-
1
-
-
80054929719
-
-
Tsakalakos, L.; Balch, J.; Fronheiser, J.; Shih, M. Y.; Leboeuf, S. F.; Pietrzykowski, M.; Codella, P. J.; Korevaar, B. A.; Sulima, O. V.; Rand, J.; Davulura, A.; Rapol, U. J. Nanophoton. 2007, 1, 013552-10.
-
(2007)
J. Nanophoton.
, vol.1
, pp. 013552-0135610
-
-
Tsakalakos, L.1
Balch, J.2
Fronheiser, J.3
Shih, M.Y.4
Leboeuf, S.F.5
Pietrzykowski, M.6
Codella, P.J.7
Korevaar, B.A.8
Sulima, O.V.9
Rand, J.10
Davulura, A.11
Rapol, U.12
-
2
-
-
32244445499
-
-
Peng, K.; Xu, Y.; Wu, Y.; Yan, Y.; Lee, S.-T.; Zhu, J. Small 2005, 1, 1062-1067.
-
(2005)
Small
, vol.1
, pp. 1062-1067
-
-
Peng, K.1
Xu, Y.2
Wu, Y.3
Yan, Y.4
Lee, S.-T.5
Zhu, J.6
-
4
-
-
0037192480
-
-
Huynh, W. U.; Dittmer, J. J.; Alivisatos, A. P. Science 2002, 295, 2425-2427.
-
(2002)
Science
, vol.295
, pp. 2425-2427
-
-
Huynh, W.U.1
Dittmer, J.J.2
Alivisatos, A.P.3
-
5
-
-
20144369634
-
-
Law, M.; Greene, L. E.; Johnson, J. C.; Saykally, R.; Yang, P. D. Nat. Mater. 2005, 4, 455-459.
-
(2005)
Nat. Mater.
, vol.4
, pp. 455-459
-
-
Law, M.1
Greene, L.E.2
Johnson, J.C.3
Saykally, R.4
Yang, P.D.5
-
7
-
-
34547316342
-
-
Leschkies, K. S.; Divakar, R.; Basu, J.; Enache-Pommer, E.; Boercker, J. E.; Carter, C. B.; Kortshagen, U. R.; Norris, D. J.; Aydil, E. S. Nano Lett. 2007, 7, 1793-8.
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 1793-1798
-
-
Leschkies, K.S.1
Divakar, R.2
Basu, J.3
Enache-Pommer, E.4
Boercker, J.E.5
Carter, C.B.6
Kortshagen, U.R.7
Norris, D.J.8
Aydil, E.S.9
-
8
-
-
35348970863
-
-
Maiolo, J. R. I.; Kayes, B. M.; Filler, M. A.; Putnam, M. C.; Kelzenberg, M. D.; Brunschwig, B. S.; Atwater, H. A.; Lewis, N. S. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 12346-12347.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.129
, pp. 12346-12347
-
-
Maiolo, J.R.I.1
Kayes, B.M.2
Filler, M.A.3
Putnam, M.C.4
Kelzenberg, M.D.5
Brunschwig, B.S.6
Atwater, H.A.7
Lewis, N.S.8
-
9
-
-
35349031660
-
-
Goodey, A. P.; Eichfeld, S. M.; Lew, K.-K.; Redwing, J. M.; Mallouk, T. E. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 12344-12345.
-
(2007)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.129
, pp. 12344-12345
-
-
Goodey, A.P.1
Eichfeld, S.M.2
Lew, K.-K.3
Redwing, J.M.4
Mallouk, T.E.5
-
10
-
-
20544449654
-
-
Kayes, B. M.; Atwater, H. A.; Lewis, N. S. J. Appl. Phys. 2005, 97, 114302-11.
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.97
, pp. 114302-11
-
-
Kayes, B.M.1
Atwater, H.A.2
Lewis, N.S.3
-
11
-
-
34548497849
-
-
Kayes, B. M.; Filler, M. A.; Putnam, M. C.; Kelzenberg, M. D.; Lewis, N. S.; Atwater, H. A. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 103110-3.
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.91
, pp. 103110-3
-
-
Kayes, B.M.1
Filler, M.A.2
Putnam, M.C.3
Kelzenberg, M.D.4
Lewis, N.S.5
Atwater, H.A.6
-
12
-
-
84858153184
-
Measurement of minority carrier diffusion lengths in semiconductor nanowires;
-
University Park PA; IEEE: Piscataway, NJ
-
Allen, J. E.; Yi, G.; Romankiewicz, J. P.; Lensch, J. L.; May, S. J.; Odom, T. W.; Wessels, B. W.; Lauhon, L. J. In Measurement of Minority Carrier Diffusion Lengths in Semiconductor Nanowires; IEEE Device Research Conference, University Park PA; IEEE: Piscataway, NJ, 2006; pp 289-290.
-
(2006)
IEEE Device Research Conference
, pp. 289-290
-
-
Allen, J.E.1
Yi, G.2
Romankiewicz, J.P.3
Lensch, J.L.4
May, S.J.5
Odom, T.W.6
Wessels, B.W.7
Lauhon, L.J.8
-
13
-
-
33746488331
-
-
Gu, Y.; Romankiewicz, J. P.; David, J. K.; Lensch, J. L.; Lauhon, L. J.; Kwak, E. S.; Odom, T. W. J. Vac. Sci. Technol., B 2006, 24, 2172-2177.
-
(2006)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.24
, pp. 2172-2177
-
-
Gu, Y.1
Romankiewicz, J.P.2
David, J.K.3
Lensch, J.L.4
Lauhon, L.J.5
Kwak, E.S.6
Odom, T.W.7
-
14
-
-
35348984409
-
-
Tian, B.; Zheng, X.; Kempa, T. J.; Fang, Y.; Yu, N.; Yu, G.; Huang, J. Lieber, C. M. Nature 2007, 449, 885-889.
-
(2007)
Nature
, vol.449
, pp. 885-889
-
-
Tian, B.1
Zheng, X.2
Kempa, T.J.3
Fang, Y.4
Yu, N.5
Yu, G.6
Huang, J.7
Lieber, C.M.8
-
17
-
-
28844484557
-
-
Ross, F. M.; Tersoff, J.; Reuter, M. C. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 146104-4.
-
(2005)
Phys. Rev. Lett.
, vol.95
, pp. 146104-4
-
-
Ross, F.M.1
Tersoff, J.2
Reuter, M.C.3
-
18
-
-
0038161696
-
-
See, for example, Cui, Y.; Zhong, Z. H.; Wang, D. L.; Wang, W. U.; Lieber, C. M. Nano Lett. 2003, 3, 149-152.
-
(2003)
Nano Lett.
, vol.3
, pp. 149-152
-
-
Cui, Y.1
Zhong, Z.H.2
Wang, D.L.3
Wang, W.U.4
Lieber, C.M.5
-
20
-
-
36248977744
-
-
Park, I.; Li, Z.; Pisano, A. P.; Williams, R. S. Nano Lett. 2007, 7, 3106-3111.
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 3106-3111
-
-
Park, I.1
Li, Z.2
Pisano, A.P.3
Williams, R.S.4
-
21
-
-
0019565952
-
-
Thomson, D. J.; Matiowsky, M. A.; Card, H. C. Electron. Lett. 1981, 17, 382-383.
-
(1981)
Electron. Lett.
, vol.17
, pp. 382-383
-
-
Thomson, D.J.1
Matiowsky, M.A.2
Card, H.C.3
-
22
-
-
40449088617
-
-
Thomson, D. J.; Mejia, S.; Card, H. C. J. Power Sources 1982, 7, 191-194.
-
(1982)
J. Power Sources
, vol.7
, pp. 191-194
-
-
Thomson, D.J.1
Mejia, S.2
Card, H.C.3
-
23
-
-
0035203676
-
-
Meier, D. L.; Davis, H. P.; Garcia, R. A.; Salami, J.; Rohatgi, A.; Ebong, A.; Doshi, P. Sol. Energy Mater. Sol. Cells 2001, 65, 621-627.
-
(2001)
Sol. Energy Mater. Sol. Cells
, vol.65
, pp. 621-627
-
-
Meier, D.L.1
Davis, H.P.2
Garcia, R.A.3
Salami, J.4
Rohatgi, A.5
Ebong, A.6
Doshi, P.7
-
28
-
-
0012590198
-
Optical properties of Si
-
Hull, R., Ed.; INSPEC, IEE: London
-
Aspens, D. E., Optical Properties of Si. In Properties of Crystalline Silicon; Hull, R., Ed.; INSPEC, IEE: London, 1999; p 677.
-
(1999)
Properties of Crystalline Silicon
, pp. 677
-
-
Aspens, D.E.1
-
31
-
-
23144434345
-
-
Yeonghwan, A.; Dunning, J.; Park, J. Nano Lett. 2005, 5, 1367-1370.
-
(2005)
Nano Lett.
, vol.5
, pp. 1367-1370
-
-
Yeonghwan, A.1
Dunning, J.2
Park, J.3
-
32
-
-
34248652694
-
QuantitatiVe characterization of carrier transport in nanowire photodetectors
-
Gu, Y.; Romankiewicz, J. P.; Lauhon, L. J. In QuantitatiVe Characterization of Carrier Transport in Nanowire Photodetectors; Proceedings of SPIE, 2007; Vol. 6479, 64790C.
-
(2007)
Proceedings of SPIE
, vol.6479
-
-
Gu, Y.1
Romankiewicz, J.P.2
Lauhon, L.J.3
-
33
-
-
33744811719
-
-
Gu, Y.; Romankiewicz, J. P.; David, J. K.; Lensch, J. L.; Lauhon, L. J. Nano Lett. 2006, 6, 948-952.
-
(2006)
Nano Lett.
, vol.6
, pp. 948-952
-
-
Gu, Y.1
Romankiewicz, J.P.2
David, J.K.3
Lensch, J.L.4
Lauhon, L.J.5
|