Photoemission microscopy studies of quantum dots and rings

Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics

Volumn 6, Issue 1, 2011, Pages 20-33

  Biasiol, Giorgio ^a   Heun, Stefan ^b   Sorba, Lucia ^b  

^a LABORATORIO TASC   (Italy)

^b SCUOLA NORMALE SUPERIORE   (Italy)

Author keywords

Composition; LEEM; PEEM; Quantum dots; Quantum rings

Indexed keywords

COMPOSITION; LEEM; PEEM; QUANTUM DOTS; QUANTUM RINGS;

NANORINGS; PHOTOEMISSION;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 79956088395     PISSN: 1555130X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/jno.2011.1130     Document Type: Review

References (76)

1. V. M. Ustinov, A. E. Zhukov, A. Y. Egorov, and N. A. Maleev, Quantum Dot Lasers, Oxford University Press, Oxford (2003).
2. A. Marti, E. Antolin, C. R. Stanley, C. D. Farmer, N. Lopez, P. Diaz, E. Canovas, P. G. Linares, and A. Luque, Phys. Rev. Lett. 97, 247701 (2006).
3. S. A. McDonald, G. Konstantatos, S. Zhang, P. W. Cyr, E. J. D. Klem, L. Levina, and E. H. Sargent, Nat. Mater. 4, 138 (2005).
4. A. J. Nozik, Physica E 14, 115 (2002).
5. T. F. Krauss, Science 308, 1122 (2005).
6. P. M. Petroff and S. P. DenBaars, Superlattices Microstruct 15, 15 (1994).
7. J. M. Garcìa, G. Medeiros-Ribeiro, K. Schmidt, T. Ngo, J. L. Feng, A. Lorke, J. Kotthaus, and P. M. Petroff, Appl. Phys. Lett. 71, 2014 (1997).
8. N. A. J. M. Kleemans, I. M. A. Bominaar-Silkens, V. M. Fomin, V. N. Gladilin, D. Granados, A. G. Taboada, J. M. Garcia, P. Offermans, U. Zeitler, P. C. M. Christianen, J. C. Maan, J. T. Devreese, and P. M. Koenraad, Phys. Rev. Lett. 99, 146808 (2007).
9. A. Lorke, R. Johannes Luyken, A. O. Govorov, J. P. Kotthaus, J. M. Garcia, and P. M. Petroff, Phys. Rev. Lett. 84, 2223 (2000).
10. J. Stangl, V. Holy, and G. Bauer, Rev. Mod. Phys. 76, 725 (2004).
11. N. Liu, J. Tersoff, O. Baklenov, A. L. Holmes, Jr., and C. K. Shin, Phys. Rev. Lett. 84, 334 (2000).
12. G. Biasiol and S. Heun, Phys. Rep. (in press), doi:10.1016/j.physrep. 2010.12.001.
13. A. Rosenauer, W. Oberst, D. Litvinov, D. Gerthsen, A. Förster, and R. Schmidt, Phys. Rev. B 61, 8276 (2000).
14. T. Walther, A. G. Cullis, D. J. Norris, and M. Hopkinson, Phys. Rev. Lett. 86, 2381 (2001).
15. D. M. Bruls, J. W. A. M. Vugs, P. M. Koenraad, H. W. M. Salemink, J. H. Wolter, M. Hopkinson, M. S. Skolnick, F. Long, and S. P. A. Gill, Appl. Phys. Lett. 81, 1708 (2002).
16. T. Wiebach, M. Schmidbauer, M. Hanke, H. Raidt, R. Köhler, and H. Wawra, Phys. Rev. B 61, 5571 (2000).
17. J. Stangl, A. Hesse, V. Holý, Z. Zhong, G. Bauer, U. Denker, and O. G. Schmidt, Appl. Phys. Lett. 82, 2251 (2003).
18. I. Kegel, T. H. Metzger, A. Lorke, J. Peisl, J. Stangl, G. Bauer, K. Nordlund, W. V. Schoenfeld, and P. M. Petroff, Phys. Rev. B 63, 035318 (2001).
19. M. Sztucki, T. H. Metzger, V. Chamard, A. Hesse, and V. Holy, J. Appl. Phys. 99, 033519 (2006).
20. J. M. Moison, C. Guille, F. Houzay, F. Barthe, and M. V. Rompay, Phys. Rev. B 40, 6149 (1989).
21. M. Larive, J. Nagle, J. P. Landesman, X. Marcadet, C. Mottet, and P. Bois, J. Vac. Sci. Technol.. B 11, 1413 (1993).
22. J. M. Gerard, Appl. Phys. Lett. 61, 2096 (1992).
23. S. Gunther, B. Kaulich, L. Gregoratti, and M. Kiskinova, Prog. Surf. Sci. 70, 187 (2002).
24. M. E. Kordesch and S. Heun, Encyclopedia of surface and colloid science, edited by P. Somasundaran, and A. Hubbard, Taylor & Francis, London (2008).
25. E. Bauer, Rep. Prog. Phys. 57, 895 (1994).
26. T. Schmidt, S. Heun, J. Slezak, J. Diaz, K. C. Prince, G. Lilienkamp, and E. Bauer, Surf. Rev. Lett. 5, 1287 (1998).
27. P. Hoffmann, R. P. Mikalo, and D. Schmeisser, Solid-State Electronics 44, 837 (2000).
28. M. Merkel, M. Escher, J. Settemeyer, D. Funnemann, A. Oelsner, C. Ziethen, O. Schmidt, M. Klais, and G. Schönhense, Surf. Sci. 480, 196 (2001).
29. A. Oelsner, O. Schmidt, M. Schicketanz, M. Klais, G. Schönhense, V. Mergel, O. Jagutzki, and H, Schmidt-Böcking, Rev. Sci. Instrum. 72, 3968 (2001).
30. H. Yasufuku, Y. Ohminami, T. Tsutsumi, H. Niimi, N. Matsudaira, K. Asakura, M. Kato, Y. Sakai, Y. Kitajima, and Y. Iwasawa, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 43, 7682 (2004).
31. T. Schmidt, U. Groh, R. Fink, E. Umbach, O. Schaff, W. Engel, B. Richter, H. Kuhlenbeck, R. Schlögl, H. J. Freund, A. M. Bradshaw, D. Preikszas, P. Hartel, R. Spehr, H. Rose, G. Lilienkamp, E. Bauer, and G. Benner, Surf. Rev. Lett. 9, 223 (2002).
32. L. H. Veneklasen, Ultramicroscopy 36, 76 (1991).
33. G. Lilienkamp, EUREM 12, Brno, Czech Republic (2000).
34. K. Grzelakowski, Journal of Physics Condensed Matter 17, S1351 (2005).
35. M. Escher, N. Weber, M. Merkel, B. Krömker, D. Funnemann, S. Schmidt, F. Reinert, F. Forster, S. Hüfner, P. Bernhard, C. Ziethen, H. J. Elmers, and G. Schönhense, J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 144-147, 1179(2005).
36. C. Quitmann, U. Flechsig, L. Patthey, T. Schmidt, G. Ingold, M. Howells, M. Janousch, and R. Abela, Surf. Sci. 480, 173 (2001).
37. F. Guo, T. Wakita, H. Shimizu, T. Matsushita, T. Yasue, T. Koshikawa, E. Bauer, and K. Kobayashi, Journal of Physics Condensed Matter 17, S1363 (2005).
38. G. Capellini, M. De Seta, and F. Evangelisti, Appl. Phys. Lett. 78, 303 (2001).
39. F. Ratto, F. Rosei, A. Locatelli, S. Cherifi, S. Fontana, S. Heun, P. D. Szkutnik, A. Sgarlata, M. De Crescenzi, and N. Motta, Appl. Phys. Lett. 84, 4526 (2004).
40. F. Ratto, F. Rosei, A. Locatelli, S. Cherifi, S. Fontana, S. Heun, P. D. Szkutnik, A. Sgarlata, M. De Crescenzi, and N. Motta, J. Appl. Phys. 97, 043516 (2005).
41. F. Ratto, A. Locatelli, S. Fontana, S. Kharrazi, S. Ashtaputre, S. K. Kulkarni, S. Heun, and F. Rosei, Small 2, 401 (2006).
42. F. Ratto, A. Locatelli, S. Fontana, S. Kharrazi, S. Ashtaputre, S. K. Kulkami, S. Heun, and F. Rosei, Phys. Rev. Lett. 96, 096103 (2006).
43. J. M. MacLeod, J. A. Lipton-Duffin, U. Lanke, S. G. Urquhart, and F. Rosei, Appl. Phys. Lett. 94, 103109 (2009).
44. J. T. Robinson, J. A. Liddle, A. Minor, V. Radmilovic, and O. D. Dubon, J, Cryst. Growth 287, 518 (2006).
45. J. T. Robinson, J. A. Liddle, A. Minor, V. Radmilovic, D. O. Yi, P. A. Greaney, K. N. Long, D. C. Chrzan, and O. D. Dubon, Nano Lett. 5, 2070 (2005).
46. J. T. Robinson, D. A. Walko, D. A. Arms, D. S. Tinberg, P. G. Evans, Y. Cao, J. A. Liddle, A. Rastelli, O. G. Schmidt, and O. D. Dubon, Phys. Rev. Lett. 98 (2007).
47. J. T. Robinson, F. Ratto, O. Moutanabbir, S. Heun, A. Locatelli, T. O. Mentes, L. Aballe, and O. D. Dubon, Nano Lett. 7, 2655 (2007).
48. F. Ratto, S. Heun, O. Moutanabbir, and F. Rosei, Nanotechnology 19, 265703 (2008).
49. Y. Watanabe, S. Heun, T. Schmidt, and K. C. Prince, Jpn. J. Appl. Phys. 38, 556 (1999).
50. S. Heun, Y. Watanabe, B. Ressel, D. Bottomley, T. Schmidt, and K. C. Prince, Phys. Rev. B 63, 125335 (2001).
51. S. Heun, Y. Watanabe, B. Ressel, T. Schmidt, and K. C. Prince, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 2057 (2001).
52. G. Biasiol, S. Heun, G. B. Golinelli, A. Locatelli, T. O. Mentes, F. Z. Guo, C. Hofer, C. Teichert, and L. Sorba, Appl. Phys. Lett. 87, 223106 (2005).
53. G. Biasiol, S. Heun, G. B. Golinelli, A. Locatelli, T. O. Mentes, F. Z. Guo, and L. Sorba, AIP Conf. Proc. 893, 49 (2007).
54. S. Heun, G. Biasiol, V. Grillo, E. Carlino, L. Sorba, G. B. Golinelli, A. Locatelli, T. O. Mentes, and F. Z. Guo, J. Nanosci. Nanotechnol. 7, 1721 (2007).
55. J. J. Yeh and I. Lindau, At. Data Nucl. Data Tables 32, 1 (1985).
56. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, and K. D. Bomben, Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy: A reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data, Physical Electronics Division, Perkin-Elmer, Eden Prairie (1992).
57. O. Dehaese, X. Wallari, and F. Mollot, Appl. Phys. Lett. 66, 52 (1995).
58. A. Rosenauer, D. Gerthsen, D. Van Dyck, M. Arzberger, G. Böhm, and G. Abstreiter, Phys. Rev. B 64, 2453341 (2001).
59. S. Kiravittaya, A. Rastelli, and O. G. Schmidt, Rep. Pmg. Phys. 72, 046502 (2009).
60. C. Schneider, A. Huggenberger, T. Sünner, T. Heindel, M. Strauß, S. Göpfert, P. Weinmann, S. Reitzenstein, L. Worschech, M. Kamp, S. Höfling, and A. Forchel, Nanotechnology 20, 434012 (2009).
61. S. Kiravittaya, A. Rastelli, and O. G. Schmidt, Appl. Phys. Un. 88, 043112 (2006).
62. G. Biasiol, V. Baranwal, S. Heun, M. Prasciolu, M. Tormen, A. Locatelli, T. O. Mentes, M. A. Niño, and L. Sorba, J. Cryst. Growth (in press), doi:10.10l6/j.jcrysgro.2010.10.155.
63. P. Atkinson, S. P. Bremner, D. Anderson, G. A. C. Jones, and D. A. Ritchie, Microelectron. J. 37, 1436 (2006).
64. Q. Xie, A. Madhukar, P. Chen, and N. P. Kobayashi, Phys. Rev. Lett. 75, 2542 (1995).
65. P. Atkinson, S. Kiravittaya, M. Benyoucef, A. Rastelli, and O. G. Schmidt, Appl. Phys. Lett. 93. 101908 (2008).
66. G. Biasiol, R. Magri, S. Heun, A. Locatelli, T. O. Mentes, and L. Sorba, J. Cryst. Growth 311, 1764 (2009).
67. P. Offermans, P. M. Koenraad, J. H. Wolter, D. Granados, J. M. Garcia, V. M. Fomin, V. N. Gladilin, and J. T. Devreese, Appl. Phys. Lett. 87, 131902(2005).
68. V. Baranwal, G. Biasiol, S. Heun, A. Locatelli, T. O. Mentes, M. N. Orti, and L. Sorba, Phys. Rev. B 80, 155328 (2009).
69. E. Steimetz, T. Wehnert, H. Kirmse, F. Poser, J. T. Zettler, W. Neumann, and W. Richter, J. Cryst. Growth 221, 592 (2000).
70. A. Lorke, R. J. Luyken, J. M. Garcìa, and P. M. Petroff, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, 1857(2001).
71. F. Fournier, R. A. Metzger, A. Doolittle, A. S. Brown, C. CarterComan, N. M. Jokerst, and R. Bicknell-Tassius, J. Cryst. Growth 175-176, 203 (1997).
72. R. Blossey and A. Lorke, Phys. Rev. E 65, 021603/1 (2002).
73. R. Songmuang, S. Kiravittaya, and O. G. Schmidt, J. Cryst. Growth 249, 416 (2003).
74. L. G. Wang, P. Kratzer, M. Scheftler, and Q. K. K. Liu, Appl. Phys. A 73, 161 (2001).
75. N. N. Ledentsov, V. A. Shchukin, M. Grundmann, N. Kirstaedter, J. Böhrer, O. Schmidt, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, P. S. Kop'ev, S. V. Zaitsev, N. Y. Gordeev, Z. I. Alferov, A. I. Borovkov, A. O. Kosogov, S. S. Ruvimov, P. Werner, U. Gösele, and J. Heydenrcich, Phys. Rev. B 54, 8743 (1996).
76. L. Wang, P. Kratzer, and M. Scheffler, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 39, 4298 (2000).