Ultrathin silica films: The atomic structure of two-dimensional crystals and glasses

Chemistry - A European Journal

Volumn 20, Issue 30, 2014, Pages 9176-9183

  Büchner, Christin ^a   Lichtenstein, Leonid ^a,c   Yu, Xin ^a   Boscoboinik, J Anibal ^a,d   Yang, Bing ^a,e   Kaden, William E ^a   Heyde, Markus ^a   Shaikhutdinov, Shamil K ^a   Włodarczyk, Radosław ^b   Sierka, Marek ^b,f   Sauer, Joachim ^b   Freund, Hans Joachim ^a  

^a FRITZ HABER INSTITUT DER MAX PLANCK GESELLSCHAFT   (Germany)

^b HUMBOLDT UNIVERSITY   (Germany)

^c LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^d BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

^e ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^f FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

Author keywords

bilayers; silcon; surface chemistry; thin films

Indexed keywords

CRYSTAL ATOMIC STRUCTURE; CRYSTALLINE MATERIALS; GLASS; QUARTZ; STRUCTURE (COMPOSITION); SURFACE CHEMISTRY; THIN FILMS; ULTRATHIN FILMS;

BI-LAYER; HOMOGENEOUS CATALYST; PAIR CORRELATION FUNCTIONS; REAL SPACE STRUCTURE; SENSITIVITY FACTORS; SILCON; TWO-DIMENSIONAL CRYSTALS; TWO-DIMENSIONAL GLASS;

FILM PREPARATION;

EID: 84904645061     PISSN: 09476539     EISSN: 15213765     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/chem.201402452     Document Type: Review

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