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Volumn 54, Issue 4, 1996, Pages 2491-2504

K⋅p method for strained wurtzite semiconductors

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EID: 0000070839     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.2491     Document Type: Article
Times cited : (1059)

References (32)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.