Imaging electromigration during the formation of break junctions

Nano Letters

Volumn 7, Issue 3, 2007, Pages 652-656

  Taychatanapat, Thiti ^a   Bolotin, Kirill I ^a   Kuemmeth, Ferdinand ^a   Ralph, Daniel C ^a  

^a Laboratory of Atomic and Solid State Physics and Sibley School of Mechanical and Aerospace Engineering   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BREAK JUNCTIONS; MOLECULAR ADSORBATES; NANOMETER SCALE GAPS; SERIES RESISTANCE;

ELECTRIC RESISTANCE; GOLD; MOLECULAR ELECTRONICS; MOTION PICTURES; NANOWIRES; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS;

ELECTROMIGRATION;

EID: 34047148565     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl062631i     Document Type: Article

References (26)

1. Park, H.; Lim, A. K. L.; Alivisatos, A. P.; Park, J.; McEuen, P. L. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 301.
2. Park, J.; Pasupathy, A. N.; Goldsmith, J. I.; Chang, C.; Yaish, Y.; Petta, J. R.; Rinkoski, M.; Sethana, J. P.; Abruna, H. D.; McEuen, P. L.; Ralph, D. C. Nature 2002, 417, 722.
3. Liang, W. J.; Shores, M. P.; Bockrath, M.; Long, J. R.; Park, H. Nature 2002, 417, 725.
4. Yu, L. H.; Natelson, D. Nano Lett. 2004, 4, 79.
5. Sordan, R.; Balasubramanian, K.; Burghard, M.; Kern, K. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 013106.
6. Houck, A. A.; Labaziewicz, J.; Chan, E. K.; Folk, J. A.; Chuang, I. L. Nano Lett. 2005, 5, 1685.
7. Heersche, H. B.; de Groot, Z.; Folk, J. A.; Kouwenhoven, L. P.; van der Zant, H. S. J. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 017205.
8. Natelson, D.; Yu, L. H.; Ciszek, J. W.; Keane, Z. K.; Tour, J. M. Chem. Phys. 2006, 324, 267.
9. Strachan, D. R.; Smith, D. E.; Smith, D. E.; Fischbein, M. D.; Johnston, D. E.; Guiton, B. S.; Drndic, M.; Bonnell, D. A.; Johnson, A. T., Jr. Nano Lett. 2006, 6, 441.
10. Esen, M.; Fuhrer, M. S. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 263101.
11. Trouwborst, M. L.; van der Molen, S. J.; van Wees, B. J. J. Appl. Phys. 2006, 99, 114316.
12. Strachan, D. R.; Smith, D. E.; Park, T. H.; Therien, M. J.; Bonnell, D. A.; Johnson, A. T. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 043109.
13. Mamin, H. J.; Guenthner, P. H.; Rugar, D. Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 2418.
14. Anaya, A.; Korotkov, A. L.; Bowman, M.; Waddell, J.; Davidovic, D. J. Appl. Phys. 2003, 93, 3501.
15. Holm, R. Electric Contacts, 4th ed.; Springer-Verlag: Berlin. 1967.
16. Chen, Z.; Sorbello, R. S. Phys. Rev. B 1993, 47, 13527.
17. Kozub, V. I.; Rudin, A. M. Phys. Rev. B 1993, 47, 13737.
18. Todorov, T. N. Philos. Mag. B 1998, 77, 965.
19. Ralls, K. S.; Ralph, D. C.; Buhrman, R. A. Phys. Rev. B 1989, 40, 11561.
20. Holweg, P. A. M.; Caro, J.; Verbruggen, A. H.; Radelaar, S. Phys. Rev. B 1992, 45, 9311.
21. Durkan, C.; Weiland, M. E. Ultramicroscopy 2000, 82, 125.
22. Lambert, M. F.; Goffman, M. F.; Bourgoin, J. P.; Hesto, P. Nanotechnology 2003, 14, 772.
23. Liu, S.; Zhu, T.; Hu, R.; Liu, Z. Phys. Chem. Chem. Phys. 2002, 4, 6059.
24. Purchased from Sigma-Aldrich (Fluka no. 06668).
25. Heersche, H. B.; de Groot, Z.; Folk, J. A.; van der Zant, H. S. J.; Romeike, C.; Wegewijs. M. R.; Zobbi, L.; Barreca, D.; Tondello, E.; Cornia, A. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 206801.
26. Jo, M.-H.; Grose, J. E.; Baheti, K.; Deshmukh, M. M.; Sokol, J. J.; Rumberger, E. M.; Hendrickson, D. N.; Long, J. R.; Park. H.; Ralph, D. C. Nano Lett. 2006, 6, 2014.