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Nanoscale

Volumn 5, Issue 24, 2013, Pages 12532-12541

Quantitative in situ TEM tensile fatigue testing on nanocrystalline metallic ultrathin films

(2) Hosseinian, Ehsan a Pierron, Olivier N a

a GEORGIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY (United States)

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CONTINUOUS TRACKING; HIGH MAGNIFICATIONS; IN SITU TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM); MECHANICAL RESPONSE; MICRO ELECTROMECHANICAL SYSTEM (MEMS); MICRO-STRUCTURAL OBSERVATIONS; NANOCRYSTALLINES; NANOMECHANICAL TESTS;

FATIGUE DAMAGE; FATIGUE TESTING; IN SITU PROCESSING; MEMS; MICROELECTROMECHANICAL DEVICES; TENSILE TESTING; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

ULTRATHIN FILMS;

EID: 84888332053 PISSN: 20403364 EISSN: 20403372 Source Type: Journal
DOI: 10.1039/c3nr04035f Document Type: Article

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