lett. 2007 7 2183 2187
- (2007) Nano Lett. , vol.7 , pp. 2183-2187
- Martinson, A.B.F.¹ Elam, J.W.² Hupp, J.T.³ Pellin, M.J.⁴

52
- 34547316342
- K. S. Leschkies R. Divakar J. Basu E. Enache-Pommer J. E. Boercker C. B. Carter U. R. Kortshagen D. J. Norris E. S. Aydil Nano Lett. 2007 7 1793 1798
- (2007) Nano Lett. , vol.7 , pp. 1793-1798
- Leschkies, K.S.¹ Divakar, R.² Basu, J.³ Enache-Pommer, E.⁴ Boercker, J.E.⁵ Carter, C.B.⁶ Kortshagen, U.R.⁷ Norris, D.J.⁸ Aydil, E.S.⁹

53
- 77955156912
- E. Edri E. Rabinovich O. Niitsoo H. Cohen T. Bendikov G. Hodes J. Phys. Chem. C 2010 114 13092 13097
- (2010) J. Phys. Chem. C , vol.114 , pp. 13092-13097
- Edri, E.¹ Rabinovich, E.² Niitsoo, O.³ Cohen, H.⁴ Bendikov, T.⁵ Hodes, G.⁶

54
- 34249814326
- K. Takanezawa K. Hirota Q.-S. Wei K. Tajima K. Hashimoto J. Phys. Chem. C 2007 111 7218 7223
- (2007) J. Phys. Chem. C , vol.111 , pp. 7218-7223
- Takanezawa, K.¹ Hirota, K.² Wei, Q.-S.³ Tajima, K.⁴ Hashimoto, K.⁵

55
- 28044468222
- D. C. Olson J. Piris R. T. Collins S. E. Shaheen D. S. Ginley Thin Solid Films 2006 496 26 29
- (2006) Thin Solid Films , vol.496 , pp. 26-29
- Olson, D.C.¹ Piris, J.² Collins, R.T.³ Shaheen, S.E.⁴ Ginley, D.S.⁵

56
- 33646460915
- P. Ravirajan A. M. Peiró M. K. Nazeeruddin M. Graetzel D. D. C. Bradley J. R. Durrant J. Nelson J. Phys. Chem. B 2006 110 7635 7639
- (2006) J. Phys. Chem. B , vol.110 , pp. 7635-7639
- Ravirajan, P.¹ Peiró, A.M.² Nazeeruddin, M.K.³ Graetzel, M.⁴ Bradley, D.D.C.⁵ Durrant, J.R.⁶ Nelson, J.⁷

57
- 74849128277
- A. L. Briseno T. W. Holcombe A. I. Boukai E. C. Garnett S. W. Shelton J. J. M. Fréchet P. Yang Nano Lett. 2010 10 334 340
- (2010) Nano Lett. , vol.10 , pp. 334-340
- Briseno, A.L.¹ Holcombe, T.W.² Boukai, A.I.³ Garnett, E.C.⁴ Shelton, S.W.⁵ Fréchet, J.J.M.⁶ Yang, P.⁷

58
- 79953803111
- Y. Sun J. H. Seo C. J. Takacs J. Seifter A. J. Heeger Adv. Mater. 2011 23 1679 1683
- (2011) Adv. Mater. , vol.23 , pp. 1679-1683
- Sun, Y.¹ Seo, J.H.² Takacs, C.J.³ Seifter, J.⁴ Heeger, A.J.⁵

59
- 46049113688
- S. K. Hau H.-L. Yip N. S. Baek J. Zou K. O'Malley A. K.-Y. Jen Appl. Phys. Lett. 2008 92 253301
- (2008) Appl. Phys. Lett. , vol.92 , pp. 253301
- Hau, S.K.¹ Yip, H.-L.² Baek, N.S.³ Zou, J.⁴ O'Malley, K.⁵ Jen, A.K.-Y.⁶

60
- 0036180508
- G. Ashkenasy D. Cahen R. Cohen A. Shanzer A. Vilan Acc. Chem. Res. 2002 35 121 128
- (2002) Acc. Chem. Res. , vol.35 , pp. 121-128
- Ashkenasy, G.¹ Cahen, D.² Cohen, R.³ Shanzer, A.⁴ Vilan, A.⁵

61
- 0035832965
- C. Ganzorig K.-J. Kwak K. Yagi M. Fujihira Appl. Phys. Lett. 2001 79 272 274
- (2001) Appl. Phys. Lett. , vol.79 , pp. 272-274
- Ganzorig, C.¹ Kwak, K.-J.² Yagi, K.³ Fujihira, M.⁴

62
- 67651211404
- M. Shalom S. Rühle I. Hod S. Yahav A. Zaban J. Am. Chem. Soc. 2009 131 9876 9877
- (2009) J. Am. Chem. Soc. , vol.131 , pp. 9876-9877
- Shalom, M.¹ Rühle, S.² Hod, I.³ Yahav, S.⁴ Zaban, A.⁵

63
- 27144539536
- S. Rühle M. Greenshtein S.-G. Chen A. Merson H. Pizem C. S. Sukenik D. Cahen A. Zaban J. Phys. Chem. B 2005 109 18907 18913
- (2005) J. Phys. Chem. B , vol.109 , pp. 18907-18913
- Rühle, S.¹ Greenshtein, M.² Chen, S.-G.³ Merson, A.⁴ Pizem, H.⁵ Sukenik, C.S.⁶ Cahen, D.⁷ Zaban, A.⁸

64
- 0001126804
- K. Chen B. R. Herr E. T. Singewald C. A. Mirkin Langmuir 1992 8 2585 2587
- (1992) Langmuir , vol.8 , pp. 2585-2587
- Chen, K.¹ Herr, B.R.² Singewald, E.T.³ Mirkin, C.A.⁴

65
- 36249027044
- S. Sadofev P. Schäfer Y.-H. Fan S. Blumstengel F. Henneberger D. Schulz D. Klimm Appl. Phys. Lett. 2007 91 201923
- (2007) Appl. Phys. Lett. , vol.91 , pp. 201923
- Sadofev, S.¹ Schäfer, P.² Fan, Y.-H.³ Blumstengel, S.⁴ Henneberger, F.⁵ Schulz, D.⁶ Klimm, D.⁷

66
- 0003828439
- Wiley, New York, 2nd edn
- Practical Surface Analysis: Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, ed., D. Briggs, and, M. P. Seah, Wiley, New York, 2nd edn, 1990
- (1990) Practical Surface Analysis: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy
- Briggs, D.¹ Seah, M.P.²

67
- 0035475857
- L. Kronik Y. Shapira Surf. Interface Anal. 2001 31 954 965
- (2001) Surf. Interface Anal. , vol.31 , pp. 954-965
- Kronik, L.¹ Shapira, Y.²

68
- 0033355063
- L. Kronik Y. Shapira Surf. Sci. Rep. 1999 37 1 206
- (1999) Surf. Sci. Rep. , vol.37 , pp. 1-206
- Kronik, L.¹ Shapira, Y.²

69
- 4243664295
- C. Hansch A. Leo R. W. Taft Chem. Rev. 1991 91 165 195
- (1991) Chem. Rev. , vol.91 , pp. 165-195
- Hansch, C.¹ Leo, A.² Taft, R.W.³

70
- 0002242734
- J. Topping Proc. R. Soc. London, Ser. A 1927 114 67 72
- (1927) Proc. R. Soc. London, Ser. A , vol.114 , pp. 67-72
- Topping, J.¹

71
- 0037462126
- O. Gershevitz C. N. Sukenik J. Ghabboun D. Cahen J. Am. Chem. Soc. 2003 125 4730 4731
- (2003) J. Am. Chem. Soc. , vol.125 , pp. 4730-4731
- Gershevitz, O.¹ Sukenik, C.N.² Ghabboun, J.³ Cahen, D.⁴

72
- 12344257046
- J. Goldberger D. J. Sirbuly M. Law P. Yang J. Phys. Chem. B 2005 109 9 14
- (2005) J. Phys. Chem. B , vol.109 , pp. 9-14
- Goldberger, J.¹ Sirbuly, D.J.² Law, M.³ Yang, P.⁴

73
- 84873293596
- S. R. A. Raza Y. T. Lee Y.-G. Chang P. J. Jeon J. H. Kim R. Ha H.-J. Choi S. Im Phys. Chem. Chem. Phys. 2013 15 2660 2664
- (2013) Phys. Chem. Chem. Phys. , vol.15 , pp. 2660-2664
- Raza, S.R.A.¹ Lee, Y.T.² Chang, Y.-G.³ Jeon, P.J.⁴ Kim, J.H.⁵ Ha, R.⁶ Choi, H.-J.⁷ Im, S.⁸

74
- 11344290288
- H. Haick M. Ambrico T. Ligonzo D. Cahen Adv. Mater. 2004 16 2145 2151
- (2004) Adv. Mater. , vol.16 , pp. 2145-2151
- Haick, H.¹ Ambrico, M.² Ligonzo, T.³ Cahen, D.⁴

75
- 33846393216
- N. Filip-Granit M. E. van der Boom R. Yerushalmi A. Scherz H. Cohen Nano Lett. 2006 6 2848 2851
- (2006) Nano Lett. , vol.6 , pp. 2848-2851
- Filip-Granit, N.¹ Van Der Boom, M.E.² Yerushalmi, R.³ Scherz, A.⁴ Cohen, H.⁵

76
- 84887171169
- O. Yaffe S. Pujari O. Sinai A. Vilan H. Zuilhof A. Kahn L. Kronik H. Cohen D. Cahen J. Phys. Chem. C 2013 117 22422 22427
- (2013) J. Phys. Chem. C , vol.117 , pp. 22422-22427
- Yaffe, O.¹ Pujari, S.² Sinai, O.³ Vilan, A.⁴ Zuilhof, H.⁵ Kahn, A.⁶ Kronik, L.⁷ Cohen, H.⁸ Cahen, D.⁹

77
- 0003708256
- Physical Electronics Division, Perkin-Elmer Corporation
- J. F. Moulder, J. Chastain and R. C. King, Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy - a reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data, Physical Electronics Division, Perkin-Elmer Corporation, 1995
- (1995) Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy - A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data
- Moulder, J.F.¹ Chastain, J.² King, R.C.³

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.