-
2
-
-
10844253101
-
-
Ieong, M.; Doris, B.; Kedzierski, J.; Rim, K.; Yang, M. Science 2004, 306, 2057.
-
(2004)
Science
, vol.306
, pp. 2057
-
-
Ieong, M.1
Doris, B.2
Kedzierski, J.3
Rim, K.4
Yang, M.5
-
3
-
-
0008463467
-
-
2005 Edition
-
International Technology Roadmap for Semiconductors, 2005 Edition, Semiconductor Industry Association (SIA), http://www.itrs.net/ Links/2005ITRS/Home2005.htm.
-
Semiconductor Industry Association (SIA)
-
-
-
4
-
-
26844513876
-
-
Dube, A.; Chadeayne, A. R.; Sharma, M.; Wolczanski, P. T.; Engstrom, J. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 14299.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 14299
-
-
Dube, A.1
Chadeayne, A.R.2
Sharma, M.3
Wolczanski, P.T.4
Engstrom, J.R.5
-
5
-
-
18244407777
-
-
Killampalli, A. S.; Ma, P. F.; Engstrom, J. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 6300.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 6300
-
-
Killampalli, A.S.1
Ma, P.F.2
Engstrom, J.R.3
-
8
-
-
0029371040
-
-
Paranjpe, A.; IslamRaja, M. J. Vac. Sci. TechnoL, A 1995, 13, 2105.
-
(1995)
J. Vac. Sci. TechnoL, A
, vol.13
, pp. 2105
-
-
Paranjpe, A.1
IslamRaja, M.2
-
11
-
-
22644450444
-
-
Kelsey, J. E.; Goldberg, C.; Nuesca, G.; Peterson, G.; Kaloyeros, A. E. J. Vac. Sci. Technol., B 1999, 17, 1101.
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.17
, pp. 1101
-
-
Kelsey, J.E.1
Goldberg, C.2
Nuesca, G.3
Peterson, G.4
Kaloyeros, A.E.5
-
12
-
-
1842855266
-
-
van der Straten, O.; Zhu, Y.; Dunn, K.; Eisenbraun, E.; Kaloyeros, A. E. J. Mater. Res. 2004, 19, 447.
-
(2004)
J. Mater. Res
, vol.19
, pp. 447
-
-
van der Straten, O.1
Zhu, Y.2
Dunn, K.3
Eisenbraun, E.4
Kaloyeros, A.E.5
-
13
-
-
21644457984
-
-
Koh, W. K.; Li, D.; Sprey, W. M.; Raaijmakers, I. J. M. M. Solid State Technol. 2005, 48, 54.
-
(2005)
Solid State Technol
, vol.48
, pp. 54
-
-
Koh, W.K.1
Li, D.2
Sprey, W.M.3
Raaijmakers, I.J.M.M.4
-
14
-
-
0001752694
-
-
Eizenberg, M.; Littau, K.; Ghanayem, S.; Mak, A.; Maeda, Y.; Chang, M.; Sinha, A. K. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2416.
-
(1994)
Appl. Phys. Lett
, vol.65
, pp. 2416
-
-
Eizenberg, M.1
Littau, K.2
Ghanayem, S.3
Mak, A.4
Maeda, Y.5
Chang, M.6
Sinha, A.K.7
-
15
-
-
10644297463
-
-
Bocharov, S.; Zhang, Z.; Beebe, T. P., Jr.; Teplyakov, A. V. Thin Solid Films 2005, 471, 159.
-
(2005)
Thin Solid Films
, vol.471
, pp. 159
-
-
Bocharov, S.1
Zhang, Z.2
Beebe Jr., T.P.3
Teplyakov, A.V.4
-
17
-
-
21844499419
-
-
Corneille, J. S.; Chen, P. J.; Truong, C. M.; Oh, W. S.; Goodman, D. W. J. Vac. Sci. Technol., A 1995, 13, 1116.
-
(1995)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.13
, pp. 1116
-
-
Corneille, J.S.1
Chen, P.J.2
Truong, C.M.3
Oh, W.S.4
Goodman, D.W.5
-
18
-
-
0038005978
-
-
Truong, C. M.; Chen, P. J.; Corneille, J. S.; Oh, W. S.; Goodman, D. W. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8831.
-
(1995)
J. Phys. Chem
, vol.99
, pp. 8831
-
-
Truong, C.M.1
Chen, P.J.2
Corneille, J.S.3
Oh, W.S.4
Goodman, D.W.5
-
19
-
-
0142248254
-
-
Tong, J.; Magtoto, N.; Kelber, J. Appl. Surf. Sci. 2003, 220, 203.
-
(2003)
Appl. Surf. Sci
, vol.220
, pp. 203
-
-
Tong, J.1
Magtoto, N.2
Kelber, J.3
-
21
-
-
0038201061
-
-
Elam, J. W.; Schuisky, M.; Ferguson, J. D.; George, S. M. Thin Solid Films 2003, 436, 145.
-
(2003)
Thin Solid Films
, vol.436
, pp. 145
-
-
Elam, J.W.1
Schuisky, M.2
Ferguson, J.D.3
George, S.M.4
-
22
-
-
0005547183
-
-
Endle, J. P.; Sun, Y.-M.; White, J. M.; Ekerdt, J. G. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1262.
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.16
, pp. 1262
-
-
Endle, J.P.1
Sun, Y.-M.2
White, J.M.3
Ekerdt, J.G.4
-
23
-
-
0036883075
-
-
Lim, B. K.; Park, H.-S.; See, A. K. H.; Liu, E. Z.; Wu, S. H. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 2219.
-
(2002)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.20
, pp. 2219
-
-
Lim, B.K.1
Park, H.-S.2
See, A.K.H.3
Liu, E.Z.4
Wu, S.H.5
-
24
-
-
1242329443
-
-
Kim, J.-Y.; Seo, S.; Kim, D.-Y.; Jeon, H. J. Vac. Sci. Technol., A 2004, 22, 8.
-
(2004)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.22
, pp. 8
-
-
Kim, J.-Y.1
Seo, S.2
Kim, D.-Y.3
Jeon, H.4
-
25
-
-
14744275744
-
-
Kim, J.-Y.; Kim, D.-Y.; Park, H.-O.; Jeon, H. J. Electrochem. Soc. 2005, 152, G29.
-
(2005)
J. Electrochem. Soc
, vol.152
-
-
Kim, J.-Y.1
Kim, D.-Y.2
Park, H.-O.3
Jeon, H.4
-
27
-
-
0040010397
-
-
Ruhl, G.; Rehmet, R.; Knizova, M.; Merica, R.; Veprek, S. Chem. Mater. 1996, 8, 2712.
-
(1996)
Chem. Mater
, vol.8
, pp. 2712
-
-
Ruhl, G.1
Rehmet, R.2
Knizova, M.3
Merica, R.4
Veprek, S.5
-
33
-
-
33845946509
-
-
Ni, C.; Zhang, Z.; Wells, M.; Beebe, T. P., Jr.; Pirolli, L.; Méndez de Leo, L. P.; Teplyakov, A. V. Thin Solid Films 2007, 575, 3030.
-
(2007)
Thin Solid Films
, vol.575
, pp. 3030
-
-
Ni, C.1
Zhang, Z.2
Wells, M.3
Beebe Jr., T.P.4
Pirolli, L.5
Méndez de Leo, L.P.6
Teplyakov, A.V.7
-
35
-
-
0345491105
-
-
Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785.
-
(1988)
Phys. Rev. B
, vol.37
, pp. 785
-
-
Lee, C.1
Yang, W.2
Parr, R.G.3
-
39
-
-
53549117482
-
-
Frisch, M J, Trucks, G. W, Schlegel, H. B, Scuseria, G. E, Robb, M. A, Cheeseman, J. R, Montgomery, J. A, Jr, Vreven, T, Kudin, K. N, Burant, J. C, Millam, J. M, Iyengar, S. S, Tomasi, J, Barone, V, Mennucci, B, Cossi, M, Scalmani, G, Rega, N, Petersson, G. A, Nakatsuji, H, Hada, M, Ehara, M, Toyota, K, Fukuda, R, Hasegawa, J, Ishida, M, Nakajima, T, Honda, Y, Kitao, O, Nakai, H, Klene, M, Li, X, Knox, J. E, Hratchian, H. P, Cross, J. B, Adamo, C, Jaramillo, J, Gomperts, R, Stratmann, R. E, Yazyev, O, Austin, A. J, Cammi, R, Pomelli, C, Ochterski, J. W, Ayala, P. Y, Morokuma, K, Voth, G. A, Salvador, P, Dannenberg, J. J, Zakrzewski, V. G, Dapprich, S, Daniels, A. D, Strain, M. C, Farkas, O, Malick, D. K, Rabuck, A. D, Raghavachari, K, Foresman, J. B, Ortiz, J. V, Cui, Q, Baboul, A. G, Clifford, S, Cioslowski, J, Stefanov, B. B, Liu, G, Liashenko, A, Piskorz, P, Komaromi, I, Martin, R. L, Fox, D. J, Keith, T, Al-Lah
-
Frisch, M J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
-
-
-
-
43
-
-
34147166119
-
-
Olliero, D.; Solladie-Cavallo, A.; Sollaide, G. Tetrahedron 1975, 31, 1911.
-
(1975)
Tetrahedron
, vol.31
, pp. 1911
-
-
Olliero, D.1
Solladie-Cavallo, A.2
Sollaide, G.3
-
44
-
-
0003422992
-
-
Second ed, Gaussian, Inc, Pittsburgh
-
Foresman, J. B.; Frisch, A. Exploring chemistry with electronic structure methods, Second ed.; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, 1995-1996.
-
(1995)
Exploring chemistry with electronic structure methods
-
-
Foresman, J.B.1
Frisch, A.2
-
47
-
-
0035827169
-
-
Mui, C.; Wang, G. T.; Bent, S. F.; Musgrave, C. B. J. Chem. Phys. 2001, 114, 10170.
-
(2001)
J. Chem. Phys
, vol.114
, pp. 10170
-
-
Mui, C.1
Wang, G.T.2
Bent, S.F.3
Musgrave, C.B.4
-
48
-
-
0035982595
-
-
Cao, X.; Hamers, R. J. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 1614.
-
(2002)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.20
, pp. 1614
-
-
Cao, X.1
Hamers, R.J.2
-
52
-
-
0035886210
-
-
Bulanin, K. M.; Shah, A. G.; Teplyakov, A. V. J. Chem. Phys. 2001, 115, 7187.
-
(2001)
J. Chem. Phys
, vol.115
, pp. 7187
-
-
Bulanin, K.M.1
Shah, A.G.2
Teplyakov, A.V.3
-
53
-
-
0038001540
-
-
Carman, A. J.; Zhang, L.; Liswood, J. L.; Casey, S. M. J. Phys. Chem. 5 2003, 107, 5491.
-
(2003)
J. Phys. Chem
, vol.5
, Issue.107
, pp. 5491
-
-
Carman, A.J.1
Zhang, L.2
Liswood, J.L.3
Casey, S.M.4
-
58
-
-
0040641772
-
-
Fix, R. M.; Gordon, M. S.; Hoffman, D. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 7833.
-
(1990)
J. Am. Chem. Soc
, vol.112
, pp. 7833
-
-
Fix, R.M.1
Gordon, M.S.2
Hoffman, D.M.3
-
60
-
-
15844419330
-
-
Karlsson, P. C.; Richter, J. H.; Andersson, M. P.; Blomquist, J.; Siegbahn, H.; Uvdal, P.; Sandell, A. Surf. Sci. 2005, 580, 207.
-
(2005)
Surf. Sci
, vol.580
, pp. 207
-
-
Karlsson, P.C.1
Richter, J.H.2
Andersson, M.P.3
Blomquist, J.4
Siegbahn, H.5
Uvdal, P.6
Sandell, A.7
-
61
-
-
33846796292
-
-
Karlsson, P. G.; Richter, J. H.; Blomquist, J.; Uvdal, P.; Grehk, T. M.; Sandell, A. Surf. Sci. 2007, 601, 1008.
-
(2007)
Surf. Sci
, vol.601
, pp. 1008
-
-
Karlsson, P.G.1
Richter, J.H.2
Blomquist, J.3
Uvdal, P.4
Grehk, T.M.5
Sandell, A.6
-
62
-
-
33746480261
-
-
Dooley, R.; Milfeld, K.; Guiang, K.; Pamidighantam, S.; Allen, G. Int. J. Grid Utility Comput. 2006, 4, 195.
-
(2006)
Int. J. Grid Utility Comput
, vol.4
, pp. 195
-
-
Dooley, R.1
Milfeld, K.2
Guiang, K.3
Pamidighantam, S.4
Allen, G.5
|