Nanoscale free-carrier profiling of individual semiconductor nanowires by infrared near-field nanoscopy

Nano Letters

Volumn 10, Issue 4, 2010, Pages 1387-1392

  Stiegler, J M ^a   Huber, A J ^b   Diedenhofen, S L ^c   Gomez Rivas J ^c   Algra, R E ^c,d,e   Bakkers, E P A M ^c   Hillenbrand, R ^a,f  

^a CIC NANOGUNE   (Spain)

^b Neaspec GmbH   (Germany)

^c PHILIPS RESEARCH LABORATORIES   (Netherlands)

^d MATERIALS INNOVATION INSTITUTE M2I   (Netherlands)

^e RADBOUD UNIVERSITY NIJMEGEN   (Netherlands)

^f BASQUE FOUNDATION FOR SCIENCE   (Spain)

Author keywords

Doping; Free carrier profiling; Infrared near field microscopy; Nanowires; Plasmons

Indexed keywords

CARRIER DISTRIBUTIONS; CARRIER PROFILING; EXPERIMENTAL EVIDENCE; FREE CARRIER CONCENTRATION; FREE-CARRIER PROFILING; GROWTH DEFECTS; HIGH SENSITIVITY; INFRARED NEAR-FIELD MICROSCOPY; INP; NANO SCALE; NANOTOMOGRAPHY; NANOWIRE HETEROSTRUCTURES; NEAR FIELD MICROSCOPY; NEAR-FIELD; RADIAL DIRECTION; SEMICONDUCTOR NANOWIRE;

BIOACTIVITY; DOPING (ADDITIVES); NANOSTRUCTURED MATERIALS; NANOWIRES; PLASMONS; SEMICONDUCTOR GROWTH; SENSITIVITY ANALYSIS;

CARRIER CONCENTRATION;

NANOWIRE;

ARTICLE; CHEMISTRY; INSTRUMENTATION; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; NEAR INFRARED SPECTROSCOPY; SEMICONDUCTOR;

NANOTECHNOLOGY; NANOWIRES; SEMICONDUCTORS; SPECTROSCOPY, NEAR-INFRARED;

EID: 77951085982     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl100145d     Document Type: Article

References (39)

1. Huang, M. H.; Mao, S.; Feick, H.; Yan, H.; Wu, Y.; Kind, H.; Weber, E.; Russo, R.; Yang, P. Science 2001, 292 (5523) 1897
2. Duan, X. F.; Huang, Y.; Agarwal, R.; Lieber, C. M. Nature 2003, 421 (6920) 241
3. Thelander, C.; Nilsson, H. A.; Jensen, L. E.; Samuelson, L. Nano Lett. 2005, 5 (4) 635
4. Goodey, A. P.; Eichfeld, S. M.; Lew, K. K.; Redwing, J. M.; Mallouk, T. E. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 12344
5. Minot, E. D.; Kelkensberg, F.; van Kouwen, M.; van Dam, J. A.; Kouwenhoven, L. P.; Zwiller, V.; Borgström, M. T.; Wunnicke, O.; Verheijen, M. A.; Bakkers, E. P. A. M. Nano Lett. 2007, 7 (2) 367
6. Colli, A.; Fasoli, A.; Ronning, C.; Pisana, S.; Piscanec, S.; Ferrari, A. Nano Lett. 2008, 8 (8) 2188
7. Björk, M. T.; Ohlsson, B. J.; Sass, T.; Persson, A. I.; Thelander, C.; Magnusson, M. H.; Deppert, K.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L. Nano Lett. 2002, 2 (2) 87
8. van Weert, M. H. M.; Helman, A.; van den Einden, W.; Algra, R. E.; Verheijen, M. A.; Borgström, M. T.; Immink, G.; Kelly, J. J.; Kouwenhoven, L. P.; Bakkers, E. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131 (13) 4578
9. Van Dam, J. A.; Nazarov, Y. V.; Bakkers, E.; De Franceschi, S.; Kouwenhoven, L. P. Nature 2006, 442 (7103) 667
10. Verheijen, M. A.; Algra, R. E.; Borgström, M. T.; Immink, G.; Sourty, E.; van Enckevort, W. J. P.; Vlieg, E.; Bakkers, E. Nano Lett. 2007, 7 (10) 3051
11. Lauhon, L. J.; Gudiksen, M. S.; Wang, C. L.; Lieber, C. M. Nature 2002, 420 (6911) 57
12. Li, H. Y.; Wunnicke, O.; Borgstrom, M. T.; Immink, W. G. G.; van Weert, M. H. M.; Verheijen, M. A.; Bakkers, E. P. A. M. Nano Lett. 2007, 7 (5) 1144
13. Verheijen, M. A.; Immink, G.; de Smet, T.; Borgström, M. T.; Bakkers, E. P. A. M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128 (4) 1353
14. Kelzenberg, M. D.; Turner-Evans, D. B.; Kayes, B. M.; Filler, M. A.; Putnam, M. C.; Lewis, N. S.; Atwater, H. A. Nano Lett. 2008, 8 (2) 710
15. Pearton, S. J.; Norton, D. P.; Ren, F. Small 2007, 3 (7) 1144
16. Perea, D. E.; Hemesath, E. R.; Schwalbach, E. J.; Lensch-Falk, J. L.; Voorhees, P. W.; Lauhon, L. J. Nat. Nanotechnol. 2009, 4 (5) 315
17. Garnett, E. C.; Tseng, Y.-C.; Khanal, D. R.; Wu, J.; Bokor, J.; Yang, P. Nat. Nanotechnol. 2009, 4 (5) 311
18. Diarra, M.; Niquet, Y. M.; Delerue, C.; Allan, G. Phys. Rev. B. 2007, 75 (4) 045301
19. den Hertog, M. I.; Schmid, H.; Cooper, D.; Rouviere, J. L.; Björk, M. T.; Riel, H.; Rivallin, P.; Karg, S.; Riess, W. Nano Lett. 2009, 9 (11) 3837-3843
20. Vinaji, S.; Lochthofen, A.; Mertin, W.; Regolin, I.; Gutsche, C.; Prost, W.; Tegude, F. J.; Bacher, G. Nanotechnology 2009, 20 (38) 385702
21. Ou, X.; Kanungo, P. D.; Kögler, R.; Werner, P.; Gösele, U.; Skorupa, W.; Wang, X. Nano Lett. 2010, 10, 171-175
22. Keilmann, F.; Hillenbrand, R. Philos. Trans. R. Soc., London, Ser. A 2004, 362 (1817) 787
23. Huber, A. J.; Kazantsev, D.; Keilmann, F.; Wittborn, J.; Hillenbrand, R. Adv. Mater. 2007, 19 (17) 2209
24. Huber, A. J.; Keilmann, F.; Wittborn, J.; Aizpurua, J.; Hillenbrand, R. Nano Lett. 2008, 8 (11) 3766
25. Qazilbash, M. M.; Brehm, M.; Chae, B.-G.; Ho, P.-C.; Andreev, G. O.; Kim, B.-J.; Yun, S. J.; Balatsky, A. V.; Maple, M. B.; Keilmann, F.; Kim, H.-T.; Basov, D. N. Science 2007, 318 (5857) 1750-1753
26. Ocelic, N.; Huber, A.; Hillenbrand, R. Appl. Phys. Lett. 2006, 89 (10) 3
27. Cvitkovic, A.; Ocelic, N.; Hillenbrand, R. Opt. Express 2007, 15 (14) 8550
28. Ibánez, J.; Cusco, R.; Artús, L. Phys. Status Solidi B 2001, 223 (3) 715-722
29. Sotoodeh, M.; Khalid, A. H.; Rezazadeh, A. A. J. Appl. Phys. 2000, 87 (6) 2890
30. Knoll, B.; Keilmann, F. Appl. Phys. Lett. 2000, 77 (24) 3980-3982
31. Jeon, T. I.; Grischkowsky, D. Phys. Rev. Lett. 1997, 78 (6) 1106
32. Carney, P. S.; Schotland, J. C. Appl. Phys. Lett. 2000, 77 (18) 2798-2800
33. Sun, J.; Schotland, J. C.; Hillenbrand, R.; Carney, P. S. Appl. Phys. Lett. 2009, 95 (12) 121108-3
34. Aizpurua, J.; Taubner, T.; García de Abajo, F. J.; Brehm, M.; Hillenbrand, R. Opt. Express 2008, 16 (3) 1529
35. Borgström, M. T.; Immink, G.; Ketelaars, B.; Algra, R.; Bakkers, E. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 541-544
36. Algra, R. E.; Verheijen, M. A.; Borgström, M. T.; Feiner, L.-F.; Immink, G.; van Enckevort, W. J. P.; Vlieg, E.; Bakkers, E. P. A. M. Nature 2008, 456 (7220) 369-372
37. Caroff, P.; Dick, K. A.; Johansson, J.; Messing, M. E.; Deppert, K.; Samuelson, L. Nat. Nanotechnol. 2009, 4 (1) 50-55
38. Amarie, S.; Ganz, T.; Keilmann, F. Opt. Express 2009, 17 (24) 21794-21801
39. Taubner, T.; Keilmann, F.; Hillenbrand, R. Opt. Express 2005, 13 (22) 8893-8899