Correlation of microphotoluminescence spectroscopy, scanning transmission electron microscopy, and atom probe tomography on a single nano-object containing an InGaN/GaN Multiquantum well system

Nano Letters

Volumn 14, Issue 1, 2014, Pages 107-114

  Rigutti, Lorenzo ^a   Blum, Ivan ^a   Shinde, Deodatta ^a   Hernández Maldonado, David ^a   Lefebvre, Williams ^a   Houard, Jonathan ^a   Vurpillot, François ^a   Vella, Angela ^a   Tchernycheva, Maria ^b   Durand, Christophe ^c   Eymery, Joël ^c   Deconihout, Bernard ^a  

^a UNIVERSITÉ DE ROUEN   (France)

^b UNIVERSITÉ PARIS SACLAY   (France)

^c UNIV GRENOBLE ALPES   (France)

Author keywords

Atom probe tomography; correlative microscopy; iii nitride heterostructures; photoluminescence; single nano object; transmission electron microscopy

Indexed keywords

ATOM PROBE TOMOGRAPHY; CORRELATIVE MICROSCOPIES; III-NITRIDE; INGAN/GAN MULTI-QUANTUM WELL; MICROPHOTOLUMINESCENCE SPECTROSCOPY; NANO-OBJECTS; NANO-SCALE OBJECTS; SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

PHOTOLUMINESCENCE; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS; SEMICONDUCTOR QUANTUM WIRES;

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

GALLIUM; GALLIUM NITRIDE; INDIUM; INDIUM NITRIDE; NANOPARTICLE;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; CONFORMATION; LUMINESCENCE; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; QUANTUM THEORY; SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; STATISTICS; ULTRASTRUCTURE;

GALLIUM; INDIUM; LUMINESCENT MEASUREMENTS; MATERIALS TESTING; MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; MICROSCOPY, ELECTRON, SCANNING TRANSMISSION; MOLECULAR CONFORMATION; NANOPARTICLES; QUANTUM THEORY; STATISTICS AS TOPIC;

EID: 84892163473     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl4034768     Document Type: Article

References (60)

1. Spirkoska, D.; Arbiol, J.; Gustafsson, A.; Conesa-Boj, S.; Glas, F.; Zardo, I.; Heigoldt, M.; Gass, M. H.; Bleloch, A. L.; Estrade, S.; Kaniber, M.; Rossler, J.; Peiro, F.; Morante, J. R.; Abstreiter, G.; Samuelson, L.; Fontcuberta i Morral, A. Phys. Rev. B 2009, 80, 245325
2. Rigutti, L.; Jacopin, G.; Largeau, L.; Galopin, E.; De Luna Bugallo, A.; Julien, F. H.; Harmand, J. C.; Glas, F.; Tchernycheva, M. Phys. Rev. B 2011, 83, 155320
3. Billaud, P.; Marhaba, S.; Cottancin, E.; Arnaud, L.; Bachelier, G.; Bonnet, C.; Del Fatti, N.; Lermé, J.; Vallée, F.; Vialle, J.-L.; Broyer, M.; Pellarin, M. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 978
4. Zardo, I.; Conesa-Boj, S.; Peiro, F.; Morante, J. R.; Arbiol, J.; Uccelli, E.; Abstreiter, G.; Fontcuberta i Morral, A. Phys. Rev. B 2009, 80, 245324
5. Hestroffer, K.; Mata, R.; Camacho, D.; Leclere, C.; Tourbot, G.; Niquet, Y. M.; Cros, A.; Bougerol, C.; Renevier, H.; Daudin, B. Nanotechnology 2010, 21, 415702
6. Poliani, E.; Wagner, M. R.; Reparaz, J. S.; Mandl, M.; Strassburg, M.; Kong, X.; Trampert, A.; Sotomayor Torres, C. M.; Hoffmann, A.; Maultzsch, J. Nano Lett. 2013, 13, 3205
7. Lim, S. K.; Brewster, M.; Qian, F.; Li, Y.; Lieber, C.; Gradecak, S. Nano Lett. 2009, 9, 3940
8. Zagonel, L. F.; Mazzucco, S.; Tencé, M.; March, K.; Bernard, R.; Laslier, B.; Jacopin, G.; Tchernycheva, M.; Rigutti, L.; Julien, F. H.; Songmuang, R.; Kociak, M. Nano Lett. 2011, 11, 568
9. Tourbot, G.; Bougerol, C.; Glas, F.; Zagonel, L. F.; Mahfoud, Z.; Meuret, S.; Gilet, P.; Kociak, M.; Gayral, B.; Daudin, B. Nanotechnology 2012, 12, 135703
10. Nelayah, J.; Kociak, M.; Stéphan, O.; Garcia de Abajo, F. X.; Tencé, M.; Henrard, L.; Taverna, D.; Pastoriza-Santos, I.; Liz-Marzàn, L. M.; Colliex, C. Nat. Phys. 2007, 3, 348
11. Blavette, D.; Deconihout, B.; Bostel, A.; Sarrau, J. M.; Bouet, M.; Menand, A. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 2911
12. Da Costa, G.; Vurpillot, F.; Bostel, A.; Bouet, M.; Deconihout, B. Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 013304
13. Gault, B.; Vurpillot, F.; Vella, A.; Gilbert, M.; Menand, A.; Blavette, D.; Deconihout, B. Rev. Sci. Instrum. 2006, 77, 043705
14. Kelly, T. F.; Larson, D. J.; Thompson, K.; Alvis, R. L.; Bunton, J. H.; Olson, J. D.; Gorman, B. Annu. Rev. Mater. Sci. 2007, 37, 681
15. Chen, Y.; Ohkubo, T.; Kodzuka, M.; Morita, K.; Hono, K. Scr. Mater. 2009, 61, 693
16. Marquis, E. A.; Yahya, N.; Larson, D. J.; Miller, M.; Todd, R. Mater. Today 2010, 13, 34
17. Chen, Y.; Ohkubo, T.; Hono, K. Ultramicroscopy 2011, 111, 562
18. Panciera, F.; Hoummada, M.; Gregoire, M.; Juhel, M.; Bicais, N.; Mangelinck, D. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 051911
19. Galtrey, M. J.; Oliver, R. A.; Kappers, M. J.; McAleese, C.; Zhu, D.; Humphreys, C. J.; Clifton, P. H.; Larson, D.; Cerezo, A. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 041904
20. Galtrey, M. J.; Oliver, R. A.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J.; Stokes, D. J.; Clifton, P. H.; Cerezo, A. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 061903
21. Bennett, S. E.; Saxey, D. W.; Kappers, M. J.; Barnard, J. S.; Humphreys, C. J. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 021906
22. Martin, A. J.; Hwang, J.; Marquis, E. A.; Smakan, E.; Saucer, T.; Rodriguez, G. V.; Hunter, A. H.; Sih, V.; Koenraad, P. M.; Phillips, J. D.; Millunchick, J. Appl. Phys. Lett. 2013, 102, 113103
23. Giddins, A. D.; Keizer, J. G.; Hara, M.; Hamhuis, G. J.; Yuasa, H.; Fukuzawa, H.; Koenraad, P. M. Phys. Rev. B 2011, 83, 205308
24. Perea, D.; Allen, J. A.; May, S. J.; Wessels, B. W.; Seidman, D. N.; Lauhon, L. J. Nano Lett. 2006, 6, 181
25. Perea, D.; Hemesath, E. R.; Schwalbach, E. J.; Lensch-Falck, J. L.; Voorhees, P. W.; Lauhon, L. J. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 315
26. Chen, W. H.; Dubrovskij, V. G.; Liu, X.; Xu, T.; Lardé, R.; Nys, J. P.; Grandidier, B.; Stiévenard, D.; Patriarche, G.; Pareige, P. J. Appl. Phys. 2012, 111, 094909
27. Riley, J. R.; Bernal, R. A.; Li, Q.; Espinosa, H. D.; Wang, G.; Lauhon, L. J. ACS Nano 2012, 6, 3898
28. Roussel, M.; Talbot, E.; Gorbilleau, F.; Pareige, P. Nanoscale Res. Lett. 2011, 6, 164
29. Arslan, I.; Marquis, E. A.; Homer, M.; Hekmaty, M. A.; Bartelt, N. C. Ultramicroscopy 2008, 108, 1579
30. Rigutti, L.; Vella, A.; Vurpillot, F.; Gaillard, A.; Sevelin-Radiguet, N.; Houard, J.; Hideur, A.; Martel, G.; De Luna Bugallo, A.; Jacopin, G.; Deconihout, B. Ultramicroscopy 2013, 132, 75
31. Mehrtens, T.; Schowalter, M.; Tytko, D.; Choi, P.; Raabe, D.; Hoffman, L.; Jönen, H.; Rossow, U.; Hangleiter, A.; Rosenauer, A. Appl. Phys. Lett. 2012, 12, 1321
32. Park, C. G.; Gu, G. H.; Lee, B. H.; Jang, D. H. Ultramicroscopy 2013, 127, 114
33. Riley, J. R.; Padalkar, S.; Li, Q.; Koleske, D. D.; Wierer, J. J.; Wang, G. T.; Lauhon, L. J. Nano Lett. 2013, 13, 4317
34. Köster, R.; Hwang, J. S.; Durand, C.; Le Si Dang, D.; Eymery, J. Nanotechnology 2010, 21, 015602
35. Köster, R.; Hwang, J. S.; Salomon, D.; Chen, X.; Bougerol, C.; Barnes, J. P.; Le Si Dang, D.; Rigutti, L.; De Luna Bugallo, A.; Jacopin, G.; Tchernycheva, M.; Durand, C.; Eymery, J. Nano Lett. 2011, 11, 4839
36. Chen, X. J.; Perillat-Merceroz, G.; Sam-Giao, D.; Durand, C.; Eymery, J. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 151909
37. Rigutti, L.; Teubert, J.; Jacopin, G.; Fortuna, F.; Tchernycheva, M.; De Luna Bugallo, A.; Julien, F. H.; Furtmayr, F.; Stutzmann, M.; Eickhoff, M. Phys. Rev. B 2010, 82, 235308
38. Ruda, H. E.; Shik, A. J. Appl. Phys. 2006, 100, 024314
39. Ruda, H. E.; Shik, A. Phys. Rev. B 2005, 72, 115308
40. Chuang, S. L.; Chang, C. S. Phys. Rev. B 1996, 54, 2491
41. Kumagai, M.; Chuang, S. L.; Ando, H. Phys. Rev. B 1998, 57, 15303
42. Masui, H.; Yamada, H.; Iso, K.; Nakamura, S.; DenBaars, S. P. J. Phys. D: Appl. Phys. 2008, 41, 225104
43. Marcinkievicius, S.; Kelchner, K. M.; Nakamura, S.; DenBaars, S. P.; Speck, J. S. Appl. Phys. Lett. 2013, 102, 101102
44. Smeeton, T. M.; Kappers, M. J.; Barnard, J. S.; Vickers, M. E.; Humphreys, C. J. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 5419
45. Fischer, A. M.; Wu, Z.; Sun, K.; Wei, Q.; Huang, Y.; Senda, R.; Iida, D.; Iwaya, M.; Amano, H.; Ponce, F. Appl. Phys. Express 2009, 2, 041002
46. Wu, F.; Lin, Y. D.; Chakraborty, A.; Ohta, H.; DenBaars, S. P.; Nakamura, S.; Speck, J. S. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 231912
47. Bennett, S. Ph.D. Thesis. Cambridge University, Cambridge, UK, 2010.
48. Agrawal, R.; Bernal, R. A.; Isheim, D.; Espinosa, H. J. Phys. Chem. 2011, 115, 17668
49. Jeske, T.; Schmitz, G. Mater. Sci. Eng. 2002, 327, 101
50. Vurpillot, F.; Gault, B.; Geiser, B.; Larson, D. J. Ultramicroscopy 2013, 132, 19
51. van der Laak, N. K.; Oliver, R. A.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 121911
52. van der Laak, N. K.; Oliver, R. A.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J. J. Appl. Phys. 2007, 102, 013513
53. Tersoff, J.; Teichert, C.; Lagally, M. G. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 1675
54. Holy, V.; Springholz, G.; Pinczolits, M.; Bauer, G. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 356
55. Gogneau, N.; Fossard, F.; Monroy, E.; Monnoye, S.; Mank, H.; Daudin, B. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 4224
56. Yang, X.; Arita, M.; Kako, S.; Arakawa, Y. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 061914
57. Watson-Parris, D.; Godfrey, M. J.; Dawson, P.; Oliver, R. A.; Galtrey, M. J.; Kappers, M. J.; Humphreys, C. J. Phys. Rev. B 2011, 83, 115321
58. Vurgaftman, I.; Meyer, R. J. J. Appl. Phys. 2003, 94, 3675
59. Pelà, R. R.; Caetano, C.; Marques, M.; Ferreira, L. G.; Furthmüller, J.; Teles, L. K. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 151907
60. Khatsevich, S.; Rich, D. H. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 215223