New insight into the role of the interfacial molecular structure on growth and scaling in organic heterostructures

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 114, Issue 32, 2010, Pages 13752-13758

  Zhang, Yi ^a,b   Barrena, Esther ^c   Zhang, Xuena ^a   Turak, Ayse ^a   Maye, Felix ^a   Dosch, Helmut ^d  

^a MAX PLANCK INSTITUTE FOR INTELLIGENT SYSTEMS   (Germany)

^b NANKAI UNIVERSITY   (China)

^c INSTITUT DE CIÈNCIA DE MATERIALS DE BARCELONA ICMAB CSIC   (Spain)

^d DESY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION; GROWING SURFACES; HOLE-TRANSPORTING MATERIALS; INTERFACIAL MOLECULAR STRUCTURES; MORPHOLOGICAL PROPERTIES; MORPHOLOGY EVOLUTION; ORGANIC HETEROSTRUCTURES; ORGANIC LAYERS; ORGANIC MATERIALS; SCALING EXPONENT; SCALING PROPERTIES; STRUCTURAL CHANGE; TEMPORAL EVOLUTION; X-RAY DIFFRACTION STUDIES;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CRYSTALS; DIFFRACTION; X RAY DIFFRACTION;

MORPHOLOGY;

EID: 77956162389     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp103841t     Document Type: Article

References (54)

1. Forrest, S. R. Nature 2004, 428, 911-918.
2. Sun, R.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 263503.
3. Koch, N. ChemPhysChem 2007, 8, 1438-1455.
4. Friend, R. H.; Gymer, R. W.; Holmes, A. B.; Burroughes, J. H.; Marks, R. N.; Taliani, C.; Bradley, D. D. C.; Dos Santos, D. A.; Bredas, J. L.; Logdlund, M.; Salaneck, W. R. Nature 1999, 397, 121-128.
5. Tang, M. L.; Reichardt, A. D.; Miyaki, N.; Stoltenberg, R. M.; Bao, Z. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 6064-6065.
6. Shen, C.; Kahn, A. J. Appl. Phys. 2001, 90, 4549-4554.
7. de Oteyza, D. G.; Krauss, T. N.; Barrena, E.; Sellner, S.; Dosch, H.; Ossó, J. O. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 243104.
8. Zhang, X. N.; Barrena, E.; de Oteyza, D. G.; Dosch, H. Surf. Sci. 2007, 601, 2420-2425.
9. de Oteyza, D. G.; Barrena, E.; Sellner, S.; Ossó, J. O.; Dosch, H. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 16618-16623.
10. Barrena, E.; de Oteyza, D. G.; Sellner, S.; Dosch, H.; Ossó, J. O.; Struth, B. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 076102.
11. Dürr, A. C.; Koch, N.; Kelsch, M.; Ruehm, A.; Ghijsen, J.; Johnson, R. L.; Pireaus, J.-J.; Schwatz, J.; Schreiber, F.; Dosch, H.; Kahn, A. Phys. Rev. B 2003, 68, 115428.
12. Schreiber, F. Phys. Status Solidi A 2004, 201, 1037-1054.
13. Ruiz, R.; Nickel, B.; Koch, N.; Feldman, L. C.; Haglund, R. F.; Kahn, A.; Family, F.; Scoles, G. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 136102.
14. Tsamouras, D.; Palasantzas, G.; de Hosson, J. Th. M. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1801.
15. Biscarini, F.; Zamboni, R.; Samori, P.; Ostoja, P.; Taliani, C. Phys. Rev. B 1995, 52, 14868-14877.
16. Dürr, A. C.; Schreiber, F.; Ritley, K. A.; Kruppa, V.; Krug, J.; Dosch, H.; Struth, B. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 016104.
17. Zorba, S.; Yan, L.; Watkins, N. J.; Gao, Y. Appl. Phys. Lett. 2001, 81, 5195.
18. Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Oehzelt, M.; Kniprath, R.; Johnson, R. L.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12870-12871.
19. Duhm, S.; Heimel, G.; Salzmann, I.; Glowatzki, H.; Johnson, R. L.; Vollmer, A.; Rabe, J. P.; Koch, N. Nat. Mater. 2008, 7, 326-332.
20. Salzmann, I.; Duhm, S.; Opitz, R.; Johnson, R. L.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Appl. Phys. 2008, 104, 114518.
21. de Oteyza, D. G.; Barrena, E.; Zhang, Y.; Krauss, T. N.; Turak, A.; Vorobiev, A.; Dosch, H. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 4234-4239.
22. de Oteyza, D. G.; Barrena, E.; Sellner, S.; Osso, J. O.; Dosch, H. Surf. Sci. 2007, 601, 4117-4121.
23. Yang, J.; Wang, T.; Wang, H.; Zhu, F.; Li, G.; Yan, D. J. Phys. Chem. B 2008, 112, 7821-7825.
24. Wang, T.; Ebeling, D.; Yang, J.; Du, C.; Chi, L.; Fuchs, H.; Yan, D. J. Phys. Chem. B 2009, 113, 2333-2337.
25. Yang, J.; Wang, T.; Wang, H.; Zhu, F.; Li, G.; Yan, D. J. Phys. Chem. B 2007, 112, 3132-3137.
26. Wang, T.; Yang, J.; Wang, H.; Zhu, F.; Yan, D. J. Phys. Chem. B 2008, 112, 6786-6792.
27. Barabasi, A. L.; Stanley, H. E. Fractal Concepts in Surface Growth; Cambridge University Press: Cambridge, 1995.
28. Kardar, M.; Parisi, G.; Zhang, Y. C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 889-892.
29. Thijssen, J. M.; Knops, H. J. F.; Dammers, A. J. Phys. Rev. B 1992, 45, 8650-8656.
30. Tang, C.; Alexander, S.; Bruinsma, R. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 772-775.
31. Krug, J. Adv. Phys. 1997, 46, 139-282.
32. Biscarini, F.; Samori, P.; Greco, O.; Zamboni, R. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 2389-2392.
33. de Oteyza, D. G.; Garcia-Lastra, J. M.; Corso, M.; Doyle, B. P.; Floreano, F.; Morgante, A.; Wakayama, Y.; Rubio, A.; Ortega, J. E. Adv. Funct. Mater. 2009, 19, 3567-3573.
34. Tang, Q.; Li, H.; Liu, Y.; Hu, W. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 14634-14639.
35. Karl, N. Synth. Met. 2003, 133-134, 64-657.
36. Horcas, I.; Fernández, R.; Gómez-Rodríguez, J. M.; Colchero, J.; Gómez-Herrero, J.; Baró, A. M. Rev. Sci. Instrum. 2007, 78, 013705.
37. Stierle, A.; Steinhauser, A.; Ruhm, A.; Renner, F. U.; Weigel, R.; Kasper, N.; Dosch, H. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 5302-5307.
38. Zhang, X.; Barrena, E.; Goswami, D.; de Oteyza, D. G.; Weis, C.; Dosch, H. Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 136101.
39. Zhang, X. N. Mechanisms of Growth and structural properties of Diinenoperylene on Metal, Dielectric, and Organic Surfaces. Ph.D. Thesis, Max-Planck Institute for Metals Research, Stuttgart, July 2008.
40. Ulyanenkov, A.; Omote, K.; Matsuo, R.; Harada, J.; Matsuno, S.-Y. J. Phys. D: Appl. Phys. 1999, 32, 1313-1318.
41. de Oteyza, D. G.; Barrena, E.; Osso, J. O.; Sellner, S.; Dosch, H. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15052-15053.
42. Pelliccine, M.; Lu, T. M. EVolution of Thin-Film Morphology: Springer Series in Materials Science; Hull, R., Osgood, R. M., Jr., Parisi, J., Warlimont, H., Eds.; Springer-Verlag: Heidelberg, 2008; Chapters 3-4.
43. Karunasiri, R. P. U.; Bruinsma, R. Rudnick. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 788-791.
44. Yao, J. H.; Guo, H. Phys. Rev. E 1993, 47, 1007-1011.
45. Zhao, Y. P.; Drotar, J. T.; Wang, G. C.; Lu, T. M. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 136102.
46. Johnson, M. D.; Orme, C.; Hunt, A. W.; Graff, D.; Sudijono, J.; Sander, L. M.; Orr, B. G. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 116-119.
47. Stroscil, J. A.; Pierce, D. T.; Stiles, M. D.; Zangwill, A.; Sander, L. M. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 4246-4249.
48. Zuo, J. K.; Wendelken, J. F. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 2791-2794.
49. Tsui, F.; Wellman, J.; Uher, C.; Clarke, R. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 3164-3167.
50. Hlawacek, G.; Puschnig, P.; Frank, P.; Winker, A.; Ambrosch- Draxl, C.; Teichert, C. Science 2008, 321, 108-111.
51. Hayakawa, R.; Zhang, X.; Dosch, H.; Hiroshiba, N.; Chikyow, T.; Wakayama, Y. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 2197-2199.
52. Cheng, H.-L.; Mai, Y.-S.; Chou, W.-Y.; Chang, L.-R.; Liang, X.-W. Adv. Funct. Mater. 2007, 17, 3639-3649.
53. Yim, S.; Jones, T. S. Phys. Rev. B 2006, 73, 161305.
54. Zorba, S.; Shapir, Y.; Gao, Y. Phys. Rev. B 2006, 74, 245410.