Microwave Near-Field Imaging of Two-Dimensional Semiconductors

Nano Letters

Volumn 15, Issue 2, 2015, Pages 1122-1127

  Berweger, Samuel ^a   Weber, Joel C ^a   John, Jimmy ^c   Velazquez, Jesus M ^b,c   Pieterick, Adam ^b,c   Sanford, Norman A ^a   Davydov, Albert V ^a   Brunschwig, Bruce ^b,c   Lewis, Nathan S ^b,c   Wallis, Thomas M ^a   Kabos, Pavel ^a  

^a NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY   (United States)

^b CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

^c California Institute of Technology   (United States)

Author keywords

atomic force microscope; microwave; MoS2; near field; quantum capacitance; Transition metal dichalcogenide

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CAPACITANCE; CARRIER CONCENTRATION; CHARGE CARRIERS; DOPING (ADDITIVES); ELECTRONIC PROPERTIES; ELECTRONIC STRUCTURE; FINITE ELEMENT METHOD; MICROWAVES; MOLYBDENUM COMPOUNDS; TRANSITION METALS; VAN DER WAALS FORCES;

DOPANT CONCENTRATIONS; FINITE ELEMENT SIMULATIONS; MOS2; NEAR FIELDS; QUANTUM CAPACITANCE; SCANNING MICROWAVE MICROSCOPIES; TRANSITION METAL DICHALCOGENIDES; TWO-DIMENSIONAL SEMICONDUCTORS;

SURFACE MOUNT TECHNOLOGY;

EID: 84922812141     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl504960u     Document Type: Article

References (41)

1. Mak, K. F.; Lee, C.; Hone, J.; Shan, J.; Heinz, T. F. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 136805
2. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183
3. Li, L.; Yu, Y.; Ye, G. J.; Ge, Q.; Ou, X.; Wu, H.; Feng, D.; Chen, X. H.; Zhang, Y. Nat. Nanotechnol. 2014, 9, 372
4. Velazquez, J. M.; Saadi, F. H.; Pieterick, A. P.; Spurgeon, J. M.; Soriaga, M. P.; Brunschwig, B. S.; Lewis, N. S. J. Electronanal. Chem. 2014, 716, 45
5. Radisavljevic, B.; Radenovic, A.; Brivio, J.; Giacometti, V.; Kis, A. Nat. Nanotechnol. 2011, 6, 147
6. Bao, W.; Cai, X.; Kim, D.; Sridhara, K.; Fuhrer, M. Appl. Phys. Lett. 2013, 102, 042104
7. Liu, W.; Kang, J.; Sakar, D.; Khatami, Y.; Jena, D.; Banerjee, K. Nano Lett. 2013, 13, 1983
8. Kim, S.; Konar, A.; Hwang, W. S.; Lee, K. H.; Lee, J.; Yang, J.; Jung, C.; Kim, H.; Yoo, J. B.; Choi, J. Y.; Jin, Y. W.; Lee, S. Y.; Jena, D.; Choi, W.; Kim, K. Nature Commun. 2012, 3, 1011
9. Ganatra, R.; Zhang, Q. ACS Nano 2014, 8, 4074
10. Lee, C. H.; Lee, G. H.; van der Zande, A. M.; Chen, W.; Li, Y.; Han, M.; Cui, X.; Arefe, G.; Nuckolls, C.; Heinz, T. F.; Guo, J.; Hone, J.; Kim, P. Nat. Nanotechnol. 2014, 9, 676
11. Ross, D. S.; Klement, P.; Jones, A. M.; Ghimire, N. J.; Yan, J.; Mandrus, D. G.; Taniguchi, T.; Watanabe, K.; Yao, W.; Cobden, D. H.; Xu, X. Nat. Nanotechnol. 2014, 9, 268
12. van der Zande, A. M.; Huang, P. Y.; Chenet, D. A.; Berkelbach, T. C.; Yu, Y. M.; Lee, G. H.; Heinz, T. F.; Reichmann, D. R.; Muller, D. A.; Hone, J. C. Nat. Mater. 2013, 12, 554
13. Connolly, M. R.; Puddy, R. K.; Logoteta, D.; Marconcini, P.; Roy, M.; Griffiths, J. P.; Jones, G. A. C.; Maksym, P. A.; Macucci, M.; Smith, C. G. Nano Lett. 2012, 12, 5448
14. Giannazzo, F.; Sonde, S.; Raineri, V.; Rimini, E. Nano Lett. 2009, 9, 23
15. Fee, M.; Chu, S.; Hänsch, T. W. Opt. Commun. 1989, 69, 219
16. Huber, H. P.; Moertelmaier, M.; Wallis, T. M.; Chiang, C. J.; Hochleitner, M.; Imtiaz, A.; Oh, Y. J.; Schilcher, K.; Dieudonne, M.; Smoliner, J.; Hinterdorfer, P.; Rosner, S. J.; Tanbakuchi, H.; Kabos, P.; Kienberger, F. Rev. Sci. Instrum. 2010, 81, 113701
17. Lai, K.; Nakamura, M.; Kundhikanjana, W.; Kawasaki, M.; Tokura, Y.; Kelly, M. A.; Shen, Z. X. Science 2010, 239, 190
18. Kundhikanjana, W.; Lai, K.; Wang, H.; Dai, H.; Kelly, M. A.; Shen, Z. X. Nano Lett. 2009, 9, 3762
19. Liu, Y.; Ghosh, R.; Wu, D.; Ismach, A.; Ruoff, R.; Lai, K. Nano Lett. 2014, 14, 4682
20. Tselev, A.; Lavrik, N. V.; Vlassiouk, I.; Briggs, D. P.; Rutgers, M.; Proksch, R.; Kalinin, S. V. Nanotechnology 2012, 23, 385706
21. Talanov, V. V.; Del Barga, C.; Wickey, L.; Kalichava, I.; Gonzales, E.; Shaner, E. A.; Gin, A. V.; Kalugin, N. G. ACS Nano 2010, 4, 3831
22. McKone, J. R.; Pieterick, A. P.; Gray, H. B.; Lewis, N. S. J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 223
23. Benameur, M. M.; Radisavljevic, B.; Héron, J. S.; Sahoo, S.; Berger, H.; Kis, A. Nanotechnology 2011, 22, 125706
24. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. M.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 10451
25. Huber, H. P.; Humer, I.; Hochleitner, M.; Fenner, M.; Moertelmaier, M.; Rankl, C.; Imtiaz, A.; Wallis, T. M.; Tanbakuchi, H.; Hinterdorfer, P.; Kabos, P.; Smoliner, J.; Kopanski, J. J.; Kienberger, F. J. Appl. Phys. 2012, 111, 014301
26. Lai, K.; Kundhikanjana, W.; Kelly, M.; Shen, Z. X. Rev. Sci. Instrum. 2008, 79, 063704
27. Molina-Sánchez, A.; Wirtz, L. Phys. Rev. B 2011, 84, 155413
28. Allain, A.; Kis, A. ACS Nano 2014, 8, 7180
29. Terrones, H.; López-Urías, F.; Terrones, M. Sci. Rep. 2013, 3, 1549
30. Kuc, A.; Zibouche, N.; Heine, T. Phys. Rev. B 2011, 83, 245213
31. Kadantsev, E. S.; Hawrylak, P. Solid State Commun. 2012, 152, 909
32. John, D. L.; Castro, L. C.; Pulfrey, D. L. J. Appl. Phys. 2004, 96, 5180
33. Xia, J.; Chen, F.; Li, J.; Tao, N. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 505
34. Ilani, S.; Donev, L. A. K.; Kindermann, M.; McEuen, P. L. Nat. Phys. 2006, 2, 687
35. Yoon, Y.; Ganapathi, K.; Salahuddin, S. Nano Lett. 2011, 111, 3768
36. Feng, T.; Konar, A.; Xing, H.; Jena, D. Appl. Phy 2007, 91, 092109
37. Gong, C.; Colombo, L.; Wallace, R. M.; Cho, K. Nano Lett. 2014, 14, 1714
38. Sze, S. M.; Ng, K. K. Physics of Semiconductor Devices; Wiley: New York, 2007.
39. Imtiaz, A.; Wallis, T. M.; Lim, S. H.; Tanbakuchi, H.; Huber, H. P.; Hornung, A.; Hinterdorfer, P.; Smoliner, J.; Kienberger, F.; Kabos, P. J. Appl. Phys. 2012, 111, 093727
40. Imtiaz, A.; Wallis, T. M.; Weber, J. C.; Coakley, K. J.; Brubaker, M. D.; Blanchard, P. T.; Bertness, K. A.; Sanford, N. A.; Kabos, P. Appl. Phys. Lett. 2014, 104, 263107
41. Li, Y.; Xu, X. Y.; Zhen, L. Appl. Phys. Lett. 2013, 102, 143110