Internal quantum efficiency of photoluminescence in wide-bandgap semiconductors

Photoluminescence: Applications, Types and Efficacy

Volumn , Issue , 2012, Pages 55-118

  Reshchikov, Michael A ^a  

^a VIRGINIA COMMONWEALTH UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84892008426     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: None     Document Type: Chapter

References (67)

1. Krames, M. R.; Shchekin, O. B.; Mueller-Mach, R.; Mueller, G. O.; Zhou, L.; Harbers, G.; and Craford, M. G. J. of Display Technol. 2007, 3, 160-175.
2. Narukawa Y.; Ichikawa M.; Sanga D.; Sano M.; and Mukai T. J. Phys. D: Appl. Phys. 2010, 43, 354002.
3. Zhao, Y.; Sonoda, J.; Pan, C.-C.; Brinkley, S.; Koslow, I.; Fujito, K.; Ohta, H.; DenBaars, S. P.; and Nakamura, S. Appl. Phys. Express 2010, 3, 102101.
4. Reshchikov M. A. and Morkoç, H. J. Appl. Phys. 2005, 97, 061301.
5. Muth, J. F.; Lee, J. H.; Shmagin, I. K.; Kolbas, R. M.; Casey, H. C. Jr; Keller, B. P.; Mishra, U. K.; and Den-Baars, S. P. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 2572-2574.
6. Reshchikov, M. A.; Kvasov, A.; McMullen, T.; Bishop, M. F.; Usikov, A.; Soukhoveev, V.; and Dmitriev, V. A. Phys. Rev. B 2011, 84, 075212.
7. Reshchikov, M. A.; Gu, X.; Nause, J.; and Morkoç, H. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2006, 892, FF23.11.
8. Brandt, O.; Ringling, J.; Ploog, K.; Wünsche, H. J.; and Henneberger, F. Phys. Rev. B 1998, 58, 15977-15980.
9. Chichibu, S. F.; Uedono, A.; Tsukazaki, A.; Onuma, T.; Zamfirescu, M.; Ohtomo, A.; Kavokin, A.; Cantwell, G.; Litton, C. W.; Sota, T.; and Kawasaki, M. Semicond. Sci. Technol. 2005, 20, 67-77.
10. Stoneham, A. M. Theory of Defects in Solids, Clarendon Press, Oxford, 1975.
11. Hall, R. N. Phys. Rev. 1951, 83, 228.
12. Shockley W. and Read, J. W. T. Phys. Rev. 1952, 87, 835-842.
13. Abakumov, V. N.; Perel, V. I.; and Yassievich, I. N. Nonradiative Recombination in Semiconductors, Elsevier, Amsterdam, 1991.
14. Korotkov, R. Y.; Reshchikov, M. A.; and Wessels, B. W. Physica B 2003, 325, 1-7.
15. Sturge, M. D.; Cohen, E.; and Rodgers, K. F. Phys. Rev. B 1977, 15, 3169-3179.
16. Dhar, S.; Jahn, U.; Brandt, O.; Waltereit, P.; and Ploog, K. H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 673-675.
17. Dmitriev A. and Oruzheinikov A. J. Appl. Phys. 1999, 86, 3241-3246.
18. Im, J. S.; Moritz, A.; Steuber, F.; Härle, V.; Scholz, F.; and Hangleiter, A. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 631.
19. Reshchikov M. A. and Korotkov, R. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 115205.
20. Reshchikov, M. A. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 202104.
21. Dai, Q.; Schubert, M. F.; Kim, M. H.; Kim, J. K.; Schubert, E. F.; Koleske, D. D.; Crawford, M. H.; Lee, S. R.; Fischer, A. J.; Thaler, G.; and Banas, M. A. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 11109.
22. Brandt, O.; Yang, H.; and Ploog, K. H. Phys. Rev. B 1996, 54, 5215-5218.
23. In literature this factor is often denoted with the letter B.
24. Brandt, O.; Wünsche, H. J.; Yang, H.; Klann, R.; Müllhäuser, J. R.; and Ploog, K. J. Cryst. Growth 1998, 189/190, 790-793.
25. Malinauskas, T.; Jarašiūnas, K.; Aleksiejunas, R.; Gogova, D.; Monemar, B.; Beamont, B.; and Gibart, P. Phys. Stat. Sol. (b) 2006, 243, 1426-1430.
26. Park, S. S.; Park, I.-W.; and Choh, S. H. Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 2000, 39, L1141.
27. Look D. C. and Sizelove, J. R. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1133-1135.
28. Zhong, Y.; Wong, K. S.; Zhang, W.; and Look, D. C. Appl. Phys, Lett. 2006, 89, 022108.
29. Özgür, Ü.; Fu, Y.; Moon, Y. T.; Yun, F.; Morkoç, H.; Everitt, H. O.; Park, S. S.; and Lee, K. Y. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 232106.
30. Reshchikov, M. A.; Morkoç, H.; Park, S. S.; and Lee, K. Y. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4970-4972.
31. Reshchikov, M. A. Phys. Stat. Sol. (c) 2011, 8, 2136-2138.
32. Reshchikov, M. A.; Morkoç, H.; Park, S. S.; and Lee, K. Y. Physica B 2003, 340-342, 448-451.
33. Monemar, B.; Paskov, P. P.; Bergman, J. P.; Toropov, A. A.; Shubina, T. V.; Malinauskas, T.; and Usui, A. Phys. Stat. Sol.(b) 2008, 245, 1723-1740.
34. Reshchikov, M. A.; Willyard, A. G.; Behrends, A.; Bakin, A.; and Waag, A. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 171110.
35. Reshchikov, M. A.; Morkoç, H.; Nemeth, B.; Nause, J.; Xie, J.; Hertog, B.; and Osinsky, A. Physica B 2007, 401-402, 358-361.
36. Reshchikov, M. A.; Moon, Y. T.; Gu, X.; Nemeth, B.; Nause, J.; and Morkoç, H. Physica B 2006, 376-377, 715-718.
37. Zwingel, D. J. Luminescence 1972, 5, 385-405.
38. Meyer, B. K.; Hofstaetter, A.; and Laguta, V. V. Physica B 2006, 376-377, 682-685.
39. Schirmer, O. F. J. Phys. Chem. Solids 1968, 29, 1407-1429.
40. Reshchikov, M. A. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2008, 1035, L11-15.
41. Reshchikov, M. A.; Foussekis, M.; and Baski, A. A. J. Appl. Phys. 2010, 107, 113535.
42. Ryu, H. Y.; Ha, K. H.; Chae, J. H.; Kim, K. S.; Son, J. S.; Nam, O. H.; Park, Y. J.; and Shim, J. I. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 171106.
43. Ni, X.; Lee, J.; Wu, M.; Li, X.; Shimada, R.; Özgür, Ü.; Baski, A. A.; Morkoç, H.; Paskova, T.; Mulholland, G.; and Evans, K. R. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 101106.
44. Yoshida, H.; Kuwabara, M.; Yamashita, Y.; Uchiyama, K.; and Kan, H. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 211122.
45. Li, X.; Liu, H.; Ni, X.; Özgür, Ü.; and Morkoç, H. Superlattices and Microstructures. 2010, 47, 118-122.
46. Shen, Y. C.; Mueller, G. O.; Watanabe, S.; Gardner, N. F.; Munkholm, A.; and Krames, M. R. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 141101.
47. Schmidt, T.; Lischka, K.; and Zulehner, W. Phys. Rev. B 1992, 45, 8989-8994.
48. Chang, S.; Rex, N. B.; and Chang, R. K. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 166-168.
49. Juršėnas, S.; Kurilčik, G.; Tamulaitis, G.; Žukauskas, A.; Gaska, R.; Shur, M. S.; Khan, M. A.; and Yang, J. W. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2388-2390.
50. Kuokstis, E.; Chen, C. Q.; Gaevski, M. E.; Sun, W. H.; Yang, J. W.; Simin, G.; Khan, M. A.; Maruska, H. P.; Hill, D. W.; Chou, M. C.; Gallagher, J. J.; and Chai, B. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4130-4132.
51. Lee, J.; Giles, N. C.; Rajavel, D.; and Summers, C. J. Phys. Rev. B 1994, 49, 1668-1676.
52. The electrical properties of this sample were provided by D. C. Look and Z.-C. Fang (Wright State University).
53. Watanabe, S.; Yamada, N.; Nagashima, M.; Ueki, Y.; Sasaki, C.; Yamada, Y.; Taguchi, T.; Tadatomo, K.; Okagawa, H.; and Kudo, H. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 4906-4908.
54. Kwon, M.-K.; Kim, J.-Y.; Park, I.-K.; Kim, K. S.; Jung, G.-Y.; Park, S.-J.; Kim, J. W.; and Kim, Y. C. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 251110.
55. Zhu, D.; McAleese, C.; Häberlen, M.; Salcianu, C.; Thrush, T.; Kappers, M.; Phillips, A.; Lane, P.; Kane, M.; Wallis, D.; Martin, T.; Astles, M.; Hylton, N.; Dawson, P.; and Humphreys, C. J. Appl. Phys. 2011, 109, 014502.
56. Graham, D. M.; Dawson, P.; Chabrol, G. R.; Hylton, N. P.; Zhu, D.; Kappers, M.; McAleese, C.; and Humphreys, C. J. Appl. Phys. 2007, 101, 033516.
57. Fuhrmann, D.; Rossow, U.; Netzel, C.; Bremers, H.; Ade, G.; Hinze, P.; and Hangleiter, A. Phys. Stat. Sol. (c) 2006, 3, 1966-1969.
58. Chichibu, S. F.; Onuma, T.; Kubota, M.; Uedono, A.; Sota, T.; Tsukazaki, A.; Ohtomo, A.; and Kawasaki, M. J. Appl. Phys. 2006, 99, 093505.
59. Kawakami, Y.; Omae, K.; Kaneta, A.; Okamoto, K.; Izumi, T.; Saijou, S.; Inoue, K.; Narukawa, Y.; Mukai, T.; and Fujita, S. Phys. Stat. Sol. (a) 2001, 183, 41-50.
60. Lee, Y.-J.; Chiu, C.-H.; Ke, C. C.; Lin, P. C.; Lu, T.-C.; Kuo, H.-C.; and Wang, S.-C. IEEE J. of Selected Topics in Quantum Electronics 2009, 15, 1137-1143.
61. Pozina, G.; Bergman, J. P.; Paskova, T.; and Monemar, B. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 4124-4126.
62. Kawakami, Y.; Peng, Z. G.; Narukawa, Y.; Fujita, S.; Fujita, S.; and Nakamura, S. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 1414-1416.
63. Malinauskas, T.; Jarašiūnas, K.; Miasojedovas, S.; Juršenas, S.; Beamont, B.; and Gibart, P. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 202109.
64. Albers, W. A.,Jr. Phys. Rev. Lett. 1969, 23, 410-413.
65. Jin S.; and Li A. J. Appl. Phys. 1997, 81, 7357-7361.
66. Jarašiūnas, K. Nonlinear optical characterization of photoelectrical properties of wide bandgap semiconductors by time-resolved four-wave mixing technique, in "Wide Band Gap Materials and New Developments", Ed. M. Syväjärvi and R. Yakimova, Research Signpost, Kerala, India (2006). ISBN: 81-308-0092-6.
67. Ščajev, P.; Usikov, A.; Soukhoveev, V.; Aleksiejūnas, R.; and Jarašiūnas, K. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 202105.