Templating effect for organic heterostructure film growth: Perfluoropentacene on diindenoperylene

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 115, Issue 32, 2011, Pages 16155-16160

  Hinderhofer, Alexander ^a   Hosokai, Takuya ^a,c   Frank, Christian ^a   Novák, Jiřǐ ^b   Gerlach, Alexander ^a   Schreiber, Frank ^a  

^a UNIVERSITY OF TÜBINGEN   (Germany)

^b EUROPEAN SYNCHROTRON RADIATION FACILITY   (France)

^c IWATE UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BOTTOM LAYERS; CRYSTAL SIZE; CRYSTALLINE QUALITY; GRAIN ORIENTATION; GRAIN SIZE; GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION; GROWTH BEHAVIOR; IN-PLANE; INDIUM TIN OXIDE; MAIN EFFECT; ORGANIC HETEROSTRUCTURES; PERFLUOROPENTACENES; STRUCTURAL AND MORPHOLOGICAL PROPERTIES; STRUCTURE AND MORPHOLOGY; SYSTEMATIC STUDY; TEMPLATING EFFECTS; X RAY REFLECTIVITY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CRYSTAL ORIENTATION; CRYSTALLINE MATERIALS; GRAIN SIZE AND SHAPE; HETEROJUNCTIONS; INDIUM COMPOUNDS; OXIDE FILMS; TIN; TIN OXIDES; X RAY DIFFRACTION; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

FILM GROWTH;

EID: 80051729115     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp203003m     Document Type: Article

References (56)

1. Peumans, P.; Yakimov, A.; Forrest, S. R. J. Appl. Phys. 2003, 93, 3693-3723
2. Brütting, W.; Berleb, S.; Mückl, A. G. Org. Electron. 2001, 2, 1-36
3. Yi, Y.; Coropceanu, V.; Brédas, J.-L. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 15777-15783
4. Schreiber, F. Phys. Status Solidi 2004, 201, 1037
5. Witte, G.; Wöll, C. J. Mat. Res. 2004, 19, 1889-1916
6. Ruiz, R.; Choudhary, D.; Nickel, B.; Chang, T. T. K.; Mayer, A.; Clancy, P.; Blakely, J. M.; Headrick, R. L.; Iannotta, S.; Malliaras, G. G. Chem. Mater. 2004, 16, 4497
7. Krause, B.; Schreiber, F.; Dosch, H.; Pimpinelli, A.; Seeck, O. Euro. Phys. Lett. 2004, 65, 372
8. Hlawacek, G.; Puschnig, P.; Frank, P.; Winkler, A.; Ambrosch-Draxl, C.; Teichert, C. Science 2008, 321, 108-111
9. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Sellner, S.; Schreiber, F.; Cavalcanti, L.; Konovalov, O. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 125504
10. Hosokai, T.; Gerlach, A.; Hinderhofer, A.; Frank, C.; Ligorio, G.; Heinemeyer, U.; Vorobiev, A.; Schreiber, F. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 063301
11. Heutz, S.; Cloots, R.; Jones, T. S. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 3938-3940
12. Oehzelt, M.; Koller, G.; Ivanco, J.; Berkebile, S.; Haber, T.; Resel, R.; Netzer, F.; Ramsey, M. Adv. Mater. 2006, 18, 2466-2470
13. de Oteyza, D. G.; Barrena, E.; Sellner, S.; Ossó, J. O.; Dosch, H. Surf. Sci. 2007, 601, 4117-4121
14. Koller, G.; Berkebile, S.; Krenn, J. R.; Netzer, F. P.; Oehzelt, M.; Haber, T.; Resel, R.; Ramsey, M. G. Nano Lett. 2006, 6, 1207-1212
15. Sakurai, T.; Naito, R.; Toyoshima, S.; Ohashi, T.; Akimoto, K. Nanosci. Nanotechnol. Lett. 2009, 1, 23-27
16. Naito, R.; Toyoshima, S.; Ohashi, T.; Sakurai, T.; Akimoto, K. Jpn. J. Appl. Phys. 2008, 47, 1416-1418
17. Fenter, P.; Schreiber, F.; Bulovic′, V.; Forrest, S. R. Chem. Phys. Lett. 1997, 277, 521-526
18. Hinderhofer, A.; Gerlach, A.; Kowarik, S.; Zontone, F.; Krug, J.; Schreiber, F. Europhys. Lett. 2010, 91, 56002
19. Barrena, E.; de Oteyza, D. G.; Sellner, S.; Dosch, H.; Osso, J. O.; Struth, B. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 076102
20. Häming, M.; Greif, M.; Sauer, C.; Schöll, A.; Reinert, F. Phys. Rev. B 2010, 82, 235432
21. de Oteyza, D. G.; Barrena, E.; Zhang, Y.; Krauss, T. N.; Turak, A.; Vorobiev, A.; Dosch, H. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 4234-4239
22. Ye, R.; Baba, M.; Suzuki, K.; Mori, K. Appl. Surf. Sci. 2008, 254, 7885-7888
23. Zhang, Y.; Barrena, E.; Zhang, X.; Turak, A.; Maye, F.; Dosch, H. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 13752-13758
24. Yang, J.; Yan, D. Chem. Soc. Rev. 2009, 38, 2634-2645
25. Heinemeyer, U.; Scholz, R.; Gisslén, L.; Alonso, M. I.; Ossó, J. O.; Garriga, M.; Hinderhofer, A.; S. Kowarik, M. K.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Rev. B 2008, 78, 085210
26. Zhang, D.; Heinemeyer, U.; Stanciu, C.; Sackrow, M.; Braun, K.; Hennemann, L. E.; Wang, X.; Scholz, R.; Schreiber, F.; Meixner, A. J. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 056601
27. Heinemeyer, U.; Broch, K.; Hinderhofer, A.; Kytka, M.; Scholz, R.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 257401
28. Gisslén, L.; Scholz, R. Phys. Rev. B 2009, 80, 115309
29. Dürr, A. C.; Schreiber, F.; Ritley, K. A.; Kruppa, V.; Krug, J.; Dosch, H.; Struth, B. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 016104
30. Wagner, J.; Gruber, M.; Hinderhofer, A.; Wilke, A.; Bröker, B.; Frisch, J.; Amsalem, P.; Vollmer, A.; Opitz, A.; Koch, N.; Frank, S.; Brütting, W. Adv. Funct. Mater. 2010, 20, 4295
31. Koch, N.; Vollmer, A.; Duhm, S.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T. Adv. Mater. 2007, 19, 112-116
32. Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Fukai, Y.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokito, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8138
33. Yokoyama, T.; Park, C. B.; Nishimura, T.; Kita, K.; Toriumi, A. Jpn. J. Appl. Phys. 2008, 47, 3643-3646
34. Delgado, M. C. R.; Pigg, K. R.; da Silva Filho, D. A.; Gruhn, N. E.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Osuna, R. M.; Casado, J.; Hernandez, V.; Navarrete, J. T. L.; Martinelli, N. G.; Cornil, J.; Sanchez-Carrera, R. S.; Coropceanu, V.; Bredas, J.-L. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 1502-1512
35. Broch, K.; Heinemeyer, U.; Hinderhofer, A.; Anger, F.; Scholz, R.; Gerlach, A.; Schreiber, F. Phys. Rev. B 2011, 83, 245307
36. Duhm, S.; Hosoumi, S.; Salzmann, I.; Gerlach, A.; Oehzelt, M.; Wedl, B.; Lee, T.-L.; Schreiber, F.; Koch, N.; Ueno, N.; Kera, S. Phys. Rev. B 2010, 81, 045418
37. Koch, N.; Gerlach, A.; Duhm, S.; Glowatzki, H.; Heimel, G.; Vollmer, A.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Zegenhagen, J.; Rabe, J. P.; Schreiber, F. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 7300
38. Hinderhofer, A.; Heinemeyer, U.; Gerlach, A.; Kowarik, S.; Jacobs, R. M. J.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2007, 127, 194705
39. Ritley, K. A.; Krause, B.; Schreiber, F.; Dosch, H. Rev. Sci. Instrum. 2001, 72, 1453-1457
40. Andrew, N. J. Appl. Crystallogr. 2006, 39, 273-276
41. Birkholz, M. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering; Wiley-VCH: Weinheim, 2006.
42. Heinrich, M. A.; Pflaum, J.; Tripathi, A. K.; Frey, W.; Steigerwald, M. L.; Siegrist, T. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 18878
43. Dürr, A. C.; Koch, N.; Kelsch, M.; Ruehm, A.; Ghijsen, J.; Johnson, R. L.; Pireaux, J.-J.; Schwartz, J.; Schreiber, F.; Dosch, H.; Kahn, A. Phys. Rev. B 2003, 68, 115428
44. Schuster, B.-E.; Casu, M. B.; Biswas, I.; Hinderhofer, A.; Gerlach, A.; Schreiber, F.; Chassé, T. Phys. Chem. Chem. Phys. 2009, 11, 9000-9004
45. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Sellner, S.; Cavalcanti, L.; Konovalov, O.; Schreiber, F. Appl. Phys. A 2009, 95, 233-239
46. Dürr, A. C.; Schreiber, F.; Münch, M.; Karl, N.; Krause, B.; Kruppa, V.; Dosch, H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2276
47. Witte, G.; Hänel, K.; Söhnchen, S.; Wöll, C. Appl. Phys. A 2006, 82, 447-455
48. Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Rabe, J. P.; Koch, N.; Oehzelt, M.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T. Langmuir 2008, 24, 7294-7298
49. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Hinderhofer, A.; Milita, S.; Borgatti, F.; Zontone, F.; Suzuki, T.; Biscarini, F.; Schreiber, F. Phys. Status Solidi RRL 2008, 2, 120-122
50. Nickel, B.; Barabash, R.; Ruiz, R.; Koch, N.; Kahn, A.; Feldman, L. C.; Haglund, R. F.; Scoles, G. Phys. Rev. B 2004, 70, 125401
51. Kowarik, S.; Broch, K.; Hinderhofer, A.; Schwartzberg, A.; Ossó, J. O.; Kilcoyne, D.; Schreiber, F.; Leone, S. R. J. Chem. Phys. 2010, 114, 13061
52. Nakamura, M.; Ohguri, H.; Goto, N.; Tomii, H.; Xu, M.; Miyamoto, T.; Matsubara, R.; Ohashi, N.; Sakai, M.; Kudo, K. Appl. Phys. A 2009, 95, 73-80
53. Matsubara, R.; Sakai, M.; Kudo, K.; Yoshimoto, N.; Hirosawa, I.; Nakamura, M. Org. Electron. 2011, 12, 195-201
54. Meyer, E. A.; Castellano, R. K.; Diederich, F. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 1210-1250
55. Hinderhofer, A.; Frank, C.; Hosokai, T.; Resta, A.; Gerlach, A.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2011, 134, 104702
56. Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Oehzelt, M.; Kniprath, R.; Johnson, R. L.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12870-12871