SiGe intermixing in Ge/Si(100) islands

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 3, 2001, Pages 303-305

  Capellini, G ^a   De Seta, M ^a   Evangelisti, F ^a  

^a ROMA TRE UNIVERSITY   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0003202981     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1339263     Document Type: Article

References (23)

1. D. J. Eaglesham and M. Cerullo, Phys. Rev. Lett. 64, 1943 (1990).
2. K. E. Khor and S. Das Sarma, J. Vac. Sci. Technol. B 15, 1051 (1997);
3. V. A. Shchukin, N. N. Ledentsov, P. S. Kop'ev, and D. Bimberg, Phys. Rev. Lett. 75, 2968 (1995).
4. G. Capellini, L. Di Gaspare, F. Evangelisti, and E. Palange, Appl. Phys. Lett. 70, 493 (1997);
5. E. Palange, L. Ragni, L. Di Gaspare, G. Capellini, and F. Evangelisti, J. Appl. Phys. 83, 5840 (1998).
6. A.-L. Barabási, Appl. Phys. Lett. 70, 2565 (1997).
7. I. Daruka and A.-L. Barabási, Appl. Phys. Lett. 72, 2102 (1998).
8. G. Medeiros-Ribeiro, A. M. Bratkovski, T. I. Kamins, D. A. A. Ohlberg, and R. S. Williams, Science 279, 353 (1998).
9. G. Capellini, L. Di Gaspare, F. Evangelisti, E. Palange, A. Notargiacomo, C. Spinella, and S. Lombardo, Semicond. Sci. Technol. 14, L21 (1999).
10. W. Dorsch, H. P. Strunk, H. Wawra, G. Wagner, J. Groenen, and R. Carles, Appl. Phys. Lett. 72, 179 (1998).
11. X. Z. Liao, J. Zou, D. J. H. Cockayne, J. Qin, Z. M. Jiang, X. Wang, and R. Leon, Phys. Rev. B 60, 15605 (1999).
12. S. A. Chaparro, J. Drucker, Y. Zhang, D. Chandrasekhar, M. R. McCartney, and D. J. Smith, Phys. Rev. Lett. 83, 1199 (1999).
13. V. Magidson, D. V. Regelman, R. Beserman, and K. Dettmer, Appl. Phys. Lett. 73, 1044 (1998).
14. T. I. Kamins, G. Medeiros-Ribeiro, D. A. A. Ohlberg, and R. S. Williams, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A67, 727 (1998).
15. X. Wang, Z.-M. Jiang, H.-J. Zhu, D. Huang, X. Liu, C.-W. Hu, Y. Chen, Z. Zhu, and T. Yao, Appl. Phys. Lett. 71, 3543 (1997).
16. F. Boscherini, G. Capellini, L. Di Gaspare, F. Rosei, N. Motta, and S. Mobilio, Appl. Phys. Lett. 76, 682 (2000).
17. S. A. Chaparro, Y. Zhang, J. Drucker, D. Chandrasekhar, and D. J. Smith, J. Appl. Phys. 87, 2245 (2000).
18. Z. M. Jiang, X. M. Jiang, W. R. Jiang, Q. J. Jia, W. L. Zheng, and D. C. Qian, Appl. Phys. Lett. 76, 3397 (2000).
19. D. Wüllner, A. Schlachetzki, P. Bönsh, H.-H. Wehmann, T. Schrimpf, R. Lacmann, and S. Kipp, Mater. Sci. Eng., B 51, 178 (1998).
20. H. J. Osten, H. P. Zeindl, and E. Bugiel, J. Cryst. Growth 143, 195 (1994).
21. C. N. Berglund and W. E. Spicer, Phys. Rev. 136, 1030 (1964).
22. Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy, edited by G. E. Muilenberg (Perkin-Elmer, Eden Prairie, MN, 1979).
23. M. De Seta, G. Capellini, and F. Evangelisti (unpublished).