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Journal of Materials Chemistry

Volumn 21, Issue 9, 2011, Pages 3107-3112

Characterization of phosphonic acid binding to zinc oxide

(5) Hotchkiss, Peter J a Malicki, Michał a Giordano, Anthony J a Armstrong, Neal R b Marder, Seth R a

a GEORGIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY (United States)

b The University of Arizona (United States)

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AFM; ALKYL CHAIN; ALKYLPHOSPHONIC ACIDS; INFRARED REFLECTION ABSORPTION SPECTROSCOPY; MULTILAYER FORMATION; OCTADECYLPHOSPHONIC ACIDS; OXYGEN PLASMAS; PHOSPHONIC ACIDS; RADIO FREQUENCIES; REACTIVE OXYGEN SPECIES; ROBUST BINDING; SURFACE COVERAGES; SURFACE MODIFICATION; XPS ANALYSIS; ZNO; ZNO SUBSTRATE; ZNO SURFACE;

ALKYLATION; ANGLE MEASUREMENT; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ATOMIC SPECTROSCOPY; CONTACT ANGLE; MONOLAYERS; ORGANIC ACIDS; OXIDE FILMS; OXYGEN; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; ZINC; ZINC OXIDE;

ABSORPTION SPECTROSCOPY;

EID: 79951603577 PISSN: 09599428 EISSN: 13645501 Source Type: Journal
DOI: 10.1039/c0jm02829k Document Type: Article

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