Effect of the tip state during qPlus noncontact atomic force microscopy of Si(100) at 5 K: Probing the probe

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 3, Issue 1, 2012, Pages 25-32

  Sweetman, Adam ^a   Jarvis, Sam ^a   Danza, Rosanna ^a   Moriarty, Philip ^a  

^a UNIVERSITY OF NOTTINGHAM   (United Kingdom)

Author keywords

Force spectroscopy; Image contrast; Noncontact AFM; Qplus; Si(001); Si(100); Tip (apex) structure

Indexed keywords

FORCE SPECTROSCOPY; IMAGE CONTRASTS; NONCONTACT AFM; QPLUS; SI(001); SI(100);

ATOMIC FORCE MICROSCOPY;

SILICON;

EID: 84856766661     PISSN: None     EISSN: 21904286     Source Type: Journal    
DOI: 10.3762/bjnano.3.3     Document Type: Article

References (34)

1. Giessibl, F. J. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 949-983.
2. Giessibl, F. J.; Hembacher, S.; Bielefeldt, H.; Mannhart, J. Science 2000, 289, 422-425.
3. Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Hoffmann, R.; van Schendel, P. J. A.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J. Science 2001, 291, 2580-2583.
4. Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Liljeroth, P.; Meyer, G. Science 2009, 325, 1110-1114.
5. Sugimoto, Y.; Pou, P.; Custance, Ó.; Jelinek, P.; Morita, S.; Pérez, R.; Abe, M. Phys. Rev. B 2006, 73, 205329.
6. Naitoh, Y.; Kinoshita, Y.; Li, Y. J.; Kageshima, M.; Sugawara, Y. Nanotechnology 2009, 20, 264011.
7. Oyabu, N.; Pou, P.; Sugimoto, Y.; Jelinek, P.; Abe, M.; Morita, S.; Pérez, R.; Custance, Ó. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 106101.
8. Enevoldsen, G. H.; Pinto, H. P.; Foster, A. S.; Jensen, M. C. R.; Kühnle, A.; Reichling, M.; Hofer, W. A.; Lauritsen, J. V.; Besenbacher, F. Phys. Rev. B 2008, 78, 045416.
9. Uda, T.; Shigekawa, H.; Sugawara, Y.; Mizuno, S.; Tochihara, H.; Yamashita, Y.; Yoshinobu, J.; Nakatsuji, K.; Kawai, H.; Komori, F. Prog. Surf. Sci. 2004, 76, 147-162.
10. Canova, F. F.; Foster, A. S. Nanotechnology 2011, 22, 045702.
11. Ghasemi, S. A.; Goedecker, S.; Baratoff, A.; Lenosky, T.; Meyer, E.; Hug, H. J. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 236106.
12. Pou, P.; Ghasemi, S. A.; Jelinek, P.; Lenosky, T.; Goedecker, S.; Perez, R. Nanotechnology 2009, 20, 264015.
13. Wolkow, R. A. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 2636-2639.
14. Yoshida, S.; Kimura, T.; Takeuchi, O.; Hata, K.; Oigawa, H.; Nagamura, T.; Sakama, H.; Shigekawa, H. Phys. Rev. B 2004, 70, 235411.
15. Li, Y. J.; Nomura, H.; Ozaki, N.; Naitoh, Y.; Kageshima, M.; Sugawara, Y.; Hobbs, C.; Kantorovich, L. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 106104.
16. Arai, T.; Tomitori, M. Applied Surface Science 2000, 157, 207-211.
17. Weymouth, A. J.; Wutscher, T.; Welker, J.; Hofmann, T.; Giessibl, F. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 226801.
18. Sagisaka, K.; Fujita, D.; Kido, G. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 146103.
19. Sweetman, A.; Jarvis, S.; Danza, R.; Bamidele, J.; Gangopadhyay, S.; Shaw, G. A.; Kantorovich, L.; Moriarty, P. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 136101.
20. Sweetman, A.; Jarvis, S.; Danza, R.; Bamidele, J.; Kantorovich, L.; Moriarty, P. Phys. Rev. B 2011, 84, 085426.
21. Giessibl, F. J. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 1470.
22. Sweetman, A.; Gangopadhyay, S.; Danza, R.; Berdunov, N.; Moriarty, P. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 063112.
23. Chen, C. J. Nanotechnology 2006, 17, S195.
24. Woolley, R. A. J.; Stirling, J.; Radocea, A.; Krasnogor, N.; Moriarty, P. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 253104.
25. Sweetman, A.; Danza, R.; Gangopadhyay, S.; Moriarty, P. J. Phys.: Condens. Matter 2011.
26. Kobayashi, K.; Yamada, H.; Horiuchi, T.; Matsushige, K. Appl. Surf. Sci. 2000, 157, 228-232.
27. Rahe, P.; Bechstein, R.; Schütte, J.; Ostendorf, F.; Kühnle, A. Phys. Rev. B 2008, 77, 195410.
28. Liu, Z.; Zhang, Z.; Zhu, X. Phys. Rev. B 2008, 77, 035322.
29. Such, B.; Glatzel, T.; Kawai, S.; Koch, S.; Meyer, E. J. Vac. Sci. Technol., B 2010, 28, C4B1.
30. Campbellová, A.; Ondráček, M.; Pou, P.; Pérez, R.; Klapetek, P.; Jelínek, P. Nanotechnology 2011, 22, 295710.
31. Sawada, D.; Sugimoto, Y.; Morita, K.; Abe, M.; Morita, S. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 173117.
32. Sader, J. E.; Jarvis, S. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1801.
33. In preparation
34. Ternes, M.; González, C.; Lutz, C. P.; Hapala, P.; Giessibl, F. J.; Jelínek, P.; Heinrich, A. J. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 016802.