메뉴 건너뛰기




Volumn 7, Issue 3, 2015, Pages 546-551

A comparative photoelectron spectroscopic analysis of MBE and MOCVD grown epitaxial GaN films

Author keywords

GaN; MBE; MOCVD; XPS

Indexed keywords


EID: 84922032654     PISSN: 19472935     EISSN: 19472943     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/sam.2015.2138     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (28)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.