Characterization and properties of micro- and nanowires of controlled size, composition, and geometry fabricated by electrodeposition and ion-track technology

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 3, Issue 1, 2012, Pages 860-883

  Toimil Molares, Maria Eugenia ^a  

^a GSI HELMHOLTZZENTRUM FÜR SCHWERIONENFORSCHUNG GMBH   (Germany)

Author keywords

Electrodeposition; Etched ion track membrane; Finite size effects; Heavy ion irradiation; Nanowire; Radiation induced nanostructures

Indexed keywords

ELECTRIC PROPERTIES; ELECTRODEPOSITION; HEAVY IONS; IRRADIATION;

CONTROLLED SIZE; FINITE SIZE EFFECT; ION-TRACK MEMBRANE; ION-TRACK TECHNOLOGY; POLYMERIC TEMPLATES; RADIATION-INDUCED NANOSTRUCTURES; SINGLE-CRYSTALLINE; THERMAL INSTABILITIES;

NANOWIRES;

EID: 84882764530     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.3.97     Document Type: Article

References (152)

1. Lieber, C. M.; Wang, Z. L. Mater. Res. Bull. 2007, 32, 99-108. doi:10.1557/mrs2007.41
2. Hochbaum, A. I.; Yang, P. Chem. Rev. 2010, 110, 527-546. doi:10.1021/cr900075v
3. Gargas, D. J.; Toimil-Molares, M. E.; Yang, P. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 2125-2127. doi:10.1021/ja8092339
4. Seletskiy, D.; Hasselbeck, M. P.; Cederberg, J. G.; Katzenmeyer, A.; Toimil-Molares, M. E.; Leonard, F.; Talin, A. A.; Sheik-Bahae, M. Phys. Rev. B 2011, 84, 115421. doi:10.1103/PhysRevB.84.115421
5. Chan, C. K.; Peng, H.; Liu, G.; McIlwrath, K.; Zhang, X. F.; Huggings, R. A.; Cui, Y. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 31-35. doi:10.1038/nnano.2007.411
6. Sun, J.; Liu, C.; Yang, P. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 19306-19309. doi:10.1021/ja2083398
7. Holmberg, V. C.; Panthani, M. G.; Korgel, B. A. Science 2009, 326, 405-407. doi:10.1126/science.1178179
8. Krenn, J. R.; Schider, G.; Rechberger, W.; Lamprecht, B.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R.; Weeber, J. C. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 3379-3381. doi:10.1063/1.1327615
9. Cornelius, T. W.; Toimil-Molares, M. E. Finite- and Quantum-size Effects of Bismuth Nanowires. In Nanowires; Prete, P., Ed.; Intech: Rijeka, Croatia, 2010; pp 274-296.
10. Xia, Y.; Yang, P.; Sun, Y.; Wu, Y.; Mayers, B.; Gates, B.; Yin, Y.; Kim, F.; Yan, H. Adv. Mater. 2003, 15, 353-389. doi:10.1002/adma.200390087
11. Cao, G. Nanostructures and Nanomaterials: Synthesis, Properties, and Applications; Imperial College Press: London, 2004.
12. Hulteen, J. C.; Martin, C. R. J. Mater. Chem. 1997, 7, 1075-1087. doi:10.1039/a700027h
13. Martin, C. R. Science 1994, 266, 1961-1966. doi:10.1126/science.266.5193.1961
14. Furneaux, R. C.; Rigby, W. R.; Davidson, A. P. Nature 1989, 337, 147-149. doi:10.1038/337147a0
15. Thurn-Albrecht, T.; Schotter, J.; Kästle, G. A.; Emley, N.; Shibauchi, T.; Krusin-Elbaum, L.; Guarini, K.; Black, C. T.; Tuominen, M. T.; Russell, T. P. Science 2000, 290, 2126-2129. doi:10.1126/science.290.5499.2126
16. Possin, G. E. Rev. Sci. Instrum. 1970, 41, 772. doi:10.1063/1.1684640
17. Williams, W. D.; Giordano, N. Rev. Sci. Instrum. 1984, 55, 410-412. doi:10.1063/1.1137752
18. Vetter, J.; Spohr, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1993, 79, 691-694.
19. Chakarvarti, S. K.; Vetter, J. Radiat. Meas. 1998, 29, 149-159. doi:10.1016/S1350-4487(98)00009-2
20. Dobrev, D.; Vetter, J.; Neumann, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1998, 146, 513-517. doi:10.1016/S0168-583X(98)00437-6
21. Dobrev, D.; Vetter, J.; Angert, N.; Neumann, R. Electrochim. Acta 2000, 45, 3117-3125. doi:10.1016/S0013-4686(00)00478-3
22. Dobrev, D.; Baur, D.; Neumann, R. Appl. Phys. A 2005, 80, 451-456. doi:10.1007/s00339-004-3078-z
23. Dobrev, D.; Vetter, J.; Angert, N.; Neumann, R. Appl. Phys. A 2001, 72, 729-733. doi:10.1007/s003390100872
24. Schönenberger, C.; van der Zande, B. M. I.; Fokkink, L. G. J.; Henny, M.; Schmid, C.; Krueger, M.; Bachtold, A.; Huber, R.; Birk, H.; Staufer, U. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 5497-5505. doi:10.1021/jp963938g
25. Datta, M. IBM J. Res. Dev. 1998, 42, 563-566. doi:10.1147/rd.425.0563
26. Trautmann, C.; Brüchle, W.; Spohr, R.; Vetter, J.; Angert, N. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1996, 111, 70-74. doi:10.1016/0168-583X(95)01264-8
27. Bath, W.; Dahl, L.; Groening, L.; Glatz, J.; Richter, S.; Yaramyshev, S. Development of the UNILAC towards a megawatt beam injector. In Proceedings of the XXII Linac Conference, Lübeck, 2004, Schaa, V. R. W., Ed.; DESY: Hamburg, 2004; pp 246-248.
28. Dehaye, F.; Balanzat, E.; Ferain, E.; Legras, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2003, 209, 103-112. doi:10.1016/S0168-583X(02)02048-7
29. Spohr, R. Method for producing nuclear traces or microholes originating from nuclear traces of an individual ion. US000004369370A, Jan 1, 1983.
30. Spohr, R. Ion Tracks and Microtechnology: Principles and Applications; Vieweg und Teubner: Wiesbaden, Germany, 1990.
31. Siwy, Z.; Apel, P.; Baur, D.; Dobrev, D. D.; Korchev, Y. E.; Neumann, R.; Spohr, R.; Trautmann, C.; Voss, K.-O. Surf. Sci. 2003, 532-533, 1061-1066. doi:10.1016/S0039-6028(03)00448-5
32. Heins, E. A.; Siwy, Z. S.; Baker, L. A.; Martin, C. R. Nano Lett. 2005, 5, 1824-1829. doi:10.1021/nl050925i
33. Ali, M.; Yameen, B.; Neumann, R.; Ensinger, W.; Knoll, W.; Azzaroni, O. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 16351-16357. doi:10.1021/ja8071258
34. Chtanko, N.; Toimil-Molares, M. E.; Cornelius, T. W.; Dobrev, D.; Neumann, R. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 9950-9954. doi:10.1021/jp031368w
35. Toimil-Molares, M. E.; Chtanko, N.; Cornelius, T. W.; Dobrev, D.; Enculescu, I.; Blick, R. H.; Neumann, R. Nanotechnology 2004, 15, S201. doi:10.1088/0957-4484/15/4/015
36. Enculescu, I.; Toimil-Molares, M. E.; Zet, C.; Daub, M.; Westerberg, L.; Neumann, R.; Spohr, R. Appl. Phys. A 2007, 86, 43-48. doi:10.1007/s00339-006-3738-2
37. Fischer, B. E.; Metzger, S. MRS Bull. 2000, 25 (2), 39-42.
38. Trautmann, C.; Bouffard, S.; Spohr, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1996, 116, 429-433. doi:10.1016/0168-583X(96)00083-3
39. Fleischer, R. L.; Price, P. B.; Walker, R. M. Nuclear tracks in solids; University of California Press: Berkeley, 1975.
40. De Sorbo, W. Nucl. Tracks 1979, 3, 13-32. doi:10.1016/0191-278X(79)90026-X
41. Ferain, E.; Legras, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1993, 82, 539-548. doi:10.1016/0168-583X(93)96008-Z
42. Apel, P. Y.; Blonskaya, I. V.; Dmitriev, S. N.; Orelovitch, O. R.; Presz, A.; Sartowska, B. A. Nanotechnology 2007, 18, 305302. doi:10.1088/0957-4484/18/30/305302
43. Zhang, H.-Q.; Akram, N.; Skog, P.; Soroka, I. L.; Trautmann, C.; Schuch, R. Phys. Rev. Lett. 2012, 108, 193202. doi:10.1103/PhysRevLett.108.193202
44. Healy, K.; Schiedt, B.; Morrison, A. P. Nanomedicine 2007, 2, 875-897. doi:10.2217/17435889.2.6.875
45. Cornelius, T. W.; Apel, P. Y.; Schiedt, B.; Trautmann, C.; Toimil-Molares, M. E.; Karim, S.; Neumann, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2007, 265, 553-557. doi:10.1016/j.nimb.2007.10.004
46. Apel, P. Y.; Korchev, Y. E.; Siwy, Z.; Spohr, R.; Yoshida, M. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2001, 184, 337-346. doi:10.1016/S0168-583X(01)00722-4
47. Karim, S. Fabrication and characterization of gold nanowires. Ph.D. Thesis, University of Marburg, Germany, 2007.
48. Siwy, Z.; Apel, P.; Dobrev, D.; Neumann, R.; Spohr, R.; Trautmann, C.; Voss, K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2003, 208, 143-148. doi:10.1016/S0168-583X(03)00884-X
49. Apel, P. Y.; Blonskaya, I. V.; Orelovitch, O. L.; Ramirez, P.; Sartowska, B. A. Nanotechnology 2011, 22, 175302-175314. doi:10.1088/0957-4484/22/17/175302
50. Chtanko, N.; Toimil-Molares, M. E.; Cornelius, T. W.; Dobrev, D.; Neumann, R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2005, 236, 103-108. doi:10.1016/j.nimb.2005.03.264
51. Cornelius, T. W. Fabrication and characterisation of bismuth nanowires. Ph.D. Thesis, University of Heidelberg, Germany, 2006.
52. Toimil-Molares, M. E.; Buschmann, V.; Dobrev, D.; Neumann, R.; Scholz, R.; Schuchert, I. U.; Vetter, J. Adv. Mater. 2001, 13, 62-65. doi:10.1002/1521-4095(200101)13:1<62::AID-ADMA62>3.0.CO;2-7
53. Liu, J.; Duan, J. L.; Toimil-Molares, M. E.; Karim, S.; Cornelius, T. W.; Dobrev, D.; Yao, H. J.; Sun, Y. M.; Hou, M. D.; Mo, D.; Wang, Z. G.; Neumann, R. Nanotechnology 2006, 17, 1922-1926. doi:10.1088/0957-4484/17/8/020
54. Karim, S.; Toimil-Molares, M. E.; Maurer, F.; Miehe, G.; Ensinger, W.; Liu, J.; Cornelius, T. W.; Neumann, R. Appl. Phys. A 2006, 84, 403-407. doi:10.1007/s00339-006-3645-6
55. Rauber, M.; Brotz, J.; Duan, J.; Liu, J.; Müller, S.; Neumann, R.; Picht, O.; Toimil-Molares, M. E.; Ensinger, W. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 22502-22507. doi:10.1021/jp108889c
56. Cornelius, T. W.; Brötz, J.; Chtanko, N.; Dobrev, D.; Miehe, G.; Neumann, R.; Toimil-Molares, M. E. Nanotechnology 2005, 16, S246-S249. doi:10.1088/0957-4484/16/5/020
57. Daub, M.; Enculescu, I.; Neumann, R; Spohr, R. J. Optoelectron. Adv. Mater. 2005, 7, 865-870.
58. Picht, O.; Müller, S.; Alber, I.; Rauber, M.; Lensch-Falk, J.; Medlin, D. L.; Neumann, R.; Toimil-Molares, M. E. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 5367-5375. doi:10.1021/jp210491g
59. Schuchert, I. U.; Toimil-Molares, M. E.; Dobrev, D.; Vetter, J.; Neumann, R.; Martin, M. J. Electrochem. Soc. 2003, 150, C189-C194. doi:10.1149/1.1554722
60. Mueller, S.; Schotz, C.; Picht, O.; Sigle, W.; Kopold, P.; Rauber, M.; Alber, I.; Neumann, R.; Toimil-Molares, M. E. Cryst. Growth Des. 2012, 12, 615-621. doi:10.1021/cg200685c
61. Budevski, E.; Staikov, G.; Lorenz, W. J. Electrochemical Phase Formation and Growth; VCH: Weinheim, Germany, 1996. doi:10.1002/9783527614936
62. Steinhögl, W.; Schindler, G.; Steinlesberger, G.; Traving, M.; Engelhardt, M. J. Appl. Phys. 2005, 97, 023706-023712. doi:10.1063/1.1834982
63. Li, D.; Wu, Y.; Fan, R.; Yang, P.; Majumdar, A. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3186-3188. doi:10.1063/1.1619221
64. Fert, A.; Piraux, L. J. Magn. Magn. Mater. 1999, 200, 338-358. doi:10.1016/S0304-8853(99)00375-3
65. Halas, N. J.; Lal, S.; Chang, W.-S.; Link, S.; Nordlander, P. Chem. Rev. 2011, 111, 3913-3961. doi:10.1021/cr200061k
66. Kreibig, U.; Vollmer, M. In Optical Properties of Metal Clusters; Toennies, J. P., Ed.; Springer Series in Materials Science, Vol. 25; Springer: Berlin, Heidelberg, 1995.
67. Valenzuela, K.; Raghavan, S.; Deymier, P. A.; Hoying, J. J. Nanosci. Nanotechnol. 2008, 8, 3416-3421. doi:10.1166/jnn.2008.122
68. Kim, C.; Gu, W.; Briceno, M.; Robertson, I. M.; Choi, H.; Kim, K. Adv. Mater. 2008, 20, 1859-1863. doi:10.1002/adma.200701460
69. Rathmell, A. R.; Bergin, S. M.; Hua, Y.-L.; Li, Z.-Y.; Wiley, B. J. Adv. Mater. 2010, 22, 3558-3563. doi:10.1002/adma.201000775
70. Datta, M. IBM J. Res. Dev. 1998, 42, 563-566. doi:10.1147/rd.425.0563
71. Toimil-Molares, M. E.; Brötz, J.; Buschmann, V.; Dobrev, D.; Neumann, R.; Scholz, R.; Schuchert, I. U.; Trautmann, C.; Vetter, J. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2001, 185, 192-197. doi:10.1016/S0168-583X(01)00755-8
72. Duan, J.; Liu, J.; Mo, D.; Yao, H.; Maaz, K.; Chen, Y.; Sun, Y.; Hou, M.; Qu, X.; Zhang, L.; Chen, Y. Nanotechnology 2010, 21, 365605. doi:10.1088/0957-4484/21/36/365605
73. Dobrev, D.; Vetter, J.; Angert, N.; Neumann, R. Appl. Phys. A 1999, 69, 233-237. doi:10.1007/s003390050995
74. Leopold, S.; Schuchert, I. U.; Lu, J.; Toimil-Molares, M. E.; Herranen, M.; Carlsson, J.-O. Electrochim. Acta 2002, 47, 4393-4397. doi:10.1016/S0013-4686(02)00515-7
75. Gottstein, G. Physikalische Grundlagen der Materialkunde; Springer: Berlin, 1998.
76. Zhong, S.; Koch, T.; Wang, M.; Scherer, T.; Walheim, S.; Hahn, H.; Schimmel, T. Small 2009, 5, 2265-2270. doi:10.1002/smll.200900746
77. Kelly, K. L.; Coronado, E.; Zhao, L. L.; Schatz, G. C. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 668-677. doi:10.1021/jp026731y
78. Yi, G.; Schwarzacher, W. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 1746-1748. doi:10.1063/1.123675
79. Ohgai, T.; Gravier, L.; Hoffer, X.; Lindeberg, M.; Hjort, K.; Spohr, R.; Ansermet, J. P. J. Phys. D: Appl. Phys. 2003, 36, 3109-3114. doi:10.1088/0022-3727/36/24/003
80. Song, S.; Bohuslav, G.; Capitano, A.; Du, J.; Taniguchi, K.; Cai, Z.; Sun, L. J. Appl. Phys. 2012, 111, 056103. doi:10.1063/1.3692068
81. Lin, Y.-M.; Sun, X.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 2000, 62, 4610-4623. doi:10.1103/PhysRevB.62.4610
82. Lin, Y.-M.; Cronin, S. B.; Ying, J. Y.; Dresselhaus, M. S.; Heremans, J. P. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3944-3946. doi:10.1063/1.126829
83. Edelman, V. S. Adv. Phys. 1976, 25, 555-613. doi:10.1080/00018737600101452
84. Garcia, N.; Kao, Y. H.; Strongin, M. Phys. Rev. B 1972, 5, 2029-2039. doi:10.1103/PhysRevB.5.2029
85. Hicks, L. D.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 1993, 47, 12727-12731. doi:10.1103/PhysRevB.47.12727
86. Sommerlatte, J.; Nielsch, K.; Bottner, H. Physik Journal 2007, 6 (5), 35-41.
87. Hochbaum, A. I.; Chen, R.; Diaz Delgado, R.; Liang, W.; Garnett, E. C.; Najarian, M.; Majumdar, A.; Yang, P. Nature 2008, 451, 163-167. doi:10.1038/nature06381
88. Boukai, A. I.; Bunimovich, Y.; Tahir-Kheli, J.; Yu, J.-K.; Goddard, W. A., III; Heath, J. R. Nature 2008, 451, 168-171. doi:10.1038/nature06458
89. Gao, Y.; Niu, H.; Zeng, C.; Chen, Q. Chem. Phys. Lett. 2003, 367, 141-144. doi:10.1016/S0009-2614(02)01680-9
90. Heremans, J.; Thrush, C. M.; Lin, Y.-M.; Cronin, S.; Zhang, Z.; Dresselhaus, M. S.; Mansfield, J. F. Phys. Rev. B 2000, 61, 2921-2930. doi:10.1103/PhysRevB.61.2921
91. Duan, X.; Huang, Y.; Cui, Y.; Wang, J.; Lieber, C. M. Nature 2001, 409, 66-69. doi:10.1038/35051047
92. Lai, M.; Riley, J. Chem. Mater. 2006, 18, 2233-2237. doi:10.1021/cm051613j
93. Enculescu, I.; Sima, M.; Enculescu, M.; Enache, M.; Vasile, V.; Neumann, R. Opt. Mater. 2007, 30, 72-75. doi:10.1016/j.optmat.2007.01.002
94. Enculescu, I.; Matei, E.; Sima, M.; Neumann, R.; Granville, S.; Ansermet, J.-P. IEEE Trans. Magn. 2008, 44, 2678-2680. doi:10.1109/TMAG.2008.2003242
95. Sima, M.; Enculescu, I.; Trautmann, C.; Neumann, R. J. Optoelectron. Adv. Mater. 2004, 6, 121-125.
96. Enculescu, I.; Sima, M.; Enculescu, M.; Enache, M.; Ion, L.; Antohe, S.; Neumann, R. Phys. Status Solidi B 2007, 244, 1607-1611. doi:10.1002/pssb.200675109
97. Kum, M. C.; Yoo, B. Y.; Rheem, Y. W.; Bozhilov, K. N.; Chen, W.; Mulchandani, A.; Myung, N. V. Nanotechnology 2008, 19, 325711. doi:10.1088/0957-4484/19/32/325711
98. Matei, E.; Ion, L.; Antohe, S.; Neumann, R.; Enculescu, I. Nanotechnology 2010, 21, 105202. doi:10.1088/0957-4484/21/10/105202
99. Mo, D.; Liu, J.; Yao, H. J.; Duan, J. L.; Hou, M. D.; Sun, Y. M.; Chen, Y. F.; Xue, Z. H.; Zhang, L. J. Cryst. Growth 2008, 310, 612-616. doi:10.1016/j.jcrysgro.2007.11.034
100. Mallet, J.; Molinari, M.; Martineau, F.; Delavoie, F.; Fricoteaux, P.; Troyon, M. Nano Lett. 2008, 8, 3468-3474. doi:10.1021/nl802352e
101. Al-Salman, R.; Mallet, J.; Molinari, M.; Fricoteaux, P.; Martineau, F.; Troyon, M.; Zein El Abedin, S.; Endres, F. Phys. Chem. Chem. Phys. 2008, 10, 6233-6237. doi:10.1039/b809075k
102. Endres, F. ChemPhysChem 2002, 3, 144-154. doi:10.1002/1439-7641(20020215)3:2<144::AID-CPHC144>3.0.CO;2-
103. Jeong, S.; Garnett, E. C.; Wang, S.; Yu, Z.; Fan, S.; Brongersma, M. L.; McGehee, M. D.; Cui, Y. Nano Lett. 2012, 12, 2971-2976. doi:10.1021/nl300713x
104. Kline, T. R.; Tian, M.; Wang, J.; Sen, A.; Chan, M. W. H.; Mallouk, T. E. Inorg. Chem. 2006, 45, 7555-7565. doi:10.1021/ic0601384
105. Paxton, W. F.; Kistler, K. C.; Olmeda, C. C.; Sen, A.; St. Angelo, S. K.; Cao, Y.; Mallouk, T. E.; Lammert, P. E.; Crespi, V. H. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13424-13431. doi:10.1021/ja047697z
106. Nicewarner-Peña, S. R.; Freeman, R. G.; Reiss, B. D.; He, L.; Peña, D. J.; Walton, I. D.; Cromer, R.; Keating, C. D.; Natan, M. J. Science 2001, 294, 137-141. doi:10.1126/science.294.5540.137
107. Piraux, L.; George, J. M.; Despres, J. F.; Leroy, C.; Ferain, E.; Legras, R.; Ounadjela, K.; Fert, A. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2484-2486. doi:10.1063/1.112672
108. Blondel, A.; Meier, J. P.; Doudin, B.; Ansermet, J.-P. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 3019-3021. doi:10.1063/1.112495
109. Schwarzacher, W.; Attenborough, K.; Michel, A.; Nabiyouni, G.; Meier, J. P. J. Magn. Magn. Mater. 1997, 165, 23-29. doi:10.1016/S0304-8853(96)00465-9
110. Matei, E.; Preda, N.; Enculescu, M.; Ansermet, J.-P.; Toimil-Molares, M. E.; Enculescu, I. Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures 2010, 5, 1067-1076
111. Krieg, J. Bachelor Thesis, Faculty of Physics, Technische Universität Darmstadt, 2010.
112. Zhu, J.; Yu, Z.; Burkhard, G. F.; Hsu, C.-M.; Connor, S. T.; Xu, Y.; Wang, Q.; McGehee, M.; Fan, S.; Cui, Y. Nano Lett. 2009, 9, 279-282. doi:10.1021/nl802886y
113. Maurer, F.; Dangwal, A.; Lysenkov, D.; Müller, G.; Toimil-Molares, M. E.; Trautmann, C.; Brötz, J.; Fuess, H. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2006, 245, 337-341. doi:10.1016/j.nimb.2005.11.124
114. Serbun, P.; Jordan, F.; Navitski, A.; Müller, G.; Alber, I.; Toimil-Molares, M. E.; Trautmann, C. Eur. Phys. J.: Appl. Phys. 2012, 58, 10402. doi:10.1051/epjap/2012110473
115. Serbun, P.; Jordan, F.; Navitski, A.; Müller, G.; Alber, I.; Toimil-Molares, M. E.; Trautmann, C. Field emission proporties of copper nanocones grown in polymer ion-track membranes. In Proceedings of 24th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC), 2011, Wuppertal, Germany, July 18-22, 2011; pp 183-184.
116. Lysenkov, D.; Müller, G. Int. J. Nanotechnol. 2005, 2, 239-254. doi:10.1504/IJNT.2005.008062
117. Serbun, P.; Jordan, F.; Navitski, A.; Müller, G.; Alber, I.; Toimil-Molares, M. E.; Trautmann, C. GSI Scientific Report 2011, 432.
118. Wang, M. C. P.; Gates, B. D. Mater. Today 2009, 12, 34-43. doi:10.1016/S1369-7021(09)70158-0
119. Lindeberg, M.; Hjort, K. Sens. Actuators, A 2003, 105, 150-161. doi:10.1016/S0924-4247(03)00088-8
120. Rauber, M.; Alber, I.; Müller, S.; Neumann, R.; Picht, O.; Roth, C.; Schökel, A.; Toimil-Molares, M. E.; Ensinger, W. Nano Lett. 2011, 11, 2304-2310. doi:10.1021/nl2005516
121. Weber-Bargioni, A.; Schwartzberg, A.; Schmidt, M.; Harteneck, B.; Ogletree, D. F.; Schuck, P. J.; Cabrini, S. Nanotechnology 2010, 21, 065306. doi:10.1088/0957-4484/21/6/065306
122. Chen, X.; Guo, Z.; Yang, G.-M.; Li, J.; Li, M.-Q.; Liu, J.-H.; Huang, X.-J. Mater. Today 2011, 13, 28-41. doi:10.1016/S1369-7021(10)70201-7
123. Taychatanapat, T.; Bolotin, K. I.; Kuemmeth, F.; Ralph, D. C. Nano Lett. 2007, 7, 652-656. doi:10.1021/nl062631i
124. Weber, D.; Katzmann, J.; Neubrech, F.; Härtling, T.; Pucci, A. Opt. Mater. Express 2011, 1, 1301-1306. doi:10.1364/OME.1.001301
125. Qin, L.; Park, S.; Huang, L.; Mirkin, C. A. Science 2005, 309, 113-115. doi:10.1126/science.1112666
126. Alber, I.; Sigle, W.; Müller, S.; Neumann, R.; Picht, O.; Rauber, M.; van Aken, P. A.; Toimil-Molares, M. E. ACS Nano 2011, 5, 9845-9853. doi:10.1021/nn2035044
127. Alber, I.; Müller, S.; Picht, O.; Rauber, M.; Toimil-Molares, M. E.; Neumann, R. GSI Scientific Report 2010, 398.
128. Mayadas, A. F.; Shatzkes, M. Phys. Rev. B 1970, 1, 1382-1389. doi:10.1103/PhysRevB.1.1382
129. Dingle, R. B. Proc. R. Soc. London, Ser. A 1950, 201, 545-560. doi:10.1098/rspa.1950.0077
130. Toimil-Molares, M. E.; Hoehberger, E. M.; Schaeflein, C.; Blick, R. H.; Neumann, R.; Trautmann, C. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 2139-2141. doi:10.1063/1.1563741
131. Katzenmeyer, A. M.; Léonard, F.; Talin, A. A.; Toimil-Molares, M. E.; Cederberg, J. G.; Huang, J. Y.; Lensch-Falk, J. L. IEEE Trans. Nanotechnol. 2010, 10, 92-95. doi:10.1109/TNANO.2010.2062198
132. Talin, A. A.; Léonard, F.; Katzenmeyer, A. M.; Swartzentruber, B. S.; Picraux, S. T.; Toimil-Molares, M. E.; Cederberg, J. G.; Wang, X.; Hersee, S. D.; Rishinaramangalum, A. Semicond. Sci. Technol. 2010, 25, 024015. doi:10.1088/0268-1242/25/2/024015
133. Cornelius, T. W.; Toimil-Molares, M. E.; Neumann, R.; Karim, S. J. Appl. Phys. 2006, 100, 114307. doi:10.1063/1.2388857
134. Cornelius, T. W.; Toimil-Molares, M. E.; Karim, S.; Neumann, R. Phys. Rev. B 2008, 77, 125425. doi:10.1103/PhysRevB.77.125425
135. Karim, S.; Ensinger, W.; Cornelius, T. W.; Neumann, R. Physica E 2008, 40, 3173-3178. doi:10.1016/j.physe.2008.05.011
136. Cornelius, T. W.; Picht, O.; Müller, S.; Neumann, R.; Völklein, F.; Karim, S.; Duan, J. L. J. Appl. Phys. 2008, 103, 103713. doi:10.1063/1.2927443
137. Cornelius, T. W.; Toimil-Molares, M. E.; Neumann, R.; Fahsold, G.; Lovrincic, R.; Pucci, A.; Karim, S. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 103114. doi:10.1063/1.2183823
138. Neubrech, F.; Kolb, T.; Lovrincic, R.; Fahsold, G.; Pucci, A.; Aizpurua, J.; Cornelius, T. W.; Toimil-Molares, M. E.; Neumann, R.; Karim, S. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 253104. doi:10.1063/1.2405873
139. Neubrech, F.; Pucci, A.; Cornelius, T. W.; Karim, S.; Garcia-Etxarri, A.; Aizpurua, J. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 157403. doi:10.1103/PhysRevLett.101.157403
140. Glaeser, A. M. Interface Sci. 2001, 9, 65-82. doi:10.1023/A:1011279015039
141. Li, H.; Biser, J. M.; Perkins, J. T.; Dutta, S.; Vinci, R. P.; Chan, H. M. J. Appl. Phys. 2008, 103, 024315. doi:10.1063/1.2837053
142. Klinger, L.; Rabkin, E. Acta Mater. 2006, 54, 305-311. doi:10.1016/j.actamat.2005.08.034
143. Cahn, J. W. Scr. Metall. 1979, 13, 1069-1071. doi:10.1016/0036-9748(79)90205-9
144. Gurski, K. F.; McFadden, G. B. Proc. R. Soc. London, Ser. A 2003, 459, 2575-2598. doi:10.1098/rspa.2003.1144 And references therein.
145. Plateau, J. Smithsonian Institution, Annual Report 1873, 1863.
146. Lord Rayleigh. Proc. London Math. Soc. 1878, 10, 4-13. doi:10.1112/plms/s1-10.1.4
147. Nichols, F. A.; Mullins, W. W. Trans. Metall. Soc. AIME 1965, 233, 1840-1845.
148. Toimil-Molares, M. E.; Balogh, A. G.; Cornelius, T. W.; Neumann, R.; Trautmann, C. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 5337-5339. doi:10.1063/1.1826237
149. Karim, S.; Toimil-Molares, M. E.; Balogh, A. G.; Ensinger, W.; Cornelius, T. W.; Khan, E. U.; Neumann, R. Nanotechnology 2006, 17, 5954-5959. doi:10.1088/0957-4484/17/24/009
150. Karim, S.; Toimil-Molares, M. E.; Ensinger, W.; Balogh, A. G.; Cornelius, T. W.; Khan, E. U.; Neumann, R. J. Phys. D: Appl. Phys. 2007, 40, 3767-3770. doi:10.1088/0022-3727/40/12/031
151. Zhou, Z. F.; Pan, Y.; Zhou, Y. C.; Yang, L. Appl. Surf. Sci. 2011, 257, 9991-9995. doi:10.1016/j.apsusc.2011.06.125
152. Toimil-Molares, M. E.; Röntzsch, L.; Sigle, W.; Heinig, K.-H.; Trautmann, C.; Neumann, R. Adv. Funct. Mater. 2012, 22, 695-701. doi:10.1002/adfm.201102260