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Volumn 7, Issue 13, 2015, Pages 5617-5623

Trap density probing on top-gate MoS2 nanosheet field-effect transistors by photo-excited charge collection spectroscopy

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MOLYBDENUM COMPOUNDS; THRESHOLD VOLTAGE;

EID: 84925326052     PISSN: 20403364     EISSN: 20403372     Source Type: Journal    
DOI: 10.1039/c4nr06707j     Document Type: Article
Times cited : (77)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.