Probing three-dimensional surface force fields with atomic resolution: Measurement strategies, limitations, and artifact reduction

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 3, Issue 1, 2012, Pages 637-650

  Baykara, Mehmet Z ^a,b,c   Dagdeviren, Omur E ^a,b   Schwendemann, Todd C ^d   Mönig, Harry ^a,b,e   Altman, Eric I ^a,b   Schwarz, Udo D ^a,b  

^a Yale University   (United States)

^b YALE UNIVERSITY   (United States)

^c BILKENT UNIVERSITY   (Turkey)

^d SOUTHERN CONNECTICUT STATE UNIVERSITY   (United States)

^e UNIVERSITY OF MÜNSTER   (Germany)

Author keywords

Atomic force microscopy; Force spectroscopy; NC AFM; Three dimensional atomic force microscopy; Tip asymmetry; Tip elasticity

Indexed keywords

ARTIFACT REDUCTION; ATOMIC SCALE; ATOMIC-RESOLUTION; ELECTRONIC DRIFT; FORCE FIELDS; FORCE SPECTROSCOPY; IMAGE INTERPRETATION; INTERACTION FORCES; MEASUREMENT STRATEGIES; NC-AFM; NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPY; PROBE TIPS; SPATIAL DIMENSION; SURFACE FORCES; THREE-DIMENSIONAL SURFACE; TIP APEX; TIP ASYMMETRY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELASTICITY;

THREE DIMENSIONAL;

EID: 84866165493     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.3.73     Document Type: Article

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